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萤石（Fluorite）：
CaF2，等轴晶系，无色、黄、蓝、紫色或绿色，薄片中无色透明，有时带有紫色、粉红色，且颜色分布不均，呈带状或斑点状。
负中—高突起，糙面明显，随着Y的含量增加，折射率增高，依（111）成穿插双晶，但薄片中不见。
沿八面体的{111}解理完全，因此在薄片中常见二组菱形解理或三组交角在60°左右解理。
鉴别特征：根据晶形、解理易与蛋白石区别。
与白榴石、方钠石区别在于萤石折射率低，表现为显著的负突起，当有颜色时，常表现为在一个晶体中颜色分布不均是其重要特征之一。
白榴石（Leucite）：
K[AlSi2O6]，四方晶系（假等轴晶系），成分中可含有微量的Na，Ca和H2O，薄片中常为六边形或八边形。
受熔蚀后多呈浑圆形，无解理。
薄片中无色，负低突起，比正长石的突起略高，，常具车轮状结构。
常可转变成霞石和正长石，经蚀变作用可分解成沸石、绢云母、钠长石等。
鉴别特征：白榴石以其晶形，负低突起，常含有规则排列的包裹体及微弱的双折射并具有多组聚片双晶为主要特征。
第六章透明矿物薄片的系统鉴定偏光显微镜下对透明矿物薄片进行系统的光学性质测定，通常用于鉴定未知矿物或已知矿物的精确定名。
透明矿物薄片的系统鉴定，必须配合手标本观察，在系统测定光学性质之前，首先要观察矿物手标本的晶形、颜色、光泽、硬度、条痕、解理、断口、次生变化及共生组合等，并需了解矿物的野外产状。
如果经过系统鉴定之后，仍不能准确定出矿物名称，还需配合其他方法，作进一步鉴定。
一、透明矿物薄片系统鉴定的内容（一）单偏光镜下的观察晶形: 观察晶体的完整程度，结晶习性。
根据各方向切面形态，初步判断晶体形状及可能属于那一个晶系。
解理:观察解理的完全程度，根据不同方向的切面上的解理，判断解理的组数。
如为两组解理，需要测定解理夹角。
尽可能确定解理与结晶轴之间的关系。
突起:观察矿物的边缘、糙面及突起的明显程度，结合贝克线移动规律确定其突起等级，估计矿物折射率的大致范围。
颜色、多色性: 观察矿片有无颜色，如有颜色，则观察有无多色性、多色性的变化情况。
并在定向切片上测定多色性公式及吸收公式。
此外，还应观察有无包裹体，其排列与分布情况。
有无次生变化，其变化程度及变化产物。
（二）正交偏光镜下的观察干涉色: 观察矿片的最高干涉色级序，在平行光轴或光轴面切片上详细测定干涉色级序。
有无异常干涉色，其特点如何。
测定双折率: 根据矿片的最高干涉色级序、薄片厚度，确定双折射率值。
消光类型: 根据不同方向切片上的消光情况，确定矿物的消光类型。
测定消光角:对斜消光的矿物，在定向切片上测定消光角。
测定延性符号: 对一向延长的矿物，测定其延长方向的光率体椭圆半径名称，确定延性符号。
双晶:观察矿物有无双晶，确定双晶类型。
（三）锥光镜下的观察根据有无干涉色图区分均质体与非均质体。
根据干涉图特征确定轴性（区分一轴晶与二轴晶）、切片方向。
测定光性符号、光轴角大小。
二、定向切片的选择及其特征上述光学性质中，如多色性公式、干涉色级序、双折率大小，消光角大小及光轴角大小等，通常都需要在定向切片上测定。
7.2透明矿物的系统鉴定-技巧7.2.1思考几个问题P1191)偏光显微镜能构成几种光路系统2)单偏光镜下能够观察矿片的那些性质？3)正交偏光镜间能够观察矿片的那些性质？4)锥光镜下能够观察矿片的那些性质？7.2.2几个技巧(1)单偏光镜1）观察贝克线，缩小光圈；2）同一矿物，不同切片方向，看到的解理组数不同；3）测定解理夹角，要找同时垂直2组解理的颗粒；4）多色性与切面关系密切，观测要找同时有两个光学主轴所在的切面；5）垂直OA方向切面的颗粒，看不到多色性，但不能根据此切面说，该种矿物没有多色性；6）当二轴晶矿物只有2种颜色的多色性时（如，黑云母Ng＝Nm＝深褐色，Np＝浅黄色）,根据光性方位图，分析在什么方向能看到干涉色；7)闪突起在平行OA/AP切面表现最明显。
8）垂直OA方向切面的颗粒，看不到闪突起，但不能根据此切面说，该种矿物没有闪突起；(2)正交偏光镜间1）观察干涉色要在45位；2）同一矿物，不同切片方向，表现出的干涉色级序不同。
变化范围：消光～最高干涉色；3）最高干涉色要在平行OA/AP切面才能看到；4）矿片的厚度对干涉色有影响。
(3)锥光镜下1）一轴晶尽量找垂直OA切片颗粒的干涉图，实在找不到时，在斜交OA的颗粒中找尽量接近垂直OA的颗粒；2）二轴晶干涉图中，垂直Bxa切面的干涉图可以看作“母板”，其他切面干涉图可以看成是“母板”的变种。
7.2.2在偏光显微镜下透明矿物的系统鉴定程序P123（一）区分均质体和非均质体（二）均质体的鉴定单偏光（三）非均质体的鉴定1．矿物扫描，初步了解矿物的性质：晶形、解理、颜色、多色性、干涉色、消光类型、双晶等。
2．定向切面鉴定（1）平行OA/AP切面：1）单偏光镜测多色性2）单偏光镜测闪突起3）正交偏光镜下最高干涉色的颗粒，测定其干涉色级序；（2）垂直(接近垂直)OA切片颗粒1）单偏光镜测No或Nm的颜色；2）单偏光镜测No或Nm的突起等级；3）在锥光镜下观察干涉图，测定光性符号。
偏光显微镜下透明矿物的鉴定偏光显微镜下透明矿物的鉴定2010年12月31日岩石磨成厚约0.03mm 的薄片，置于偏光显微镜下观察，我们可以发现有的矿物是透明的（绝大多数硅酸盐、碳酸盐矿物和部分氧化物），有的矿物是不透明的（金属硫化物及部分氧化物）。
鉴定不透明矿物需要反光显微镜，将在本书的下篇介绍，这里只介绍透明矿物在偏光显微镜下的鉴定方法。
偏光显微镜下鉴定矿物，分为单偏光、正交偏光、聚敛光下观察三个步骤，其原理在晶体光学中有详尽的论述，这里只介绍和岩石薄片观察描述有关的部分，而形成这些光性特征的光学原理就不详细说明。
单偏光镜下观察1 晶形晶形对识别典型的表现有良好晶面的矿物很有用。
如石榴子石在薄片中常为自形的六边形，白榴石常呈八边形，磷灰石横断面常为六边形而纵断面为柱状，榍石常为菱形，白云石常为信封状，电气石横断面呈弧状三角形而纵断面为柱状，锆石常常呈四方柱状或两端为锥形的长柱状。
需要注意的是，由于薄片切面的随机性，上述矿物的斜切面也可以表现为其他的形状，如石榴石和白榴石还可以出现正方形、长方形甚至三角形的晶形，磷灰石也可以表现为正方形或长方形晶形。
2 解理和裂理某些解理特征明显的矿物，能根据其解理很快确定，如云母具有一组细密、平直而不间断的解理，角闪石的两组解理以56 度相交，辉石、红柱石、方柱石的两组解理近于正交。
但与解理斜交的切面上所表现的角度要比其最大交角要小。
具两组解理的矿物，在其纵断面上只表现一组解理，如角闪石、辉石在薄片中经常只出现一组解理。
由于切面的限制，具有三6组以上解理的矿物在薄片上常常只显示一组或两组解理，甚至表现出没有解理。
如方解石和白云石有三组解理，但在薄片中一般只能看到两组。
裂理和解理很相似，但它们的成因不同，薄片中的特征也有所不同。
解理往往是沿着矿物晶体中面网间化学键力最弱的方向产生，而裂理面一般是沿双晶结合面或某种细微包裹体的夹层而产生；在形态上，裂理的宽度也明显比解理大，而且大多数情况也没有解理平直。
