在作为场离子发射体的金属刀片、尖端或细丝上施加 正电压,处于高静电发射体附近的样品气态分子失去价电 子而电离为正离子。对液态或固态样品进行FI时,仍需要 汽化。
FD则没有气化要求,样品吸附在作为离子发射体的金 属细丝上送入离子源。在细丝上通以微弱电流,解析出来 的样品即扩散(不是气化)到高场强的场发射区域进行离子 化。FD特别适合于难气化和热稳定性差的固体样品分析, FI和FD的共同特点是形成的M+没有过多的剩余内能, 减少了分子离子进一步裂解的几率,增加了分子离子峰的 丰度,碎片离子峰相对减少。
质 量 分 析 器
FAB示意图
Secondary Ion Mass Spectrametry
Fast Atom Bombardment
(e)其他:近年离子源的发展取得很大进展
基质辅助激光解析电(MALDI);电感耦合等离子(ICP)电离; 电喷雾(ESI)电离;热喷雾(HSI)。
电喷雾电离原理
(3).质量分析器:
+
XH XH XH XH
XH2+ XH2+ X
+
+ + + +
CH4 C2H4 C2H6 C3H6
C2H5+ + + +
X+
反应生成的离子也可能再发生分解:
XH2+ XH2+ X+ X+ A+ B+ + + + H2 C D
会产生XH2+(M+1)、X+(M-1)、和不同m/Z的碎片离子。 即使是不稳定的有机化合物,也能得到较强的分子离子 峰。严格讲是准分子离子(Quasi-Molecular ion,QM+)峰 M士l峰。 (c)场电离 (Field Ionization, FI)和场解析(Field Desorption,FD): FI是气态分子在强电场作用下发生的电离。