温度/低气压试验的试验机理及国标试验方法的应用
江苏省电子产品监督检验所唐永革
关键词：低气压温度
随着人们在地球上活动范围的扩大，随着航天航空和海洋开发事业的迅速发展，随着电工电子产品在各个方面的广泛应用，产品所遇到的环境条件变得日益复杂和多样。
大气压力的变化就是其中之一。,
而大气压只要取决于海拔高度，随着高度增加,大气压逐渐降低,大气逐渐变得稀薄,高度接近5.5km处时,大气压降低到海平面标准大气压的一半；接近16km处的大气压为标准海平面值的1/10；接近31km处的大气压为标准海平面值的1/100。.地球表面有相当大的地区的地势较高，我国约有50%的面积高于1000m, 约有25%的面积高于2000m，地势较高的地区的气压较沿海地区的气压要低。对于航空产品，由于飞机最低也要飞几千米，一般均要在万米及万米以上，最高可达30km,故机载设备将承受着更低的气压作用。气压的降低势必对高原地区使用的电工电子产品及机载设备产生影响。
许多产品的试验报告及实地考察都反映了气压降低对性能的影响。气压降低对产品的直接影响主要实气压变化产生的压差作用。这对于密封产品的外壳会产生一个压力，在这个压力的作用下会使密封破坏。然而气压降低的主意作用还在于因气压降低伴随着大气密度的降低及空气的平均自由程增大，有次会使产品的性能受到很大影响。
散热产品的温升随大气压降低而增加。电工电子产品有相当一部分是发热产品，如电机、变压器、接触器、电阻器等。这些产品在使用中要消耗一部分电能变成为热能，这样产品会发热，温度升高。产品因发热而使温度升高，这温度升高部分称之为温升。散热产品的温升随大气压的降低而增加，随海拨高度的增加而增加。导致产品的性能下降或运行不稳定等现象出现。
低气压对密封产品的影响。
低气压对密封产品的影响主要是由于大气压的变化形成压差。压差引起一个从高压指向低压的力。在该力作用下，使气体流动来达到平衡。而对于密封产品，其外壳将承受此力。此力可以使外壳变形、密封件破裂造成产品失效。
低气压对电性能的影响。海拨高度增加气压降低，对电工电子产品的电气性能也会产生影响。特别是以空气作为绝缘介质的设备，低气压对设备的影响更为显著。在正常大气条件下，空气可以是较好的绝缘介质，许多电气产品以空气为绝缘介质。这些产品用于高海拨地区或作为机载设备时，由于大气压降低，常常在电场较强的电极附近产生局部放电现象，称之为电晕。更严重的是，有时会发生空气间隙击穿。这意味着设备的正常工作状态被破坏。
在低气压下,特别是伴随高温条件时空气介电强度显著降低，即电晕起始电压和击穿电压显著降低，从而使电弧.表面放电或电晕放电的危险性增加。
低气压试验的目的。
由于大气压的降低,产品的机械性能和电气性能都会受到很大影响,有时会导致产品的破坏。由于高度的增加，大气压的降低，大气密度的降低，空气也变得稀薄。在我们考虑得高度范围内（低于3000米），空气中得分子得平均自由程仍然很小，大气仍可看成是连续介质流体。空气的流动特性和热力学特性在低气压条件下于正常大气条件下一样遵循相同的物理规律。但低气压的情况于正常大气相比。产品受到不同的影响。例如产品散热情况于正常大气条件不同。由此可知，低气压条件下，辐射散热所占比例增大，对流散热所占比例降低，此外由于大气密度的降低，散热产品周围也将发生变化。低气压对产品的影响在正常大气条件下是无法模拟的，因此必须进行低气压试验。由于气压低，产品的机械和电气性能都会受到很大影响，有时会导致产品的损坏。低气压环境条件对产品的影响在正常大气条件下是无法模拟的，必须按相关标准进行试验。只有这样，产品质量才能得到保证。随着市场经济体制的逐步建立，企业间的竞争愈来愈激烈，而竞争的焦点则是产品的质量和价格，但更主要的是质量。保证产品的高质量才能保证企业在竞争中永远立于不败之地。为此，一定要加强环境条件试验的标准化工作，从产品设计就开始考虑环境变化对产品的影响，提高产品对环境的适应性，从而提高产品质量。
目前有关低气压试验的国家标准有：
GB2421-1989《电工电子产品基本环境试验规程总则》
GB2423.21-1991《电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法》
GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验方法》GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM ：高温/低气压综合试验方法》GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法》
GB/T2424.15-1992《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》
GJB150.2-86 《军用设备环境试验方法低气压（高度）试验》
在GB/T2424.15-1992《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》中主要对温度、低气压的适用范围，综合影响试验设备等进行了阐述。
而在GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验方法》GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM ：高温/低气压综合试验方法》中对试验方法，严酷等级、试验目的，条件试验进行了具体规范。
如在GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验方法》规定：
1．2．2试验方法一次只能试验一个散热试验样品，试验样品一般应安GB2423.1的规定在无强迫空气循环的试验箱中进行。
3．2．2如过试验过程中试验样品要工作，则要对其进行检测，以保证试验样品能够正常工作。而后在温度保持在规定值的情况下，将试验箱压力降到有关标准规定的试验压力。将此温度、压力条件保持规定的时间。
在试验中要区分散热和非散热试验样品，下图是标准规定的试验剖面图：
在标准中还规定了严酷等级
下表是一组温度温度、气压和持续时间值：
温度℃气压KPa 对应高度m 持续时间h
-55 4 22100 2
-55 15 13600 2
-55 25 10400 2
-55 40 7150 2
-40 55 4850 2,16
-25 55 4850 2,16
-40 70 3000 2,16
同样在GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM ：高温/低气压综合试验方法》
1．2．3试验方法一次只能试验一个散热试验样品，试验样品一般应安GB2423.1的规定在无强迫空气循环的试验箱中进行。
3．2．2如过试验过程中试验样品要工作，则要对其进行检测，以保证试验样品能够正常工作。而后在温度保持在规定值的情况下，将试验箱压力降到有关标准规定的试验压力。将此温度、压力条件保持规定的时间。
在试验中要区分散热和非散热试验样品，下图是标准规定的试验剖面图：
同样在标准中也规定了严酷等级
下表是一组温度温度、气压和持续时间值：
温度℃气压KPa 对应高度m 持续时间h
155 4 22100 2
85 4 22100 2
155 15 10400 2
85 15 13600 2
55 15 13600 2
55 25 10400 2
55 40 7150 2
55 55 4850 2,16
40 55 4850 2
55 70 3000 2,16
上述俩标准还对试验设备和试验方法作了一些规定
今年我所对原有的辽宁试验设备厂生产的Y60500C高低温低气压试验箱进行了改造，是原先在低气压试验条件下不能调节温度的情况得到改观，现在我所的这台高低温低气压试验设备已经能完全满足上述两标准的要求。(2006年11月30日)
气压专题 一 基本点 （一）气压高低 1 气压：单位面积空气柱子的重量。同一垂直方向上，气压值随高度增加而降低。 2 高、低气压“高”、“低”比较的前提条件是都在同一海拔高度上。近地面，一般气温高气压值低，气温低气压值高。近地面和高空的高、低气压正好相反。 3 受气温变化（海陆比热的差异）的影响，大陆上（较海洋）夏季气压偏低，冬季气压偏高，气温和气压的年较差大。 4 高、低气压的形成原因有两种：一是热力原因（如赤道低压、极地高压、热低压、冷高压等），另一是动力原因，由大气运动造成（如副热带高压、副极地低压等）。 5 太阳辐射是大气运动的原动力。太阳辐射高低纬度的差异引起的热量差异，是形成大气运动的根本原因。 6 万能公式：上升气流＝＝近地面低气压＝＝阴雨天气 下沉气流＝＝近地面高气压＝＝晴燥天气 （二）风力和风向 1 风力（即风速）与水平气压梯度（气压差/距离）呈正相关，与地面摩擦系数呈负相关。 2 气压场中的空气质点，一般受到三个力的作用：水平气压梯度力（垂直于等压线，高压指向低压）、地转偏向力（北半球垂直于风向右偏，南半球垂直于风向左偏。随纬度增高而变大。只改变风向，不能改变风速）、摩擦力（与风向方向相反。不仅能改变风向，还可以减小风速）。 3 风向即风吹来的方向。受地转偏向力影响，风向相对于水平气压梯度力北半球右偏，南半球左偏。在高空，摩擦力可以忽略不计，风向偏转90度，最终与等压线平行；在近地面，风向偏转角度小于90度，最终斜穿等压线，指向低气压。 4 摩擦力大，风速小，风向偏转角度小，与等压线夹角大。反之亦然。 （三）热力环流与大气环流 1 热力环流－地面冷热不均引起的大气运动。例如一般的空气对流运动、海陆风、山谷风以及城市热岛环流。 2 三圈环流：熟悉三圈环流的形成过程；了解气压带和风带的位置和名称，性质及其季节移动（大致1月前后南移，7月前后北移）；理解气压带风带的分布和移动对各地气候成因的影响。 3 季风环流：熟悉东亚、东南亚、南亚地区季风的风向、性质、成因。 （四）天气系统
EFLAG-ARM-S3C44B0 嵌入式系统实验箱说明书 北京工业大学电控学院 DSP和嵌入式系统研究室 二零零四年十月
嵌入式系统是嵌入式计算机系统的简称，以ARM为CPU的SOC系统作为嵌入式系统的硬件基础，以实时（uC/OS, VxWorks等）或非实时的(uCLinux, Linux, WinCE等)嵌入式操作系统作为软件平台。这样的嵌入式系统是一个完整的计算机系统。特别是有了嵌入式操作系统的支持以后，系统的软件开发的复杂程度大大降低。程序员在操作系统层面设计和编写程序，降低了对程序员硬件知识水平的要求，扩大的开发队伍，提高了开发速度，缩短了开发周期，增强了系统的可靠性和稳定性。 ARM是处理器，“ARM”即是ARM公司的名字，也是ARM CPU的名字。ARM公司是一家集成电路设计公司，本身不生产芯片，也不销售芯片，ARM公司向其他芯片制造厂商出售他们的设计，即IP （知识产权）。芯片制造公司（如Intel，Samsung，Atmel，Philips等）生产基于ARM处理器的SOC（片上系统）芯片。ARM公司要求，所有使用ARM处理器的芯片必须印有ARM标志。 ARM本身是CPU，不是单片机。以ARM为CPU生产的SOC芯片在内部结构上是完整的计算机系统结构，而非传统单片机的控制器结构，故以ARM为核心制造的芯片区别原有的单片机而被称之为SOC芯片。 ARM处理器被许多芯片制造大厂采用，芯片制造厂商使用ARM处理器，再整合不同的外设，生产出不同的SOC芯片，如Intel使用ARM V5TE版本处理器，添加SDRAM控制器，LCD控制器，USB控制器，串口，IIC等外设生产Xscale芯片，Xscale是Intel公司的SOC芯片，其内部使用的处理器是ARM。不同厂商基于同一个版本的ARM处理器生产的SOC芯片CPU的指令集是相同的，这就给开发人员带来了极大的便利，更大的加速了ARM处理器的市场占有率。 S3C44B0是Samsung公司生产的基于ARM7TDMI的SOC芯片，内部集成了SDRAM控制器，LCD控制器，8通道ADC，DMA控制器，8Kbyte的CACHE，IIC控制器，IIS控制器，串口，同步串口，PWM输出，定时器，PLL，中断控制器，看门狗定时器，实时时钟等资源。其工作频率可达到66MHz。 EFLAG－ARM－S3C44B0实验箱配置外设： 用于调试的JTAG端口； 直接同计算机并口相连的用于调试的JTAG仿真器； 两个9针串口； SMSC91C113 10M/100M以太网口； Philips D12 USB接口； UDA1341 IIS音频输入/输出口，板上麦克风； 2M字节的线性Flash存储器，8M字节的SDRAM，24C16IIC存储器； 5.7寸STN彩色LCD显示屏； 基于AD9850的DDS信号发生器； 四颗高亮度玫瑰红色LED； 德国进口长寿命4×4键盘（手感极好）； 外接信号接线孔。
目录 一、系统简介 (1) 二、配置 (2) 三、软、硬件安装 (2) 四、系统功能介绍 (4) 五、MCU单片机小系统详述 (22) 六、ISE9.1简明教程 (36) 七、电子技术综合实验箱实验项目简介 (48) 实验一、流水灯控制实验 (48) 实验二、数码管显示实验 (50) 实验三、液晶显示实验 (52) 实验四、串行A/D实验 (53) 实验五、串行D/A实验 (54) 实验六、232通讯实验 (55) 实验七、鼠标键盘驱动及VGA显示实验 (57) 实验八：简易电子琴实验 (61) 实验九：音乐回放实验 (62) 实验十：等精度频率计实验 (62) 实验十一：DDS实验 (64) 实验十一：扩展部分实验（只提供方案） (66) 实验一、数字存储示波器 (66) 实验二、频谱分析仪 (68) 八、ISE9.1i安装步骤 (73)
电子技术综合实验箱使用说明书 一、系统简介 电子技术综合实验箱是由鑫三知科教设备研发的，以单片机与FPGA为核心的综合实验系统。主要适用于各高校参加全国大学电子竞赛的赛前辅导，以及本科生的单片机与FPGA 的入门级教学，同时该实验系统也可作为研究生、中小企业的电子工程师等使用者的开发平台和辅助培训工具。开发工程师可使用VHDL语言、Verilog语言、原理图或方程式，结合Xilinx集成开发环境开发FPGA的应用，使用C语言或汇编语言开发单片机应用程序。 二、配置 2.1 基本配置 ★ 1. 5V、3.3V、1.8V板上电源 ★ 2. 40万门SpartanⅢ XC3S400 FPGA ★ 3. 支持JTAG、Slave Serial、Select MAP等多种加载模式 ★ 4. 支持FPGA EEPROM配置，EEPROM芯片为XCF02S ★ 5. 置50MHZ晶振，满足高速设计要求 ★ 6. 以STC89c58RD+为核心的单片机最小系统 ★ 7. 高速AD/DA模块 ★ 8. 支持标准RS232串行接口 ★ 9. PS2键盘接口、PS2鼠标接口，支持3D、4D滚轮鼠标 ★ 10. VGA监视器接口，支持800×600、1600×1200或自定义分辨率 ★ 11. 12864点阵LCD显示（可选） 2.2 可选配置 ★ 12. 大容量高速SRAM模块，容量128KB ★ 13. 直接数字合成DDS模块 ★ 14. 语音处理模块 三、软、硬件安装 3.1 开发套件容 ★电子技术综合实验箱； ★ FPGA下载线； ★串口电缆； ★用户手册(含原理图和元器件清单)； ★ CD-ROM（含ISE7.1、ModelSim6.0、Keilc51、ISPlay v1.5开发软件（数据手册）； 3.2 电子技术综合实验箱各模块基本配置： ◎底板： ★ +12V、-12V、5V、-5V、3.3V、1.8V电源 ★ VGA显示接口 ★ PS2鼠标、键盘接口 ★ RS232串行通信接口 ★音频输入/输出接口
VOLTE测试终端使用指导 一、终端的初始设置 目前商用测试以高通MSM8974芯片的终端为主，常用的包括Sony Z2、HTC M8t、Samsung S5等。 以上测试终端已实现VoLTE的支持，相关IMS域配置已烧录，无需手工配置，对测试者/用户而言，由于IMS及PS处理已隐去，呼叫操作与CS呼 叫无异。 测试前，需完成终端、PC、软件之间的配置及对接，此处以HTC M8t 为例，简述步骤如下： 1. 终端端口的开启 HTC默认端口关闭，需在“应用程序→HTC SSD Test Tool→Control Diag Port/ Control Modem中选择enable开启”，终端每次重启后都必须进行开启 操作：
2. 终端驱动安装 终端通过USB连接PC后，设备管理器将检测到多个未知端口，右键选择更新驱动，并选择驱动存放路径即可，需注意每个未知端口都要完成更新。 1、终端连接PC后，设备管理器显示未知端口： 2、驱动安装后，Diag Port及Modem已识别：
3. 关停终端的LOG采集 终端与CDS、鼎利、QXDM等软件对接时，需关停终端内部的Log采集，否则软件无法抓取终端信令，可在“应用程序→HTC SSD Test Tool→QXDM Logger”中关停(终端每次重启后都必须进行如下操作)： 点击Disable DQ： 去掉图中红圈内的小勾：
4. 网络类型选择 根据测试需要，可以在“应用程序→HTC SSD Test Tool→Network Type Switch”中选择锁定LTE、2G/3G/4G自动等方式，一般VoLTE基本语音测 试选择锁定LTE，而eSRVCC、CSFB等选择2G/3G/4G自动。
武汉尚测试验设备有限公司 ZN-P系列紫外老化试验箱 使 用 说 明 书 武汉尚测试验设备有限公司
前言 亲爱的用户： 感谢您选择本公司仪器，在您启用试验室前，请详阅使用说明书，相信它能让您的试验室发挥最大的功用。阅读完本说明书后，请将其妥善保管，以便随时查阅。 请详细阅读本手册，并依据规定操作，可使您每次皆能顺利地操作使用。请谨记注意事项，可免除机器因人为操作不当而产生故障，正确的保养方法可延长机器寿命。 本公司各类产品均经过严格的品管检验才出厂，您可安心使用，若有任何困难或问题，请与代理商联系或直接通知本公司。 一、操作须知 本试验绝对不能用于对下列物质或含这些物质的试验： A、爆炸物： 1．硝化甘醇(乙二醇二硝酸酯)、硝化甘油(丙三醇三硝酸酯)、硝化纤维素及其它爆炸性的硝酸酯类。 2．三硝基苯、三硝基甲苯、三硝基苯酚(苦味酸)及其它爆炸性的硝基化合物。 3．过乙酸、甲基乙基甲酮过氧化物、过氧化苯甲酰以及其它有机过氧化物。 B、可燃物： 1．自燃物： 金属：锂、钾、钠、黄磷、硫化磷、红磷。 赛璐璐类：碳化钙(电石)、磷化石灰、镁粉、铝粉、亚硫酸氢钠。 2．氧化物性质类： 氯酸钾、氯酸钠、氯酸铵以及其它的氯酸盐类。 过氧酸钾、过氧酸钠、过氧酸铵以及其它的过氧酸盐类。 过氧化钾、过氧化钠、过氧酸钡以及其它的无机过氧化物。 硝酸钾、硝酸钠以及其它的硝酸盐类。 次氯酸钾以及其它的次氯酸盐类。 亚氯酸钠以及其它的亚氯酸盐类。 3、易燃物： 乙醚、汽油、乙醛、氧化丙烯、二硫化碳及其它燃点不到-30℃的物质。 普通乙烷、氧化乙烯、丙酮、苯、甲基乙基甲酮及其它燃点在-30℃以上而小于0℃的物质。 甲醇、乙醇、二甲笨、酸醋戊酯及其它燃点在0℃以上低于30℃的物质。 煤油、轻油、松节油、异戊醇、酸醋及其它燃点在30℃以上低于65℃的物质。 4、可燃性气体： 氢、乙炔、乙烯、甲烷、乙烷、丙烷、丁烷及其它在温度为15℃时1大气压情况下可能会燃
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一、系统概述 嵌入式系统是嵌入式计算机系统的简称，以ARM为CPU的SOC系统作为嵌入式系统的硬件基础，以实时（uC/OS, VxWorks等）或非实时的(uCLinux, Linux, WinCE等)嵌入式操作系统作为软件平台。这样的嵌入式系统是一个完整的计算机系统。特别是有了嵌入式操作系统的支持以后，系统的软件开发的复杂程度大大降低。程序员在操作系统层面设计和编写程序，降低了对程序员硬件知识水平的要求，扩大的开发队伍，提高了开发速度，缩短了开发期，增强了系统的可靠性和稳定性。 ARM是处理器，“ARM”即是ARM公司的名字，也是ARM CPU的名字。ARM 公司是一家集成电路设计公司，本身不生产芯片，也不销售芯片，ARM公司向其他芯片制造厂商出售他们的设计，即IP （知识产权）。芯片制造公司（如Intel，Samsung，Atmel，Philips等）生产基于ARM处理器的SOC（片上系统）芯片。ARM公司要求，所有使用ARM处理器的芯片必须印有ARM标志。 ARM本身是CPU，不是单片机。以ARM为CPU生产的SOC芯片在部结构上是完整的计算机系统结构，而非传统单片机的控制器结构，故以ARM为核心制造的芯片区别原有的单片机而被称之为SOC芯片。 ARM处理器被多芯片制造大厂采用，芯片制造厂商使用ARM处理器，再整合不同的外设，生产出不同的SOC芯片，如Intel使用ARM V5TE版本处理器，添加SDRAM控制器，LCD控制器，USB控制器，串口，IIC等外设生产Xscale 芯片，Xscale是Intel公司的SOC芯片，其部使用的处理器是ARM。不同厂商基于同一个版本的ARM处理器生产的SOC芯片CPU的指令集是相同的，这就给开发人员带来了极大的便利，更大的加速了ARM处理器的市场占有率。
测试终端步骤 概述 在各地现场，存在着很多未测试的集中器在接入到主站环境的时候，遇到了很多问题，如终端对F161二类数据将费率个数设置为默认值，但是主站无法解析；如招测一类数据组合的时候，终端直接上送否认报文；或是终端对于多功能项多测量点组合招测不支持等情况，结合到测试的实际情况，测试终端步骤如下： 第一章：在网页中挂集中器 第一点：测试集中器 新接要测试的终端，在网关机上上线，之后，若可以查到终端的上线信息，则可以接入测试。否则，需要等到终端在网关机上上线才可以测试。 通过VNC登陆到某个前置机或是其他带有guimock配置的机器，首先检查guimock配置是否正确。登陆徐旭亮界面，在准备测试的时候，对于一个终端来说，最为关注的是
r_tmnl_run这张表，在r_tmnl_run表中对终端进行配置，然后将r_tmnl_run这张表单表下装。在界面中查询到终端是否下装到缓存中，输入终端对应的资产号（资产号从下面第二步r_tmnl_run中取得）。查询到有此终端地址的记录表示终端可以准备测试了。 下面介绍知道了某个具体的终端地址，可以将该终端添加到左边树中，之后在网页上对终端测试。如测试某个终端的地址为‘07550001’ 第一步查询得到将终端下挂的地市的代码 select * from o_org o where https://www.doczj.com/doc/806120148.html,_name like'景德镇%'----36402 得到景德镇的区域代码为“36402” 第二步配置r_tmnl_run表 因为知道要测试的终端地址（可以通过手工的方法调试查看终端参数） 此时，需要修改r_tmnl_run表中的参数。 select * from r_tmnl_run run where run.terminal_addr='07550001' 如果未做修改，在查询该表的时候，这行记录为空。 此时，需要使用下面的SQL语句 select * from r_tmnl_run run for update 可以选择到某一行，直接复制到要更新的一行中，打开编辑的
高低温试验箱结构及五大系统 高低温试验箱具有较宽的温度控制范围，其性能指标均达到国家标准GB10592-89高低温试验箱技术条件，适用于按GB2423.1、GB2423.2《电工电子产品环境试验试验A：低温试验方法，试验B：高温试验方法》对产品进行低温、高温试验及恒定温热试验。产品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL标准。 高低温试验箱结构; (1) 试验箱箱体为整体结构形式，制冷系统位于箱体后下部，控制系统位于试验箱的上部。 (2)工作室一端的风道夹层内，分布加热器、制冷蒸发器、风叶等装置；试验箱左侧设有Ф50电缆孔，试验箱为单开门(不锈钢嵌入式门拉手) (3)采用双层耐高温抗老化硅橡胶密封，可有效保证试验箱温度的流失 (4)箱门上设有观察窗、防霜装置及可开关控制的照明灯。观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜。照明灯采用进口品牌飞利浦灯管，可有效的全方位观察工作室内的试验变化。 高低温试验箱五大系统 一、控制系统: 1.采用多款进口控制器，用户可以根据自身要求进行选择。 （1）韩国进口TIME880彩色触摸屏可程式温湿度控制器，中英文切换界面，操作简单。（2）原装进口韩国TIME300数显薄膜按键数据输入温湿度控制器，英文显示界面。 （3）进口日本“OYO”数显触摸按键温湿度控制仪，PID高精度控制，杜绝长期运行不稳定现象。 2.资料及试验条件输入后，控制器具有锁定功能，避免人为触摸而改变温度值。 3.高低温试验箱控制器具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定。 4.可选配打印机，能打印记录设定参数和扫描出温湿度变化曲线。4~200mA标准信号。 5.传感器采用铂金电阻PT100Ω/MV。 6.具有RS-232通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机等功能。 二、制冷、加热及风路循环系统: 1.制冷系统：选用全封闭法国泰康（或半封闭德国谷轮）压缩机。采用风冷单机压缩/风冷复叠压缩制冷方式。 2.加热系统：全独立系统，镍铬合金电加热式加热器。 3.风路循环系统:采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计，风压风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。 4.电器控制系统：电器控制主件采用进口“施耐德”及“梅日梅兰”元件，更好的控制温度。 5.升温、降温、系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。温度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率用电效益。 三、安全保护系统: 无熔丝开关，防干烧装置，极限高低温保护，温度偏差报警，压缩机超压、过载、过电流保护，缺相、逆相、短路、漏电保护。 高低温试验箱满足标准 高低温试验箱执行标准; GB 10586-89湿热试验箱技术条件 GB 10592-89高、低温试验箱技术条件 GB/T10589-1989低温试验箱技术条件 高低温试验箱满足标准;
1. 测试请求管理过程检查表 检查点是否达标评审者填写 评审者意见 Y N NA 1是否在请求测试服务时 提交了《测试服务申请 单》？ 2对于项目类测试服务， 是否在需求评审阶段就 提交了《测试服务申请 单》？ 3对于项目类任务的测试 请求，是否同时提交了 《开发计划书》？ 4《测试服务申请单》是 否经过审核并填写了审 核意见？ 5对于项目类任务的测试请 求，是否使用《测试工作 量估算表》进行了测试工 作量估算？ 2.测试计划流程检查表 检查点是否达标评审者填写 评审者意见 Y N NA 1测试组长有没有获取相关的 测试依据，如开发计划书、 技术方案，项目计划等文 档？ 2测试组长有没有根据测试 依据确定系统中可测试的 范围和不做测试的范围？
检查点是否达标评审者意见 Y N NA 3测试组长有没有定义针对 可测内容的测试方法，测试 技术、用到的测试工具，发 现与组织级测试策略不一 致的地方，并采取了相应的 应对策略？ 4测试组长是否定义了测试 的进入 /退出 /中断 / 继续标 准？ 5测试组长是否列出了测试 产品列表？ 6测试组长是否定义了测试 活动的 WBS（工作分解） ? 7测试组长是否定义了测试 活动不同阶段的里程碑？ 8测试组长是否列出了测试 阶段和测试活动生命周期？ 9测试组长是否确立了估算的 假设条件，并对估算结果 进行记录？ 10测试组长在编写测试计划之 前，是否有测试进度表，是 否已经识别了与测试相关的 项目风险 ? 11测试计划中是否定义出了 测试活动中相关的干系人？ 12测试计划中是否包含了测 试风险、沟通、跟踪与监控 等内容？ 13在测试计划完成后，同行 （ peer）是否从充分性和 符合测试标准的角度对此计 划进行评审和检查？ 14测试组长是否和测试活动 干系人一起定期对测试计 划进行复审，找出偏离内 容？
高空低气压模拟试验箱 高空低气压模拟试验箱简介 名称：高空低气压模拟试验箱-东莞美泰科 用途：又名电池高度模拟试验装箱，针对UL、EN、IEC等标准试验要求而设计，在短时间内达到样品的低气压存放状态，可自动控制试验周期，全程监控箱内气压变化，实现试验的自动终止。所有的被测样品均在11.6kPa（1.8psi）的负压下测试，测试最终结果要求电池不能爆炸或是着火。另外，电池不能冒烟或是漏液，电池保护阀不能被破坏。 本产品采用的真快计设计，自动精确控制真空度。对于真空度的控制可对真快计的功能进行设置。采用区域控制的办法。安全保护装置采用漏电保护开关、熔断器等。 高空低气压模拟试验箱参数 内箱材质：不锈钢（6MM厚） 外箱材质：SECC钢板高级烤漆处理（1.5MM厚） 计量器：三位显示999（H小时、M分钟、S秒可切换） 真空度（数显）：0～101KPa（11.6 KPa，真空表指示值-89.7KPa） 使用电源：AC 单相三线 220V 50HZ
总功率：2.0KW 真空泵：标配 . 高空低气压模拟试验箱结构 1、箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。 2、箱体内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板，箱体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度补水箱置于控制箱体右下部，并有缺 3、水自动保护，更便利操作者补充水源。大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。 4、加湿系统管路与控制线路板分开，可避免因加湿管路漏水发生故障，提高安全性。 5、水路系统管路电路系统方便维护和检修。 6、箱体保温采用超细玻璃纤维保温棉，可避免不必要的能量损失。 7、箱体左侧配一直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用
、八 前 首先，感谢贵单位对本公司YWX/Q- 系列盐雾腐蚀试验箱的厚爱，以及对本公司事业的大力支持！ 市场的竞争，产品质量的要求，推动了环境研究的发展，反过来环境研究的进步，又促进材料产品质量的提高。可喜的是，我国企业界已认识到：产品的环境适应性试验，是产品质量考核的一个重要手段，环境试验结果的反馈，是提高产品质量的重要依据——事实上，环境试验考核产品质量，已成为现代企业一个必备的程序。 在环境适应性试验设备的研究和开发方面，我们遵循客观规律，以严格的标准，精心制作。从而保证了设备的精确性、可靠性和实用性。 为使贵单位能够迅速了解和正确使用本系列设备，我们精心编制这册使用说明书。在贵单位启用本系列设备时，请充分阅读， 并务必遵循说明书中所列安全注意事项和操作方法，以防止本系列设备的损坏，保证使用的安全和试验的质量。
一、产品概述 1、盐雾试验箱，可以模拟海洋及自然环境中自由沉降的盐雾空气，或则模拟汗水等工作环境。这种试验适合于有较强抗腐蚀作用的多层组合镀层，例如铜镍铬镀层或多层镍镀层等方面。 2、本系列产品适用于下列试验 A :中性盐雾试验（NSS） B :醋酸盐雾试验（ASS） C :铜盐加速乙酸盐雾试验（CASS）
（环境温度10-35C，气压86-106Kpa条件下） 1、型号：YWX/Q-750 2、工作室尺寸（mm ）: 740X1100）500 （长瀝湛） 3、温度范围：35?55C 4、温度波动度：±）5C 5、温度均匀度：i2C 6、盐雾沉降量：1?2ml/80cm2h 7、喷雾方式：塔式喷雾方式 8、工作方式：连续或周期喷雾任选
测试软件及测试终端差异性研究分析 1.概述在当前LTE日常优化中，电信使用的测试工具以CDS、ATU、鼎立为主，设备厂家以各自公司开发的测试工具为主，不同测试工具输出的指标也各不相同。本案例是通过对华为PROBE、电信CDS、电信ATU三种常用测试设备，以DT和CQT手段评估相同终端不同软件的差异性和不同终端相同软件的差异性；以便为日常优化和评测树立标准化尺度和度量衡。 2.测试原理和方法CDS软件ABM抽样测试：基于UDP业务的测试，下载测试和上传测试采用抽样带宽方式，在每1S内，仅在联系的100ms时间内进行UDP传输。测试过程中如果脱离LTE网络，抽样测试停机采样，终端回到休眠状态。上传/下载分别在统一终端分时隙进行测试；当拨号连接异常终端后，间隔10S后重新发起连接。1）如果是认为原因导致拨号中断，拨号异常中断前的采样点和时间纳入统计；2）测试过程中如果因网络问题超过30S应用层无任何数据传输，需断开网络连接，该数据传输过程的最后30S不纳入LTE速率统计； Probe软件测试：Probe软件采用FTP软件进行上传/下载测试。上传/下载分别进行测试；ATU软件PBM测试：PBM抽样测试：基于UDP业务的测试，下载测试和上传测试采用抽样带宽方式，在每1S内，仅在联系的100ms时间内进行UDP传输。测试过程中如果脱离LTE网络，抽样测试停机采样，终端回到休眠状态。上传/下载分别在统一终端分时隙进行测试；当拨号连接异常终端后，间隔15S后重新发起连接。1）如果是认为原因导致拨号中断，拨号异常中断前的采样点和时间纳入统计；2）测试过程中如果因网络问题超过30S应用层无任何数据传输，需断开网络连接，该数据传输过程的最后30S不纳入LTE 速率统计； 测试设备： 3.测试软件及测试终端纵横对比3.1.不同测试软件测试结果分析 3.1.1.CQT测试Probe和CDS差异性（-X表示次数） 测试方法：利用同一台电脑分别用CDS和Probe软件测试3次进行指标对比；
高低温试验箱说明书 一、产品规格 型号:KHG-100 内型尺寸:D×W×H 450×450×500 型号: KHG-225 内型尺寸:D×W×H 500×600×750 型号: KHG-500 内型尺寸:D×W×H 800×700×900 型号: KHG-010 内型尺寸:D×W×H 1000×1000×1000 型号: KHG-013 内型尺寸: D×W×H 1000×1000×1300 二、技术指标： 1、温度范围：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃ 2、温度均匀度：≤±2℃（空载时） 3、温度波动度：±0.5℃（空载时） 4、温度偏差:≤±2℃ 5、降温速率：0.7～1.2℃/min 6、升温速度：1.0～3.0℃/min 7、时间设定范围：0～999 小时 8、噪音：＜65dB 三、结构简介： 1、外胆均采用优质（t=1mm）A3钢板数控机床加工成型，外壳表面进行喷塑处理，更显光洁、美观。 2、内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板。 3、保温材质:高密度玻璃纤维棉.保温厚度为100mm 4、温湿度循环系统:采用特制空调型低噪音长轴风扇电机，耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流垂直扩散循环。 5、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭 6、采用无反作用门把手，操作更容易 7、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮. 8、观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜（清楚观察试验过程） 9、测试孔(机器左侧)可外接测试电源线或信号线使用(孔径或孔数须增加需指示) 四、加热系统 1、采用远红外镍合金高速加温（2KW×2）电加热器 2、高温完全独立系统，不影响低温试验、高温试验及交变湿热 3、温湿度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率之用电效益 五、电路控制系统 1、进口数显触摸按键，PID微电脑SSR温度控制器（日本RKC仪表）； 2、精度：0.1℃(显示范围) 3、解析度：±0.1℃； 4、感温传感器：PT100铂金电阻测温体； 5、控制方式：热平衡调温调湿方式；所有电器均采用（施耐德）系列产品 6、温度控制采用P . I . D＋S.S.R系统同频道协调控制 7、具有自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定 8、控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示
终端测试项目定义及测试目的 4.1 发射机特性测试指标 发射机特性测试项目覆盖UE发射功率(最大输出功率、频率稳定度、输出功率动态范围、射频发射、发射互调特性、发送调制等6个方面。 其中输出功率动态范围包括:开环功率控制、闭环功率控制、最小输出功率、输出功率的失同步处理、发射关功率、发射开/关时间模板等6个小项。 射频发射包括:信道带宽、频谱发射模板、邻道泄漏抑制比、杂散发射等4个小项,其中信道带宽属于带内发射,其它属于带外发射。 发送调制包括:误差矢量幅度、峰值码域误差。 (1UE最大发射功率(单码道 定义:UE最大发射功率是指UE在无线接入模式下,最少在码片速率(1+α倍频带内能发射的最大功率。测量时长是不包括保护时段的发射时隙。 测试目的:验证UE的最大发射功率误差不超过容限值。UE最大发射功率过大会干扰其他信道或其他系统,而UE最大发射功率过小会缩小小区的覆盖范围。 (2频率稳定度 定义:频率稳定度是指一个UE射频发射的已调载波频率与BS射频发射的已调载波频率之间的差值。 测试目的:验证UE的发射机载波调制的精确度。该项目测试考察UE接收机从接收到的信号中获取正确频率信息的能力,获取的频率信息会被UE发射机使用。 (3上行开环功率控制
定义:上行开环功率控制是设置UE的UpPCH的发射电平到特定的值。UE 开环功率定义为在一个时隙或者发射机开机时间内的根升余弦滚降滤波器测量的平均功率。 测试目的:验证UE开环功率控制的容限是否超过指标要求。该项目测试强调UE接收机在接收动态范围内正确测量接收功率的能力。 (4上行闭环功率控制 定义:上行闭环功率控制是指UE发射机根据在下行链路接收到的一个或多个功率控制命令(TPC而对UE发射机输出功率作出调整。 测试目的:验证UE闭环功率控制步长符合指标要求,考察UE是否能够正确地获得TPC命令。 (5最小输出功率 定义:最小输出功率是指功率控制设置为输出功率最小值时的UE的发射功率值。该功率为不包括保护时段的一个时隙内的平均功率。 测试目的:验证UE最小输出功率是否小于-49 dBm,避免超过指标要求的最小输出功率会增加对其他信道的干扰和减小系统容量。 (6输出功率的失步处理 定义:UE靠监视DPCH的质量来探测物理层中信号是否丢失。 测试目的:验证UE检测DPCH信道的质量并根据检测结果控制其发射机的开或关的能力。 (7发射关功率 定义:发射关功率是指当UE发射机关闭时,在根升余弦滚降滤波器的一个码片上测得的平均功率。
低气压天气和高气压分类 低气压天气 气压跟天气有密切的关系。一般地说，地面上高气压的地区往往是晴天，地面上低气压的地区往往是阴雨天。这里所说的高气压和低气压是相对的，不是指大气压的绝对值。某地区的气压比周围地区的气压高，就叫做高气压地区；某地区的气压比周围地区的气压低，就叫做低气压地区。 在同一水平面上，如果气压分布不均匀，空气就要从高气压地区向低气压地区流动。因此某地区的气压高，该地区的空气就在水平方向上向周围地区流出。高气压地区上方的空气就要下降。由于大气压随高度的减小而增大，所以高处空气下降时，它所受到的压强增大，它的体积减小，温度升高，空气中的凝结物就蒸发消散。所以，高气压中心地区不利于云雨的形成，常常是晴天。如果某地区的气压低，周围地区的空气就在水平方向上向该地区流入，结果使该地区的空气上升，上升的空气因所受的压强减小而膨胀，温度降低，空气中的水汽凝结，所以，低气压中心地区常常是阴雨天。 由于气压跟天气有密切的关系，所以各气象哨所每天都按统一规定的时刻观测当地的大气压，报告给气象中心，作为天气预报的依据之一。 高气压分类 依成因可分为：动力高压、热力高压。例如：副热带高压、大陆冷高压。 依不同热力结构可分为：冷性高压、暖性高压。例如：大陆冷高压、热带海洋气团。 高气压按其热力结构又可分为两种： 最常见的是冷高压，它是因为地表散热、冷却所造成。地表降温后，近地面的空气温度也跟着降低，而冷空气缺乏热能，所以很难上升，是一个较重、密度较大的空气，而周围的空气较为温暖，空气较轻，所以气流就变成从冷空气吹向周围的方向，形成冷高压中心。如南极与西伯利亚的高气压。 而副热带高气压是由于位在赤道的强烈上升气流形成高空高压，向南、北气压较低的方向流动；因为地转偏向力作用，这些从赤道上空来的气流渐渐转向为由西向东，不再沿经线方向运动，在南北纬30度附近堆积下沉，形成高气压，它是较热的。
传感信号检测与转换实验箱 使用说明书 “传感信号检测与转换实验箱”研制项目组 2013年1月
传感信号检测与转换实验箱 使用说明书 1、实验箱的组成 系统硬件主要由三部分构成：电源模块、传感信号检测转换调理模块、传感信号数字化处理模块。三个模块各自分立，相互间通过信号线连接。上位机为PC机。 2、系统电源模块 系统电源模块具体由传感信号检测转换调理模块供电电路和传感信号数字化处理模块供电电路两部分构成。工作原理为交流变直流。为确保系统用电安全和模拟电路与数字电路两区域的完全的电气隔离，提高系统电路本身的抗电气干扰性能，采用了双绕组输出的单相隔离变压器。 模拟电路模块供电直流稳压电源：±15V，±5V。 数字电路模块供电直流稳压电源；+5V，+3.3V 3、传感信号检测转换调理模块 传感信号检测转换调理模块电气部分具体包括：霍尔传感器实验模板、电容传感器实验模板、温度传感器实验模板、电涡流传感器实验模板、应变片实验模板、以及三种不同性能与增益信号调理电路模板。具体布局见图3.1所示。 图3.1传感信号检测转换调理模块布局图
3.1应变片实验模板 应变片式传感器实验模板如图3.2所示。 图3.2应变片式传感器实验模板 实验模板中的R1、R2、R3、R4为金属箔式电阻应变片，没有文字标记的5个电阻符号下面是空的，其中4个组成电桥模型是为实验者组成电桥方便而设，面板上虚线所示电阻为虚设，仅为组桥提供插座。具体包括：应变片式单臂电桥连接电路、应变片式半桥连接电路、应变片式全桥连接电路。图中的实线表示电路连接线。 本实验系统中4片金属箔式电阻应变片已安装在平行式悬臂梁上，如图3.3所示。左上角应变片为R1；右下角为R3；左下角为R4；右上角为R2。当传感器托盘支点受压时，R1、R3阻值增加，R2、R4阻值减小，可用四位半数显万用进行测量判别。常态时应变片阻值为350Ω。加热电阻也已安装在悬臂梁下面，加热丝电阻值为50Ω左右。 此4片应变片已连接在应变片式传感器实验模板上方的R1、R2、R3、R4上。 图3.3金属箔式电阻应变片安装示意图
中国电信移动终端测试实施细则（暂行） 第一条终端测试申请 (一)原则上要求送测终端应完成国家强制入网检测，通过后提出测试申请。 (二)终端厂商登录中国电信终端测评管理系统，填写测试申请表（附件一），提交测试申请材料。申请材料包括： 1.终端技术参数说明表（附件二） 2.终端自测报告（附件三） 3.XX公司XX终端UI方案确认模板（附件七） 4.电子版压缩包：驱动、配套软件、UAProfile文件、用户使用手册 5.国家强制入网测试报告（终端厂商必须在中国电信广州研究院编制测试报告前提交） 6.双待机测试报告（仅针对双待机，终端厂商必须在中国电信广州研究院编制测试报告前提交） (三)中国电信广州研究院（下文简称广州院）为每个厂商分配一个终端测评管理系统登录帐号。 (四)终端测试申请通过审批后，纳入广州研究院的终端测试待测队列等候测试。 (五)此次提交的测试申请的各厂商终端型号列表参见附录一。厂商应打印测试申请资料，由测试人员带到广州提交。需要打印的测试申请资料包括：
1.测试申请表（加盖公章） 2.终端技术参数说明表（加盖公章） 3.终端自测报告（加盖公章） 第二条测试内容和实施方式： (一)终端测试由广州院负责组织和实施，分为三部分：实验室测试、现网测试、委托第三方测试。 (二)实验室测试在广州院终端测试实验室实施，测试内容主要包括：功耗、机卡兼容性、UI、基本业务基本能力、互通和并发、数据卡等。（UI测试，如果无法提供样机的，以测试申请中的《》作为测试依据） (三)终端现网测试在天津、广州、哈尔滨、海口、、北京等5个城市实施，测试主要内容包括系统捕获、切换测试、开关机注册、业务重定向、鉴权、紧急呼叫、GPS定位、基本业务（语音电话、SMS、WAP、等）、MEID（pESN方式）等。 (四)委托第三方测试的内容： 1.BREW RR认证测试（高通公司）：2008年9月1日开 始接受送测，送测地址、联系方式等参见附件六送测 终端要求 2.gpsOne测试（高通公司）：待定 3.双待机测试（泰尔实验室）：2008年9月1日开始 接受送测，送测地址、联系方式等参见附件六送测终 端要求
电工电子产品运输包装件低气压试验简述 随着各国经济向全球的扩展，航空航天事业、海洋事业的迅速发展，电工电子产品在各方面的广泛应用，众多产品在储运过程中所遇环境因素也变得日益复杂和多样。针对电工电子产品运输包装检测，需要进行低气压试验，以确定电工电子产品在低气压气候环境下储存、运输、使用的适应性。 一、试验背景 低气压对密封产品的影响主要是由于大气压的变化形成压差。压差引起一个从高压指向低压的力。在该力作用下，使气体流动来达到平衡。而对于密封产品，其外壳将承受此力。此力可以使外壳变形、密封件破裂造成产品失效。 海拨高度增加气压降低，对电工电子产品的电气性能也会产生影响。特别是以空气作为绝缘介质的设备，低气压对设备的影响更为显著。在正常大气条件下，空气可以是较好的绝缘介质，许多电工电子产品以空气为绝缘介质。这些产品用于高海拨地区或作为机载设备时，由于大气压降低，常常在电场较强的电极附近产生局部放电现象，称之为电晕。更严重的是，有时会发生空气间隙击穿。这意味着设备的正常工作状态被破坏。在低气压下,特别是伴随高温条件时空气介电强度显著降低，即电晕起始电压和击穿电压显著降低，从而使电弧表面放电或电晕放电的危险性增加。 由于大气压的降低,电工电子产品的机械性能和电气性能都会受到很大影响,可能导致产品的损坏。由于高度的增加，大气压的降低，大气密度的降低，空气也变得稀薄。在我们考虑得高度范围内（低于3000米），空气中得分子得平均自由程仍然很小，大气仍可看成是连续介质流体。空气的流动特性和热力学特性在低气压条件下于正常大气条件下一样遵循相同的物理规律。但低气压的情况于正常大气相比电工电子产品受到的影响不同。 二、低气压试验所引用的标准 GB2421-1989《电工电子产品基本环境试验规程总则》 GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验方法》
冰箱测试系统使用 说明书 1
冰箱测试系统使用说明书
第一章，设备框图 1.1计算机局域网图：由服务器、交换机、登录验关电脑、后台查询 电脑、返修查询电脑、静态抽检电脑构成一个客户机服务器系统结构。如图1所示。 1.2，动态测试子系统框图：
1.3，静态测试子系统框图：
第二章，系统概述： 本系统是为XX公司设计、制造的专用冰箱制冷性能检测系统，系统能够在线检测220v/50Hz、冰箱制冷性能，系统检测项目为：冰箱制冷温度（箱内4路，管路2路，）、冰箱的有效功率、电流、电压、功率因数等，检测工位：动态120个、静态40个；整个系统分为3部分，⑴计算机局域网。⑵动态测试子系统。⑶静态测试子系统。 2.1计算机局域网。采用5台计算机、1台服务器、一个交换机组成 一个小型局域网进行数据管理。 1台测试系统应用服务器，负责整个计算机局域网的文档管理。 1台动态验关计算机，负责动态子系统的登录和验关，以及动态 163个测试盒的数据采集处理。
1台静态计算机，负责静态测试房60台测试盒的数据采集与处理。 1台后台管理计算机，进行冰箱标准建模、查询、统计等； 1台维修计算机，负责维修工位的信息采集管理 1台入库计算机，负责入库的冰箱数据采集管理。 2.2动态测试子系，包括163个能够采集冰箱性能参数并与动态基站 进行无线数据交换的测试盒，一个无线电的数据收发基站，1个 在登录位置的光电开关，1台有2个显示器的验关计算机。 2.3静态测试子系统，包括60个能够采集冰箱性能参数并与动态基站 进行无线数据交换的测试盒，一个无线电的数据收发基站,1台静态计算机 第三章，动态测试子系统 3.1动作流程 如图所示，动态测试过程流程图如下：
温度/低气压试验的试验机理及国标试验方法的应用 江苏省电子产品监督检验所唐永革 关键词：低气压温度 随着人们在地球上活动范围的扩大，随着航天航空和海洋开发事业的迅速发展，随着电工电子产品在各个方面的广泛应用，产品所遇到的环境条件变得日益复杂和多样。 大气压力的变化就是其中之一。, 而大气压只要取决于海拔高度，随着高度增加,大气压逐渐降低,大气逐渐变得稀薄,高度接近5.5km处时,大气压降低到海平面标准大气压的一半；接近16km处的大气压为标准海平面值的1/10；接近31km处的大气压为标准海平面值的1/100。.地球表面有相当大的地区的地势较高，我国约有50%的面积高于1000m, 约有25%的面积高于2000m，地势较高的地区的气压较沿海地区的气压要低。对于航空产品，由于飞机最低也要飞几千米，一般均要在万米及万米以上，最高可达30km,故机载设备将承受着更低的气压作用。气压的降低势必对高原地区使用的电工电子产品及机载设备产生影响。 许多产品的试验报告及实地考察都反映了气压降低对性能的影响。气压降低对产品的直接影响主要实气压变化产生的压差作用。这对于密封产品的外壳会产生一个压力，在这个压力的作用下会使密封破坏。然而气压降低的主意作用还在于因气压降低伴随着大气密度的降低及空气的平均自由程增大，有次会使产品的性能受到很大影响。 散热产品的温升随大气压降低而增加。电工电子产品有相当一部分是发热产品，如电机、变压器、接触器、电阻器等。这些产品在使用中要消耗一部分电能变成为热能，这样产品会发热，温度升高。产品因发热而使温度升高，这温度升高部分称之为温升。散热产品的温升随大气压的降低而增加，随海拨高度的增加而增加。导致产品的性能下降或运行不稳定等现象出现。 低气压对密封产品的影响。 低气压对密封产品的影响主要是由于大气压的变化形成压差。压差引起一个从高压指向低压的力。在该力作用下，使气体流动来达到平衡。而对于密封产品，其外壳将承受此力。此力可以使外壳变形、密封件破裂造成产品失效。 低气压对电性能的影响。海拨高度增加气压降低，对电工电子产品的电气性能也会产生影响。特别是以空气作为绝缘介质的设备，低气压对设备的影响更为显著。在正常大气条件下，空气可以是较好的绝缘介质，许多电气产品以空气为绝缘介质。这些产品用于高海拨地区或作为机载设备时，由于大气压降低，常常在电场较强的电极附近产生局部放电现象，称之为电晕。更严重的是，有时会发生空气间隙击穿。这意味着设备的正常工作状态被破坏。 在低气压下,特别是伴随高温条件时空气介电强度显著降低，即电晕起始电压和击穿电压显著降低，从而使电弧.表面放电或电晕放电的危险性增加。 低气压试验的目的。