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半导体光电子器件2

吉大《半导体光电子学》期末复习纲要

第一章: 基本概念与名词解释 1、光子学说的几个基本概念:相格、光子简并度等; 2、微观粒子的四个统计分布规律:麦克斯韦速率分布率、波耳兹曼分布率、费米分布率、玻色分布率; 3、原子、分子的微观结构,固体的能带; 4、热辐射和黑体辐射的几个概念:热辐射、朗伯体、视见函数、普朗克公式; 5、简述辐射跃迁的三种过程:自发辐射、受激吸收、受激辐射; 6、谱线加宽的类型及定义:均匀加宽、非均匀加宽、碰撞加宽;

第二章: 基本概念与名词解释 1、一般概念:激发态能级寿命、亚稳态能级、粒子数反转、 负温度、激活介质、增益饱和; 2、三能级系统、四能级系统的粒子数反转的形成过程; 3、关于介质中的烧孔效应、气体激光器中的烧孔效应的论述。理论推导与证明 1、粒子数密度的差值(式2-1-17,2-1-22); 2、均匀加宽与非均匀加宽的小信号增益系数(式2-2-14,2-2-15); 3、均匀加宽与非均匀加宽情况下的大信号反转粒子数密度、烧孔面积(式2-3-3,2-3-7); 4、均匀加宽与非均匀加宽情况下的大信号增益系数(式2-3-10,2-3-17);

第三章: 基本概念与名词解释 1、激光的几个特性:包括时间相干性、空间相干性、相干时间、相干长度、相干面积、相干体积、光子简并度; 2、有关谐振腔的基本概念:谐振腔、稳定腔、不稳定腔、介稳腔; 3、激光振荡的几个现象和过程:纵模、横模、模的竞争、空间 烧孔、兰姆凹陷、频率牵引、高斯光束、激光器最佳透过率。 理论推导与证明 1、普通光源相干时间与相干面积(式3-1-5,3-1-12); 2、激光产生的阈值条件(式3-3-11); 3、粒子数密度的差值的阈值(式3-3-18); 4、均匀加宽情况单模激光器的输出功率与最佳透过率(式3-6-9) 5、非均匀加宽情况单模激光器的输出功率(式3-6-18)。

第2章半导体器件习题答案

第2章习题解答 1. 有人说,因为在PN 结中存在内建电场,所以将一个二极管的两端短路,在短路线中 将由于此电场的存在而流过电流。此说是否正确?为什么? 答:此种说法不正确,将一个二极管的两端短路,PN 结外加电压为零,当环境条件稳定 时,多子扩散与少子漂移达到动态平衡,PN 结中扩散电流和漂移电流大小相等,方向相反,流过PN 结的净电流为零。 2. 假设下图中二极管均为理想二极管,试画出v i ~ v o 的转移特性曲线。 +V CC CC v i v o CC CC v v o (a) (b) 解:对图(a )所示电路,定义节点A 、B 如下所示: +V CC CC v i v o 当i v 小于CC V 、大于CC V -时,1D 、2D 都截止。输出o v 等于零; 当i v 大于CC V 时,节点A 的电位开始大于零,2D 导通,1D 截止; 输出3 2/2CC i CC CC i o V v R R R V R R V v v -=+-+= 当i v 小于CC V -时,节点B 的电位开始小于零,1D 导通,2D 截止;

输出3 2/2CC i i i CC o V v R R R v R R v V v +=++-= 图(b )所示电路是一个双向限幅电路,输出正向限幅电压为:L L CC R R R V +,输出负向限幅电压为:L L CC R R R V +- 当L L CC i R R R V v +≤时,输入与输出相同,当L L CC i R R R V v +>时,输出限幅在L L CC R R R V +-和 L L CC R R R V + 两个电平上。 3. 下图是一种二极管整流电路,称为全波整流电路。其中v 1 = v 2。试分析它的工作原理, 画出输出电压的波形并计算输出电压的平均值。 解:在输入信号的正半周,D 1导通、D 2截止,在输入信号的负半周, D 2导通、D 1截止, 输入信号与输出的关系为:

半导体器件物理(第二版)第二章答案

2-1.P N + 结空间电荷区边界分别为p x -和n x ,利用2T V V i np n e =导出)(n n x p 表达式。给 出N 区空穴为小注入和大注入两种情况下的)(n n x p 表达式。 解:在n x x =处 ()()??? ??????? ??-=?? ? ??-=KT E E n x n KT E E n x p i Fn i n n FP i i n n exp exp ()()VT V i Fp Fn i n n n n e n KT E E n x n x p 22exp =??? ? ??-= 而 ()()() 000n n n n n n n n n n n n p x p p p n x n n n p x =+?≈?=+?=+ (n n n p ?=?) ()()T T V V i n n n V V i n n n e n p n p e n n n p 2020=?+?=?+ 2001T V V n i n n n p n p e n n ???+= ?? ? T V V 2 2n n0n i p +n p -n e =0 n p = (此为一般结果) 小注入:(0n n n p <>? 且 n n p p ?= 所以 T V V i n e n p 22=或 T V V i n e n p 2= 2-2.热平衡时净电子电流或净空穴电流为零,用此方法推导方程 2 0ln i a d T p n n N N V =-=ψψψ。 解:净电子电流为 ()n n n n I qA D n x με?=+? 处于热平衡时,I n =0 ,又因为 d dx ψ ε=-

半导体器件物理第二章答案

2-1.P N + 结空间电荷区边界分别为p x -与n x ,利用2T V V i np n e =导出)(n n x p 表达式。给出N 区空穴为小注入与大注入两种情况下的)(n n x p 表达式。 解:在n x x =处 ()()??? ??????? ??-=?? ? ??-=KT E E n x n KT E E n x p i Fn i n n FP i i n n exp exp ()()VT V i Fp Fn i n n n n e n KT E E n x n x p 22exp =? ?? ? ??-= 而 ()()() 000n n n n n n n n n n n n p x p p p n x n n n p x =+?≈?=+?=+ (n n n p ?=?) ()()T T V V i n n n V V i n n n e n p n p e n n n p 2020=?+?=?+ 2001T V V n i n n n p n p e n n ???+= ?? ? T V V 2 2n n0n i p +n p -n e =0 n p = (此为一般结果) 小注入:(0n n n p <>? 且 n n p p ?= 所以 T V V i n e n p 22=或 T V V i n e n p 2= 2-2.热平衡时净电子电流或净空穴电流为零,用此方法推导方程 2 0ln i a d T p n n N N V =-=ψψψ。 解:净电子电流为 ()n n n n I qA D n x με?=+? 处于热平衡时,I n =0 ,又因为 d dx ψ ε=- 所以n n d n n D dx x ψμ?=?,又因为n T n D V μ=(爱因斯坦关系)

半导体光电子学-考点

半导体光电子学 一、1.声子:晶格振动的能量量子,假想粒子,与晶格振动相联系,不能独立存在。 光子:传递电磁相互作用的规范粒子,无静止质量,具有能量和动量,能够独立存在。 2.量子阱:两种禁带宽度不同的但晶格匹配的单晶半导体薄膜以极薄的厚度交替生长,使得宽带隙材料中的电子和空穴进入两边窄带隙半导体材料的能带中,好像落入陷阱,这种限制电子和空穴的特殊能带结构被形象地称为量子阱。 超晶格:当量子阱结构中单晶薄层的厚度可与德布罗意波长或波尔半径相比拟时,由于量子尺寸效应,量子阱之间会发生很强耦合效应。 3.光子晶体:是指具有光子带隙特性的周期性电介质结构的人造晶体。 纳米线:一种具有在横向上被限制在100纳米以下,纵向无限制的一维结构材料。 4.施主杂质:半导体中掺杂的杂质能够提供电子载流子的特性。 受主杂质:半导体中掺杂的杂质能提供空穴载流子的特性。 杂质能级:半导体中掺入微量杂质时,杂质原子附近的周期势场受到干扰并形成附加的束缚状态,在禁带中产生附加的杂质能级。 5.激子复合:所谓激子是指处于束缚态的电子和空穴,激子复合的能量将以光的形式 释放。 俄歇复合:电子和空穴复合后将能量传递给另一个电子或空穴的现象。有 CHCC(复合后的能量给导带的电子并使其激发到导带更高能态)和 CHHS(复合后的能量给价带的空穴并使其激发到自旋-轨道裂带上)过 程。 二、采用能带图和文字描述导体,半导体和绝缘体的异同。 导体:价带全满,导带部分填充 半导体:价带全满,导带全空,但是禁带宽度较窄,电子易于激发到导带中去。 绝缘体:价带全满,导带全空,禁带宽度较大 三、光波导结构的实例,并进一步说明光波导在光电器件中的工作原理。 光波导主要有平面波导和条形波导,而条形波导又有增益波导,折射率波导,分布反馈波导实例: 如折射率波导:有源区和两侧限制区的折射率不同,有源区两侧解理面构成反射镜,在有源区电子受激发射出的光子由于有源区和限制区折射率的不同构成全反射,将光场限制在有源区内,光子只能在两侧解理面来回反射,激发出更多的光子,并在输出方向上传播。 四、双异质结未加偏压和加偏压的能带图 双异质结在激光器中的作用: (1)pn结处于正向电压时,异质结势垒降低,n区电子能够越过势垒和隧穿势垒而注入窄

Ch8半导体光电子器件

8. Semiconductor lasers 8Semiconductor lasers yp A typical semiconductor laser is formed from a semiconductor diode and a pair of plane-parallel mirrors. In operation, the diode is forward biased In operation the diode is forward biased The populations are so large that f e+ f h> 1 for some photon energy (above the bandgap energy), thereby giving gain in the semiconductor material. If the gain per pass exceeds the mirror transmission loss and any other losses experienced by the beam (e.g, diffraction, absorption loss in nominally transparent parts of the structure, loss from scattering off material, or structure imperfections) the structure will lase.

Semiconductor laser structures There are two basic configurations edge-emitting edge emitting surface emitting.

微电子制造工艺

《微电子制造工艺》课程教学大纲 一、课程说明 (一)课程名称、所属专业、课程性质、学分; 课程名称:微电子制造工艺 所属专业:微电子科学与工程 课程性质:专业必修课 学分: 4 (二)课程简介、目标与任务; 本课程作为微电子科学与工程专业的专业必修课,是半导体制造工艺的基础。主要介绍半导体制造相关的全部基础技术信息,以及制造厂中的每一道制造工艺,包括硅片氧化,淀积,金属化,光刻,刻蚀,离子注入和化学机械平坦化等内容。 该课程的目的使学生了解产业变化历史中的所有工艺和设备,以及每道具体工艺的技术发展的现状及发展趋势。 (三)先修课程要求,与先修课与后续相关课程之间的逻辑关系和内容衔接; 上本课程之前或者同时应了解半导体物理的相关知识,以便为本课程打下基础;同时本课程又是集成电路分析与设计,以及微电子制造工艺专业实验及实习的基础。 (四)教材与主要参考书。 本课程所使用的教材是《半导体制造技术》,Michael Quirk, Julian Serda著,韩郑生等译,电子工业出版社。 主要参考书: 《半导体器件物理与工艺》施敏苏州大学出版社 《硅集成电路工艺基础》陈力俊复旦大学出版社 《芯片制造-半导体工艺制程实用教程》电子工业出版社 《集成电路制造技术-原理与实践》电子工业出版社 《超大规模集成电路技术基础》电子工业出版社 《半导体器件基础》电子工业出版社 《硅集成电路工艺基础》北京大学出版社 二、课程内容与安排 第一章半导体产业介绍(3学时) 第二章半导体材料特性(3学时)

第三章器件技术(3学时) 第四章硅和硅片制备(5学时) 第五章半导体制造中的化学品(3学时) 第六章硅片制造中的玷污控制(3学时) 第七章测量学和缺陷检查(3学时) 第八章工艺腔内的气体控制(3学时) 第九章集成电路制造工艺概况(5学时) 第十章氧化(6学时) 第十一章淀积(5学时) 第十二章金属化(5学时) 第十三章光刻:气相成底膜到软烘(4学时) 第十四章光刻:对准和曝光(4学时) 第十五章光刻:光刻胶显影和先进的光科技术(4学时) 第十六章刻蚀(5学时) 第十七章离子注入(4学时) 第十八章化学机械平坦化(4学时) (一)教学方法与学时分配 采用多媒体课件与板书相结合的课堂教学方法,基于学生便于理解接受的原 则,对不同讲授内容给予不同方式的侧重。学时分配详见课程内容与安排。 (二)内容及基本要求 主要内容:本章属于引言章节,主要介绍半导体产业的历史,现状及发展趋势。要求掌握和了解集成电路制造以及半导体发展的趋势。 【重点掌握】:硅和硅片制备,氧化,淀积,光刻技术 【掌握】:芯片制备过程中的清洗,金属化,刻蚀,离子注入,化学机械平坦化 【了解】:器件技术,半导体制造中的化学品及玷污 【一般了解】:测量学和缺陷检查,工艺腔内的气体控制 【难点】:光刻过程及离子注入 (重点掌握、掌握、了解、一般了解四个层次可根据教学内容和对学生的具体要求适当减少,但不得少于两个层次) 制定人:陶春兰 审定人: 批准人: 日期:

2章 常用半导体器件及应用题解

第二章常用半导体器件及应用 一、习题 2.1填空 1. 半导材料有三个特性,它们是、、。 2. 在本征半导体中加入元素可形成N型半导体,加入元素可形成P型半导体。 3. 二极管的主要特性是。 4.在常温下,硅二极管的门限电压约为V,导通后的正向压降约为V;锗二极管的门限电压约为V,导通后的正向压降约为V。 5.在常温下,发光二极管的正向导通电压约为V,考虑发光二极管的发光亮度和寿命,其工作电流一般控制在mA。 6. 晶体管(BJT)是一种控制器件;场效应管是一种控制器件。 7. 晶体管按结构分有和两种类型。 8. 晶体管按材料分有和两种类型。 9. NPN和PNP晶体管的主要区别是电压和电流的不同。 10. 晶体管实现放大作用的外部条件是发射结、集电结。 11. 从晶体管的输出特性曲线来看,它的三个工作区域分别是、、。 12. 晶体管放大电路有三种组态、、。 13. 有两个放大倍数相同,输入电阻和输出电阻不同的放大电路A和B,对同一个具有内阻的信号源电压进行放大。在负载开路的条件下,测得A放大器的输出电压小,这说明A 的输入电阻。 14.三极管的交流等效输入电阻随变化。 15.共集电极放大电路的输入电阻很,输出电阻很。 16.射极跟随器的三个主要特点是、、。 17.放大器的静态工作点由它的决定,而放大器的增益、输入电阻、输出电阻等由它的决定。 18.图解法适合于,而等效电路法则适合于。 19.在单级共射极放大电路中,如果输入为正弦波,用示波器观察u o和u i的波形的相位关系为;当为共集电极电路时,则u o和u i的相位关系为。 20. 在NPN共射极放大电路中,其输出电压的波形底部被削掉,称为失真,原因是Q点(太高或太低),若输出电压的波形顶部被削掉,称为失真,原因是Q 点(太高或太低)。如果其输出电压的波形顶部底都被削掉,原因是。 21.某三极管处于放大状态,三个电极A、B、C的电位分别为9V、2V和1.4V,则该三极管属于型,由半导体材料制成。 22.在题图P2.1电路中,某一元件参数变化时,将U CEQ的变化情况(增加;减小;不变)填入相应的空格内。 (1) R b增加时,U CEQ将。 (2) R c减小时,U CEQ将。 (3) R c增加时,U CEQ将。 (4) R s增加时,U CEQ将。 (5) β增加时(换管子),U CEQ将。

光电子材料和器件复习资料

试卷题型分布100分选择题、填空题、名词解释、问答题、论述题 选择题内容不仅仅在这里面,包括书里、课堂讲授 第一章 一、单项选择题 可见光的波长范围为[C ] A 200—300nm B 300—380nm C 380—780nm D 780—1500nm 二、填空 1.异质p-n结指p端与n端为不同材料形成的p-n结 2.P型半导体是向本征半导体中参入低价元素形成的。P型半导体中的导电粒子为空穴。 3. 红外线,它是一种人眼看不见的光线,但实际上它与其他任何光线一样,也是一种客观存在的物质。任何物质,只要它的温度高于__ O K __,就会有红外线向周围空间辐射。三、名词解释: 非本征半导体,pn结,直接带隙,间接带隙,光致发光,电致发光,内量子效率,外量子效率,发光效率,垂直腔面发射激光器, l·pn结的空间电荷区具有什么样的特点?它是如何形成的? 2·简述直接带隙半导体及间接带隙半导体材料的发光过程。两者有何不同? 3.发光二极管的发光原理是什么? 4·理解半导体材料中实现光放大的粒子数反转条件。 5·半导体激光器产生激光需要满足哪些条件? 6·双异质结半导体激光器为什么可以显著降低阈值电流? 7、垂直腔面发射激光器优点 8、什么是半导体材料的本征吸收? 9、双异质结半导体激光器为什么可以显著降低阈值电流? 第二章 常用的激光晶体、激光玻璃、激光陶瓷有哪些?P28-32 常用的固体激光器的基质材料有哪些? 光泵固体激光器的三个基本组成部分P41 固体激光器的主要优点 谐振腔腔长公式P47 阈值增益系数公式P58 常见的固体激光器P62 激活离子P27,基质材料P28 光学谐振腔的基本结构及其作用。P44 第六章 光子效应、光热效应、光电导效应、光生伏特效应光电发射效应 光热效应有哪些?光子效应有哪些?常见的光电二极管。硅太阳能电池类型 光热效应的特点有哪些? 光电二极管的原理及其主要的物理过程。 光电池从材料和结构上分为4类,各有什么特点?

《半导体器件》习题及参考答案模板

第二章 1 一个硅p -n 扩散结在p 型一侧为线性缓变结,a=1019cm -4,n 型一侧为均匀掺杂,杂质浓度为3×1014cm -3,在零偏压下p 型一侧的耗尽层宽度为0.8μm ,求零偏压下的总耗尽层宽度、内建电势和最大电场强度。 解:)0(,22≤≤-=x x qax dx d p S εψ )0(,2 2n S D x x qN dx d ≤≤-=εψ 0),(2)(22 ≤≤--=- =E x x x x qa dx d x p p S εψ n n S D x x x x qN dx d x ≤≤-=- =E 0),()(εψ x =0处E 连续得x n =1.07μm x 总=x n +x p =1.87μm ?? =--=-n p x x bi V dx x E dx x E V 0 516.0)()( m V x qa E p S /1082.4)(25 2max ?-=-= ε,负号表示方向为n 型一侧指向p 型一侧。 2 一个理想的p-n 结,N D =1018cm -3,N A =1016cm -3,τp =τn =10-6s ,器件的面积为1.2×10-5cm -2,计算300K 下饱和电流的理论值,±0.7V 时的正向和反向电流。 解:D p =9cm 2/s ,D n =6cm 2/s cm D L p p p 3103-?==τ,cm D L n n n 31045.2-?==τ n p n p n p S L n qD L p qD J 0 + = I S =A*J S =1.0*10-16A 。 +0.7V 时,I =49.3μA , -0.7V 时,I =1.0*10-16A 3 对于理想的硅p +-n 突变结,N D =1016cm -3,在1V 正向偏压下,求n 型中性

半导体光电效应及其应用

半导体光电效应及其应用 量子力学无疑是20世纪最伟大的科学成就之一,它的诞生是人类对自然界,尤其对微观世界的认识有了质的飞跃,对许多造福人类的高新技术的发展起了奠基、催生和巨大的推动作用。 自20世纪中期开始,电子工业取得了长足的进步,目前已成为世界上最大的产业,而其基础为半导体材料。为了适应电子工业的巨大需求,从第一代半导体材料:硅、锗(1822年,瑞典化学家白则里用金属钾还原氟化硅得到了单质硅。)发展到第二代半导体材料:Ⅲ——Ⅴ族化合物,再到现在的第三代半导体材料:宽带隙半导体。半导体领域取得了突飞猛进的发展。 一、光电效应 光照射到某些物质上,引起物质的电性 质发生变化,也就是光能量转换成电能。这 类光致电变的现象被人们统称为光电效应 (Photoelectric effect)。这一现象是 1887年赫兹在实验研究麦克斯韦电磁理论 时偶然发现的。1905年,爱因斯坦在《关于光的产生和转化的一个启发性观点》一文中,用光量子理论对光电效应进行了全面的解释。1916年,美国科学家密立根通过精密的定量实验证明了爱因斯坦的理论解释,从而也证明了光量子理论。 光电效应分为光电子发射、光电导效应和光生伏特效应。前一种现象发生在物体表面,物体在光的照射下光电子飞到物体外部的现象,又称外光电效应。后两种现象发生在物体内部,物体受光照射后,其内部的原子释放出电子并不溢出物体表面,而是仍留在内部,称为内光电效应。内、外光电效应在光电器件和光电子技术中具有重要的作用,根据这些效应可制成不同的光电转换器件(光敏器件)。 通过大量的实验总结出光电效应具有如下实验规律: 1、每一种金属在产生光电效应是都存在一极限频率(或称截止频率),即照射光的频率不能低于某一临界值。相应的波长被称做极限波长

习题与答案(第2章 半导体器件)(修改)

习题 2-1.填空 (1)N型半导体是在本征半导体中掺入;P型半导体是在本征半导体中掺入。 (2)当温度升高时,二极管的反向饱和电流会。 (3)PN结的结电容包括和。 (4)晶体管的三个工作区分别是、和。在放大电路中,晶体管通常工作在区。 (5)结型场效应管工作在恒流区时,其栅-源间所加电压应该。(正偏、反偏) 答案:(1)五价元素;三价元素;(2)增大;(3)势垒电容和扩散电容;(4)放大区、截止区和饱和区;放大区;(5)反偏。 2-2.判断下列说法正确与否。 (1)本征半导体温度升高后,两种载流子浓度仍然相等。() (2)P型半导体带正电,N型半导体带负电。() (3)结型场效应管外加的栅-源电压应使栅-源间的耗尽层承受反向电压,才能保证R GS大的特点。() (4)只要在稳压管两端加反向电压就能起稳压作用。() (5)晶体管工作在饱和状态时发射极没有电流流过。() (6)在N型半导体中如果掺入足够量的三价元素,可将其改型为P型半导体。()(7)PN结在无光照、无外加电压时,结电流为零。() (8)若耗尽型N沟道MOS场效应管的U GS大于零,则其输入电阻会明显减小。()答案:(1)对;温度升高后,载流子浓度会增加,但是对于本征半导体来讲,电子和空穴的数量始终是相等的。 (2)错;对于P型半导体或N型半导体在没有形成PN结时,处于电中性的状态。 (3)对;结型场效应管在栅源之间没有绝缘层,所以外加的栅-源电压应使栅-源间的耗尽层承受反向电压,才能保证R GS大的特点。 (4)错;稳压管要进入稳压工作状态两端加反向电压必须达到稳压值。 (5)错;晶体管工作在饱和状态和放大状态时发射极有电流流过,只有在截止状态时没有电流流过。 (6)对;N型半导体中掺入足够量的三价元素,不但可复合原先掺入的五价元素,而且可使空穴成为多数载流子,从而形成P型半导体。 (7)对;PN结在无光照、无外加电压时,处于动态平衡状态,扩散电流和漂移电流相等。 (8)错。绝缘栅场效应管因为栅源间和栅漏之间有SiO2绝缘层而使栅源间电阻非常大。因此耗尽型N沟道MOS场效应管的U GS大于零,有绝缘层故而不影响输入电阻。 2-3.为什么说在使用二极管时,应特别注意不要超过最大整流电流和最高反向工作电压? 答:当正向电流超过最大整流电流会使二极管结温过高,性能变坏,甚至会烧毁二极管;当反向工作电压超过最高反向工作电压时,会发生击穿。 2-4.当直流电源电压波动或外接负载电阻R L变动时,稳压管稳压电路的输出电压能

Ch6半导体光电子器件

6Semiconductor Detectors 6. Semiconductor Detectors A large variety of semiconductor materials, structures and devices are used as photodetectors in optical receivers. The most important for communications are: pn p i n and Schottk Barrier Photodiodes ?pn, p-i-n and Schottky Barrier Photodiodes ?Avalanche Photodiodes ?Metal-Semiconductor-Metal(MSM)Photodiodes Metal Semiconductor Metal (MSM) Photodiodes ?Photoconductors Equally important optical devices, but structurally completely q y p p,y p y different and not used for optical communications include: ?Charge-Coupled Devices (CCDs) ?CMOS Imagers ?Photocathodes ?Solar Cells Solar Cells

Optical Absorption Optical Absorption

Optical Absorption in Semiconductors p p g g The photon flux passing through an absorbing medium is Since the carrier collection regions are ≤1 μm, the absorption coefficient needs to b101hi hi h be ~104cm-1to achieve high efficiency, which only occurs for direct bandgap materials near di t b d t i l the bandgap. Basically want identical thermal and photon identical thermal and photon energies for generation.

半导体光电子材料

异质结构在能带结构和折射率上具有独特之处。前者为我们提供了能带结构上的各种势垒、势阱,从而能对半导体中的载流子产生电学限制作用;后者为我们提供折射率差,可以构成各种光波导波结构,从而能对半导体中的光波产生光学作用。正是几乎完全的载流子限制作用和几乎完全的光学限制作用,构成了半导体光电子器件的物理作用。 异质结构为我们提供了一个新的可变参量——带隙,通过改变材料组分可以改变带隙的大小,再通过带隙的差别来裁剪能带结构,从而设计半导体的物理特性,进而研制出新型的半导体器件结构,最终实现我们所需要的电学或光学的特性。 禁带宽度大、折射率小是半导体光电材料的特征。禁带大的材料能对禁带小的材料提供载流子限制作用,折射率小的材料能对折射率大的材料提供光学限制 半导体——位于导带的电子同位于价带的空穴复合而发光。 光的增益——载流子注入,电子-空穴对辐射复合,产生光 光的损耗——载流子跃迁,自由载流子吸收 在激光物质中,要想实现受激辐射的光放大,必须其内部增益足够大,足以克服激射物质的内部损耗和端面损耗。 发光二极管是利用少数载流子流入PN结直接将电能转换为光能的半导体发光元件。发光二极管是一种把电能转换成光能的特殊半导体器件,它具有一个PN结。 发光二极管发光(工作)原理:当加正向电压时,势垒降低,电子由N区注入到P区,和P区里的空穴复合;空穴则由P区注入到N区,和N区里的电子复合,这种电子空穴对的复合同时伴随着光子的放出,因而发光。 电子和空穴复合,所释放的能量等于PN结的禁带宽度(即能量间隙)E g。所放出的光子能量用hν表示 发光二极管基本结构:为了获得高辐射度,发光二极管常采用双异质结构。按光输出的位置不同,发光二极管可以分为边发射型和面发射型 超辐射发光二极管:介于激光二极管和发光二极管之间,光功率大且相干长度短。超辐射发光是一种很接近激射、但还不是激光的光源。其结构类似激光器,但没有谐振腔,或尽量破坏掉激光器的谐振腔;其发射逼近收集振荡,但始终还未共振;其相位不一致,因而是一飞相干光源,或称相干长度短的光源。 发光二极管的工作特性:(1)发射谱线和发散角:由于发光二极管没有谐振腔,所以它的发射光谱就是半导体材料导带和价带的自发发射谱线。由于导带和价带都包含有许多能级,使复合发光的光子能量有一个较宽的能量范围,形成较宽的自发发射谱线。同时,又由于自发发射的光的方向是杂乱无章的,所以LED输出光束的发散角也较大。(2)响应速度:发光二极管的响应速度依赖于载流子的自发复合寿命时间。通常在复合区采用高掺杂或使LED工作在高注入电流密度下,以减小载流子的寿命时间,从而提高LED的响应速度。(3)热特性:发光二极管的输出功率随结温的升高而减小。但由于它不是阈值器件,所以输出功率随结温呈缓慢的变化趋势。 有源区里实现了粒子数反转以后,受激辐射占据主导地位,但是,激光器初始的光场来源于导带和价带的自发发射,频谱较宽,方向也杂乱无章。为了得到单色性和方向性好的激光输出,必须构成光学谐振腔,使满足横向谐振条件的频率成分得到加强,而其它的频率成分被消耗掉,从而形成稳定的激光振荡输出。在半导体激光器中,光学谐振腔通常采用两种方式形成:一种是用晶体天然的解理面形成法布里—珀罗谐振腔(F—P腔),当光在谐振腔中满足一定的相位条件和振幅条件时,建立起稳定的光振荡。这种激光器称为F—P腔激光器。另一种是利用有源区一侧的周期性波纹结构提供光耦合来形成光振荡,如分布反馈(DFB)激光器和分布布拉格反射(DBR)激光器。 纵模频率是指在自发辐射谱内满足谐振条件,且损耗小于增益的频率。 F—P腔半导体激光器的结构:在F—P腔半导体激光器中,F—P腔的作用,首先使输出光的方向得到选择,使不能被反射镜面截获的、方向杂乱的光逸出腔外而损耗掉,能在谐振腔内建立起稳定振荡的光基本上是与反射镜面垂直方向的光。另外,要使光在谐振腔内建立起稳定的振荡,必须满足一定的相位条件和振幅条件,相位条件使发射光谱得到选择,振幅条件使激光器成为一个阈值器件。 按照垂直于PN结方向的结构的不同,F—P腔激光器可分为同质结激光器、单异质结激光器、双异质结激光器和量子阱激光器 同质结半导体激光器并不够理想。它的主要缺点是:1)激活区域宽,约为1个微米,所需要的工作偏压高;2)激活区域与两侧临近区的折射率近似相等,光波导效应不明显,光损耗大;这使得同质结激光器的阈值工作电流密度高,一般在2~4×104A/cm2范围。室温下只能以脉冲形式运转。为克服上述缺点,人们发明了双异质结半导体激光器 AlGaAs/GaAs双异质结(DH)激光器。窄带隙的有源区(GaAs)材料被夹在宽带隙的GaAlAs之间,带隙差形成的势垒对载流子有限制作用,它阻止了有源区里的载流子逃离出去。另一方面,双异质结构中的折射率差是由带隙差决定的,基本上不受掺杂的影响,有源区可以是重掺杂的,也可以是轻掺杂的。有源区里粒子数反转的条件靠注入电流来实现。由于带隙差所决定的折射率差较大(可达到5%左右),这使光场能很好的被限制。 有源区为窄直接带隙的半导体材料,它夹在两层掺杂型号相反的宽带隙半导体限制层之间。有源层的带隙比限制层的带隙小,折射率比前者大,由此引起的禁带宽度不连续性和折射率不连续性,分别起着载流子限制和光限制的作用,将注入的自由载流子有效的限制在很薄的有源区中,从而为有效的受激辐射放大提供了有利的条件。载流子的限制作用和光子的限制作用使激光器的阈值电流密度大大下降,从而实现了室温下连续工作。目前光纤通信中使用的F—P腔激光器,均采用双异质结构 异质结有源区厚度的减小是有利于降低阈值电流密度的。但是由于在太小的有源区厚度下,光波模式会发生截止,所以限制了有源区厚度的减小。为了进一步减小有源区厚度,同时又避免光波模式的截止,研究人员发明了分别限制异质结,以分别实现对光和载流子的限制。 在整个PN结面积上均有电流通过的结构是宽面结构,只有PN结中部与解理面垂直的条形面积上有电流通过的结构是条形结构。条形结构提供了平行于PN结方向的电流限制,因而大大降低了激光器的阈值电流,改善了热特性。隐埋条形半导体激光器,这种结构不仅具有低阈值电流、高输出光功率、高可靠性等优点,而且能得到稳定的基横模特性,从而受到广泛的重视。 分布布拉格反射DBR的结构及工作机理DBR激光器的腔体结构与F—P腔激光器不同,其基本原理是基于布拉格发射,布拉格发射是指在两种不同介质的交界面上,具有周期性的反射点,当光入射时,将产生周期性的反射,这种反射即称为布拉格发射。交界面本身可以取不同的形状:正弦波形或非正弦(如:方波、三角波等) 分布反馈DFB激光器的结构及工作机理:DFB激光器的激光振荡不是靠F—P腔来实现,而是依靠沿纵向等间隔分布的光栅所形成的光耦合 DFB激光器的特点:(1)动态单纵模窄线宽输出:由于DFB激光器中光栅的栅距(A)很小,形成一个微型谐振腔,对波长具有良好的选择性,使主模和边模的阈值增益相对较大,从而得到比F—P腔激光器窄很多的线宽,并能保持动态单纵模输出。 (2)波长稳定性好:由于DFB激光器内的光栅有助于锁定给定的波长,其温度漂移约为0.8?/℃,比F—P腔激光器要好得多。 DFB激光器工作特点:DFB-LD或DBR-LD 的高性能工作可归纳为以下的方面:窄线宽单模、动态单模且低啁啾、高功率输出、尽可能宽的波长可调谐范围 垂直腔面发射激光器:它具有发散角小,单纵模工作,低阈值,动态调制频率高 通常用于半导体量子阱的QW结构主要有三种类型,即多量子阱(MQW)、渐变折射率波导限制型单量子阱(GRIN—SCH—SQW)和带有超晶格缓冲层的渐变折射率波导限制型单量子阱(SLB—GRIN—SQW)。 QW激光器与一般的双异质结激光器相比,有一系列优越的特性:1)阈值电流很低2)谱线宽度窄,频率啁啾改善3)调制速率高 由于有源区为量子阱结构,量子阱激光器具有新特点: (1)光子能量大于材料的禁带宽度(2)光谱的线宽明显变窄(3)高的注入效率,易于实现粒子束反转,增益大为提高。 (4)温度稳定性大为改善。 温度变化将改变激光器的输出光功率,有两个原因:一是激光器的阈值电流随温度升高而增大,二是外微分量子效率随温度升高而减小 近场是指激光器反射镜面上的光强分布,远场是指离反射镜面一定距离处的光强分布。由于激光腔为矩形光波导结构,因此近场分布表征其横模特性,在平行于结平面的方向,光强呈现周期性的空间分布,称为多横模;在垂直于结平面的方向,由于谐振腔很薄,这个方向的场图总是单横模。 光纤激光器与半导体激光器从原理上说,没有本质的区别。它一般也由三部分组成:激励源(泵浦源)、有源区(工作物质)、激光谐振腔。在光纤激光器中,工作物质根据激光器输出波长的要求,由不同的掺稀土杂质的特种光纤构成 光照下改变自身的电阻率(当入射光子使电子由价带跃升到导带时,导带中的电子和价带中的空穴二者均参与导电,因此电阻显著减小,称为光敏电阻。光电二极管的频率 特性响应主要由三个因素决定:(a)光生载流子在耗尽层附近的扩散时间;(b)光生载流子在耗尽层内的漂移时间;(c)与负载电阻R L并联的结电容C i所决定的电路时间常数。 PIN光电二极管结构P型层、I型层、n型层构成的半导体二极管 PIN光电二极管结构在掺杂浓度很高的P型、N型半导体之间,生成一层掺杂极低的本征材料,称为I层。在外加反向偏置电压作用下,I层中形成很宽的耗尽层。CCD——电荷耦合器件,集光电转换、存储、自扫描转移、输出于一体的半导体非平衡态功能器件。

半导体器件物理(第二版)第二章答案

半导体器件物理(第二版)第二章答案

2-1.P N + 结空间电荷区边界分别为p x -和n x ,利用 2T V V i np n e =导出)(n n x p 表达式。给出N 区空穴为 小注入和大注入两种情况下的)(n n x p 表达式。 解:在 n x x =处 ()()??? ??? ???? ??-=?? ? ??-=KT E E n x n KT E E n x p i Fn i n n FP i i n n exp exp ()()VT V i Fp Fn i n n n n e n KT E E n x n x p 22exp =? ?? ? ??-= 而 ()()()000n n n n n n n n n n n n p x p p p n x n n n p x =+?≈?=+?=+ (n n n p ?=?) ()()T T V V i n n n V V i n n n e n p n p e n n n p 202 0=?+?=?+ 200 1T V V n i n n n p n p e n n ???+= ??? T V V 22n n0n i p +n p -n e =0 T V V 2 2n0n0i n -n +n +4n e p = (此为一般结果) 小注入:(0 n n n p <>? 且 n n p p ?= 所以 T V V i n e n p 22=或 T V V i n e n p 2= 2-2.热平衡时净电子电流或净空穴电流为零, 用此方法推导方程

第2章半导体器件习题解答

第二章习题参考答案 2-1 N 型半导体中的多数载流子是电子,P 型半导体中的多数载流子是空穴,能否 说N 型半导体带负电,P 型半导体带正电?为什么? 答 不能。因为不论是N 型半导体还是P 型半导体,虽然它们都有一种载流子占多数,整个晶体仍然不带电。因原子核外层电子和空穴的总带电量总是与原子核电量相等,极性相反,所以不能这样说。 2-2 扩散电流是由什么载流子运动而形成的?漂移电流又是由什么载流子在何种作用下而形成的? 答 扩散电流是由多数载流子运动而形成的;漂移电流是由少数载流子运动形成的。 2-3 把一个PN 结接成图2-42所示的电路,试说明这三种情况下电流表的读数有什 么不同?为什么? a) b) c) 图2-42 题2-3图 答 a )电流表无读数。因为电路中无电源,PN 结本身不导电。 b )电流表读数 R E 。因为PN 结正向导通,结压降近似为零。。 c )电流表读数很小或为零。因为PN 结反向截止,电路不通。 2-4 图2-43a 是输入电压I u 的波形。试画出对应于I u 的输出电压O u ,电 阻R 上电压R u 和二极管V 上电压V u 的波形,并用基尔霍夫电压定律检验各电压之间的关系。二极管的正向压降可忽略不计。 a) b) 图2-43 题2-4图

2 解 题2-4解图 2-5 在图2-44的各电路图中,V 5=E ,V sin 10t u i ω=,二极管的正向 压降可忽略不计,试分别画出输出电压O u 的波形。 a) b) c) d) 图2-44 题2-5图

3 解 a) b) c) d) 题1-5解图 2-6 在图2-45所示的两个电路中,已知V sin 30t u i ω=,二极管的正向压 降可忽略不计,试分别画出输出电压o u 的波形。 a ) b) 图2-45 题2-6图

半导体光电子器件制作

《半导体光电子器件制作技术》 课程编号:****** 课程名称:半导体光电子器件制作技术 学分:1.5 学时:24 (其中实验学时:0) 先修课程:半导体物理 一、目的与任务 本课程是一门专业教育选修课,适合于光信息科学技术、电子科学与技术、测控技术与仪器等专业。本课程的目的是为光电信息工程,电子科学与技术,测控技术与仪器等专业的学生进入半导体制造和研究领域打下坚实的理论和实践基础。 本课程的任务是通过半导体光电子芯片、器件及系统制造的工艺方法、工艺原理以及半导体制造新技术及发展趋势的学习,使学生掌握半导体光电子器件与系统的通用制备方法和过程以及相关基础理论知识。 二、教学内容及学时分配 第一章绪论(2学时) 1.光电子材料 2.光电子器件 3.工艺技术概述 第二章晶体材料生长(3学时) 1.单晶硅的生长及氧化技术 2.砷化镓晶体的生长技术

3.氮化稼基晶体的生长技术 第三章薄膜沉积技术(8学时) 1.薄膜技术概述 2.蒸发技术 3.溅射技术 4.外延生长技术 5.CVD技术 6.典型介质及金属制备技术 第四章光刻和刻蚀(2学时) 1.光刻工艺原理 2.光学光刻工艺介绍 3.新一代光刻方法 4.湿法刻蚀 5.干法刻蚀 第五章掺杂技术(2学时) 1.扩散工艺原理 2.基本扩散工艺 3.离子注入原理 4.注入相关工艺 第六章典型光电子器件制作工艺(7学时) 1.CMOS工艺流程及制作步骤(2学时) 2.光电探测器的结构和制作(1学时) 3.发光二极管的结构和制作(1学时)

4.太阳能电池的结构与制作(1学时) 5.电致发光显示的结构和制作(2学时) 三、考核与成绩评定 考核:统一命题,开卷 成绩评定:考试占80%,平时作业及日常考核等占20%,按百分制给出最终成绩。 四、大纲说明 1. 本大纲是根据我校电子科学与技术(光电子)、光电信息科学与工程、光电信息工程专业培养计划及其知识结构要求,并适当考虑专业特色而制定的。 2. 在保证基本教学要求的前提下,教师可以根据实际情况,对内容进行适当的调整和删节。 3. 本大纲适合光电类相关专业。 五、教材、参考书: 教材: [1](美)施敏, 梅凯瑞著,《半导体制造工艺基础》,合肥,安徽大学出版社,2007 参考书: [1](美)Michael Quirk, Julian Serda著,《半导体制造技术》,北京,电子工业出版社2004 [2]夏海良等编,《半导体器件制造工艺》,上海,上海科学技术出版社1986

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