现代材料测试技术
作业
第一章X射线衍射分析
一、填空题
1、X射线从本质上说，和无线电波、可见光、丫射线一样，也是一种______________
2、尽管衍射花样可以千变万化，但是它们的基本要素只有三个：即_、 __________ 、—
3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有一个基本的要求，简单地说，对光源的基本
要______________ 、_______________ 、_________________________________ 。
4、利用吸收限两边___________________________ 相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。
5、测量X射线衍射线峰位的方法有六种，它们分别是____________________ 、_________
6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是___________________
7、特征X射线产生的根本原因是__________________________ 。
8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、和字顺索引。
9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分 _________ 、____________ 、___________ 三种。
10、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：___________ 和___________
11、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称
为__________ 。
12、用于X射线衍射仪的探测器主要有_______ 、_____ 、___ 、______ ，其中____ 和 _____应
用较为普遍。
13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有 ____________ 、____________ 、_____________三个方面
14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类__________________ 、_____________________ 。
15、当X射线照射到物体上时，一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向，造成散
射线；另一部分光子可能被原子吸收，产生 ____________ ;再有部分光子的能量可能在与原子
碰撞过程中传递给了原子，成为______________ 。
二、名词解释
X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、X-射线的衰减
三、问答与计算
1
2、产生特征X射线的根本原因是什么?
3、简述特征X-射线谱的特点。
4、推导布拉格公式，画出示意图。
5、回答X射线连续光谱产生的机理。
6. 简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。
7. 简述连续X射线谱的特征
8. x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法
9. 测角仪的调整要求？
10. 测角仪的工作原理以及各狭缝作用？
11?哈纳瓦特与芬克索引的规则？
12.定性物相分析的注意事项？
电子显微分析部分（第2、3、4章）
一、填空题
1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物
质的__________________ 、________________ 和___________________ 。
2、电子显微镜可分为：_____________________ 、______________________ 等几类。
3、电镜中，用__________ 透镜作电子枪，发射电子束；用_______________ 透镜做会聚透镜，
起成像和放大作用。
4、磁透镜和玻璃透镜一样，具有很多缺陷，因此会造成像差，像差包括：
、
_________________ 、 _________________ 和畸变。
5、当一束聚焦电子束沿一定方向射入试样时，在原子库仑电场作用下，入射电子方向改变，
称为散射。原子对电子的散射可分为 _____________ 散射和______________ 散射。在_________ 散射过程中，电子只改变方向，而能量基本无损失。在 ________________ 散射过程中，电子不但改
变方向，能量也有不同程度的减少，转变为 ____________ 、__________ 和 ________________ 等。
6、电子与固体物质相互作用过程中产生的各种电子信号，包括______________ 、
、
___________________ 和________________________ 等。
7、块状材料是通过减薄的方法（需要先进行机械或化学方法的预减薄）制备成对电子束透
明的薄膜样品。减薄的方法有______________ 、______________ 、 _______________ 禾廿_____ 等。
8、扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像，成像信号可以是______ 、_______ 或_______________ 。
9、透射电子显微镜中高分辨率像有_______________ 和________________ 。
10、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物质的_________ 、___________ 和 ___________ 。
二、名词解释
球差、色差、场深、焦深、弛豫、相互作用体积、质厚衬度、衍射衬度、相位衬度、轴上像散、场深、焦深、弹性散射、非弹性散射、驰豫、背散射电子、透射电子、吸收电子、二次电子、背散射电子等。
三、简答题
1、为什么现代的透射电镜除电子光源外都用磁透镜做会聚镜？
2、为何电子显微镜镜筒必须具有高真空？
3、电子衍射谱的特征？
4、扫描电镜在探测二次电子时，为何要在栅网上加250V电压？而在探测背散射电子时要加-
50V电压？
5、扫描电镜的衬度有哪些？各种衬度的典型衬度像是什么？
6、在电镜上为什么能用能谱仪进行试样的成分分析？
7、电子束做照明源制成电子显微镜具有更高的分辨本领？为什么？
8、分析电子波长与加速电压间的定量关系。
9、分析电子在静电场中的运动规律及静电透镜的聚焦成像原理。
10、TEM薄膜试样制备方法有哪些？
11、质厚衬度原理及物镜光阑的作用？四、问答题
1、试述球差、色差产生的原因。
2、简述二次电子的特点。
3、在材料科学中透射电镜的样品有哪几类？在制备每类样品时要注意什么？
4、高速入射的电子与试样物质相互作用后能产生哪些物理信号？这些信号可用于什么分析测试手段
上？
5、扫描电镜可用哪些物理信号调制成像？比较这些电子显微像的特点。
6、TEM工作原理？
7、SEM工作原理？
8、背散射电子的主要特点、成像的特征及其信号分离观察的原理。
9、二次电子的主要特点、成像的特征？
10、简述散射衬度像形成原因。
11、简述衍射衬度像形成原因。
12、简述相位衬度像形成原因。
五、计算题
1、在200kv加速电压下拍得金的多晶衍射环，从里向外测得环的直径2R1=17.46mm，
2R2=20.06 mm，2R3=28.64 mm，2R4=33.48 mm。已知各金环对应的晶面间距分别为：d仁2.355?，d2=2.039 ,?d3=1.442?，d4=1.230?。试求透射电镜的相机常数K？
2、2、在200kv加速电压下拍得金的多晶衍射环，从里向外测得环的直径2R1=17.46mm，
2R2=20.06 mm，2R3=28.64 mm，2R4=33.48 mm。已知各金环对应的晶面间距分别为：d仁2.355?，d2=2.039 ,?d3=1.442?，d4=1.230?。试求透射电镜的相机长度I ?
12.25
V(1 0.9785 10 6V)
在200kv加速电压下拍得金的多晶衍射环，从里向外测得环的直径2R1=17.46mm ,2R2=20.06 mm，2R3=28.64 mm，2R4=33.48 mm。已知透射电镜的相机常数K=20.562,试求各衍射环
12 25
的晶面间距d ？(
V(1 0.9785 10 6V)
光学显微分析部分(第5、6章)
一名词解释
光率体；一轴晶与二轴晶；光轴面；光性方位；解理；多色性与吸收性；突起；贝克线;
四次消光；干涉色；补色法则；双折射率；延性；双晶；光程差；干涉图；分辨率; 色散；折射；全反射；
?填空
其形态分别1光率体的种类有____________________
为_________ , ____________ , ______
2 ?偏光显微镜的调节与校正的容主要有
3 ?干涉色级序的测定方法有__________
4 ?晶体在单偏光镜下可以观察和测定的主要容有
5. ___________________________ 影响光程差的因素有
6?锥光镜下研究矿物晶体时，可观察和测定的容有 ______________
7.—轴晶光率体的主要切面有____________ , _________ , ________ 三种。
& 二轴晶光率体的主要切面有 ____________ , _________ , ________ ,—__________ 五种。
9?根据薄片中晶体颗粒边棱的规则程度，可将晶体分为 _______________ ,—
三类。
10?具有解理的矿物，根据其解理发育的完善程度，可分为_______________ ,- ________ 三级。
11. 根据薄片中晶体与树胶相对折射率的大小，将晶体的突起分为
________ , __________ , ________ , __________ 六个等级。
12. 在正交偏光镜下，矿物晶体的消光类型有，， ______ 三种。
13. ________________________________ 干涉色级序的测定方法有_ , , 三种。
三?问答与计算
1. 标准薄片中，同一晶体的不同颗粒为何干涉色不同？晶体在什么切面上干涉色最高？为什么？
2. 对于一轴晶和二轴晶晶体，利用哪类干涉图可测定其光性正负？如何测定？试举例说明。
3. 矿物薄片中晶体的颜色和干涉色在成因上有何不同？影响干涉色的因素有哪些？
4 ?矿物薄片中晶体的边缘、糙面、突起和贝克线是怎样形成的？在偏光显微镜下观测矿物晶体时，
它们有何用途？
5?通常都是用什么方法测定矿物的干涉色级序？简述其测定方法。
6?透辉石(CaO?MgO ? SiO2)其光率体形态如图所示，试根据该图说明以下几个问题：
(1)透辉石属什么晶族光率体？
(2)该晶体的最大双折射率是多少？
(3)确定透辉石的光性方位和光性正负。
⑷绘出(100)、(010)、(001)面上的光率体切面,
并标明其折射率。
7．橄榄石晶体（010）面上测得主折射率为1.689 和
1.670，在（100）面上测得主折射率为
1.654 和1.670，求橄榄石：
（1）最大双折射率；
（2）光性正负；
（3）光性方位；（用简式表示）
（4）光轴面与哪个晶面平行？
8．当入射光波为偏光，其振动方向与垂直入射光波的光率体椭圆切面半径之一平行时，光波进入晶体后的情况如何？如果入射光波的振动方向与垂直入射光波的光率体椭圆切面半径斜交时，光波进入晶体后的情况如何？
9．设橄榄石晶体薄片厚度为0.03mm，Ng=1.689, Nm=1.670, Np=1.654 ，其垂直Bxa 和垂直Bxo 切面上能见到什么样的干涉色？平行AP 面的切面上又具有什么样的干涉色？
10．已知白云母的三个主折射率分别为Ng=1.601, Nm=1.596, Np=1.563 ，若要制造干涉色为一级灰白（R=147nm ）的试板，在垂直Bxa 切面上应取多大厚度？
11．欲要制造一级紫红（R=560nm ）的石英试板，问平行于石英光轴切面上的切片厚度应为多少？
（石英的Ne=1.553, No=1.544 ）
12．在紫辉石（010）面上测得主折射率为1.702 和1.705 ，在（001）面上测得主折射率为
1.702 和1.692，求紫辉石
1）三个主折射率值；
2）最大双折射率；
3）光性正负：
4）光轴面与哪个晶面平行？
13．.已知橄榄石的Ng=1.689, Nm=1.670, Np=1.654, 试说明：
1）光性正负；
2）Bxa 及Bxo 的光率体轴名称；
3）丄Bxa及丄Bxo的切面上双折射率各是多少？
4）最大双折射率各是多少？14．矿物的多色性在什么方向的切面上最明显？要确定一轴晶、二轴晶矿物的多色性公式，
需选择什么方向的切片？
15．已知黑云母的三个主折射率分别为Ng=1.677, Nm=1.676, Np=1.623, 其相应的多色性为：Ng=深褐色，Nm=深褐色，Np=浅黄色，问：1）黑云母哪一个切面上吸收性最大？哪一个切面
上多色性最强？
3）黑云母的哪一个切面上的颜色无变化？为什么？
16．普通角闪石丄Bxa 的薄片在单偏光镜下为蓝绿和棕绿色，平行光轴面的薄片在单偏光镜下为亮黄和蓝绿色，已知普通角闪石为负光性，试确定它的多色性。
17 ?已知普通辉石为正光性。一薄片在正交偏光镜间观察到|| AP切面的干涉色为二级黄
（R=880nm ）,丄Bxa切面的干涉色为一级亮灰（R=210nm ）,设Ng-Nm=0.019 ,求该薄片的
厚度。