nokia内部资料：制程能力控制.ppt

NPI
物料 SMT 测试 组装 测试 包装 供应链 成本控制
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1.尽早介入到项目（立项开发至概念机阶段）。
从研发立项开始，NPI要介入讨论，从DFM（SMT，EL，ME），材料选择，生产成本， 静电保护设计/安全保护设计，加工链规划等考虑，并给出建议或方案。 例如，PCB拼板是否留有工艺边，PBA杜绝飞线，尽量少用非标元器件，PCB设计与结 构件设计匹配，是否需要螺钉等等
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• 部门成员：DFM 工艺工程师 ，IE，OEM工程师，物料验证工程 师，QA等。
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NPI工程师及研发相关工程师试制现场支持，物料确认无误，第一天SMT先生产10台 PBA，测试 pass后，持续生产。如有问题，现场分析解决，或做FMEA，并发出RCA报告。
测试，依据现场测试，优化流程，优化设定值，减少工时，提高良率，提高效率。如 有问题，现场分析解决，并发出RCA报告。
组装，组装顺序，缝隙确认，注意事项，拆机顺序。根据现场作业，尤其是组装工站， 需要不断优化流程。
注塑件材质选择，环保，耐温，耐划，耐污渍等，商标丝印等。
生产难易度评估，哪里是生产瓶颈，如何排序减少时间浪费，如何搭配工位等
静电敏感元件，一定要从设计上做好保护（加磁珠或电阻等），对外协厂的静电要求。
加工链，特殊元器件，按钮开关，线材，注塑件，五金件，SMT，生产测试治具，组 装，包装机标签等这些器件和加工都要尽早考虑，以便尽早进行考核及加工验证。
测试，整机功能测试。
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-2σ -1σ μ +1σ +2σ +3σ
中心位置參數
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1.2 正态分布图注意事项
1. 正态分布图以及σ均需在制成稳定的前提进行。如果工序生产过程不稳定，处于失控状态， 则不能计算标准偏差,也就不能计算正态分布和CPK.应找出并排除异常原因后重新抽样测定， 取得数据, 再计算。 2. σ的计算公式：
CPK-Cp-Ca-介绍-计 算-模板
目录
1. 正态分布图简介 1.1 正态分布图简介 1.2 正态分布图注意事项
2. 概念定义 2.1 Cpk制成能力指数的定义 2.2 Ca准确度 的定义 2.3 Cp精确度 的定义 2.4 Ca, Cp, Cpk 的相互关系
3. Ca, Cp, Cpk 的计算 3.1 相关参数的定义 3.2 准确度Ca的计算 3.3 精确度Cp的计算 3.4 制成能力Cpk的计算
处理原则
无缺点，制成优良，可考虑降低成本 状态良好，继续保持 制成能力稍欠缺，需改进至A级 制成不良较多，务必改进制成 制成很差，停线改进制成方可生产
• 一般制成要求：Cpk1.33
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3. 4 制成能力Cpk的计算
3.4.3 制成能力Cpk的计算范例
• Cpk 练习范例（双边规格） : – 设产品设计规格值为：3.5mm0.1mm, 今在稳定量产线抽检5个样品， 测量数据如下：3.52, 3.53, 3.57, 3.54, 3.53, 则Cpk计算如下： • =0.0192（前面过程已经介绍其计算过程，这里就不做累述） • USL=3.6, LCL=3.4,
随机变σ -1σ μ +1σ +2σ +3σ
中心位置参数
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2. 概念定义
2.1 Cpk制成能力指数的定义

+ 比WC法，其成本较低。 - 太多的假设
So一些指导原则，什么时候当用 WC 和 RSS 方法
• 在堆叠中，如果少于4个尺寸的 • 如果对这个制造工艺了解不足够的
• 在堆叠中，如果有4个或多于4个尺寸的 • 只要有可能就尝试用它 • 当对制造工艺非常了解（旧的类似零件）
Nokia 专案的公差分析
最小间隙的要求 (dGap >0) 完全达到
第六步 – 计算变异, WC or RSS ?
1. 确定组装要求
2. 建立封闭尺寸链图 3. 转换名义尺寸，将公差 转成对称公差 4. 按要求计算名义尺寸
5. 确定公差分析的方法
6. 按要求计算变异
以上的计算结果 WC: 最小间隙 Xmin = –0.10 mm RSS: 最小间隙 Xmin = 0.42 mm
LSL
Process variation 3s
Process variation 3s
mean - LSL
USL - mean
Tolerance range
USL
一般公差分析的理论
这部分主要是说明怎样应用公差分析这个工具，去确保产品适合最终确定的产品功能和品 质的要求的过程。
公差分析的优点
公差分析:
• 在堆叠公差时，有以下几种方法:
– 手工. – 用电子数据表，比如Nokia Excel 模板. 这在
NOKIA是首选的方法! – 用公差分析软件，比如 VisVSA™.
• 这份教材重点是讲用NOKIA模板分析一个尺 寸的堆叠。按组装要求，分为六步来分析。
第一步 – 确定组装要求
1. 确定组装要求
C 1.45±0.10
B 0.50±0.10
在弹力作用下将 没有间隙

第二單元:6SIGMA常用名詞及術語
有關“6SIGMA常用工具”的術語(2)
SPC (Statistical Process Control)統計制程控制:用控制圖監控和改
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CPK(Capability Process Index):制程能力參數
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GRR(Gauge Repeatability and Reproducibility ):量测的重复性与再生性. Poka Yoke: 防误防错法.
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