材料显微结构分析方法(精)
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材料科学中的显微分析技术随着科技的不断进步和发展,材料科学领域也在不断地推陈出新,尤其是在显微分析技术方面,取得了巨大的成就。
显微分析技术是材料科学中一种非常重要的研究手段,主要通过观察样品的微观结构和性质来达到材料分析和研究的目的。
本文将重点介绍几种常用的显微分析技术。
一、扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是一种非常常用的显微分析技术,它主要利用电子束照射样品后所产生的二次电子和反射电子来观察样品表面的形貌、结构和成分。
SEM 可以通过不同的电子能量、探针电流等参数来调节图像的分辨率和深度,因此对于材料表面形貌的观察和分析非常有帮助。
二、透射电子显微镜(TEM)与 SEM 不同的是,透射电子显微镜主要研究的是材料的内部结构和组成成分。
透射电子显微镜通过压缩电子波长并穿过材料薄层来观察材料的内部结构。
这种技术非常适合于研究各种微纳米结构,如晶体缺陷、嵌入物晶体、纳米线、薄膜等。
三、原子力显微镜(AFM)原子力显微镜是一种非接触式的显微分析技术,可以实现 nm 和单个原子的分辨率。
AFM 通过利用样品表面的力变化来计算样品表面的形貌,可以直接观察到材料表面的原子结构和表面化学性质。
AFM 技术在材料表面形貌、粗糙度以及纳米级表面摩擦等方面各有应用。
四、拉曼光谱分析拉曼光谱分析是一种非常常见的光谱分析技术,它通过利用激光束的激发下产生的被动散射光,来给出材料的振动信息,包括化合物的结构、作为表面成分的化合物、内部动态变化等。
拉曼光谱分析广泛用于材料、纳米材料及化学生物学领域,为研究物理、化学、生物等方面的问题提供了有效的工具。
五、X射线衍射分析(XRD)X射线衍射分析是一种分析材料内部结构的技术,主要应用于晶体结构分析、材料相变研究、材料显微结构分析等领域。
XRD 通过跟踪和分析样品探针的散射角度和强度,从而确定材料的具体晶格结构、原子排列和相互影响。
总结以上几种显微分析技术只是材料分析中常用的几种手段,还有许多其他的方法可以用于材料或材料组件的分析和研究。
sem扫描电镜,怎样分析材料结构篇一:扫描电镜材料分析作用扫描电子显微镜在材料分析中的应用摘要:介绍了扫描电子显微镜的工作原理、结构特点及其发展,阐述了扫描电子显微镜在材料科学领域中的应用。
关键词:扫描电子;微镜;材料;应用;SEm’sapplicationinmaterialscienceabstract:Theprinciple,structureanddevelopmentoftheScanningElectronmic roscope(SEm)areintroducedinthisthesis.TheapplicationofSEminthefieldof materialscienceisdiscussed.Keywords:ScanningElectronmicroscope(SEm);material;application;前言:二十世纪60年代以来,出现了扫描电子显微镜(SEm)技术,这样使人类观察微小物质的能力发生质的飞跃。
依靠扫描电子显微镜的高分辨率、良好的景深和简易的操作方法,扫描电子显微镜(SEm)迅速成为一种不可缺少的工具,并且广泛应用于科学研究和工程实践中。
近年来,随着现代科学技术的不断发展,相继开发了环境扫描电子显微镜(ESEm)、扫描隧道显微镜(SEm)、原子力显微镜(aFm)等其它一些新的电子显微技术。
这些技术的出现,显示了电子显微技术近年)子枪);(3)提高真空度和检测系统的接收效率;(4)尽可能减小外界振动干扰。
目前,采用钨灯丝电子枪扫描电镜的分辨率最高可以达到 3.0nm;采用场发射电子枪扫描电镜的分辨率可达1nm。
到20世纪90年代中期,各厂家又相继采用计算机技术,实现了计算机控制和信息处理。
2.1场发射扫描电镜采用场发射电子枪代替普通钨灯丝电子枪,这项技术从1968年就已开始应用,这项技术大大提高了二次电子像分辨率。
近几年来,各厂家采用多级真空系统(机械泵+分子泵+离子泵),提高了真空度,真空度可达10~7Pa;同时,采用磁悬浮技术,噪音振动大为降低,灯丝寿命也有增加。
材料组织结构的显微分析与表征材料科学是研究材料性质与性能的一门学科,而材料的组织结构是决定其性质与性能的关键因素。
通过显微分析与表征技术,可以深入了解材料的内部结构与微观特征,为材料设计和工艺改进提供科学依据。
本文将介绍几种常见的显微分析与表征技术,以及它们在材料科学研究中的应用。
一、光学显微镜光学显微镜是最常用也是最基础的显微表征技术之一。
它利用可见光在材料表面反射或透射的原理,通过放大镜片来观察材料的形貌和结构。
光学显微镜适用于非金属材料的晶粒观察和颗粒大小测量,特别是对于透明材料和薄膜的研究有着重要的作用。
此外,光学显微镜还可以结合其他技术,如偏光显微镜和荧光显微镜,来研究材料的晶体结构和化学成分。
二、电子显微镜电子显微镜是一种利用电子束取代光束进行成像的显微表征技术。
相对于光学显微镜,电子显微镜具有更高的分辨率和放大倍数,可以观察到更细微的结构和更小的颗粒。
电子显微镜分为扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM),分别适用于表面形貌和内部结构的观察。
电子显微镜广泛应用于金属材料的析出相研究、纳米材料的形貌表征以及生物材料的细胞结构观察等领域。
三、X射线衍射X射线衍射是一种利用物质对X射线的散射来研究其结晶性质的技术。
通过测量材料对X射线的散射角度和强度,可以确定材料的晶胞参数和晶体结构。
X射线衍射广泛应用于金属、陶瓷和无机晶体材料的晶体学研究。
此外,X射线衍射还可以结合其他技术,如能谱分析和衍射成像,来研究材料的化学成分和表面形貌。
四、原子力显微镜原子力显微镜(AFM)是一种基于力的显微表征技术,可以在纳米尺度下观察材料的形貌和力学性质。
AFM利用微小的力探针扫描材料表面,通过检测力变化来绘制出材料的拓扑图像。
AFM适用于各种材料的表面形貌和力学性质的表征,对于纳米材料、生物材料和涂层材料的研究尤为重要。
综上所述,材料组织结构的显微分析与表征技术是材料科学研究中不可或缺的工具。
通过光学显微镜、电子显微镜、X射线衍射和原子力显微镜等技术,我们可以深入了解材料的内部结构和微观特征,为材料设计、工艺改进和性能优化提供科学依据。
材料显微结构分析方法
Analysis of Materials Microstucture
一.内容提纲:材料显微结构分析是材料科学中最为重要的研究方法之一。
准确、快捷的分析结果为材料的制备工艺、材料性能微结构表征研究及其材料显微结构设计提供可靠的实验和理论依据。
本课程主要介绍包括物显微结构形貌观察、物相种类确定及其定量分析、Rietveld拟合方法、择优取向类型及其测定、微晶及纳米粉体尺寸测定、体材料及其微区成分分析和定量测定等;同时侧重介绍进行上述显微结构分析通常所采用的各种现代仪器的主要功能特性及其分析方法,其中包括X射线衍射仪(XRD)、X光荧光分析仪(XRF)、电子探针(EPME)、波谱仪(WDS)、能谱仪(EDS)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)等,并且按排了相应的实验。
通过本课程的学习,使研究生了解材料科学研究工作者通常关注的主要显微结构分析内容;掌握各种常见分析仪器的功能和基本原理;学会根据不同显微结构分析内容,准确选择、利用各种分析方法和手段,并得出正确的判断。
培养学生分析、解决问题的能力。
二. 教学学时: 48
课堂教学 32 实验 16
三. 先修课程:
1.材料科学基础
2.X射线衍射技术
3.扫描电子显微镜
4. 透射电子显微镜
四. 教学对象:
适用于金属、陶瓷、有机、半导体、复合材料等学科研究生。
五. 教材:
主要教材:自编讲义
主要参考书:
1. 自编文献汇编
2. X光衍射技术基础,王英华主编,原子能出版社
3. Svanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
六. 主要讲授内容:
1.物相定量分析
(1)定量分析基本原理
(2)参考强度法
(3)含玻璃相的K值法的定量相分析
(4)混样无标样定量相分析
(5)理论计算定量相分析
(6)具有择优取向试样的定量相分析
2.织构测定及其应用
(1)择优取向的种类、形成及其对性能的影响
(2) 择优取向的的测定方法
正极图
反极图
面织构的f因子表示及测定方法
分布函数
3. 微晶晶粒尺寸的测定
(1) 微晶晶粒尺寸测定基本原理
(2) 线形分析及测量
(3) 微晶尺寸效应和晶格畸变效应
4. X射线粉末衍射的Rietveld拟合方法
(1) Rietveld方法基本原理
(2) Rietveld方法中衍射峰的线形分析
(3) Rietveld分析中的校正
(4) Rietveld方法的晶体结构
(5) Rietveld方法的指标化和相分析4.电子束与物质的相互作用
(1) 物质对入射电子的散射
(2) 弹性散射截面
(3) 非弹性散射的能量损失
(4) 背散射电子
(5) 二次电子
5. 光化学分析
(1) 光化学分析原理
(2) WDS分光
(3) EDS分光
(4) X光荧光定量分析方法
6.电子探针微区定量分析
(1) 定量分析基础
(2) 原子吸收因子校正
(3) 吸收因子校正
(4) 荧光校正
(5) Z.A.F校正的循环逼近
7.SEM/EDS,WDS显微分析
(1) SEM结构原理
(2) 探测器
(3) 二次电子显微像
(4) 背散射电子像与吸收电子像8.TEM/EDS,WDS显微分析
(1) TEM结构原理
(2) TEM显微成像及衍射花样成像原理
(3) 散射衬度
(4) 衍衬像
(5) 电子衍射
二. 主要实验内容:
1.采用C值理论计算方法的陶瓷的物相定量分析;
2.材料的择优取向定量测定;
3.微晶尺寸的XRD测定;
4.材料断口形貌的SEM/EDS显微观测与分析;
5.材料的TEM电子衍射微区物相分析。
*各实验的系列使用即时而定。