_Multisim数电仿真_与非门逻辑功能测试及组成其它门电路st

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数字逻辑实验指导书(multisim)

实验一集成电路的逻辑功能测试一、实验目的1、掌握Multisim软件的使用方法。

2、掌握集成逻辑门的逻辑功能。

3、掌握集成与非门的测试方法。

二、实验原理TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，所以称作三极管、三极管逻辑电路（Transistor -Transistor Logic ）简称TTL电路。

54 系列的TTL电路和74 系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。

所不同的是54 系列比74 系列的工作温度范围更宽，电源允许的范围也更大。

74 系列的工作环境温度规定为0—700C，电源电压工作范围为5V±5%V，而54 系列工作环境温度规定为-55—±1250C，电源电压工作范围为5V±10%V。

54H 与74H,54S 与74S 以及54LS 与74LS 系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电压工作范围不同，就像54 系列和74 系列的区别那样。

在不同系列的TTL 器件中，只要器件型号的后几位数码一样，则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。

TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广，特别对我们进行实验论证，选用TTL 电路比较合适。

因此，本实训教材大多采用74LS(或74)系列TTL 集成电路，它的电源电压工作范围为5V±5%V，逻辑高电平为“1”时≥2.4V，低电平为“0”时≤0.4V。

它们的逻辑表达式分别为：图1.1 分别是本次实验所用基本逻辑门电路的逻辑符号图。

图1.1 TTL 基本逻辑门电路与门的逻辑功能为“有0 则0，全1 则1”；或门的逻辑功能为“有1则1，全0 则0”；非门的逻辑功能为输出与输入相反；与非门的逻辑功能为“有0 则1，全1 则0”；或非门的逻辑功能为“有1 则0，全0 则1”；异或门的逻辑功能为“不同则1，相同则0”。

三、实验设备1、硬件：计算机2、软件：Multisim四、实验内容及实验步骤1、基本集成门逻辑电路测试（1）测试与门逻辑功能74LS08是四个2输入端与门集成电路（见附录1），请按下图搭建电路，再检测与门的逻辑功能，结果填入下表中。

与非逻辑门电路功能测试与组合

实验一逻辑门电路功能测试与组合一、实验目的1．熟悉电子实验箱的功能及使用方法。

2．认识集成电路的型号、外形和引脚排列，学习在实验箱上实现数字电路的方法。

2．掌握逻辑门电路逻辑功能的测试、使用的基本方法。

3．掌握逻辑门电路的替换方法。

二、实验用元器件四2输入与非门7400×2二4输入与非门7420×1四异或门7486×1四2输入或门7432×1六非门7404×1二4输入与门7421×1实验中使用7400四2输入与非门和7420二4输入与非门，引脚图如图1—1和图1—2，7400内部有四个独立的2输入与非门，7420内有二个4输入与非门。

图1—1 7400集成电路图1—2 7420集成电路实验中提供的集成块为74LS系列的低功耗肖特基TTL电路如74LS00和74LS20，74HC系列的高速CMOS电路如74HC00和74HC20，它们在逻辑上兼容，但具体物理参数不同。

在CMOS电路中输出高电平≈Vcc，输出低电平≈0V，规定输入高电平电压≥，输入低电平电压≤Vcc，在我们的实验中Vcc＝＋5V；TTL电路的输出高电平电压～，输入开门电平～。

输出低电平电压0～，输入关门电平～1V。

在实验中采用同一电源，经实际测定可以直接互接，但有些条件下要通过接口互接，当74LS门电路驱动74HC门电路时，要测量输出高电平电压是否够高，实际测量值要≥。

而74HC门电路驱动74LS门电路时，扇出系数较小，小于10。

三、预习要求1.熟悉本实验所用的集成电路，并认真阅读附录中注意事项。

2.设计好实验内容中的门电路转换的电路图。

3.根据实验原理，用铅笔填好本次实验所有的真值表，以便核实实验结果。

四、实验内容1.与非门逻辑功能测试。

选用双4输入与非门74LS20（或74HC20）集成块一片，集成块引脚排列规则：半圆形缺口或黑点朝左时，缺口或黑点下方为第1脚，引脚号逆时针顺序数。

数字电路实验Multisim仿真

实验一逻辑门电路一、与非门逻辑功能的测试74LS20（双四输入与非门）仿真结果二、或非门逻辑功能的测试74LS02（四二输入或非门）仿真结果：三、与或非门逻辑功能的测试74LS51（双二、三输入与或非门）仿真结果：四、异或门逻辑功能的测试74LS86（四二输入异或门）各一片仿真结果：二、思考题1. 用一片74LS00实现Y = A+B的逻辑功能；2. 用一片74LS86设计一个四位奇偶校验电路；实验二组合逻辑电路一、分析半加器的逻辑功能二. 验证三线-八线译码器的逻辑功能3. 验证数据选择器的逻辑功能4.思考题（1）用两片74LS138接成四线-十六线译码器000000011000（2）用一片74LS153接成两位四选一数据选择器；（3）用一片74LS153一片74LS00和接成一位全加器（1）设计一个有A、B、C三位代码输入的密码锁（假设密码是011），当输入密码正确时，锁被打开（Y1=1），如果密码不符，电路发出报警信号（Y2=1）。

以上四个小设计任做一个，多做不限。

还可以用门电路搭建实验三触发器及触发器之间的转换1.D触发器逻辑功能的测试(上升沿)仿真结果;2.JK触发器功能测试（下降沿）Q=0Q=0略（1）（2）（3）略实验四寄存器与计数器1.右移寄存器（74ls74 为上升沿有效）2.3位异步二进制加法，减法计数器（74LS112 下降沿有效）也可以不加数码显示管3.设计性试验（1）74LS160设计7进制计数器（74LS160 是上升沿有效，且异步清零，同步置数）若采用异步清零：若采用同步置数：（2）74LS160设计7进制计数器略（3）24进制83进制实验五 555定时器及其应用1.施密特触发器输入电压从零开始增加：输入电压从5V 开始减小：。

技能训练-用仿真软件Multisim 10仿真测试门电路逻辑功能

技能训练-用仿真软件Multisim 10仿真测试门电路逻辑功能一．实训目的1．掌握基本门电路的逻辑功能及测试方法2．熟悉仿真软件Multisim 10的使用二．实训器材实训器材计算机仿真软件Multisim 10其他数量1台1套三．实训原理及操作1．测试与非门集成电路74LS00的逻辑功能（1）按图1-51所示电路图连线，灯泡作为输出的指示，同时接有虚拟万用表XMM1做为电平数值的测定。

（2）自行设计真值表格并将测试结果填入。

（3）集成电路74LS00的管脚图及逻辑功能自己查阅有关资料。

图1-51 仿真测试74LS00接线图2．测试与非门集成电路74LS20的逻辑功能（1）按图1-52所示电路图连线，灯泡作为输出的指示，同时接有虚拟万用表XMM1做为电平数值的测定。

（2）自行设计真值表格并将测试结果填入。

（3）集成电路74LS20的管脚图及逻辑功能自己查阅有关资料。

图1-52 仿真测试74LS20接线图3．参照上述测试电路，可以自行设计并测试其他逻辑门电路的逻辑功能。

比如与或非、异或等。

四．注意事项1．首先要熟悉Multisim 10仿真软件的基本操作。

2．Multisim 10仿真软件的使用重在测试，就相当于在计算机上进行电路的实验，所以学会测量相关参数很重要。

3.想一想：在仿真实训过程中，控制开关接高、低电平，以及输出指示灯泡的亮、灭与真值表中逻辑数值0和1的对应关系如何？五．实训考核任务：仿真测试门电路逻辑功能班级姓名组号扣分记录得分项目配分考核要求评分细则正确连接电路20分能使用仿真软件，并能正确连接电路1．不会使用仿真软件扣10分2．未能正确连接电路扣5分测试与非门集成电路74LS00的逻辑功30分能正确进行仿真，并准确读出实验数据1．连接方法不正确，每处扣5分2．不能正确进行仿真，扣5分。

Multisim 10仿真实验课件第四章

打开仿真，记录输出的变化规律。
4.6 JK触发器功能测试
一、实验目的（1）通过实验，熟悉JK触发器的功能。（2）了解时钟脉冲的作用。（3）了解抢答器电路的工作过程。
二、实验原理
（1）JK触发器简介
JK触发器能在触发脉冲边沿到来瞬间，将依据输入端 JK的信号，改变触发器的状态，由Q端输出。触发脉冲消失，输出能保持不变。
逻辑门不论其输入变量A、B、C、…还是输出变量W、Y、 Z、…其取值只有1和0，而基本逻辑运算为与、或、非。
与逻辑为1×1=1、1×0=0、0×0=0 非逻辑为 =0、 =1 而与非是与和非的组合；
数字电路的功能可以用三种方法描述，逻辑表达式、电路图、波形图。
图4-1所示为与门逻辑功能测试仿真电路图。
（1）实验电路
4532BP优先编码器为16脚集成芯片，图4-8为其逻辑符号，实物器件的16号脚VDD为电源，8号脚接地。
（2）工作原理
三、实验内容和步骤
搭建如图4-10 所示电路，编码器电路功能仿真电路图并保存。注意将电源电压调至芯片的额定电压10V，将指示灯的电压调节到5V。将排阻的阻值调节至10K。
5）双击逻辑转换仪打开逻辑转换仪面板，点击右侧上部的原理图到真值表转换按钮，则可出现完整的真值表，图4-2右侧。
（2）逻辑电路测试与非门电路功能仿真分析。将电路图4-1里的与门替换成与非门，重复上述1、2步。将相应
结果记录表4-2中。（3）虚拟仪器测试与非门输入输出信号波形仿真分析。 1）搭建如图4-5所示电路并保存。 2）函数信号发生器设置为方波脉冲输出，频率1kHz，幅度5V。 3）字信号发生器设置为外部触发，加计数，范围0~4。 4）单击仿真开关，激活电路。双击逻辑分析仪图标，打开逻辑

数字电路实验Multisim仿真完整版

数字电路实验M u l t i s i m仿真HEN system office room 【HEN16H-HENS2AHENS8Q8-HENH1688】实验一逻辑门电路一、与非门逻辑功能的测试74LS20（双四输入与非门）仿真结果二、门）三、与或非门逻辑功能的测试四、现路；一、分析半加器的逻辑功能二.74LS138接成四线-十六线译码器 00000001011110001111（2）用一片74LS153接成两位四选一数据选择器；（3）用一片74LS153一片74LS00和接成一位全加器（1）设计一个有A 、B 、C 三位代码输入的密码锁（假设密码是011），当输入密码正确时，锁被打开（Y 1=1），如果密码不符，电路发出报警信号（Y 2=1）。

以上四个小设计任做一个，多做不限。

还可以用门电路搭建实验三触发器及触发器之间的转换1. D 触发器逻辑功能的测试(上升沿)2. JK 触发器功能测试（下降沿）Q=0Q=0略3. 思考题：（1）（2）（3）略实验四寄存器与计数器1.右移寄存器（74ls74 为上升沿有效）位异步二进制加法，减法计数器（74LS112 下降沿有效）也可以不加数码显示管3.设计性试验（1）74LS160设计7进制计数器（74LS160 是上升沿有效，且异步清零，同步置数）若采用异步清零：若采用同步置数：（2）74LS160设计7进制计数器略（3）24进制83进制注意：用74LS160与74LS197、74LS191是完全不一样的实验五 555定时器及其应用1.施密特触发器输入电压从零开始增加：输入电压从5V开始减小：2.单稳态触发器3.多谢振荡。

用Multisim 11仿真

数字逻辑电路仿真集成逻辑门电路逻辑功能的测试一、实验目的1、熟悉Multisim 11软件的基本功能和使用方法。

2、掌握用Multisim 11软件进行与非门、异或门的逻辑功能测试及其测试方法。

二、实验内容1．TTL 集成门电路逻辑功能的测试 1）“与非门”逻辑功能的测试（1）按表1完成逻辑功能的测试进入Multisim 11软件，从元器件库栏中取出测试电路所需的电路元器件，按图1所示连接电路，电路中三变量分别用三开关表示，分别由键盘按键A 、B 、C 控制，设置方法为：鼠标指向开关元件，双击鼠标进入Switch (开关属性)对话框，在Value 标题栏在Key 项分别直接输入英文字母A 、B 、C （大小写任意）。

连接电路完成，选择File （文件）菜单下Save As(另存为)命令对电路文件进行保存。

电路图如图2所示。

（2）按下“运行”按钮，启动电路进行测试，将测试结果填入下面表1的真值表中。

表1 “与非门”逻辑功能的测试图1 三输入与非门逻辑图图2 三输入与非门逻辑功能测试图2）.测试74LS86（四异或门）逻辑功能（1）按表2完成逻辑功能的测试进入Multisim 11软件，从元器件库栏中取出测试电路所需的电路元器件，按图3所示连接电路，电路中二变量分别用二开关表示，分别由键盘按键A、B 控制，设置方法为：鼠标指向开关元件，双击鼠标进入Switch (开关属性)对话框，在Value 标题栏在Key 项分别直接输入英文字母A 、B （大小写任意）。

连接电路完成，选择File （文件）菜单下Save As(另存为)命令对电路文件进行保存。

电路图如图4所示。

（2）按下“运行”按钮，启动电路进行测试，将测试结果填入下面的真值表中。

得表达式为Y=A⊕B表2 异或门逻辑功能的测试表2．“门”控制功能的测试（1）“与非”门控制功能的静态测试设A 为信号输入端，B 为控制端。

A 端输入单脉冲，B 端接逻辑电平“0”或“1”。

Multisim数字电子技术仿真实验

用户可以根据个人习惯和喜好定制软件界面，包括元件库、工具栏、菜单等，提高工作效率。
多语言支持
软件支持多种语言界面，方便不同国家和地区的用户使用。
02
数字电子技术基础
逻辑门电路
总结词
逻辑门电路是数字电子技术中的基本单元，用于实现逻辑运算和信号转换。
详细描述
逻辑门电路由输入和输出端组成，根据输入信号的组合，输出端产生相应的信号。常见的逻辑门电路有与门、或门、非门等。
交互性强
用户可以在软件中直接对电路进行搭建、修改和测试，实时观察电路的行为和性能。
实验环境灵活
软件提供了多种实验模板和电路图符号，方便用户快速搭建各种数字电子技术实验。
软件功能
元件库丰富
Multisim软件拥有庞大的元件库，包含了各种类型的电子元件和集成电路，方便用户选择和使用。
电路分析工具
寄存器实验结果分析
总结词
寄存器实验结果分析主要关注寄存器是否能够正确存储和读取数据，以及寄存器的功能是否正常实现。
详细描述
首先观察实验中使用的寄存器的数据存储和读取过程，记录下实际得到的数据存储和读取结果。接着，将实际得到的数据存储和读取结果与理论预期的数据存储和读取结果进行对比，检查是否存在差异。如果有差异，需要分析可能的原因，如电路连接错误、元
触发器
总结词
触发器是一种双稳态电路，能够在外部信号的作用下实现状态的翻转。
详细描述
触发器有两个稳定状态，根据输入信号的组合，触发器可以在两个状态之间进行切换。常见的触发器有RS触发器、D触发器据的基本单元，用于存储二进制数据。
详细描述
寄存器由多个触发器组成，可以存储一定数量的二进制数据。寄存器在数字电路中用于存储数据和控制信号。

Multisim仿真实验1 组合逻辑门电路测试组合逻辑电路的设计与测试

科技大学城市学院
数字电路与逻辑设计
专业：组员：学号：
实验一组合逻辑电路的设计与测试
一、实验目的
1、掌握组合逻辑电路的设计的设计与测试方法。

2、熟悉Multisim中逻辑转换仪的使用方法。

二、实验内容
设计要求：有A、B、C三台电动机，要求A工作B也必须工作，B工作C 也必须工作，否者就报警。

用组合逻辑电路实现。

三、操作
1、列出真值表，并编写在逻辑转换仪中“真值表”区域内，将其复制到下表中。

(注意标明逻辑状态)
2、写出其逻辑表达式和最简表达式：
3、由最简表达式分别得出用与非门连接的电路，用三个电平开关作为ABC 输入，输出接彩色指示灯，验证电路的逻辑功能。

将连接的电路图复制到下表中。

电子技术实验与Multisim 12仿真实验3.1 组合逻辑电路的设计与测试

可化简为：
S AB AB A B A' B BB' AB' AA' A( B' A' ) B( A' B' ) A( AB)' B( AB)' (( A( AB)' B( AB)' )' )' (( A( AB)' )' ( B( AB)' )' )' C0 AB (( AB)')'
实验3.1 组合逻辑电路的设计与测试
三、实验原理
5.全加器
S A 'B'Ci A 'BCi ' AB'Ci ' ABCi Ci (A 'B' AB) Ci '(A 'B AB') Ci (A B) ' Ci '(A B) A B Ci
令则
X A B ((A(AB)')'(B(AB)')')'
S A B Ci X Ci
Co A 'BCi AB'Ci ABCi ' ABCi (A 'B AB')Ci AB(Ci ' Ci ) XCi AB ((XCi AB) ') ' ((XCi ) '(AB) ') '
A—加数；B—被加数； Ci—低位的进位；S—本位和； Co测试
三、实验原理
3. 四2输入与非门74LS00与二4输入与非门74LS20
实验3.1 组合逻辑电路的设计与测试

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图 3.2.8 表 3.2.3：输入输指示灯状况出逻辑状态
A 0 0 1 1
B 0 1 0 1
(3). 用与非门组成同或门： 1). 按图 3.2.9 所示调出元件并组成同或门仿真电路。，观察并记录 2). 打开仿真开关，按表 3.2.4 要求，分别按动“ A ”和“ B ” 指示灯的发光情况，将结果填入表 3.2.4 中。 3). 写出图 3.2.9 中各个与非门输出端的逻辑函数式，最终是否与同或门的逻辑函数式相符。
图 3.2.7 ，观察并记录 4). 打开仿真开关，按表 3.2.2 要求，分别按动“ A ”和“ B ” 指示灯的发光情况，将结果填入表 3.2.2 中，根据表 3.2.2 分析是否就是或门电路的真值表。表 3.2.2：输入输出指示灯状况逻辑状态 A B 0 0 0 1 1 0 1 1 (2). 用与非门组成异或门： 1). 按图 3.2.8 所示调出元件并组成异或门仿真电路。 2). 打开仿真开关，按表 3.2.3 要求，分别按动“ A ”和“ B ” ，观察并记录指示灯的发光情况，将结果填入表 3.2.3 中。 3). 写出图 3.2.8 中各个与非门输出端的逻辑函数式，最终是否与异或门的逻辑函数式相符。
14 13 12 11 10 9 8
74LS00
8
1 2
74LS00
3 4 5 6 7
1
2
3
4
5
6
7
图 3.2.3 集成电路使用注意事项：
(1). 接插集成电路时，要认清定位标记，不得插反。 (2). TTL 集成电路电源电压严格控制在+4.5V~+5.5V 之间，实验中一般用 Vcc = +5V 。电源极性绝对不允许接反。 CMOS 集成电路电源电压允许在 +5V~+18V 范围内选择，实验中一般也用+5V。 (3). 为使门电路工作稳定，多余闲置的输入端一律不准悬空，闲置的输入端处理方法：与非门接 Vcc ，或非门接 GND 。 (4). 在连接电路和插拔集成电路时，应先切断电源，严禁带电操作！三、计算机仿真实验内容： 1. 测与非门的逻辑功能： (1). 单击电子仿真软件 Multisim7 基本界面左侧左列真实元件工具条的 “TTL”按钮，从弹出的对话框中选取一个与非门 74LS00N，将它放置在电子平台上；单击真实元件工具条的“Source”按钮，将电源 Vcc 和地线调出放置在电子平台上；单击真实元件工具条的 “Basic” 按钮，将单刀双掷开关 “ J1 ” 和 “ J2” 调出放置在电子平台上，并分别双击“ J 1 ”和“ J 2 ”图标，将弹出的对话框的，最后点击对话框下方“OK”按钮退 “Key for Switch”栏设置成“ A ”和“ B ” 出。 (2). 单击电子仿真软件 Multisim7 基本界面右侧虚拟仪器工具条 “Multimeter”按钮，如图 3.2.4 左图所示，调出虚拟万用表“XMM1”放置在电子平台上，如图 3.2.4 右图所示。
集成与非门逻辑功能测试及组成其它门电路
一、实验目的： 1. 熟悉 THD-1 型(或 Dais-2B 型)数电实验箱的使用方法。 2. 了解基本门电路逻辑功能测试方法。 3．学会用与非门组成其它逻辑门的方法。二、实验准备： 1. 集成逻辑门有许多种，如：与门、或门、非门、与非门、或非门、与或非门、异或门、OC 门、TS 门等等。但其中与非门用途最广，用与非门可以组成其它许多逻辑门。要实现其它逻辑门的功能，只要将该门的逻辑函数表达式化成与非-与非表达式，然后用多个与非门连接起来就可以达到目的。例如，要实现或门 Y=A+B，根据摩根定律，或门的逻辑函数表达式可以写成：Y= A B ，可用三个与非门连接实现。集成逻辑门还可以组成许多应用电路，比如利用与非门组成时钟脉冲源电路就是其中一例，它电路简单、频率范围宽、频率稳定。 2. 集成电路与非门简介： 74LS00 是“TTL 系列”中的与非门，CD4011 是“CMOS 系列”中的与非门。它们都是四-2 输入与非门电路，即在一块集成电路内含有四个独立的与非门。每个与非门有 2 个输入端。74LS00 芯片逻辑框图、符号及引脚排列如图 3.2.1(a)、(b)、(c)所示。CD4011 芯片引脚排列如图 3.2.2 所示。
Vcc
R1 R2 R3
A B
＆ (b)
Y
T3
T1
A B
T2 T4
Vcc 14 Y
13
12
11
10
9
8
＆
T5 R4 R5
＆
R6
＆
＆
T6
1 (a)
2
3
4 (c)
5
6
7 GND
图 3.2.1
VDD 14
13
12 ＆＆
11
10
9 ＆＆
8
1
2
3
4
5
6
7 Vss
图 3.2.2 与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出才是低电平(即有“0”得“1” ，全 “1”得“0” ）。其逻辑函数表达式为： Y A B 。 TTL 电路对电源电压要求比较严，电源电压 Vcc 只允许在+5V±10%的范围内工作，超过 5.5V 将损坏器件；低于 4.5V 器件的逻辑功能将不正常。 CMOS 集成电路是将 N 沟道 MOS 晶体管和 P 沟道 MOS 晶体管同时用于一个集成电路中，成为组合两种沟道 MOS 管性能的更优良的集成电路。CMOS 电路的主要优点是： (1). 功耗低，其静态工作电流在 10-9A 数量级，是目前所有数字集成电路中最低的，而 TTL 器件的功耗则大得多。 (2). 高输入阻抗，通常大于 1010Ω，远高于 TTL 器件的输入阻抗。 (3). 接近理想的传输特性，输出高电平可达电源电压的 99.9%以上，低电平可达电源电压的 0.1%以下，因此输出逻辑电平的摆幅很大，噪声容限很高。 (4). 电源电压范围广，可在+5V~+18V 范围内正常运行。 3．集成电路芯片简介：数字电路实验中所用到的集成电路芯片都是双列直插式的，其引脚排列规则如图 3.2.3 所示。识别方法是：正对集成电路型号(如 74LS00)或看标记(左边的缺口或小圆点标记)，从左下角开始按逆时针方向数 1、2、3...依次数到最后一脚(在左上角)。在标准型 TTL 集成电路中，电源端 Vcc 一般排在左上角，接地端 GND 一般排在右下角。如 74LS00 为 14 脚芯片，14 脚为 Vcc ，7 脚为 GND 。若芯片引脚上的标号为 NC ，则表示该引脚为空脚，与内部电路不相连。
图 3.2.9
表 3.2.4：输入输指示灯状况出逻辑状态
A 0 0 1 1
Байду номын сангаас
B 0 1 0 1
四、实验室操作实验内容（我们实验室的实验箱与其类似，但不同）： 1．THD-1 型数字电路实验箱使用介绍（参阅图 3.2.9）： 1). THD-1 型数字电路实验箱面板左上角白色船型开关为主电源开关，主电源开关控制交流电压通断；在面板下方还有一个直流电源“DC Soures”方框，其中有两个白色钮子开关，一般实验中用左边那只控制总+5V 电源，打开后一盏红色指示灯亮。实验时应先接好线，检查无误后再打开电路电源，严禁带电接线！ 2). THD-1 型数字电路实验箱面板右上角第一排 15 只红色发光二极管和对应的 15 个接线孔为输出显示接线孔，门电路输出端连此处，红灯亮，表示输出高电平；红灯不亮，表示输出低电平。第二排 15 只红色发光二极管和对应的 15 个接线孔及 15 只钮子开关为逻辑电平控制开关和指示灯，供门电路输入端接线，钮子开关向上扳为高电平，红色指示灯亮，向下扳为低电平，红色指示灯不亮。注意：在两排发光二极管的右下角有一处的一个插孔旁边标有“+5V” ，需用一根导线将它与面板下方直流电源“DC Soures”方框+5V 主电源插孔相连，供发光二极管正常发光。 3). THD-1 型数字电路实验箱面板左下方有一个脉冲信号源“Pulse Soures” 方框，能产生方波信号，频率波段分 1Hz、1kHz 和 20kHz，每段可由电位器微调频率。同样，在方框的右下角也有一处插孔，旁边标有“+5V” ，也需用一根导线将它与面板下方直流电源“DC Soures”方框+5V 主电源插孔相连，供方波信号发生器工作。脉冲信号源的电源接上后有两种脉冲信号输出，一种是连续脉冲，在“Pulse output” 下方连续脉冲波形右边一盏红色指示灯亮，左边是连续脉冲信号输出孔。脉冲信号源方框右上角为单次脉冲信号“Single pulse” ，有一只按钮开关，按下按钮时红灯亮，其上方输出孔输出正单次脉冲(即上升沿)；另一只按钮按下时绿灯亮，其上方输出孔输出负单次脉冲(即下升沿)。 4). THD-1 型数字电路实验箱面板上凡标有“⊥”符号处，表示公共接地端，且它们都已连通，可就近选择任一处接地。 5). THD-1 型数字电路实验箱面板中间区域有许多集成电路插座，供插集成电路。围绕每一片集成电路四周是它们的对应管脚接线孔和管脚号，供实验连线。 6). THD-1 型数字电路实验箱有电源短路报警声响功能，实验中一旦听到蜂鸣器响，应立即关闭电源！排除短路故障后可重新打开电源开关进行实验。
图 3.2.4 (3). 将所有元件和仪器连成仿真电路如图 3.2 5 所示。
图 3.2 5 (4). 双击虚拟万用表图标“XMM1” ，将出现它的放大面板，按下放大面板上的“电压”和“直流”两个按钮，将它用来测量直流电压如图 3.2.6 所示。
图 3.2.6 (5). 打开仿真开关，按表 3.2.1 所示，分别按动“ A ”和“ B ”键，使与非门的两个输入端为表中 4 种情况，从虚拟万用表的放大面板上读出各种情况的直流电位，将它们填入表内，并将电位转换成逻辑状态填入表内。表 3.2.1：输入端 A B 0 0 0 1 1 0 1 1 输出端电位(V) 逻辑状态