1.0目的本标准建立目的在于控制表面贴装的印刷电路板及提供器件脚成型、点焊的电路板的外观,以确保产品品质达到规定要求。
2.0参考文件1.GB2828-2003抽样程序3.0AQL标准MA: 2.5MI: 4.0主缺:可能会引起产品预定用途的失效或降低其本质上的可用性(功能、性能不良)次缺:与已建立的标准有背离却又对产品单元的有效作用或操作几乎无影响(外观不良)4.0适用范围适用于各类SMT焊接及插件类器件焊接后的半成品及进料检验的质量控制。
5.0使用工具5.1游标卡尺5.2放大镜5.3塞规6.0注意事项1.检查时必须正确佩带静电手环。
2.必须佩带手套或指套。
3.PCBA必须放置于有良好照明的工作台上,从距离30cm处以45度目视7.0检查项目(见下页)不应该有1k1011k101102合格图示<03mm合格图示应焊锡而未焊到的。
未吃锡合格图示零件吃锡面与锡未完全融合。
合格图示QFP应导通而未导通的。
断路合格图示0.5mm以器件脚的宽度为准,偏移不可>1/2吃锡面。
0.1mm0.3mm以器件脚的宽度为准,偏移不可>1/2吃锡面。
wPAD<1/2WPolarityPADWW焊点四周及PCB板面上不得有锡球或其他焊锡残渣等。
PCB板面不得有划伤。
单面不允许>0.5mm,2点以上。
合格图示++合格图示缺陷定义描述及图示参考图示应有器件而没有器件的。
缺件L8L8合格图示正确多余合格图示(a) 1.3mm合格图示表面造成气球状(将器件脚整个包住)。
合格图示合格图示超过锡面0.5mm不允许。
合格图示5mm 2.5mm合格图示序号物料名称图片测试方法推力标准10402器件 1.消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥0.5520603器件 1.消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥1.0030805器件 1.消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥2.1041206器件 1.消除阻碍1206元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥2.505SIM卡连接器1.消除阻碍SIM 卡连接器边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥4.006SOT231.消除阻碍SOT23元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥1.507SOP5IC1.消除阻碍SOP5IC 元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥2.008SPO6IC1.消除阻碍SOP6IC 元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥2.009晶体1.消除阻碍晶体元器件边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥2.0010RF连接器1.消除阻碍RF 连接器边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥3.0011开关1.消除阻碍开关边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥3.5012POGPIN连接器1.消除阻碍连接器边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥5.0013电池连接器1.消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥3.5014耳机(按插拔方向推力) 1.消除阻碍耳机边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥5.5015USB插座(按插拔方向推力)1.消除阻碍USB插座边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥3.5016TF卡座1.消除阻碍TF卡座边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥4.5017纽扣电池1.消除阻碍电池边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥2.5018多脚芯片(8脚及以上)1.消除阻碍芯片边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥2.0019BGA芯片1.消除阻碍芯片边缘的其它元器件2.选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验;3.当推力计达到推力标准时,检查元器件是否脱焊≥2.50注:除指定的推力方向外,其余均以器件较长的一面进行推力。