(8)透明矿物薄片鉴定

矿物薄片鉴定报告
矿物薄片鉴定报告
本次鉴定的矿物薄片来自于一块未知矿石样品。

经过显微镜观察和化
学反应测试，得出以下结论：
1. 样品为石英石
在显微镜下观察，样品呈现出典型的石英石的形态特征，包括六方晶
系的六角柱状晶体、平行排列的双折射和强烈的偏光反射。

此外，经
过酸碱反应测试，样品对酸和碱均无反应，进一步证实了其为石英石。

2. 样品中含有少量的云母
在显微镜下观察，样品中还出现了少量的云母。

云母呈现出片状晶体，具有典型的双折射和偏光反射特征。

经过化学反应测试，云母对酸有
反应，进一步证实了其为云母。

3. 样品中含有少量的钠长石
在显微镜下观察，样品中还出现了少量的钠长石。

钠长石呈现出典型
的三方晶系的六角柱状晶体，具有双折射和偏光反射特征。

经过化学反应测试，钠长石对酸有反应，进一步证实了其为钠长石。

综上所述，本次鉴定的矿物薄片样品为石英石，同时含有少量的云母和钠长石。

这些矿物在地质勘探和矿产资源开发中具有重要的意义，对于进一步的研究和开发具有重要的参考价值。

(1)切片方式薄片要把岩石切至0.3mm以下，用树胶贴在载薄片下盖上盖玻片，便于观察岩石的矿物组成等岩相学和岩组学特征。

(2)实验仪器薄片：主要用透射光显微镜(3)磨片目的薄片：主要是对岩石中的透明矿物进行观察，适用于一般岩石。

但是若岩石中含有金属矿物，等无法判别。

(4)采样规格：陈列标本的大小不应小于3×6×9cm；供薄片、光片鉴定用样品以能满足切制光片、薄片及手标本观察的需要为原则，规格不限。

(5)采样要求①沉积岩对工作区内各时代地层的每一种代表性岩石均应按地层层序系统采样，同时也要适当采集能反映沿走向变化情况的样品；有沉积矿产的地段和沉积韵律发育地段，应视研究的需要而加密采样点。

②岩浆岩在每个岩体中按相带系统采集各种代表性岩石样品，在各相带间的过度地段应加密采样点；对岩体的下列地段及地质体均应采集样品：析离体、捕掳体、同化混染带、脉岩、岩体各类围岩、接触变质带、岩体冷凝边等；对各种类型的火山岩，按其层序及岩性，沿走向和倾向系统采样。

③变质岩根据岩石变质程度按剖面系统采样，并注意样品中应含有划分变质带的标志矿物；对不同夹层、残留体（由边缘至中心）、各种混合岩应系统地分别采样。

④矿石应按不同自然类型、工业类型、矿化期次、矿物共生组合、结构、构造、围岩蚀变的矿石，以及根据矿石中各有用矿物的相互关系，有用矿物与脉石矿物的相互关系等特征分别采集矿石样品。

对于矿石类型复杂，矿物组合变化大的矿体，还应选择有代表性的剖面系统采样，以便研究矿石的变化规律。

在对矿石采集光片鉴定样品的同时，为研究其中透明矿物及其与金属矿物的关系，应注意适当采集薄片、光薄片鉴定样品。

当对各类岩石和矿石采集化学全分析样品，同位素地质年龄测定样品时，应同时采集岩矿鉴定样品。

应注意采集反映构造特征的标本，若小型标本不足以反映岩石、矿石的特殊构造时，可根据需要采集大型标本；若采集定向标本，则应注明产状方位；采集极疏松和多孔样品时，可先用丙酮胶（废胶卷溶于丙酮制成）浸透岩石、矿石，待胶结干涸后再采集样品。

岩矿薄片、光片鉴定样品及标本采集光片和薄片的区别如下：1、切片方式不同薄片要把岩石切至0.3mm以下，用树胶贴在载薄片下便于观察岩石的矿物组成等岩相学和岩组学特征。

光片不需要载薄片或是盖玻片，只需要把岩石表面抛光。

2、实验仪器不同薄片：主要用透射光显微镜光片：用反射光显微镜。

不过现在高级的显微镜同时配备有透射和反射光路。

3、磨片目的不同薄片：主要是对岩石中的透明矿物进行观察，适用于一般岩石。

但是若岩石中含有金属矿物，等无法判别。

光片：适用于矿石中矿石矿物（方铅矿、黄铜矿等）的判别。

岩矿薄片、光片鉴定样品及标本采集样品, 薄片, 标本, 鉴定, 采集1.样品规格：陈列标本的大小不应小于3×6×9cm；供薄片、光片鉴定用样品以能满足切制光片、薄片及手标本观察的需要为原则，规格不限。

2.采样要求①沉积岩对工作区内各时代地层的每一种代表性岩石均应按地层层序系统采样，同时也要适当采集能反映沿走向变化情况的样品；有沉积矿产的地段和沉积韵律发育地段，应视研究的需要而加密采样点。

②岩浆岩在每个岩体中按相带系统采集各种代表性岩石样品，在各相带间的过度地段应加密采样点；对岩体的下列地段及地质体均应采集样品：析离体、捕掳体、同化混染带、脉岩、岩体各类围岩、接触变质带、岩体冷凝边等；对各种类型的火山岩，按其层序及岩性，沿走向和倾向系统采样。

③变质岩根据岩石变质程度按剖面系统采样，并注意样品中应含有划分变质带的标志矿物；对不同夹层、残留体（由边缘至中心）、各种混合岩应系统地分别采样。

④矿石应按不同自然类型、工业类型、矿化期次、矿物共生组合、结构、构造、围岩蚀变的矿石，以及根据矿石中各有用矿物的相互关系，有用矿物与脉石矿物的相互关系等特征分别采集矿石样品。

对于矿石类型复杂，矿物组合变化大的矿体，还应选择有代表性的剖面系统采样，以便研究矿石的变化规律。

在对矿石采集光片鉴定样品的同时，为研究其中透明矿物及其与金属矿物的关系，应注意适当采集薄片、光薄片鉴定样品。

透明矿物薄片的系统鉴定一、透明矿物薄片的系统鉴定的内容1、单偏光镜下的观察单偏光镜的装置是指只用一个下偏光镜。

利用这种装置可以研究矿物的主要光学性质有：（1）矿物的外表特征，如形态、解理；取决于晶体结构；A、矿物的形态化学成分；生成环境；自形（矿物边界全为晶面）由于矿物形成空间、结晶顺序的不同半自形（矿物边界部分为晶面）他形（无完整晶面）B、矿物的解理解理的等级解理是指矿物晶体在外力作用下，沿着一定方向裂成光滑平面的性质解理角的测定（两组解理的夹角称解理角）（2）矿物对光波吸收强弱的性质，如颜色、多色性；偏光显微镜下的颜色是指单偏光显微镜下薄片的颜色，是矿物对白光中各色选择性吸收的结果。

均质体矿物都不具有多色性。

非均质体矿物对光波的选择吸收和吸收强度总是随方向而异的。

因此，在单偏光镜下旋转物台时，矿物颜色发生变化的现象，称为多色性，它系由不同方向对不同波长光的选择吸收所决定。

而颜色深浅发生改变的现象，称为吸收性。

它是指不同方向对光的吸收强度上的差异。

（3）与矿物折射率相对大小有关的光学性质，如突起、糙面、边缘、贝克线及贝克线色散效应突起等级折射率代表性矿物负高突起<1.48 萤石蛋白石负低突起 1.48~ 1.54 正长石微斜长石正低突起 1.54 ~1.60 石英中长石绿柱石选择两组解理缝最细最清晰、升降镜筒解理缝都不左右移动的切面；旋转物台使一组解理缝平行或重合于目镜十字丝的纵丝，并记下物台上读数a；旋转物台使另一组解理缝平行于目镜纵丝，记下物台读数b；两个读数的差值即为所测解理角。

极完全解理：解理缝细密长，贯穿整个晶体；完全解理：解理缝清楚稀疏，但不完全连贯；不完全解理：解理缝断断续续、不平直，解理缝之间间距较宽。

正中突起 1.60 ~1.66 透闪石磷灰石电气石正高突起 1.66 ~1.78 橄榄石辉石尖晶石正极高突起>1.78 锆石榍石金刚石二、正交偏光镜下的观察干涉色同一点光源发出的光，分成两束光，再使这两束光经过不同路程后，在空间某一点相交，如果能满足三个条件：1 频率相同；2 振动方向相同3 位相相同或位相差固定，便在交点上产生干涉，形成相长增强，或相消减弱的明暗相间干涉条纹。

第六章透明矿物薄片的系统鉴定偏光显微镜下对透明矿物薄片进行系统的光学性质测定，通常用于鉴定未知矿物或已知矿物的精确定名。

透明矿物薄片的系统鉴定，必须配合手标本观察，在系统测定光学性质之前，首先要观察矿物手标本的晶形、颜色、光泽、硬度、条痕、解理、断口、次生变化及共生组合等，并需了解矿物的野外产状。

如果经过系统鉴定之后，仍不能准确定出矿物名称，还需配合其他方法，作进一步鉴定。

一、透明矿物薄片系统鉴定的内容（一）单偏光镜下的观察晶形: 观察晶体的完整程度，结晶习性。

根据各方向切面形态，初步判断晶体形状及可能属于那一个晶系。

解理:观察解理的完全程度，根据不同方向的切面上的解理，判断解理的组数。

如为两组解理，需要测定解理夹角。

尽可能确定解理与结晶轴之间的关系。

突起:观察矿物的边缘、糙面及突起的明显程度，结合贝克线移动规律确定其突起等级，估计矿物折射率的大致范围。

颜色、多色性: 观察矿片有无颜色，如有颜色，则观察有无多色性、多色性的变化情况。

并在定向切片上测定多色性公式及吸收公式。

此外，还应观察有无包裹体，其排列与分布情况。

有无次生变化，其变化程度及变化产物。

（二）正交偏光镜下的观察干涉色: 观察矿片的最高干涉色级序，在平行光轴或光轴面切片上详细测定干涉色级序。

有无异常干涉色，其特点如何。

测定双折率: 根据矿片的最高干涉色级序、薄片厚度，确定双折射率值。

消光类型: 根据不同方向切片上的消光情况，确定矿物的消光类型。

测定消光角:对斜消光的矿物，在定向切片上测定消光角。

测定延性符号: 对一向延长的矿物，测定其延长方向的光率体椭圆半径名称，确定延性符号。

双晶:观察矿物有无双晶，确定双晶类型。

（三）锥光镜下的观察根据有无干涉色图区分均质体与非均质体。

根据干涉图特征确定轴性（区分一轴晶与二轴晶）、切片方向。

测定光性符号、光轴角大小。

二、定向切片的选择及其特征上述光学性质中，如多色性公式、干涉色级序、双折率大小，消光角大小及光轴角大小等，通常都需要在定向切片上测定。