EL和PL测试分析在太阳电池生产中的应用
- 格式:doc
- 大小:27.00 KB
- 文档页数:4
电致发光(EL)检测方法及其应用Willurpimd, Jacky电致发光,又称场致发光,英文名为Electroluminescence,简称EL。
目前,电致发光成像技术已被很多太阳能电池和组件厂家使用,用于检测产品的潜在缺陷,控制产品质量。
一、EL测试原理EL的测试原理如图1所示【1】,晶体硅太阳电池外加正向偏置电压,电源向太阳电池注入大量非平衡载流子,电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光,放出光子;再利用CCD相机捕捉到这些光子,通过计算机进行处理后显示出来,整个的测试过程是在暗室中进行。
本征硅的带隙约为1.12eV,这样我们可以算出晶体硅太阳电池的带间直接辐射复合的EL光谱的峰值应该大概在1150nm附近,所以,EL的光属于近红外光(NIR)。
图1 EL测试原理图EL图像的亮度正比于电池片的少子扩散长度与电流密度(见图2【2】),有缺陷的地方,少子扩散长度较低,所以显示出来的图像亮度较暗。
通过EL图像的分析可以有效地发现硅材料缺陷、印刷缺陷、烧结缺陷、工艺污染、裂纹等问题。
图2 EL强度决定于正向注入电流密度和少子扩散长度二、EL图像分析1.隐裂硅材料的脆度较大,因此在电池生产过程中,很容易产生裂片,裂片分两种,一种是显裂,另一种是隐裂。
前者是肉眼可直接观察到,但后者则不行。
后者在组件的制作过程中更容易产生碎片等问题,影响产能。
通过EL图就可以观测到,如图3所示,由于(100)面的单晶硅片的解理面是(111),因此,单晶电池的隐裂是一般沿着硅片的对角线方向的“X”状图形。
图3 单晶硅电池的隐裂EL图及区域放大图但是由于多晶硅片存在晶界影响,有时很难区分其与隐裂,见图4的红圈区域。
所以给有自动分选功能的EL测试仪带来困难。
图4 多晶片的EL图2.断栅印刷不良导致的正面银栅线断开,从图5的EL图中显示为黑线状。
这是因为栅线断掉后,从busbar上注入的电流在断栅附近的电流密度较小,致EL发光强度下降。
浅谈并网光伏电站组件EL检测技术及应用一、EL检测技术的原理及特点EL检测技术是一种通过在光伏组件内部施加电场激发半导体材料,使其产生辐射而实现缺陷检测的技术。
在EL检测中,首先将光伏组件置于低温环境下,然后给组件施加高电压,通过CCD摄像头捕捉电致发光图像,进而发现组件内部的缺陷和隐患。
EL检测技术具有以下几个特点:1. 高分辨率:EL检测技术可以发现光伏组件中微小的缺陷,如裂纹、烧结不良、接触线断裂等,其分辨率高于传统的检测方法。
2. 高精度:EL检测技术可以定量测量光伏组件的暗电流和效率,从而实现对组件性能的准确评估。
3. 高效率:EL检测技术可以实现自动化、快速检测,大大提高了检测效率和生产效率。
二、EL检测技术在光伏电站中的应用1. 产品质量控制:EL检测技术可以对光伏组件的生产质量进行全面检测,确保产品的质量符合标准要求,提高了产品的可靠性和稳定性。
2. 质量改进和优化:通过EL检测技术可以发现光伏组件的制造缺陷,并及时进行修复和改进,从而提高产品的质量和性能。
3. 组件评估和选型:EL检测技术可以对光伏组件的性能进行准确评估和分类,帮助用户选择合适的产品,实现最佳的能源利用效果。
4. 运营维护:EL检测技术可以帮助光伏电站及时发现和排除组件的故障和问题,确保光伏系统的正常运行和稳定发电。
三、EL检测技术的发展趋势和挑战随着光伏行业的不断发展和技术进步,EL检测技术也在不断完善和创新,其发展趋势和挑战主要体现在以下几个方面:1. 技术升级:EL检测技术需要不断升级和改进,以适应不断变化的光伏组件材料和制造工艺,提高检测精度和效率。
2. 自动化和智能化:EL检测技术需要实现自动化和智能化,减少人工干预,提高检测的一致性和可靠性。
3. 多元化应用:EL检测技术可以与其他光伏组件检测技术相结合,实现多元化应用,提高检测的全面性和准确性。
4. 数据分析和挖掘:EL检测技术需要加强对检测数据的分析和挖掘,挖掘潜在的问题和隐患,为光伏组件的制造和运营提供更加精准的支持。
浅谈并网光伏电站组件EL检测技术及应用并网光伏电站是指将光伏发电系统与电网相连接,并将所产生的电能输送到电网供应给用户的一种发电系统。
在光伏电站建设中,组件的质量是影响电站发电效率和稳定性的重要因素之一。
而组件的EL(Electroluminescence)检测技术可以有效地评估组件的质量和损坏程度,从而保证光伏电站的正常运行。
EL检测技术是一种通过在组件背面加电并通过照相机观察组件前表面发光特征的无损检测方法。
通过EL检测,可以清晰地看到组件的正负极和电网线路的连接情况,以及组件内部PN结的完好程度。
EL图像可以显示出组件缺陷、裂缝、气泡、暗腐蚀区域等问题,同时还能检测出组件寿命破坏和电压极限等其他潜在问题。
EL检测技术的应用在光伏电站建设中非常重要。
EL检测可以在光伏组件生产过程中对组件质量进行监控,确保组件的一致性和可靠性。
在光伏组件生产线上,EL检测可以及时发现组件的缺陷和损坏,避免不合格产品流入市场。
EL检测可以在电站建设完工后进行例行检查,及时发现组件的老化和损坏情况,从而及时更换维修,保证电站的正常发电。
EL 检测还可以用于光伏电站的维护和运行管理,定期检查光伏组件的工作状态和质量,预防故障发生,提高电站的运行效率和可靠性。
EL检测技术也存在一定的局限性。
EL检测只能在光伏组件建成后进行,无法在组件制造过程中直接应用,导致有些潜在缺陷可能无法被发现。
EL检测需要对每个组件进行单独测试,耗时且成本较高,因此无法全面检测大规模光伏电站的每个组件。
EL检测技术对人员的要求较高,需要专业人员进行操作和分析,增加了电站管理的难度和成本。
为克服EL检测技术的局限性,可以结合其他非接触式检测技术,如红外热成像、超声波检测等,进行组件的综合检测。
可以通过改进EL检测设备和算法,提高检测效率和准确性,实现自动化和智能化的检测过程。
加强对光伏组件制造过程的监管和质量管控,降低不合格品率,能够进一步提高光伏电站的发电效率和可靠性。
浅谈并网光伏电站组件EL检测技术及应用并网光伏电站是指将光伏组件发电与电网供电系统相连,通过逆变器将直流电能转化为交流电能,并输出到电网上。
光伏组件是并网光伏电站的核心组成部分,其发电效率和电池片质量直接影响整个光伏电站的发电效益和可靠性。
EL检测技术是一种常见的光伏组件质量检测方法,本文将就EL检测技术及其在并网光伏电站组件质量检测中的应用进行详细介绍。
EL检测技术是一种非接触式的光伏组件质量检测方法,它通过对组件进行特定电压条件下的光电转换效率测量,可以定量地分析组件的电池片质量及缺陷。
EL检测技术是利用非常规低温扩约试剂,通过单片光伏组件电池片的两端加压,使其处于导通状态或者是封锁状态下,然后再以COB(Chip On Board)结合到夹具上进行成像。
借助高效的都能转换效率,可以使太阳电池复合材料有高效率、零缺陷、低能耗、低成本的优势。
EL检测技术还能够在光伏组件闪烁图像中显示出电池片的短路、断路、氧化、金属散开、杂散电流、碎碴、浊污、背面过流、开路电压、热斑或其他重要特征。
1. 组件质量控制:EL检测技术可以检测出光伏组件中存在的缺陷,如电池片的短路、断路、氧化等,帮助生产商及时处理并消除组件质量问题,保证组件质量的稳定性和可靠性。
2. 组件筛选:EL检测技术还可以对光伏组件进行筛选,按照质量等级进行分类,从而实现对光伏组件的差异化管理,提高发电效益。
3. 组件维护与检修:EL检测技术可以对并网光伏电站中的光伏组件进行定期检测,及时发现和处理问题,提高组件的使用寿命和发电效益。
EL检测技术在并网光伏电站组件质量检测中具有重要的应用价值。
通过EL检测技术,可以实时监测和评估组件的电池片质量和性能,帮助提高光伏电站的发电效益和可靠性。
EL检测技术还可以对组件进行筛选和分类管理,提高质量管控水平。
在并网光伏电站的建设和运营中,应合理应用EL检测技术,加强对组件质量的监控和管理。
浅谈并网光伏电站组件EL检测技术及应用【摘要】光伏电站组件EL检测技术是一种重要的质量监测手段,通过电致发光效应检测太阳能电池片表面和内部缺陷,帮助提高光伏组件的性能和寿命。
本文从EL检测技术原理、在光伏电站中的应用、优势、挑战以及发展趋势等方面进行了深入探讨。
EL检测技术能够精准快速地发现电池片的瑕疵,提高光伏组件的质量和可靠性,对光伏电站的运行和维护具有重要意义。
EL检测技术在实际应用中还存在一些挑战,如高成本和复杂操作等。
随着技术的不断进步,EL检测技术的应用前景将更加广阔。
EL检测技术对于提升光伏电站的效率和可靠性具有重要作用,值得进一步研究和推广。
【关键词】关键词:光伏电站、EL检测技术、并网、原理、应用、优势、挑战、发展趋势、意义、应用前景、总结。
1. 引言1.1 背景介绍为了确保光伏电站的发电效率和运行安全,EL (Electroluminescence)检测技术被引入到光伏电站的运维管理中。
EL检测技术是利用组件在电场作用下发光现象来检测组件内部缺陷的一种无损检测技术,可以有效地提前发现并定位组件的隐患,帮助运维人员及时维护和处理问题组件,保障光伏电站的发电效率和安全运行。
通过对光伏电站组件EL检测技术的研究和应用,可以更好地了解组件的内部状况,及时发现问题并进行处理,提高光伏电站的发电效率和可靠性,推动光伏产业的健康发展。
部分至此结束。
1.2 研究意义:研究意义主要体现在以下几个方面:光伏电站组件EL检测技术的研究对于提高光伏组件的质量和效率具有重要意义。
通过EL检测技术可以快速、准确地检测光伏组件的质量,发现潜在的问题,及时进行修复和维护,提高光伏组件的寿命和稳定性,同时也可以提高光伏组件的能量转换效率。
光伏电站组件EL检测技术的研究也对于环境保护和可持续发展具有积极作用。
光伏电站作为清洁能源的重要组成部分,其质量和效率直接影响到清洁能源的利用效率和环境影响。
通过EL检测技术的研究和应用,可以提高光伏组件的质量和效率,减少光伏电站对环境的影响,推动清洁能源的发展和利用。
el测试原理EL测试原理。
EL(Electroluminescence)测试是一种通过电致发光现象来检测太阳能电池组件质量的方法。
在太阳能电池生产过程中,EL测试被广泛应用于检测电池片的缺陷,如裂纹、热斑和金属污染等。
本文将介绍EL测试的原理及其在太阳能电池生产中的应用。
EL测试原理。
EL测试的原理基于半导体材料的电致发光特性。
当半导体材料受到电子注入时,电子和空穴会在结合区重新结合并释放出能量,这些能量以光的形式辐射出来,形成电致发光现象。
在太阳能电池中,当电池片受到光照时,电子和空穴会在PN结的结合区重新结合并产生电流,同时也会产生光致发光现象。
通过EL测试,可以将电池片在暗室中通过电压激发,观察电池片的发光情况,从而检测出电池片中的缺陷。
EL测试的应用。
在太阳能电池生产中,EL测试被广泛应用于电池片的质量检测。
通过EL测试,可以快速、准确地检测出电池片中的裂纹、热斑、金属污染等缺陷,帮助生产厂家及时发现并修复问题,提高电池组件的质量和性能。
此外,EL测试还可以用于电池组件的质量控制和品质追溯,确保产品符合相关标准和要求。
EL测试的优势。
相比传统的光电测试方法,EL测试具有以下优势:1. 高分辨率,EL测试可以检测出微小的缺陷,如微裂纹和热斑,提高了缺陷检测的准确性和可靠性。
2. 高效性,EL测试可以在短时间内完成对电池片的检测,提高了生产效率和产品质量。
3. 非破坏性,EL测试不会对电池片造成损坏,保证了产品的完整性和可靠性。
4. 自动化,EL测试可以与自动化生产线相结合,实现对电池片的快速、准确检测,降低了人工成本和误差率。
总结。
EL测试作为一种高效、准确的太阳能电池质量检测方法,在太阳能电池生产中发挥着重要作用。
通过EL测试,可以及时发现并修复电池片中的缺陷,提高产品质量和性能,满足市场需求。
随着太阳能产业的发展,EL测试技术也将不断完善和推广,为太阳能电池产业的发展提供有力支持。
《用电致发光(EL)法分析检测晶硅太阳电池的工艺》篇一一、引言随着科技的发展,晶硅太阳电池已成为现代绿色能源领域的重要一环。
为了确保其性能的稳定和高效,对生产过程中的检测与分析显得尤为重要。
电致发光(Electroluminescence,简称EL)法作为一种有效的非破坏性检测手段,被广泛应用于晶硅太阳电池的工艺分析中。
本文将详细介绍用电致发光法分析检测晶硅太阳电池的工艺,以期为相关研究提供参考。
二、电致发光(EL)法基本原理电致发光法是一种通过在特定电压下激发太阳能电池的电子和空穴复合过程,从而产生光辐射的技术。
在晶硅太阳电池中,当施加电压时,电子和空穴在PN结内运动并发生复合,形成发光现象。
通过对这一过程的发光强度、颜色和发光图案的观察与分析,可以了解太阳电池内部的结构和性能状况。
三、EL法在晶硅太阳电池工艺分析中的应用1. 检测电池内部结构缺陷:通过EL图像,可以观察到电池内部的微小缺陷,如裂纹、杂质等。
这些缺陷会影响电池的光电转换效率。
通过分析EL图像,可以及时发现并修复这些缺陷,提高电池的效率。
2. 分析电池工艺过程:在晶硅太阳电池的生产过程中,EL法可以用于监测各个工艺环节的质量。
通过对不同工艺阶段的EL 图像进行比较和分析,可以找出生产过程中的问题,及时调整工艺参数,从而提高产品的质量。
3. 评估电池性能:EL法可以评估太阳电池的光电性能,如开路电压、短路电流等。
通过对EL图像的定量分析,可以了解电池的性能状况,为后续的优化提供依据。
四、EL法在晶硅太阳电池工艺分析中的优势1. 非破坏性检测:EL法是一种非破坏性检测方法,可以在不损坏太阳电池的情况下进行检测和分析。
2. 高灵敏度:EL法可以检测出微小的缺陷和结构变化,具有较高的灵敏度。
3. 快速便捷:EL法可以在短时间内完成对太阳电池的检测和分析,提高生产效率。
4. 适用范围广:EL法适用于各种类型的晶硅太阳电池,具有较广的适用范围。
浅谈并网光伏电站组件EL检测技术及应用随着光伏发电行业的发展,光伏组件的效率越来越高,光伏电站的规模也越来越大,但是光伏组件存在潜在的质量问题,包括加工和制造过程中的缺陷、运输和安装过程中的损坏、环境因素的影响等,这些问题可能会导致光伏组件的性能下降,影响光伏发电系统的正常运行。
为了保障光伏电站的发电效率和安全可靠性,EL检测技术应用越来越普及。
本文将阐述EL检测技术的原理和应用。
一、EL技术原理EL(Electroluminescence)技术是一种常见的光伏组件缺陷检测方法。
EL技术是指在夜间使用特定的仪器对光伏组件进行检测,利用夜间光伏组件的发光信号识别出组件的缺陷位置。
EL技术将光伏组件夜间发出的光信号放大和采样,然后通过数字图像处理和分析,识别并定位光伏组件中的电池缺陷。
在使用EL检测技术之前,需要在光伏组件的外层涂上一层黑色的胶水,使得在减少背景光线的影响,在夜间使用EL仪器扫描光伏组件表面。
EL检测技术主要是通过扫描光伏组件表面的EL照片来判断光伏组件的情况。
1.光伏组件质量控制在光伏组件生产过程中,EL技术可以用来检测电池片的质量,定位电池片中的裂纹和缺陷。
同时,通过对检测结果的分析,可以判断光伏组件的质量是否符合标准要求,从而避免出现不必要的损失。
2.光伏电站运行和维护随着光伏电站的不断发展和完善,每个光伏电站的设备规模都越来越大,而这些设备也都存在着不同程度的质量问题。
EL技术可以用来检测光伏组件的缺陷和老化情况,并提供给电站管理员参考,以便及时进行设备维修和更换。
3.光伏系统的容量评估EL技术可以用来评估光伏组件的实际容量,对于电站的设计和投资能够起到重要的作用。
通过对光伏组件表面的EL图像进行分析和处理,可以准确地估算光伏组件的能量输出,从而更好地评估电站的性能和投资回报。
4.光伏组件的维修预测EL技术可以在光伏组件出现故障之前及时检测和发现组件的缺陷和老化情况。
在发现组件缺陷的同时,也可以进行维修评估和规划,以便及时进行维修或更换。
浅谈并网光伏电站组件EL检测技术及应用随着光伏电站的不断发展,组件的品质问题日益受到重视,其中包括组件的热点效应、漏电等问题。
组件的EL(Electroluminescence)检测技术因其高效、准确性强而成为当今组件品质检测的一种重要手段。
本文将介绍并网光伏电站组件EL检测技术及其应用。
一、EL检测技术原理EL检测技术是一种通过检测组件内部发光图像来确定组件内部缺陷的非破坏性检测方法。
其原理是利用光电二极管或PIN型半导体器件将组件内部的光信号转换为电信号,通过电路将其转换为可见的图像。
在EL检测过程中,首先将组件置于黑暗的环境中,然后通过向组件内部施加电压,使组件产生发光,接着通过检测光信号的分布,判断组件的内部缺陷情况。
在这个过程中,检测设备具有高分辨率、高灵敏度、快速检测、可追溯性等优点,有助于检测出组件内部的一些微小的缺陷。
1、发现热点问题EL检测技术能够检测出组件内部的微小缺陷,其中更为常见的是热点问题。
热点问题是指组件内部某些局部区域的温度升高,例如因为电池片间隙过窄、粘接不良等原因,会在这些局部区域产生电流热效应,导致温升过大,从而影响组件的发电效率和寿命。
EL检测可以在组件内部直接观察到发色严重不同的部位,并定位到发热严重的单元区域,这对于预防由于电池温度过高引起熔融和失效等问题有很大帮助。
2、检测裂纹和缺陷在操作期间,组件可能会遭受各种压力和振动,从而产生裂纹或其他缺陷。
这些冲击和振动可能会导致组件的电性能受到影响,EL检测在这方面也可以很好地发挥作用。
通过检测组件的内部光信号和强度,可以定位到组件内部的缺陷的具体位置,从而准确分析缺陷的程度和是否需要更换。
3、提高品质控制EL检测技术可以帮助制造商对组件的品质进行控制。
通过检测出组件生产过程中的缺陷,制造商可以针对性地进行技术调整,并采用更为精密的生产工艺,以便生产出更符合标准的组件。
此外,EL检测也具有高效、可重复、无需人工干预等优点,可以大大提高生产效率和品质。
EL和PL测试分析在太阳电池生产中的应用
摘要:采用电阻率为1.5-2.0Ω•cm的P型156*156cm的多晶硅片经制绒、扩散、湿法刻蚀、PECVD沉积和丝网印刷等工序制备了转换效率为17.25%的多晶太阳电池。
利用光致发光(PL)和少子寿命测试仪对原硅片的缺陷和寿命进行了测量和表征;同时,对高效率多晶硅片和普通太阳电池的电学参数和电致发光(EL)等特性进行了分析对比。
结果表明,PL检测为制备高效电池提供了保障,而EL检测为丝网印刷质量、烧结等提供了后续的检测手段。
因此,有效利用一定的检测手段对分析太阳电池转换效率以及生产工艺的优化和改进会起到重要的作用。
关键词: EL;PL;太阳电池;少子寿命
一、引言
目前,随着环境的不断恶化和能源日益紧缺,加强环境保护和开发清洁能源已成为世界各国高度关注的问题。
作为一种重要的光电能量转换器件,太阳电池的研究受到了人们的热切关注。
近年随着太阳电池新技术、新工艺和新结构的开发和利用使太阳电池行业得到了迅猛发展。
多晶硅太阳电池因工序流程简单、工艺成熟和制造成本低,使其在太阳能电池市场占据着较大的比例。
为了更快的推动绿色能源发展,降低太阳电池成本和提高电池转换效率已成为行业发展和竞争的两个主要目标。
EL和PL测试对原硅片和太阳电池性能测试分析中起到了重要的作用。
二、实验方法
取高效率和普通多晶硅片各5片,测试硅片的PL图对原硅片的质量进行表征和分析以及沉积氮化硅后硅片的少子寿命。
随后各取200片硅片,经相同的制绒、扩散、PECVD以及丝网印刷和测试工序完成太阳电池的制备。
最后,两批太阳电池片在标准测试条件下进行了电学性能和EL测试。
三、结果与讨论
1.硅片的PL测试
PL通常利用激光作为激发光源,提供一定能量的光子,Si片中处于基态的电子在吸收这些光子后而进入激发态,处于激发态的电子属于亚稳态,在短时间内会回到基态,并发红外光为波峰的荧光。
发光的强度与本位置的非平衡少数载流子的密度成正比,而缺陷处会成为少数载流子的强复合中心,因此该区域的少数载流子密度变小导致荧光效应减弱,在图像上表现出来就成为暗色的点、线,或一定的区域,而在电池片内复合较少的区域则表现为比较亮的区域。
因此,通过观察光致发光成像能够判断Si片或电池片是否存在缺陷[1] 。
取高效和普通多晶硅片进行PL测试,结果如图1所示,发现高效率硅片PL图像灰度均匀,而普通多晶硅片中存在着较暗的区域,说明该处有影响电子和空穴的辐射复合的因素存在,一般是由缺陷和金属杂质因素导致。
而原材料缺陷势必导致Si衬底非平衡少数载流子浓度降低,造成扩散结面不平整,pn结反向电流变大,从而影响太阳电池效率[2] 。
因此,选择缺陷较少的原硅片是制备高效太阳电池的物质基础,而PL成像方法为太阳电池缺陷检测提供了一种非常好的解决方案。
(1)高效多晶硅片(2)普通多晶硅片
图1硅片的PL测试图
2. 少子寿命
少子寿命的高低是决定着太阳电池转换效率高低的重要因素,少子寿命值在一定程度上可以体现太阳电池转换效率的高低。
理论上,少子寿命越长,太阳电池的短路电流和开路电压越高,太阳电池的转换效率也相应地[3] 。
在太阳电池制作过程中,硅片经过制绒、扩散磷吸杂、PECVD沉积氮化硅膜钝化、铝背场以及烧结等工艺,少子寿命也会随之发生变化。
通过对高效和普通多晶硅片沉积氮化硅膜后的少子寿命测试。
其中,高效率和普通多晶硅片的烧结后少子寿命分布直方图如图2所示。
结果示出,高效硅片少子寿命分布均匀性较好,大部分都为寿命较高的区域,而普通多晶硅片寿命区域分布较为分散且存在大面积的低寿命区域。
(a)高效多晶硅片
(b)普通多晶硅片
图2高效和普通多晶硅片PECVD烧结后少子寿命分布直方图
3. 太阳电池片的电学性能及EL测试
经过对高效率和普通多晶硅片的太阳电池的制备和测试,结果如表1所示。
结果表明,高效多晶硅在开路电压(Uoc)较普通多晶硅提高了0.6%,而短路电流(Isc)则提高了1.72%,最终太阳电池的转换效率提高了0.41%。
表1 太阳电池的电学参数
太阳电池的电致发光亮度正比于少子扩散长度,正比于电流密度,缺陷处因具有较低的少子扩散长度而发出较弱的光,从而形成较暗的影像。
通过EL图像的分析可以有效地发现硅片、扩散、钝化、网印及烧结各个环节可能存在的问题,对改进工艺、提高效率和稳定生产都有重要的作用。
在此,对两种硅片制成的太阳电池片进行了EL测试,结果如图3所示。
结果显示,两种电池片印刷效果较好。
但是,普通多晶硅片上较暗的影像较多、面积较大,主要是因为原硅片晶界、清洗制绒后的“黑线”较多导致的漏电较大[4]。
(1)高效多晶硅片(2)普通多晶硅片
图3高效和普通多晶硅片EL测试图
四、结论
通过对高效率和普通太阳电池原硅片PL的检测、少子寿命的测试和EL以及电学参数上的分析对比,结果表明,具有较低的缺陷密度、较少的晶界和较高少子寿命的原硅片具有更高的太阳电池转换效率。
因此,在铸锭工序如何控制位错、微缺陷、晶界等提高硅片的少子寿命为提高太阳电池转换效率将会起到至关重要的作用。
同时,PL成像方法为太阳电池缺陷检测提供了一种非常好的解决方案,而EL对太阳电池的后续丝网印刷和烧结工序提供检测手段,为制备出高效率太阳电池提供了保障。
参考文献
[1] FUYUKI T, KONDO H, YAMAZAKI T, et al. Photographic surveying of minority carrier diffusion length in polycrystalline silicon solar cells by electroluminescence [ J] . APL, 2005,86( 26):2621081.1-262108.3.
[2] 严婷婷,张光春,李果华等.光致发光技术在Si基太阳电池缺陷检测中的应用[J].半导体技术,2010,35(5):454-457.
[3] 柳翠,龚铁裕,袁晓,汪乐. 少子寿命值对太阳电池生产的监控作用[J].太阳能,2008,3:27-29.
[4] 肖娇,徐林,曹建明.缺陷太阳电池EL 图像及伏安特性分析[J]. 现代科学仪器,2010,5:105-108.。