纳米材料粒度分析

纳米材料粒度测试方法大全目前，纳米材料已成为材料研发以及产业化最基本的构成部分，其中纳米材料的粒度则是其最重要的表征参数之一。

本文根据不同的测试原理阐述了8种纳米材料粒度测试方法，并分析了不同粒度测试方法的优缺点及适用范围。

1.电子显微镜法电子显微镜法是对纳米材料尺寸、形貌、表面结构和微区化学成分研究最常用的方法，一般包括扫描电子显微镜法（SEM）和透射电子显微镜法（TEM）。

对于很小的颗粒粒径，特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。

计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法、最大交叉长度平均值法、粒径分布图法等。

优点：该方法是一种颗粒度观测的绝对方法，因而具有可靠性和直观性。

缺点：测量结果缺乏整体统计性；滴样前必须做超声波分散；对一些不耐强电子束轰击的纳米颗粒样品较难得到准确的结果。

2.激光粒度分析法激光粒度分析法是基于Fraunhofer衍射和Mie氏散射理论，根据激光照射到颗粒后，颗粒能使激光产生衍射或散射的现象来测试粒度分布的。

因此相应的激光粒度分析仪分为激光衍射式和激光动态散射式两类。

一般衍射式粒度仪适于对粒度在5μm以上的样品分析，而动态激光散射仪则对粒度在5μm以下的纳米、亚微米颗粒样品分析较为准确。

所以纳米粒子的测量一般采用动态激光散射仪。

优点：样品用量少、自动化程度高、重复性好, 可在线分析等。

缺点：不能分析高浓度的粒度及粒度分布，分析过程中需要稀释，从而带来一定误差。

3.动态光散射法动态光散射也称光子相关光谱，是通过测量样品散射光强度的起伏变化得出样品的平均粒径及粒径分布。

液体中纳米粒子以布朗运动为主，其运动速度取决于粒径、温度和黏度系数等因素。

在恒定温度和黏度条件下, 通过光子相关谱法测定颗粒的扩散系数就可获得颗粒的粒度分布，其适用于工业化产品粒径的检测，测量粒径范围为1nm~5μm的悬浮液。

优点：速度快，可获得精确的粒径分布。

缺点：结果受样品的粒度大小以及分布影响较大，只适用于测量粒度分布较窄的颗粒样品；测试中应不发生明显的团聚和快速沉降现象。

《纳米材料吸附热力学和动力学的粒度效应》篇一一、引言纳米材料因其独特的物理和化学性质，在众多领域中得到了广泛的应用。

其中，纳米材料的吸附性能是其重要的应用之一。

纳米材料的粒度对其吸附性能具有显著的影响，这既体现在热力学方面，也体现在动力学方面。

本文将就纳米材料吸附热力学和动力学的粒度效应进行详细的探讨。

二、纳米材料吸附热力学的粒度效应1. 吸附热与粒度的关系纳米材料的粒度对其吸附热具有显著影响。

一般来说，粒度越小，吸附热越大。

这是因为小粒度的纳米材料具有更高的比表面积，可以提供更多的吸附位点，使得吸附过程需要克服的能量障碍增加，从而提高了吸附热。

2. 吸附等温线的变化纳米材料的粒度还会影响其吸附等温线的形状。

随着粒度的减小，纳米材料的吸附等温线可能会从L型向S型转变。

这是因为小粒度的纳米材料具有更高的比表面积和更强的吸附能力，使得其在低浓度下的吸附量增大，进而改变等温线的形状。

三、纳米材料吸附动力学的粒度效应1. 吸附速率与粒度的关系纳米材料的粒度对其吸附速率具有显著影响。

一般来说，粒度越小，吸附速率越快。

这是因为小粒度的纳米材料具有更高的比表面积，可以提供更多的活性位点，使得吸附过程更容易进行。

此外，小粒度的纳米材料还具有更好的扩散性能，有利于吸附质在材料内部的扩散。

2. 粒度对吸附机理的影响纳米材料的粒度还会影响其吸附机理。

小粒度的纳米材料通常具有更高的表面能，使得其与吸附质之间的相互作用更强。

此外，小粒度的纳米材料还可能具有更多的缺陷和空位，这些缺陷和空位可以提供更多的吸附位点，从而影响吸附过程。

四、实验研究及结果分析为了验证上述理论，我们进行了一系列实验研究。

通过改变纳米材料的粒度，我们观察了其对吸附热和吸附速率的影响。

实验结果表明，随着粒度的减小，吸附热和吸附速率均有所增加。

此外，我们还发现小粒度的纳米材料在低浓度下的吸附量更大，这与上述理论相符。

五、结论本文探讨了纳米材料吸附热力学和动力学的粒度效应。

纳米材料粒径评估方法纳米材料是一种具有特殊结构和性质的材料，其粒径在纳米级别（1纳米=10^-9米）范围内。

粒径评估是对纳米材料进行表征和评价的重要方法之一，可以揭示纳米材料的尺寸分布、形貌特征以及与其他性质之间的关联。

本文将介绍几种常用的纳米材料粒径评估方法。

一、透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）透射电子显微镜是一种通过电子束穿透样品并形成显微图像的仪器。

利用TEM可以直接观察纳米材料的形貌和尺寸分布。

通过在TEM 中观察纳米材料的投影图像，可以测量出颗粒的直径，并进一步分析颗粒的尺寸分布情况。

二、扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope, SEM）扫描电子显微镜是一种利用电子束和样品表面相互作用产生信号来形成显微图像的仪器。

SEM可以对纳米材料进行表面形貌观察和尺寸评估。

通过SEM观察到的纳米材料表面形貌图像，可以通过测量颗粒的直径或者利用图像处理软件进行粒径分析。

三、动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）动态光散射是一种利用激光束照射样品，测量散射光强度随时间的变化来评估颗粒粒径的方法。

纳米材料在DLS仪器中受到激光的照射后，颗粒会不断自发地进行热运动，散射出的光会随时间变化。

通过分析散射光强度的自相关函数，可以得到纳米颗粒的尺寸分布。

四、X射线衍射（X-ray Diffraction, XRD）X射线衍射是一种通过测量样品对入射X射线的衍射来确定晶体结构和晶格常数的方法。

对于纳米材料，XRD可以用来确定其结晶性质和晶体尺寸。

通过计算衍射峰的位置和强度，可以得到纳米材料的晶体尺寸。

五、原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM）原子力显微镜是一种利用探针对样品表面进行扫描，并通过探针与样品之间的相互作用力来获得样品表面形貌和粒径信息的仪器。

第1篇一、实验目的1. 了解纳米粒度仪的基本原理和操作方法。

2. 学习纳米粒度分析在材料科学、生物医学等领域的应用。

3. 通过实验，掌握纳米颗粒粒径和分布的测量方法。

二、实验原理纳米粒度仪是一种基于动态光散射（DLS）原理的仪器，通过测量颗粒在液体中布朗运动的速度，从而确定颗粒的大小和分布。

实验过程中，激光照射到悬浮颗粒上，颗粒对光产生散射，散射光经过光学系统被探测器接收，通过分析散射光的时间变化，可以得到颗粒的粒径和分布信息。

三、实验仪器与试剂1. 仪器：纳米粒度仪、激光光源、样品池、计算机等。

2. 试剂：纳米颗粒悬浮液、分散剂、滤纸等。

四、实验步骤1. 样品准备：将纳米颗粒悬浮液用滤纸过滤，去除杂质，确保样品的纯净度。

2. 仪器设置：打开纳米粒度仪，调整激光光源、样品池等参数，使仪器处于正常工作状态。

3. 样品测量：将处理好的纳米颗粒悬浮液注入样品池，设定测量时间，启动仪器进行测量。

4. 数据处理：将测量得到的数据导入计算机，利用纳米粒度仪自带软件进行数据处理，得到粒径和分布信息。

5. 结果分析：根据实验结果，分析纳米颗粒的粒径分布、平均粒径等参数，并与理论值进行对比。

五、实验结果与分析1. 纳米颗粒粒径分布：实验测得纳米颗粒的粒径分布如图1所示。

从图中可以看出，纳米颗粒的粒径主要集中在20-50nm范围内，符合实验预期。

图1 纳米颗粒粒径分布2. 纳米颗粒平均粒径：根据实验结果，纳米颗粒的平均粒径为30.5nm，与理论值相符。

3. 纳米颗粒分散性：实验测得纳米颗粒的分散性较好，说明样品在制备过程中未发生团聚现象。

六、实验讨论1. 实验过程中，纳米颗粒的粒径分布和平均粒径与理论值相符，说明实验方法可靠，仪器性能稳定。

2. 实验结果表明，纳米颗粒的分散性较好，有利于其在材料科学、生物医学等领域的应用。

3. 在实验过程中，应注意样品的制备和仪器操作，以保证实验结果的准确性。

七、结论本次实验成功测量了纳米颗粒的粒径和分布，验证了纳米粒度仪在材料科学、生物医学等领域的应用价值。

纳米材料粒度测试方法大全纳米材料粒度测试是纳米材料研究和应用中非常重要的一项工作，通过准确测量纳米材料的粒度可以了解其物理性质和化学性质，为纳米材料的合成、应用和性能优化提供数据支持。

下面将介绍几种常用的纳米材料粒度测试方法。

1.扫描电子显微镜(SEM)：SEM是一种通过扫描纳米材料表面的高能电子束来观察和测量纳米材料粒度的方法。

该方法具有分辨率高、测量精度高、对纳米材料样品无需特殊处理等特点。

通过SEM观察到的纳米材料外观图像可以用于测量粒径、形貌和分布等参数。

2.透射电子显微镜(TEM)：TEM是一种通过透射电子束观察纳米材料内部结构的方法，也可用于测量纳米材料的粒度。

TEM具有高分辨率，可以观察到纳米尺度的细节。

通过对TEM图像的分析，可以根据纳米材料的投影面积和长度等参数来计算纳米材料的粒径。

3.动态光散射(DLS)：DLS是一种通过检测纳米材料颗粒在溶液中的布朗运动来测量纳米材料粒度的方法。

它利用激光束照射纳米颗粒溶液，测量散射光的强度和角度分布，从而得到纳米材料的尺寸分布。

DLS具有非接触式测量、快速、方便等特点，适用于纳米材料的溶液或悬浮液样品。

4.X射线衍射(XRD)：XRD是一种通过测量材料晶体的衍射角度来确定晶体结构和晶粒尺寸的方法。

对于具有晶体结构的纳米材料，可以通过XRD图谱的峰宽来估算晶粒尺寸。

XRD具有无损测量、精度高等特点，适用于晶体结构明确的纳米材料。

5.傅里叶红外光谱(FTIR)：FTIR是一种通过测量纳米材料在红外波段的吸收光谱来研究纳米材料结构和成分的方法。

纳米材料的粒度也可以通过红外吸收峰的强度和位置进行定性和定量分析。

FTIR具有所需样品量少、分辨率高等特点，适用于纳米材料的表面分析和组成分析。

6.水中悬浮液测定法：将纳米材料置于水中制备悬浮液，通过测量悬浮液的光学性质如透光率等，可以间接测得纳米材料的粒度。

该方法操作简单、快速，可用于大量样品的测量。

7.气相吸附法：纳米材料的比表面积可以通过气相吸附法来测量。

纳米材料的性能测试方法与分析技巧在纳米科技领域中，纳米材料的性能测试是非常重要的。

随着纳米材料的广泛应用，准确评估其性能对于材料的研发和应用具有重要意义。

本文将介绍纳米材料性能测试的常用方法和分析技巧。

1. 粒径分析纳米材料的粒径是其最基本的性能参数之一。

常用的粒径分析方法包括动态光散射（DLS）、激光粒度分析仪（LPSA）和扫描电子显微镜（SEM）等。

其中，动态光散射是一种通过光粒度仪测量颗粒对粒径的分析方法。

激光粒度分析仪可以通过光学原理测量颗粒的大小分布。

扫描电子显微镜则通过高分辨率的图像展示颗粒的形态和大小。

这些方法可以帮助我们了解纳米材料的粒径分布情况，为性能的评估提供依据。

2. 表面形貌分析纳米材料的表面形貌对其性能具有重要影响。

扫描电子显微镜和透射电子显微镜（TEM）是常用的表面形貌分析方法。

扫描电子显微镜可以提供高分辨率的表面形貌图像，而透射电子显微镜则可以提供纳米级别的表面形貌信息。

通过这些方法可以观察到纳米材料的形状、表面结构和晶体结构等信息，为性能的评估提供基础数据。

3. 结构分析纳米材料的结构对其性能具有重要影响。

X射线衍射（XRD）和透射电子显微镜是常用的结构分析方法。

X射线衍射可以通过检测材料的晶体衍射峰来确定其晶体结构和晶格参数。

透射电子显微镜则可以通过对纳米材料的电子衍射图像进行分析，确定其晶体结构和晶格参数。

结构分析可以提供对纳米材料晶体结构的了解，为性能的评估提供依据。

4. 表面化学成分分析纳米材料的表面化学成分对其性能具有重要影响。

常用的表面化学成分分析方法包括能谱分析（EDS）和X射线光电子能谱（XPS）。

能谱分析可以通过分析材料发射的X射线能谱来确定其表面化学成分。

X射线光电子能谱则可以通过分析材料表面的光电子发射能谱来确定其表面化学成分。

这些方法可以帮助我们了解纳米材料的表面化学成分，为性能的评估提供依据。

5. 热性能分析纳米材料的热性能对其应用具有重要意义。

纳米材料粒度分析一、实验原理纳米颗粒材料（粒径<100nm ）是纳米材料中最重要的一种，可广泛用于纳米复合材料制备中的填料、光催化颗粒、电池电极材料、功能性分散液等。

粒径(或粒度)是纳米颗粒材料的一个非常重要的指标。

测试颗粒粒径的方法有许多种，其中，电子显微镜法和激光光散射法均可用纳米材料粒度的测试，电子显微镜法表征纳米材料比较直观，可观察到纳米颗粒的形态，但需要通过统计计数（一般需统计1000个以上颗粒的粒径）方法来得到颗粒粒径，比较烦琐费时，尤其是在纳米颗粒的粒径分布较宽时，统计得到的粒径及粒径分布误差将增大。

激光光散射法得到的纳米颗粒粒径具有较好的统计意义，制样简单，测试速度快，但激光光散射法无法观察到颗粒形态，在测试非球形颗粒时测试误差也较大。

因此，上述两种纳米材料的测试方法各有优缺点。

本实验选用激光光散射法测试纳米材料的粒径及粒径分布。

所用仪器为Beckman-coulter N4 Plus 型激光粒度分析仪。

图1为N4 Plus 型激光粒度分析仪的测量单元组成图，主要由HeNe 激光光源、聚焦透镜、样品池、步进马达、光电倍增管(PMT)、脉冲放大器和鉴别器(PAD)、数字自相关器、6802微处理器和计算机组成。

图1 N4 Plus 型激光粒度测试仪的测量单元组成图N4 Plus 型激光粒度分析仪的测量原理主要基于颗粒的布朗(Brownian)运动和光子相关光谱(Photon Correlation Spectroscopy, PCS)现象。

在溶液中，粒子由热导致与溶剂分子发生随机碰撞所产生的运动称为布朗运动，由于布朗运动，粒子在溶液中可发生扩散移动。

在恒定温度及某一浓度下，粒子的平移扩散系数与颗粒的粒径成反比，即符合Stokes-Einstein 方程：d3Tk D B πη=（1）式中k B 为玻尔兹曼常数(1.38×10-16erg/︒K)，T 为温度(︒K)，η为分散介质(或稀释剂)粘度(poise)，d 为颗粒粒径(cm)。

纳米材料的表征和分析方法分享纳米材料是指尺寸在纳米级别的材料，其具有独特的物理、化学以及生物学性质，广泛应用于能源、材料、生物医药等领域。

为了深入了解纳米材料的性质和优良特性，科学家们开发了多种表征和分析方法。

在本文中，我们将分享一些常用的纳米材料表征和分析方法。

一、纳米材料的表征方法1. 扫描电子显微镜（SEM）：SEM可以获得材料表面形貌和微观结构的高分辨率图像。

通过SEM可以观察纳米颗粒的大小、形状以及表面形貌的变化，进而得出材料的结构特征和表面形貌。

2. 透射电子显微镜（TEM）：TEM是一种高分辨率的表征技术，可用于观察纳米材料的晶体结构和颗粒形态。

通过TEM，可以实时观察纳米材料的形貌、尺寸和晶体结构，并进一步了解纳米材料的导电性、光学性质等。

3. 原子力显微镜（AFM）：AFM可以直接观察纳米尺度下的表面形貌和表面力学性质。

通过扫描探针与样品表面的相互作用，AFM可以获得纳米尺度下的三维表面拓扑图像，同时还可以测量纳米材料的力学性能。

4. 粒度分析：粒度分析是用于确定纳米颗粒的尺寸分布和平均粒径的方法。

常见的粒度分析技术包括激光粒度仪、动态光散射仪等。

这些仪器可以通过散射光的特性来推断颗粒的大小，并计算出粒径分布图和平均粒径。

二、纳米材料的分析方法1. X射线衍射（XRD）：XRD是一种常用的纳米材料分析方法，可以用于确定纳米材料的晶体结构、晶格参数和晶体缺陷。

通过分析材料对入射X射线的散射模式，可以得出材料的晶体结构和晶格常数，从而获得材料的结晶性质。

2. 红外光谱（IR）：红外光谱是一种用于检测材料分子结构和化学键情况的分析方法。

通过测量材料在红外波段的吸收谱线，可以得知材料的化学成分、功能基团和化学键的状态，帮助研究人员了解纳米材料的化学性质和功能。

3. 核磁共振（NMR）：核磁共振技术可以用于分析纳米材料的结构、组成和动力学性质。

通过测量材料中原子核的共振信号，NMR可以得到关于材料分子的信息，包括分子结构、化学位移等，从而为纳米材料的研究提供有价值的数据。

纳米粒度分析纳米粒度分析是一种用于测量和分析纳米颗粒的技术。

纳米粒度是指颗粒的尺寸在1至100纳米之间。

纳米颗粒具有独特的物理和化学性质，因此对其进行准确的尺寸分析对于研究和应用纳米材料非常重要。

纳米粒度分析可以通过不同的方法进行，其中常用的包括光学显微镜、透射电子显微镜（TEM）、扫描电子显微镜（SEM）、动态光散射（DLS）和激光粒度分析仪（LPA）。

每种方法都有其特定的优点和限制，因此选择适当的方法取决于样品类型、尺寸范围和分析需求。

光学显微镜是一种便捷且经济的测量方法，可以直接观察和测量粒子在固定载玻片上的大小。

然而，由于光学显微镜的分辨率限制，只能测量大约200纳米以上的粒子。

透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）是两种使用电子束的技术，可以提供更高的分辨率和更精确的粒子尺寸分析。

TEM通过通过样品的透射电子图像来进行分析，可以达到纳米尺度以下的分辨率。

SEM通过扫描电子束并检测从样品表面散射出的电子来获取图像和尺寸数据。

这两种方法可以对纳米颗粒进行直接的形貌和尺寸分析，但需要较复杂的样品制备和仪器操作。

动态光散射（DLS）是一种常用的液相纳米颗粒尺寸分析方法。

这种方法通过测量悬浊液中颗粒在热扰动下的光散射来确定粒子的尺寸分布。

DLS具有非接触测量、速度快和样品制备简单的优点，适用于纳米颗粒的溶液样品。

激光粒度分析仪（LPA）是一种利用粒子在激光束中散射光的方法进行尺寸分析的技术。

该仪器通过测量颗粒散射光的角度和强度来确定颗粒的尺寸分布。

LPA可以对固体和液体样品进行尺寸分析，且具有较高的分辨率和较广的尺寸范围。

除了上述方法，还有一些其他的纳米粒度分析技术，例如X射线衍射（XRD）、原子力显微镜（AFM）和场发射扫描电子显微镜（FESEM）。

这些方法在特定情况下也可以用于纳米颗粒的尺寸分析。

总而言之，纳米粒度分析是研究和应用纳米材料的重要手段。

选择合适的分析方法取决于样品类型、尺寸范围和分辨率要求等因素。

纳米材料粒度分析一、实验原理纳米颗粒材料（粒径<100nm ）是纳米材料中最重要的一种，可广泛用于纳米复合材料制备中的填料、光催化颗粒、电池电极材料、功能性分散液等。

粒径(或粒度)是纳米颗粒材料的一个非常重要的指标。

测试颗粒粒径的方法有许多种，其中，电子显微镜法和激光光散射法均可用纳米材料粒度的测试，电子显微镜法表征纳米材料比较直观，可观察到纳米颗粒的形态，但需要通过统计计数（一般需统计1000个以上颗粒的粒径）方法来得到颗粒粒径，比较烦琐费时，尤其是在纳米颗粒的粒径分布较宽时，统计得到的粒径及粒径分布误差将增大。

激光光散射法得到的纳米颗粒粒径具有较好的统计意义，制样简单，测试速度快，但激光光散射法无法观察到颗粒形态，在测试非球形颗粒时测试误差也较大。

因此，上述两种纳米材料的测试方法各有优缺点。

本实验选用激光光散射法测试纳米材料的粒径及粒径分布。

所用仪器为Beckman-coulter N4 Plus 型激光粒度分析仪。

图1为N4 Plus 型激光粒度分析仪的测量单元组成图，主要由HeNe 激光光源、聚焦透镜、样品池、步进马达、光电倍增管(PMT)、脉冲放大器和鉴别器(PAD)、数字自相关器、6802微处理器和计算机组成。

图1 N4 Plus 型激光粒度测试仪的测量单元组成图N4 Plus 型激光粒度分析仪的测量原理主要基于颗粒的布朗(Brownian)运动和光子相关光谱(Photon Correlation Spectroscopy, PCS)现象。

在溶液中，粒子由热导致与溶剂分子发生随机碰撞所产生的运动称为布朗运动，由于布朗运动，粒子在溶液中可发生扩散移动。

在恒定温度及某一浓度下，粒子的平移扩散系数与颗粒的粒径成反比，即符合Stokes-Einstein 方程：d 3T k D B πη=（1） 式中k B 为玻尔兹曼常数(1.38×10-16erg/︒K)，T 为温度(︒K)，η为分散介质(或稀释剂)粘度(poise)，d 为颗粒粒径(cm)。

纳米材料的粒度分析1．1前言1．粒度分析的概念大部分固体材料均是由各种形状不同的颗粒构造而成，因此，细微颗粒材料的形状和大小对材料结构和性能具有重要的影响。

尤其对于纳米材料，其颗粒大小和形状对材料的性能起着决定性的作用。

因此，对纳米材料的颗粒大小、形状的表征和控制具有重要的意义。

一般固体材料颗粒大小可以用颗粒粒度概念来描述。

但由于颗粒形状的复杂性，一般很难直接用一个尺度来描述一个颗粒大小，因此，在粒度大小的描述过程中广泛采用等效粒度的概念。

对于不同原理的粒度分析仪器，所依据的测量原理不同，其颗粒特性也不相同，只能进行等效对比，不能进行横向直接对比。

如沉降式粒度仪是依据颗粒的沉降速度进行等效对比，所测的立径为等效沉速径，即用与被测颗粒具有相同沉降速度的同质球形颗粒的直径来代表实际颗粒的大小。

激光粒度仪则是利用颗粒对激光的衍射和散射特性作等效对比，所测出的等效粒径为等效散射粒径，即用与实际被测颗粒具有相同散射效果的球形颗粒的直径来代表这个颗粒的实际大小。

当被测颗粒为球形时，其等效粒径就是它的实际直径。

但由于粉体材料颗粒的形状不可能都是均匀球形的，有各种各样的结构，因此，在大多数情况下粒度分析仪所测的粒径是一种等效意义上的粒径，和实际的颗粒大小分布会有一定的差异，因此只具有相对比较的意义。

等效粒径（D）和颗粒体积（V）的关系可以用表达式D=1.24V1/3表示。

此外，各种不同粒度分析方法获得的粒径大小和分布数据也可能不能相互印证，不能进行绝对的横向比较。

由于粉体材料的颗粒大小分布较广，可以从纳米级到毫米级，因此在描述材料粒度大小时，可以把颗粒按大小分为纳米颗粒、超微颗粒、微粒、细粒、粗粒等种类。

依据这些颗粒的种类可以采用相应的粒度分析方法和仪器。

近年来，随着纳米科学和技术的迅速发展，纳米材料的颗粒分布以及颗粒大小已经成为纳米材料表征的重要指标之一，在普通的材料粒度分析中，其研究的颗粒大小一般在100nm~1ｕm尺寸范围。