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iso16232清洁度标准ISO16232清洁度标准。
ISO16232清洁度标准是指国际标准化组织（ISO）发布的用于评估零部件和系统清洁度的标准。
清洁度是指零部件表面或内部的杂质、污染物和残留物的程度，对于许多行业来说，清洁度是确保产品质量和性能的重要因素。
ISO16232标准提供了一套系统化的方法，用于评估和验证零部件和系统的清洁度，以确保其符合特定的要求和标准。
ISO16232标准主要包括以下几个方面的内容：1. 采样方法，ISO16232标准规定了不同类型的采样方法，包括表面采样、液体采样和气体采样等。
这些采样方法的选择取决于具体的清洁度要求和应用场景。
2. 分析方法，ISO16232标准提供了多种分析方法，用于检测和测量零部件和系统中的杂质、污染物和残留物。
这些分析方法包括颗粒计数法、化学分析法、光学显微镜检查法等，可以根据具体情况进行选择和应用。
3. 评估标准，ISO16232标准明确了清洁度的评估标准，包括颗粒数量、颗粒大小、化学成分等指标。
这些评估标准可以帮助用户准确地评估零部件和系统的清洁度水平。
4. 报告和记录，ISO16232标准要求对清洁度检测的结果进行详细的报告和记录，包括采样方法、分析方法、评估标准以及检测结果等内容，以便后续的验证和追溯。
ISO16232清洁度标准的应用范围非常广泛，涵盖了汽车工业、航空航天、医疗器械、电子产品等多个行业。
在汽车工业中，清洁度是确保发动机、传动系统和液压系统正常运行的关键因素，ISO16232标准的应用可以帮助汽车制造商和供应商确保零部件和系统的清洁度达到要求，提高产品质量和可靠性。
在航空航天领域，清洁度对于飞机发动机和航空器件的性能和寿命至关重要，ISO16232标准的应用可以帮助航空航天制造商和运营商确保零部件和系统的清洁度符合要求，提高飞行安全和可靠性。
在医疗器械和电子产品领域，清洁度是确保产品安全和可靠性的重要因素，ISO16232标准的应用可以帮助制造商和供应商确保产品的清洁度达到卫生和安全要求，保障用户的健康和利益。
ISO 2006-©版权所有ISO TC 22/SC 5日期：2006-03-1ISO/FDIS 16232-7:2006(E)ISO TC 22/SC 5/WG 12秘书：AFNOR公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第7部分：显微分析法确定微粒粒度和计数文件类型：国际标准文件次级类型：文件阶段：（50）已批准文件语言：英语版权说明本ISO文件是国际标准的草案，版权为ISO所有。
除使用者的国家使用法允许外，未经书面安全许可，该ISO草案及其摘录均不得被复制、存储在可修复系统中或以任何形式/任何方式（电子的、影印、重刻等其它方式）进行转移。
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ISO 版权办公室邮购地址：56.CH－1211 日内瓦 20电话：＋41 22 749 01 11传真：＋41 22 749 09 47E-mail：copyright@Web: 复制需要付费或注册。
违者将被起诉。
目录页码前言 (ⅳ)简介 (ⅴ)1范围 (1)2参考标准 (1)3术语和定义 (1)4原理 (2)5设备 (2)5.1准备薄膜过滤器的设备 (2)5.2分析设备 (3)5.3图像分析 (7)5.4自动试样台 (8)5.5多图像分析 (8)5.6环境条件 (9)5.7健康与安全 (9)6校正 (9)7程序 (10)7.1设备的清洗和准备 (10)7.2薄膜过滤器的准备 (10)7.3微粒粒度分级和计数程序 (11)8结果 (12)8.1测试报告 (12)8.2报告结果 (13)附录A（了解性信息）过滤 (14)A.1 与萃取设备相连的过滤 (14)A.2 单独过滤 (14)附录B（了解性信息）场扫描 (15)附录C（了解性信息）边缘微粒的计数 (16)附录D（了解性信息）多图像分析 (19)附录E（了解性信息）图像分析系统的分辨率和刻度 (20)附录F（了解性信息）测试报告示例 (21)F.1 顾客信息 (21)F.2 报告和分析信息 (21)F.3 测试部件信息 (21)F.4 萃取程序 (21)F.5 显微分析条件 (21)F.6 分析结果 (22)F.7 观察结果/注释（放大率、光源、灰度、相机设置等） (22)参考书目 (23)前言ISO（国际标准化组织）是全球国家标准团体的联盟（ISO成员体）。
附件1：0982 粒度和粒度分布测定法第二法筛分法草案公示稿（第一次）0982粒度和粒度分布测定法本法用于测定原料药、辅料和药物制剂粉末或颗粒的粒子大小或粒度分布。
其中第一法、用于测定粒子大小或限度，第二法用于测定药物制剂的粒子大小、或限度或粒度分布，第三法用于测定原料药或药物制剂的粒度分布。
第一法（显微镜法）本法中的粒度，系以显微镜下观察到的长度表示。
目镜测微尺的标定照显微鉴别法（通则2001）标定目镜测微尺。
测定法取供试品，用力摇匀，黏度较大者可按各品种项下的规定加适量甘油溶液（1→2）稀释，照该剂型或各品种项下的规定，量取供试品，置载玻片上，覆以盖玻片，轻压使颗粒分布均匀，注意防止气泡混入，半固体可直接涂在载玻片上，立即在50～100倍显微镜下检视盖玻片全部视野，应无凝聚现象，并不得检出该剂型或各品种项下规定的50μm及以上的粒子。
再在200～500倍的显微镜下检视该剂型或各品种项下规定的视野内的总粒数及规定大小的粒数，并计算其所占比例（%）。
第二法（筛分法）筛分法是通过合宜孔径的药筛对粉末或颗粒的粒子大小和粒度分布进行评估和分级的方法。
一般分为手动筛分法、机械筛分法与空气喷射筛分法气流筛分法。
一般情况下，手动筛分法和机械筛分法适用于测定大部分粒径大于75μm的供试品。
；对于粒径较小的供试品，由于其质量较小，在筛分过程中提供的重力不足以克服内聚力和粘附力，使颗粒相互团聚并粘附在筛面上，从而导致预期通过筛面的颗粒被保留，对于粒径小于75μm的样品，则应因此，采用气流筛分法空气喷射筛分法或其他适宜的方法更为合适。
但是在经方法验证可行的情况下，筛分法也可用于粒径中位值小于75μm的粉末或颗粒。
对于只能通过粒度大小进行分类的粉末或颗粒，筛分法是很好的选择。
筛分法需要的样品量大（一般至少需要25g，取决于粉末或颗粒的密度以及药筛的直径），而且难以筛分易堵塞筛孔的油性或其他粘附性粉末或颗粒。
颗粒能否通过筛孔一般取决于颗粒的最大宽度或厚度，而不是颗粒的长度，因此筛分法是一种二维的尺寸估算方法。
粒度分析一:一致性评价-粒度分析方法开发和验证背景介绍一致性评价和仿制药开发过程中，粒度是API、辅料和制剂中间体的粉体学研究重要技术指标之一，传统的粒度测量方法中，以过筛最为常见，常以“目”为单位。
粒度与目数有个快捷换算方法，二者近似乘积为15000。
过筛的方法虽然成本低，但是难以给出具体的粒度分布情况，人为因素影响较大，且“目”的概念相对比较含糊，不同的标准如美国标准、英国标准及泰勒标准还是有细微的差别，这样对沟通操作可能带来一些不便。
随着时代的进步，多种新型的测量仪器的应用也使得对粒度的把握更加准确，如激光衍射粒度分析仪、库尔特计数仪、颗粒图像处理仪器及离心沉降仪等等。
不同设备的测量原理不同，导致结果会有所差异。
例如沉降仪所依据的理论是Stokes公式中球形颗粒的沉降速率与粒径之间的关系，而对不规则颗粒，二者之间的关系是未知的，为此沉降仪所测得的粒径相当于某一球体的大小，称之为沉降速度粒径；库尔特计数器得到的称之为等效电阻粒径；激光粒度仪给出的粒径称之为等效散射光粒径。
因此，只有颗粒为完整的球形时，所有设备测得结果才有可能是相同的。
随着当前对药品质量的要求越来越高，口服固体API和辅料的粒度分布影响着药物的溶出速率甚至是体内吸收，无论是制粒或者粉末直压工艺都需要对粉体颗粒的粒度分布有一个严格控制范围，粒度分布直接影响颗粒的流动性、可压性甚至含量均匀度等等。
本文将对激光衍射粒度仪测量方法的开发进行一个简单的介绍。
激光衍射法精密度、准确度执行标准简单的说，激光衍射粒度仪主要是利用了光的散射原理测量粒径，是基于颗粒体积的计算技术，将不规则颗粒假设为等体积球模型。
颗粒的粒度越小，散射角越大。
图片来源EP0-31Particle size analysis by laser light diffraction2010版和2015版《中国药典》粒度和粒度分布测定法均收录了第三法（光散射法），制剂通则仅对仪器的一般要求和测定法进行了简单介绍，目前CFDA尚无应用第三法进行API 粒度分析方法开发和验证的相关指导原则。
涂附磨具用磨料粒度组成的检测和标记第3部分：微粉P240～P50001 范围本文件规定了涂附磨具用刚玉和碳化硅磨料等普通磨料微粉P240～P5000粒度组成的测定或试验方法。
本文件适用于制造涂附磨具的磨料和为试验目的从涂附磨具上回收的磨料。
2 规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。
其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 4676 普通磨料取样方法（GB/T 4676—2018，ISO 9138:2015，MOD）GB/T 16458 磨料磨具术语JB/T 6569 普通磨料包装ISO 13317-3 通过重力液体沉降法测定粒度组成—第3部分：X射线重力技术3 术语和定义GB/T 16458界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
微粉microgrit等效中值粒径为58.5 μm至2.7 μm、且其粒度组成（3.2）用沉降法测定的磨粒。
粒度组成grain size distribution/particle size distribution（PSD）某一粒度号中各不同尺寸磨粒的质量分数。
[来源：GB/T 16458—2021，定义3.1.5.2]4 微粉P240～P1200的粒度组成通过沉降法检测粒度为P240～P1200的微粉，应使用沉降管粒度仪（见5.2.1）。
测量原理是确定一定时间内沉降在收集管内悬浮磨料样品的体积并根据斯托克斯定律计算等效粒径。
微粉P240～P1200粒度组成的判定准则如下：a)第一颗沉降的颗粒即为最大颗粒，其颗粒粒径（理论粒径）不应超过d s0的最大允许值；b)在粒度组成曲线的3％点处，其粒径（理论粒径）不应超过d s3的最大允许值；c)在粒度组成曲线的50％点处，其中值粒径（理论粒径）应在规定的d s50允许偏差内；d)在粒度组成曲线的95％点处，其粒径（理论粒径）应达到d s95的最小允许值。
影像材料已加工彩色照片热稳定性测量方法1范围本文件描述了测定彩色照片长期暗存储稳定性的试验方法。
本文件适用于用传统照相材料制作的彩色照片。
这些图像由显色、银-漂白剂染料、染料转移，染料扩散-转移“即时”系统和类似系统生成。
本文件中规定的测试方法还包括使用干法和液体调色剂电子照相术，热染料转移（有时称为“染料升华”）和喷墨印刷系统生产的数字彩色图像的暗稳定性。
2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。
其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
ISO5-3摄影和图像技术密度测量第3部分：光谱条件（Photography and graphic technology—Density measurements—Part3:Spectral conditions）注：GB/T11501-2008摄影密度测量第3部分：光谱条件（ISO5-3:1995，IDT）ISO5-4摄影和图像技术密度测量第4部分：反射密度的几何条件（Photography and graphic technology—Density measurements—Part4:Geometric conditions for reflection density）注：GB/T12823.4-2008摄影密度测量第4部分：反射密度的几何条件（ISO5-4:1995，IDT）ISO13655图像技术图像艺术影像的光谱测量和比色计算（Graphic technology—Spectral measurement and colorimetric computation for graphic arts images）注：GB/T19437-2004印刷技术印刷图像的光谱测量和色度计算（ISO13655:1996，IDT）ISO18913影像材料持久性词汇（Imaging materials—Permanence—Vocabulary）ISO18920影像材料反射照片储存规程（Imaging materials—Reflection prints—Storage practices）ISO18924影像材料阿列纽斯(Arrhenius)型预测的试验方法（Imaging materials—Test method for Arrhenius-type predictions）ISO18941影像材料彩色照片臭氧褪色稳定性的试验方法（Imaging materials—Colour reflection prints—Test method for ozone gas fading stability）3术语与定义下列术语和定义适用于本文件。
ZEISS Correlative Particle AnalysisQuickly Characterize and Classify Particles Supporting ISO 16232 by Light and Electron MicroscopyProduct Information Version 1.1Click here to view this video on YouTubePerform a particle analysis supporting ISO 16232 with your motorized ZEISS zoom or light microscope: Axio Zoom.V16 and Axio Imager.Z2m deliver information on the quantity, size distribution, morphology and color of particles. Polarization contrast allows you to differentiate between metallic and non-metallic objects. Identify suspect particles and relocate them in your ZEISS scanning electron microscope (SEM). Now you can automatically analyze their elemental compo-sition with energy dispersive spectroscopy (EDS). One report consolidates all results from light and electron microscopy.Capture more information in less time: by combining light and electron microscopy, you will release the full power of both.Identify Process Critical Particles in the Shortest Possible Time› In Brief › The Advantages › The Applications › The System› Technology and Details › Service100 μm100 μm100 μmSimpler. More intelligent. More integrated.Gain More InsightsCharacterize process-critical particles and identify killer particles. Correlative Particle Analysis (CAPA) combines your data from both light and electron microscopes. Detect particles with your light microscope. Now, you can relocate them automa-tically in your SEM from ZEISS and perform an EDS analysis to reveal information of their elemental composition. Use the gallery to pick out interesting particles and find out their origin.Your Dedicated SystemWith only a few mouse clicks, edit project infor-mation, create reports, and archive your results. See all classifications and ISO codes at a glance. With the gallery and evaluation view, you gain a quick overview of the particle types: reflective, non-reflective, and fibrous. Relocate interesting particles at the touch of a button. Use the revision mode to reclassify or edit particles.Automated and FastWith CAPA you automatically get an integrated report with results from both light and electron microscopy. Additionally you can choose to combine your light and electron microscopy results in an interactive summary. With CAPA you get your results up to ten times faster than by consecutive individual analysis with light and electron microscopy.Light microscopy image of a metallic particleElectron microscopy image of the same particleCorrelation of both images with EDX analysis› In Brief› The Advantages › The Applications › The System› Technology and Details › ServiceYour Insight into the Technology Behind It4 Membrane FilterReporting acc. to ISO Standard 162323 Cleaning Cabinet 2 Washing Plant 1 Components 8 Characterization EM7 Characterization LM 5 Screening in LM › In Brief› The Advantages › The Applications › The System› Technology and Details › Serviceevo_system_no-monitor.tif100 μmABC100 μmLight Microscope100 μmSelect Particles of Interest Your Insight into the Technology Behind ItCorrelative Holder • Specimen holder for particle filter 47 mm or 50 mm • Adapter plate • Calibration markerLight Microscopy Axio Zoom.V16Axio Imager.Z2mElectron Microscopy EVO SIGMA MERLINElectron MicroscopeA: EDX-OverlayB: Electron Microscope C: Light Microscope› In Brief› The Advantages › The Applications › The System› Technology and Details › ServiceSteel Non-alloy Steel Alloy BrassSustainable Si Sustainable Al Sustainable ZnYour Insight into the Technology Behind It2. Classification of metallic particles,Feret Max values ISO 16232 standard3. CCC Code and biggest particle› In Brief› The Advantages › The Applications › The System› Technology and Details › ServiceTailored Precisely to Your ApplicationsTypical Samples • Diesel engines • Cylinder blocks • Crankshaft • ABS systems • Injector nozzle • GearZEISS CAPA offersBrightfield and polarized light microscopy deliverinformation on number, shape, size and kind ofparticles on the filter. With the electron micro-scope you additionally analyze the particles withEDS. CAPA provides an automatic EDS measure-ment of the up to 200 biggest particles or 200particles in a selected size range.TaskAssure flawless functioning of parts and verifycomponent cleanliness by cleanliness analysissupporting ISO 16232 and VDA 19• Rinse parts with water and analyze and classifymore than 25k particles on a filter startingfrom >5 µm.Analyze particles within oils and brake fluids startingfrom 2 μm to avoid blocking of filters, nozzles andvalves, oilaging, cracks and leckage or break downof pumps• Analyze and classify more than 50k particlesstarting from 2 μm.Characterize process critical particles› In Brief› The Advantages› The Applications› The System› Technology and Details › ServiceA200 μm100 μmBACZEISS CAPA at WorkTypical Particles in the Electron MicroscopeTypical Particles in the Light MicroscopeFilter membrane with different particle types A: Metallic particles B: Non-metallic particles C: Fibers› In Brief › The Advantages › The Applications › The System› Technology and Details › Service1 MicroscopesLight Microscopes • Axio Zoom.V16 • Axio Imager.Z2mElectron Microscopes • EVO• SIGMA• MERLIN Compact • MERLIN 2 Software• AxioVision• Software Module: ZEISS CorrelativeParticle Analyzer (CAPA) and MosaiX• SmartSEM• SmartPI3 Accessoires• Specimen holder for particle filter47 mm or 50 mm• Adapter plate• Calibration marker• Optionally adapter frameZEISS CAPA: Your Flexible Choice of Components› In Brief› The Advantages› The Applications› The System› Technology and Details› ServiceZEISS CAPA: System OverviewMounting frame for Specimen holder CorrMic MAT; 96x86432335-9180-000 Adapter plate CorrMic withSEM interface; 160x116432335-9091-000Mounting frame K for Specimen holder CorrMic MAT; 96x86432335-9170-000Adapter plate CorrMic with SEM interface; 96x86432335-9101-000*Specimen holderCorrMic MAT Universal B432335-9110-000 * Specimen holder CorrMic MAT for Particle Analysis; 47 mmHint: for upright microscopes only!432335-9151-000SEM Adapter for Specimenholder CorrMic MAT Universal B› In Brief › The Advantages › The Applications › The System› Technology and Details › ServiceZEISS CAPA: System Overview432335-9190-000 Calibration marker CorrMic (Stub), 3 pc.432335-9190-000 Calibration marker CorrMic (Stub), 3 pc.› In Brief› The Advantages› The Applications› The System› Technology and Details › ServiceZEISS CAPA: System OverviewConfiguration example for the automatic measurement:› In BriefTo semiautomatic analyse nonreflective particles or particles smaller than 5 μm you additionally use the AxioVision software module Shuttle & Find.› The Advantages› The System› Technology and Details› ServiceTechnical Specifications› The Advantages› The Applications› The System› Technology and Details› ServiceTechnical Specifications› The Advantages› The Applications› The System› Technology and Details› ServiceBecause the ZEISS microscope system is one of your most important tools, we make sure it is always ready to perform. What’s more, we’ll see to it that you are employing all the options that get the best from your microscope. You can choose from a range of service products, each delivered by highly qualified ZEISS specialists who will support you long beyond the purchase of your system. Our aim is to enable you to experience those special moments that inspire your work.Repair. Maintain. Optimize.Attain maximum uptime with your microscope. A ZEISS Protect Service Agreement lets you budget for operating costs, all the while reducing costly downtime and achieving the best results through the improved performance of your system. Choose from service agreements designed to give you a range of options and control levels. We’ll work with you to select the service program that addresses your system needs and usage requirements, in line with your organization’s standard practices.Our service on-demand also brings you distinct advantages. ZEISS service staff will analyze issues at hand and resolve it – whether using remote maintenance software or working on site. Enhance Your Microscope System.Your ZEISS microscope system is designed for a variety of updates: open interfaces allow you to maintain a high technological level at all times. As a result you’ll work more efficiently now, while extending the productive lifetime of your microscope as new update possibilities come on stream.Please note that our service products are always being adjusted to meet market needs and maybe be subject to change.Profit from the optimized performance of your microscope system with services from ZEISS – now and for years to come.Count on Service in the True Sense of the Word>> /microservice› In Brief › The Advantages › The Applications › The System› Technology and Details › Service// PRECISIONMADE BY ZEISSThe moment you have absolute confidence in your results.This is the moment we work for.› In Brief › The Advantages › The Applications › The System› Technology and Details › ServiceE N _42_011_122 | C Z 10-2013 | D e s i g n , s c o p e o f d e l i v e r y a n d t e c h n i c a l p r o g r e s s s u b j e c t t o c h a n g e w i t h o u t n o t i c e . | © C a r l Z e i s s M i c r o s c o p y G m b HCarl Zeiss Microscopy GmbH 07745 Jena, Germany Materials********************/particleanalyzer。
ISO16232 标准中文版1. 引言在现代工业生产中，使用各种设备和机械都会产生不可避免的污染物。
这些污染物对于产品的安全性、可靠性和性能有着重要的影响。
因此，为了确保产品的质量和可靠性，需要对设备和机械进行定期的清洗和维护。
ISO16232标准中文版提供了一种评估和确定设备和机械内部污染物含量的方法。
2. ISO16232 标准概述ISO16232标准中文版是基于国际标准化组织（International Organization for Standardization，ISO）制定的标准。
该标准旨在提供一种评估和确定设备和机械内部污染物含量的方法。
ISO16232标准包括以下几个关键方面： 1. 定义了检测污染物的样品的方法和条件。
2. 确定了样品分析的方法和条件。
3. 规定了评估和分类污染物的方法和条件。
4. 提供了相应的报告和记录要求。
3. 样品采集方法在ISO16232标准中文版中，对于样品的采集方法有详细的规定。
以下是几种常见的样品采集方法： 1. 拭子法：使用适当的拭子，在设备和机械的表面进行拭子采样。
2. 气体抽吸法：使用适当的气体采样设备，对设备和机械内部的空气进行采样。
3. 液体抽吸法：使用适当的液体采样装置，对设备和机械内部的液体进行采样。
4. 样品分析方法样品采集后，需要对样品进行分析以确定污染物的含量。
根据ISO16232标准中文版的规定，以下是常用的样品分析方法： 1. 重量法：将采集到的样品进行称重，根据重量差计算污染物的含量。
2. 显微镜法：将样品置于显微镜下观察，通过计数污染物颗粒的数量来确定含量。
3. 化学分析法：使用适当的化学试剂对样品进行处理，从而测定污染物的含量。
5. 污染物的评估和分类ISO16232标准中文版规定了评估和分类污染物的方法。
根据污染物的颗粒大小和形状，可以将其分为以下几类： 1. 颗粒状污染物：这些污染物通常是固体颗粒，如金属屑等。
ISO 2006-©版权所有ISO TC 22/SC 5日期：2006-03-1ISO/FDIS 16232-7:2006(E)ISO TC 22/SC 5/WG 12秘书：AFNOR公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第7部分：显微分析法确定微粒粒度和计数文件类型：国际标准文件次级类型：文件阶段：（50）已批准文件语言：英语版权说明本ISO文件是国际标准的草案，版权为ISO所有。
除使用者的国家使用法允许外，未经书面安全许可，该ISO草案及其摘录均不得被复制、存储在可修复系统中或以任何形式/任何方式（电子的、影印、重刻等其它方式）进行转移。
允许复制的要求可以由下列ISO地址发出或申请者所在国有ISO成员。
ISO 版权办公室邮购地址：56.CH－1211 日内瓦 20电话：＋41 22 749 01 11传真：＋41 22 749 09 47E-mail：copyright@Web: 复制需要付费或注册。
违者将被起诉。
目录页码前言 (ⅳ)简介 (ⅴ)1范围 (1)2参考标准 (1)3术语和定义 (1)4原理 (2)5设备 (2)5.1准备薄膜过滤器的设备 (2)5.2分析设备 (3)5.3图像分析 (7)5.4自动试样台 (8)5.5多图像分析 (8)5.6环境条件 (9)5.7健康与安全 (9)6校正 (9)7程序 (10)7.1设备的清洗和准备 (10)7.2薄膜过滤器的准备 (10)7.3微粒粒度分级和计数程序 (11)8结果 (12)8.1测试报告 (12)8.2报告结果 (13)附录A（了解性信息）过滤 (14)A.1 与萃取设备相连的过滤 (14)A.2 单独过滤 (14)附录B（了解性信息）场扫描 (15)附录C（了解性信息）边缘微粒的计数 (16)附录D（了解性信息）多图像分析 (19)附录E（了解性信息）图像分析系统的分辨率和刻度 (20)附录F（了解性信息）测试报告示例 (21)F.1 顾客信息 (21)F.2 报告和分析信息 (21)F.3 测试部件信息 (21)F.4 萃取程序 (21)F.5 显微分析条件 (21)F.6 分析结果 (22)F.7 观察结果/注释（放大率、光源、灰度、相机设置等） (22)参考书目 (23)前言ISO（国际标准化组织）是全球国家标准团体的联盟（ISO成员体）。
制备国际标准的工作通过ISO技术委员会来执行。
每个对技术委员会设立的项目感兴趣的成员体都有权出席该委员会。
政府的和非政府的国际组织，只要和ISO有联系，就可以参加该项工作。
ISO在电工技术的标准方面与国际电工技术委员会（IEC）紧密合作。
根据ISO/IEC指南（第二部分）中的规则来起草国际标准。
技术委员会的主要任务是制备国际标准。
技术委员会采用的国际标准草案由成员体进行投票。
参与投票的成员体中至少有75％的赞成票时，该国际标准才能出版。
需要注意文件中的某些部分可能是专利的主题。
ISO不负责识别任何或所有的专利权。
ISO 16232-7是由技术委员会ISO/TC 22所编制，公路车辆，次级委员会SC 5，发动机测试。
ISO 16232 包括以下部分，总题目为：公路车辆—有流体循环的部件的清洁度：－第1部分：术语－第2部分：机械搅拌萃取污染物的方法－第3部分：高压冲洗萃取污染物的方法－第4部分：超声波技术萃取污染物的方法－第5部分：功能试验台萃取污染物的方法－第6部分：重量分析法确定微粒质量－第7部分：显微分析法确定微粒粒度和计数－第8部分：显微分析法确定微粒本性－第9部分：用自动消光微粒计数器确定微粒粒度和计数－第10部分：结果的表述简介流体系统中的微粒污染物被认为是控制系统寿命和可靠性的主要因素。
制造和装配过程中的残留微粒将导致在最初的磨合过程和早期寿命时系统磨损率的显著增加，甚至引起灾难性的失效。
为了获得部件和系统的可靠性，必须控制在制造过程中引入的微粒的数量，进行微粒污染物的检测是控制的基础。
本标准系列的起草就是为了填补汽车工业的需要，因为现代汽车流体部件和系统的功能和性能对单个或一些危险的微粒粒度很敏感。
因此，标准要求对萃取液体的总量和用经过批准的方法采集的污染物的总量进行分析。
本标准系列基于现存的ISO标准，如ISO/TC131/SC6开发的那些标准。
这些标准已经被增补、修改，并开发了新的标准来使标准全面化，以测量和报告适合于汽车流体循环的零部件的清洁度。
本标准定义了利用微观试验（金相试验）法确定从被分析部件上剥离并收集到的微粒污染物（采用已批准的萃取方法）的粒度分布。
与其它的污染物萃取和分析标准方法相比，因为部件的作用/功能可能会被某个或某些重要的微粒所削弱，所以必须分析所有的萃取液体。
公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第7部分：显微分析法确定微粒粒度和计数1范围本国际标准定义了用规定的光学显微镜（LM）或扫描电镜（SEM）来确定污染物微粒（从部件上萃取而沉积在薄膜过滤器的表面）的粒度和数量的方法。
测量结果为薄膜过滤器上的微粒粒度分布。
若零部件的功能会应某个或某些重要的微粒而削弱时，必须对整个薄膜过滤器的表面进行全面分析。
这些分析可以手动进行，或若有合适的设备可用的话，也可以利用图像分析技术进行全自动分析。
注1 手动进行全表面计数是一项困难而累人的工作，而且容易出错。
因此，如果按本标准所描述的方法来准备薄膜过滤器的话，推荐使用自动计数系统。
注2 计数和粒度分级的结果取决于许多参数，如显微镜的类型和模型、放大率、光源和其它设置。
2参考标准以下参考文件是使用本文件所必不可少的。
对于有日期的参考文件，仅所引用的版本适用；对于没有日期的参考文件，其最新版本（包括修正）适用。
ISO 16232-1，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第1部分：术语ISO 16232-2，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第2部分：机械搅拌萃取污染物的方法ISO 16232-3，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第3部分：高压冲洗萃取污染物的方法ISO 16232-4，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第4部分：超声波技术萃取污染物的方法ISO 16232-5，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第5部分：功能试验台萃取污染物的方法ISO 16232-10，公路车辆——有流体循环的部件的清洁度—第10部分：结果的表述3 术语和定义在ISO/DIS 16232-1中给出的术语和定义适用于本文件。
4 原理根据ISO 16232-2、ISO 16232-3、ISO 16232-4和ISO 16232-5中所描述的方法，从测试部件上萃取微粒所用的所有萃取液体在薄膜过滤器上进行过滤，然后用显微技术对分离的微粒进行计数和粒度分析。
微粒的粒度由微粒的最长尺寸决定。
图1 －微粒的最长尺寸光学显微镜利用微粒与薄膜过滤器表面的光对比来确定微粒粒度，这种对比主要通过调整亮度度（光线强度）而获得。
利用SEM进行微粒计数的基本原理是背散射电子强度的不同而形成材料对比。
注因为探测机制是基于不同类型的对比，所以从光学显微镜和扫描电镜所获得的计数结果没有可比性。
根据预测的污染物数量和清洁度规范中要求的相应粒度范围来选择过滤器和分析系统。
5 设备5.1 准备薄膜过滤器的设备5.1.1 若需要，一个可控的非通风烤箱，温度可保持在80±5℃5.1.2 薄膜过滤器应该与过程中所用萃取液体和任何冲洗液体或化学药品相容，其孔径应该适于收集最小粒度的微粒，其直径应该足够大以避免微粒的接触和重叠（这样的结合可能引起误差）。
当使用光学显微镜时，在微粒与薄膜过滤器的表面应该有良好的光对比。
对于扫描电镜，应选择光滑而平整的过滤器（如聚碳酸酯、硝酸纤维素、醋酸纤维素、聚酰胺） 注1 开有用于光学显微镜手动微粒计数定位的格子的薄膜过滤器不能用于图像分析自动微粒计数。
注2 为了简化检查，推荐使用孔径小于被分析的最小微粒的1/3的薄膜过滤器。
5.1.3 有两种方法从萃取液体分离微粒，描述如下：1）薄膜过滤器的固定装置连接到萃取设备：薄膜过滤器的固定装置直接安装在收集设备的排水口下方。
为了在过滤过程中对特殊对微粒粒度进行预选，可能需要按次序地安装几个薄膜过滤器的固定装置。
设计该设备时，应该避免微粒在管道系统中的沉降或损失。
注1 可以用孔径在较宽尺寸范围的筛网型滤片进行预选，该滤片可以是金属的或聚合物的。
如果那样，则滤片的固定装置也要小心地设计，以使其能很容易地用于萃取而不致造成微粒损失。
2）将萃取液收集在合适的容器中，然后用由以下部件组成的单独过滤设备进行过滤：薄膜过滤器的固定装置底部安装一个适当尺寸的、用夹钳固定的漏斗、能容纳全部萃取液的真空瓶。
过滤设备的清洁度应该符合被测部件的预测清洁度，这应在空测试时就被确认。
设备图见附录A。
5.1.4 根据检查文件中的规定使用冲洗液体，所用液体应该与过程中所用的所有设备都相容。
5.1.5 冲洗液体的来源按检查文件中的规定。
5.1.6 溅射设备只适用于使用SEM的情况，因为它要求薄膜过滤器上有一层导电膜。
注1 溅射层的首选元素是碳，其次是其它元素，如金、银等。
因为薄膜过滤器一般都是用有机材料所制造的，溅射碳层比溅射金层对测量结果的影响小得多。
注2 在有些类型的SEM中，因真空度的降低而可能电荷也减少，这样就会影响一些图像的分辨率。
5.1.7 能转移薄膜过滤器而不损坏它们的镊子。
5.1.8 能产生至少65kPa真空度的真空装置。
5.2 分析设备5.2.1 综述5.2.1.1 图2是在薄膜过滤器上进行显微微粒计数的相关设备。
在计数过程中，因为镜头与探测器的等级，在光学显微镜与扫描电镜之间会产生差异。
对于LM（光学显微镜）和SEM，在全表面分析过程中，同样都使用计算机辅助记录和计数的图像分析技术。
单图像分析多重图像分析（4）（6）图像分析探测器（3）z相机（LM）z BSE（背散射电子）探测器（SEM）薄膜过滤器图2 －薄膜过滤器显微分析的图形表示5.2.1.2将包含从测试部件萃取的微粒的薄膜过滤器（1）放置在取样台上，经过光学系统（2）以放大的形式成像。
对于光学显微镜，放大过程通过使用合适的光源而获得，该光源能均匀地照亮视场和带有一个或多个物镜和一个目镜的光区，这也是手动/目视计数和粒度分级的最低要求。
对于SEM，则是在真空室中被聚焦的、高能电子束对试样进行扫描。
5.2.1.3这种看到的放大信息由探测系统（3）来收集——对于光学显微镜，探测系统为一部摄像机或数码相机，而对于SEM，探测系统则为一个能探测到材料对比度高的背散射电子的探测器，然后在图像分析器中进行分析——将微粒从薄膜过滤器背景上分离开来，用预设的计算法则进行测量和计数。
