加速度计电路组件自动测试系统研制
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Ab t a t h T o c ee o trcr u t d lsc n a c mp ih tsi g cr utmo u eA,t s n i utmo u e B,a d t s n i u t s r c :T e A S f ra c lr mee i i mo u e a c o l e t ic i c s n d l e t g cr i i c d l n e t g cr i i c
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1 2・
新 技 术 新 仪 器
21 00年第 3 0卷第 4期
加速度计 电路组件 自动测试 系统研制
廖建平 ,余臻 ,常欢
( 中航工 业北京长城 计量测 试技术研 究所 ,北京 10 9 ) 00 5
摘
要 : 某 型 号 加 速 度 计 电 路 组 件 自动 测 试 系 统 可 实 现 电 路 组 件 A 测 试 、 电 路 组 件 B 测 试 及 AB 联 测 。 本 文
B块测 试 以及 A B联 测 。
A块 输入一 定 的情 况下 ,其 输 出与输入 的 比值 。
2 )B块 测 试 :频 率 、幅值 。B块测 试 是指 测 试 B
1 测试系统 功能及测试参数
S me cr u t d lsc n b se y c r n u l yt e A D fn t n o emut f n t n d t c ust n mo u e h eg i f h i u t d o i i mo u e a e t t d s n h o o sy b / u ci f h li u ci aa a q ii o d .T an o ecr i mo - c e h o t — o i l t c u e A c n b o y te D/ u cin o en i u ci n d t c u s in mo ue a d t e p o e sn ic i l a e g t A f n t ft mh — n t aa a q i t d l n h r c si g cr ut h ot r f h T sd v l b h o h f o io .T e s f e o e A S i e e — wa t o e n V + . . p d i C +6 0 Ke r s a c lr mee ; cr u t d e ;AT y wo d : c ee o tr i i mo u s c l S;d t c ust n VC+ . aa a q ii o ; i +6 0
对 A块 、B块 以及 A B块 的组 合进行 测试 。本文 提出设
断 电重复 5次 ,测量 每 次 上 电后 的输 出 电压 得 到零 位
重复性 ;在上述条件下,A块上电后 , 每隔 1 i 测量 n m
1次输 出电压 ,测量 1 0次得 到 零位 漂 移 ;增 益 是 指在
计 一种加 速 度计 电路 组 件 自动 测试 系 统 ,用 于 A 块 、
De e o m e fAut m a i s se o c lr me e r u tM o l s v l p nto o tc Te tSy t m f r Ac e e o tr Cic i du e
LA in ig u Z e ,c A G H a I O J pn ,Y h n a H N un
O 引言
某型 号加速 度 计 的电路 包 括 电路组 件 A ( 称 A 简
三种测 试需要测 试 的参 数如下 : 1 )A块测试 :零 位 重复 性 、零位 漂移 、增 益 。在 A块输入开 路 、输 出 经 电阻接 地 的条件 下 ,A块 上 电 、
块 )和 电路 组件 B ( 简称 B块 ) 。其 中 A块 为 放 大器 , B块 为振 荡器 。在 加 速 度 计 的 研 制 生产 中 ,需 要 分 别
电路 组 件 A 进 行 增 益 测 试 。采 用 V +6 0 完 成 了测 试 软 件 的 开 发 。 C+ .
关 键 词 : 加 速 度 计 ; 电 路 组 件 ; 自 动 测 试 系 统 ; 数 据 采 集 ;VC + . +6 O 中 图 分 类 号 :T 2 . 0 H8 4 4 2 文 献 标 识 码 :B 文 章 编 号 :1 7 —5 9 ( 0 0) 0 64 75 2 1 4—0 1 — 4 02 0
mo le c mbia in o a d B. Th e tte r du o n to fA n e ts h o y,s se sr cu e,hadwa ede in a d s f r sg ft e ATS ae i rdu e n te pa e . y t m tu tr r r sg n ot ede i o h wa n r nto c d i h p r
介 绍 了该 测 试 系 统 的 测 试 原 理 、结 构 组 成 、硬 件 设 计 及 软 件 设 计 。 运 用 多功 能 数 据 采 集 卡 的 A D 功 能 实 现 了 对 多 /
个 电路 组 件 进 行 同 时 测 试 ; 运 用 其 D A 输 出加 分 压 电 路 完 成 了对 电 路 组 件 A 输 入 电压 的 闭环 动 态 调 节 , 以 实 现 对 /