LIN总线一致性测试——动态电气参数_斜率控制测试大纲
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6.5.6 斜率控制
测试内容描述：
IUT 作为发送端，测量20.0 kbit/s 下的占空比。
测试框图：
图7.5 斜率控制测试框图
实验准备： 修改LIN 节点程序，使其支持下列报文：
TST_FRM_RDBI_0 Byte
PID NAD PCI
SID Data1
Data2
Data3 Data4 Data5
CRC Content 0x3C NAD 0x06 0xB2 0x0
Supplier ID Function ID Checksum - data
LSB MSB
LSB
MSB
TST_HDR_SR_3D Byte
PID NAD PCI RSID Data1 Data2
Data3 Data4 Data5 CRC Content 0x3D NAD 0x06 0xF2 User defined
Checksum - data
测试步骤：
① 按照图7.5，布置实验，完成后拍照；
② 按照下表中的数值，设置V IUT 、V Pull-up 、C BUS 、R BUS ；
③ 设置BabyLIN,以20bps 的波特率，发送TST_FRM_RDBI_0报文； ④ 用示波器抓取EXV 返回的TST_HDR_SR_3D 报文（LIN 总线电压波形）；
⑤ 截取波形中Data3从Start Bit 的下降沿到Bit 2的下降沿部分，如下图所示：
图7.6 截取TST_FRM_RDBI_0中的Data3的示意图
⑥ 分析波形中Data3的bit 1波形，得到t Bus_rec(min)和t Bus_rec(max)，使用us为单位，如下图所示：
图7.7 获取t Bus_rec(min)和t Bus_rec(max)示意图
⑦ 按照下列公式，计算D1和D2的值,写入记录表格：
D1=t!"#_%&'()*+)/(2×t!*-);
D2=t!"#_%&'()./)/(2×t!*-);
⑧ 按照下表中的数值，变更测试参数，重复上述测试步骤。
实验现场图片：
结果分析：
序号 V IUT
(V)
V Pull-up
(V)
C BUS R BUS
测试数据
D3/D4
判据 是否通
过
D1 Min. D2 Max.
1 8.0 6.0 1nF(1%) 1k W(0.1%) /- 0.396 -
2 8.0 6.6 1nF(1%) 1k W(0.1%) /- 0.396 -
3 8.0 6.0 6.8nF(1%) 660W(0.1%) /- 0.396 -
4 8.0 6.6 6.8nF(1%) 660W(0.1%) /- 0.396 -
5 8.0 6.0 10nF(1%) 500W(0.1%) /- 0.39
6 -
6 8.0 6.6 10nF(1%) 500W(0.1%) /- 0.396 -
7 8.6 6.6 1nF(1%) 1k W(0.1%) / 0.396 0.581
8 8.6 7.2 1nF(1%) 1k W(0.1%) / 0.396 0.581
9 8.6 6.6 6.8nF(1%) 660W(0.1%) / 0.396 0.581
10 8.6 7.2 6.8nF(1%) 660W(0.1%) / 0.396 0.581
11 8.6 6.6 10nF(1%) 500W(0.1%) / 0.396 0.581
12 8.6 7.2 10nF(1%) 500W(0.1%) / 0.396 0.581
13 18.6 17.0 1nF(1%) 1k W(0.1%) / 0.396 0.581
14 18.6 17.6 1nF(1%) 1k W(0.1%) / 0.396 0.581
15 18.6 17.0 6.8nF(1%) 660W(0.1%) / 0.396 0.581
16 18.6 17.6 6.8nF(1%) 660W(0.1%) / 0.396 0.581
17 18.6 17.0 10nF(1%) 500W(0.1%) / 0.396 0.581
18 18.6 17.6 10nF(1%) 500W(0.1%) / 0.396 0.581。
