XAFS采谱程序操作说明-1W2-V1
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第1篇直读光谱仪软件操作规程是针对直读光谱仪配套软件的操作指南,旨在指导用户正确、高效地使用软件进行光谱分析。
本规程适用于所有类型的直读光谱仪软件,包括数据采集、处理、分析及报告等功能。
二、软件安装与启动1. 确保计算机操作系统符合软件要求,并安装必要的驱动程序。
2. 将软件安装光盘放入光驱,按照提示完成安装。
3. 双击桌面上的软件图标,或通过开始菜单找到软件并启动。
4. 在软件启动过程中,如需进行系统设置,请按照提示进行操作。
三、软件界面介绍1. 菜单栏:包含文件、编辑、视图、工具、帮助等菜单项,用于执行各种操作。
2. 工具栏:提供常用功能的快捷按钮,如新建、打开、保存、打印等。
3. 工作区:显示当前操作的数据、图表等信息。
4. 状态栏:显示软件状态、当前操作等信息。
四、数据采集与处理1. 连接光谱仪:确保光谱仪与计算机连接正常,打开光谱仪电源。
2. 采集数据:在软件中选择合适的分析方法,设置相关参数,开始采集数据。
3. 数据处理:采集完成后,对数据进行平滑、滤波、提取等处理。
五、光谱分析1. 选择分析方法:根据样品成分和含量要求,选择合适的光谱分析方法。
2. 设置分析参数:根据样品特性,设置分析参数,如积分时间、扫描速度等。
3. 进行分析:点击“分析”按钮,软件将自动进行光谱分析。
4. 查看分析结果:分析完成后,在工作区显示分析结果,包括含量、标准偏差等。
六、报告生成与打印1. 生成报告:点击“报告”菜单,选择报告模板,将分析结果生成报告。
2. 打印报告:将生成的报告导出为PDF或Word格式,进行打印。
七、软件关闭1. 关闭报告:完成报告打印后,关闭报告窗口。
2. 退出软件:点击菜单栏中的“文件”菜单,选择“退出”或点击软件右上角的关闭按钮。
3. 断开光谱仪连接:关闭光谱仪电源,确保光谱仪与计算机连接正常断开。
八、注意事项1. 确保光谱仪与计算机连接正常,避免数据采集失败。
2. 在进行光谱分析时,请仔细设置分析参数,确保分析结果的准确性。
XAFS实验方法X射线吸收精细结构(X-ray Absorption Fine Structure, XAFS)是一种用于研究材料结构、化学成分和电子状态的实验方法。
它是通过测量材料对X射线的吸收来获得关于材料内部原子结构和原子间相互作用的信息。
XAFS实验方法已经被广泛应用于物理、化学、材料科学等领域,对于揭示材料性质、催化反应、材料设计等研究具有重要意义。
XAFS实验方法的基本原理是利用材料对X射线的吸收来获得关于材料内部结构的信息。
X射线在物质中的吸收是由于X射线与物质中的原子发生能量交换,并在吸收这一过程中发生了多次散射。
如果对材料的吸收边附近进行高分辨的测量,就可以得到XAFS谱。
XAFS谱包含了吸收边的X射线吸收系数的实部和虚部,这些数据可以被进一步分析和解释,从而得到关于材料结构和化学成分的信息。
1.实验准备:在进行XAFS实验之前,需要准备样品和实验装置。
样品可以是固体、液体或气体,需要以合适的形式进行制备。
实验装置通常包括具有高能分辨能力的X射线源、样品台、能量分析仪和探测器等。
2.X射线吸收谱的测量:通过在吸收边附近进行X射线吸收谱的测量来获得XAFS谱。
实验中通常会改变X射线的入射能量,以提高测量的范围和分辨率。
吸收谱的测量可以使用透射模式或反射模式进行,具体的选择取决于样品的性质和实验要求。
3.数据分析:通过对测量得到的XAFS谱进行数据处理和分析,可以提取出关于材料结构和化学成分的信息。
常用的数据分析方法包括傅里叶变换、多次散射理论和反射振幅的确定等。
这些分析方法可以用来确定材料的配位数、键长、配位构型等。
4.结果解释:根据数据分析的结果,可以解释材料的特性和性质。
例如,可以确定材料中的原子种类、原子位置和键的性质,揭示材料中原子间相互作用的方式和强度。
这些结果对于理解材料的电子结构、催化活性等具有重要的意义。
XAFS实验方法具有广泛的应用领域。
例如,它可以用于研究催化剂表面的原子结构和吸附过程,从而揭示催化反应的机制和活性位点。
BSRF XAFS实验站值班手册V2.0一、值班时间及交接班时间:表1 值班时间和交接班时间表二、交接班注意事项:1、时间严格按照交接班时间规定时间完成(可以按双方约定时间完成)2、交接班交接班时,交班人员与接班人员须共同在场;如一方未能按时到场,须电话告知另一方,或电话相互联系约定好时间后,再进行交接班;如一方未能按时到场且联系不上,另一方需继续值班,并在实验记录表上进行记录、向实验站人员进行反应;早退或迟到1小时以上的,当日值班补贴归交接班另一方。
3、交班人员确认事项(1)各类表格(用户:仪器共享、用光记录、实验记录、样品清单;值班人员:值班记录、用户评价)(2)门卡和剂量卡(按号收回)(3)用户数据拷贝(4)用户废样品:叮嘱用户让其打包带走(5)样品台整理:确保样品台干净整洁(6)刷卡系统:值班期间负责结束上一用户、开始新用户;(问清单位)4、接班人员确认事项(1)值班表格检查表格是否填写,如未填写,告知交班人员完成,且双方在值班表格上签字。
(2)实验站相关设备检查:如单色器水冷、真空、编码器、失谐等,是否工作正常,如有异常将相关情况记录在当天的值班表格上。
固探低温保持;三、用户交接注意事项:主要分以下四种情形1、正常交接:值班人员按要求完成第二项的1-4项2、用户提前完成实验:值班人员了解情况后,应提前向实验站人员反映,等待安排,并且按要求完成第二项中的第3项。
3、用户延时处理:情况1 之后有用户,请前一用户与后一用户沟通,值班人员不要干涉;情况2 之后为机动时间,值班人员及时与实验站人员联系,解决。
4、用户未按时到场:若交接班完成且已经到规定时间,下个用户未按时到达,则值班人员可以先给用户打个电话询问一下情况(用户的联系方式可以咨询实验站人员),如果联系不上或者用户出现特殊情况,则立即向实验站人员反映。
四、接待用户1、尽量与用户提前沟通值班人员应当与用户沟通,及时了解用户的实验样品信息,实验意图和实验需求,帮助用户规划好时间和样品测试顺序,以提高实验效率,减轻值班压力。
XAFS实验方法XAFS实验方法中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室谢亚宁XAFS实验方法§1 背景知识1.光的波粒二相性2.X射线吸收,荧光发射机制3.X射线吸收4.XAFS简介5.两种基本实验方法§2 透射XAFS实验1.束线及透射实验系统2.透射实验设置要点3.透射实验样品制备4.实验参数设置5.信噪比及探测灵敏度§3 荧光XAFS实验1.荧光XAFS原理及优势2.LYTLE探测器的原理及使用3.半导体阵列探测器的原理特点及设置4.荧光XAFS样品要求§4 其他基于XAFS的实验方法§1背景知识光的波粒二象性λνch h E ?==光(电磁波)同时具有波动性和粒子性。
X 射线是电磁波,因而即表现波动性又表现粒子性。
其波长比可见光波短很多,显示出很强的粒子性。
用粒子性描述,分析与X 射线与物质的相互作用机制很给力。
光的波动性和粒子性联系的基本方程:E -光子能量;υ-光的频率;λ -光的波长;h -普朗克常数;c -光速)(4.12)(?=A KeV E λ◆X 射线通过光电效应被物质吸收◆吸收发生条件:入射光子能量hv 大于原子某个特定内壳层束缚能E 0◆吸收过程:入射光子则被吸收(湮灭)其能量E 全部转移给该内壳层的一个电子,该电子被弹出该壳层,称为光电子。
◆光电子具有动能E 动=hv -E 0◆原子内壳层形成电子空缺,原子处于激发态X 射线吸收机制(微观)◆原子的激发态通常在吸收后数个飞秒内消失,这一过程称为退激发。
退激发不影响X 射线吸收过程。
退激发有两种机制:X 射线荧光发射及俄歇效应;◆X 射线荧光发射:即能量较高的内壳层电子填补了较深层次的内壳层的空位,同时发射出特定能量的X 射线,称为X 射线荧光。
荧光的能量是由原子种类以及电子跃迁的能级决定的。
举例而言,◆荧光产额If 正比与吸收几率◆俄歇效应:其中内壳层某个电子从较高的能级落到低能级后,同一能级的另一个电子被射入连续区;◆在大于2keV 的硬X 射线能区,X 射线荧光发生的几率大于俄歇效应,但在较低能区,俄歇过程会占主导地位。
1上图为主界面,自上而下共有参数设置,能量位置移动,预扫描&能量标定,XAFS采谱,help,quit 六个按钮;该采谱程序由Labview进行编写,所有子窗口都需要通过单击return或返回主界面按钮,返回至主界面;点击X关闭窗口程序将出现异常;此时单击quit 退出程序后,单击左上方箭头(文件,编辑下方,箭头此时为白色),重新运行程序即可;2单击主界面参数设置按钮,弹出如上图子界面,在该子界面中,用户需要设定待测元素、输入采谱参数、模式选择、段数设置;a 在待测元素框中,输入需要测量的元素(不分大小写),点击参数确认后,在输入吸收边能量(ev)中,可以弹出相关联的元素吸收边能量,此时,用户需要通过hep。
软件中,的元素周期表提供的数据进行确认;如Re 测量的L3边,此程序目前未对元素的L边吸收谱能量做关联,需要用户通过Hep软件将对应的吸收边能量录入在输入吸收边能量(ev)的框中;推荐初级用户使用该功能;b 输入采谱参数:方式1 直接导入参数文件:点击导入参数文件,在xx目录下可以找到文件标准参数设置,选中后,确认,即可将标准参数导入;再根据具体需求,更改能量间隔与采谱时长;方式 2 手动输入:在表格中自上而下,自左而右,逐一填写采谱参数(inerval 段数,startE 每段开始能量点,endE 每段结束能量点,steps 能量间隔步长,time 每点扫描时长),其中startE,endE都是相对吸收边能量的值;通过改变段数设置中的值,可以增加或减少输入采谱参数表格中的行数;C 模式选择点击模式选择下方的现有模式(transmission 模式值),根据需要将模式设定为透射荧光或quickXAFS 974 中的透射或荧光;D 参数确认结束所有参数设置后,点击参数确认;kmax 显示为当前设置下,采谱范围所对应的最大k值;总采集点数对应的当前参数设置下的数据采集点数;此时可以点击保存采谱参数,将实验设置保存下来;如。
1上图为主界面,自上而下共有参数设置,能量位置移动,预扫描&能量标定,XAFS采谱,help,quit 六个按钮;
该采谱程序由Labview进行编写,所有子窗口都需要通过单击return或返回主界面按钮,返回至主界面;点击X关闭窗口程序将出现异常;此时单击quit 退出程序后,单击左上方箭头(文件,编辑下方,箭头此时为白色),重新运行程序即可;
2单击主界面参数设置按钮,弹出如上图子界面,在该子界面中,用户需要设定待测元素、输入采谱参数、模式选择、段数设置;
a 在待测元素框中,输入需要测量的元素(不分大小写),点击参数确认后,在输入吸
收边能量(ev)中,可以弹出相关联的元素吸收边能量,此时,用户需要通过hep。
软件中,的元素周期表提供的数据进行确认;如Re 测量的L3边,此程序目前未对元素的L边吸收谱能量做关联,需要用户通过Hep软件将对应的吸收边能量录入在输入吸收边能量(ev)的框中;推荐初级用户使用该功能;
b 输入采谱参数:
方式1 直接导入参数文件:点击导入参数文件,在xx目录下可以找到文件标准参数设置,选中后,确认,即可将标准参数导入;再根据具体需求,更改能量间隔与采谱时长;方式 2 手动输入:在表格中自上而下,自左而右,逐一填写采谱参数(inerval 段数,startE 每段开始能量点,endE 每段结束能量点,steps 能量间隔步长,time 每点扫描时长),其中startE,endE都是相对吸收边能量的值;通过改变段数设置中的值,可以增加或减少输入采谱参数表格中的行数;
C 模式选择
点击模式选择下方的现有模式(transmission 模式值),根据需要将模式设定为透射荧光或quickXAFS 974 中的透射或荧光;
D 参数确认
结束所有参数设置后,点击参数确认;kmax 显示为当前设置下,采谱范围所对应的最大k值;总采集点数对应的当前参数设置下的数据采集点数;此时可以点击保存采谱参数,将实验设置保存下来;如。
E 返回主界面
3
3能量位置移动
点击能量位置移动按钮,弹出如上界面
A 左侧点击move按钮可以移动到设定元素吸收边能量+startE(第一行)的位置,点击
stop可以停止中止能量移动;推荐初级用户使用该功能;
B 右侧点击move 按钮,可以移动到目标能量,点击stop可以停止中止能量移动;
C 点击返回主界面
4预扫描&能量标定
在主界面,点击预扫描&能量标定按钮,弹出如上界面;能量标定部分由实验站人员负责;
预扫描:
点击start 按钮,程序将自动开始预扫描;
扫描过程中,用户需观察I0,I,If 值的变化;
I0,由实验站人员调试确定后基本稳定,仅随着光强线性变化;当I0变为0时,第一步观察对撞束流是否为0mA,如果是,则说明加速器故障,用户应当关闭光子光闸,等待束流重新注入后,再进行实验;第二步,如束流正常,则观察光子光闸,安全光闸是否都为开的绿灯亮起状态,如光子光闸红灯显示关,或安全光闸红灯显示关,将光闸打开后绿灯亮即可;第三步上述两种情况都正常下,I0为0,关闭光子光闸、安全光闸;联系值班人员;
I,透射模式下在预扫过程中,吸收边前缓慢变大,此时需注意I的值不能大于8,也不能小于0.8,吸收边时极具变小,吸收边后缓慢变大。
当I大于8 ,则需将相应放大器倍数调小一档;小于0.8时则调大一档(最大档数为1E09),当档数超过1E09时,透射模式不适用,建议改用荧光模式,或联系值班人员;
If, 荧光模式下在预扫过程中,吸收边前换边变大,吸收边时急剧变大,此时需注意其最大值是否小于0.8,如小于0.8则将放大倍数调大一档,最大100,100倍时小于0.2,建议使用固探;如最大值大于8,则将放大倍数调小一档,最小为1,1倍时大于8,建议采用透射模式,或联系值班人员;吸收边后缓慢变大;
荧光模式下,经常将标准样品置于荧光探测器后,用后电离室检测,以作能量标定,此时I会有相应读数,确保其在预扫过程中,不小于0.1,不大于8即可;否则需要如透射模式进行调整,如放大倍数大于1E09,则认为样品后,X射线强度很弱,后电离室无法接受信号,可以不用管I的大小;
范例:透射模式厚度调整
如图1 样品共8层时,预扫描显示跳高为0.85(白线峰后第二峰的中间值,大概)-0.33(吸收边前的大概值)=0.52 合理范围为0.8-1.2 ,因此将厚度增加至16层后,预扫描显示跳高为1.7-0.73=0.97 ,可以开始试验;
例题:请读出图xxx中显示的透射样品的跳高:0.85
5XAFS 采谱
点击XAFS采谱,进入上述界面,点击start 弹出文件命名框,将样品名输入后,点击确定程序将自动开始,请耐心等待;如果一个样品需要采集多次,在loop中输入想重复的次数,点击start,命名文件,确定即可;当文件命名后,出现提示,询问是否覆盖,点击否,在文件名后增加后缀,以示区别;不建议覆盖数据;
XAFS 采谱界面的右上角为I0 的读数(缓变值),下方为吸收系数谱图(透射整体向下,荧光整体向上);采谱完成后,精度条将变成红色,此时可以打开hutch门更换样品;
采谱异常举例:
1 I0 异常,如下图,可以发现在右上角的I0 出现了异常的上升,这种情况通常对应束流注入,此时,应当点击stop,停止采谱,等待注入完成后,重新点击start,重新命名文件后,再次采谱;。