第1篇一、引言随着电子技术的飞速发展，电子设备在各个领域的应用日益广泛。
然而，随着电子设备数量的增加，电磁环境变得越来越复杂，电磁兼容（EMC）问题也日益凸显。
为了确保电子设备在复杂电磁环境下稳定可靠地工作，本文针对某型号电子系统进行了电磁兼容实验，以评估该系统的电磁兼容性能。
二、实验目的1. 评估电子系统的电磁兼容性能；2. 分析系统在电磁干扰下的抗扰度；3. 识别系统可能存在的电磁兼容问题；4. 为系统设计提供改进依据。
三、实验方法1. 实验设备：电磁兼容测试系统、频谱分析仪、干扰信号发生器、被测系统等；2. 实验环境：符合国家电磁兼容标准的实验室；3. 实验步骤：a. 确定测试项目和测试方法；b. 连接被测系统与测试设备；c. 进行电磁兼容测试；d. 分析测试结果，找出问题所在；e. 提出改进措施。
四、实验内容1. 电磁干扰发射测试a. 测试项目：辐射发射（RE）、传导发射（CE）；b. 测试方法：按照国家标准GB 4824.3-2006《信息技术设备电磁兼容限值和测量方法第3部分：发射》进行测试；c. 测试结果：测试结果表明，被测系统在规定的频率范围内辐射发射和传导发射均符合国家标准要求。
2. 电磁干扰抗扰度测试a. 测试项目：静电放电抗扰度（ESD）、射频辐射抗扰度（RS）、射频传导抗扰度（CS）；b. 测试方法：按照国家标准GB/T 17626.2-2008《信息技术设备电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验方法》等标准进行测试；c. 测试结果：测试结果表明，被测系统在规定的干扰条件下，ESD、RS、CS抗扰度均符合国家标准要求。
3. 电磁兼容问题分析a. 通过实验分析，发现被测系统在以下方面存在电磁兼容问题：i. 辐射发射：部分频率范围内的辐射发射超过国家标准要求；ii. 传导发射：部分频率范围内的传导发射超过国家标准要求；b. 产生问题的原因：i. 设计缺陷：部分电路设计不合理，导致电磁干扰；ii. 元器件选择不当：部分元器件的电磁兼容性能较差；iii. PCB设计不合理：部分PCB设计不合理，导致电磁干扰。
《嵌入式系统原理与应用》教学大纲一、课程基本信息二、课程性质、地位和任务嵌入式系统原理与应用是计算机科学技术专业的一门专业课，讲述嵌入式系统的基本理论、原理。
本课程是一门既与硬件关系紧密，又与嵌入式操作系统、嵌入式软件关系十分紧密课程。
它围绕目前流行的32位ARM处理器和源码开放的Linux操作系统，讲述嵌入式系统的概念，软、硬件组成，开发过程以及嵌入式应用程序开发设计方法。
本课程的知识将为学生今后从事嵌入式系统研究与开发打下坚实的基础。
三、课程基本要求通过对基于ARM嵌入式芯片的系统的基本组织结构与工作原理的学习，使学生对计算机系统的硬件部分有一个全面的了解，对嵌入式软件的开发过程有一个清楚的认识，通过对嵌入式操作系统的工作原理的学习，使学生对嵌入式操作系统有一个清晰的认识，提高学生在嵌入式软件设计设计能力及解决实际问题的动手能力，为后续专业课程的学习打下坚实的基础。
四、课程内容第一章嵌入式系统导论教学内容：1.1嵌入式系统概述1.2嵌入式系统的实时性与可靠性1.3嵌入式系统的应用领域和发展趋势教学目的：掌握嵌入式系统的特点、与通用计算机系统的区别、影响嵌入式系统实时性和可靠性的主要因素、了解嵌入式系统的发展趋势教学重点：嵌入式系统的特点、与通用计算机系统的区别、影响嵌入式系统实时性和可靠性的主要因素教学难点：影响嵌入式系统实时性和可靠性的主要因素教学方法：课堂讲授为主，布置部分作业，在讲解时多举一些嵌入式系统的应用实例，使学生对嵌入式系统有更好的认识与理解。
第二章嵌入式硬件系统教学内容：2.1嵌入式微处理器概述2.2嵌入式微处理器内核原理和指令系统教学目的：掌握嵌入式系统的硬件的基本组成、了解嵌入式微处理器的基本组成和运行模式、基本了解ARM芯片的指令系统教学重点：嵌入式系统的基本组成、CISC与RISC指令系统的对比、嵌入式微处理器的特点、嵌入式微处理器的体系结构、嵌入式微处理器的分类、AMBA总线、PCI总线、ARM指令系统教学难点：嵌入式微处理器的体系结构、ARM指令系统教学方法：课堂讲授为主，结合课堂练习为辅，布置部分作业。
单片机实验报告
学院: 物电学院
专业: 电子科技与技术
班级: 2013级2班
学号: 201310530229
姓名: xxx
指导老师: xx
实验一 IO开关输入输出实验
1.实验目的
目的：学习单片机读取IO引脚状态的的方法。
2.试验环境及设备
EL-EMCU-I试验箱、EXP-89S51/52/53 CPU板。
3.实验内容
ORG 0000H
LJMP MAIN
ORG 30H
MAIN: MOV P0，#0FFH
MOV A ,P0
SWAP A
MOV P0，A
NOP
SJMP MAIN
DEALY:MOV R7，#20H
D1：MOV R6，#0F0H
DJNZ R6，0
DJNZ R7，D1
RET
END
4.实验结果：
用导线将试验箱上的IO接口（I0~I8）与拨码开关输出端（K1~K8）相连，通过拨码开关来控制发光二极管。
运行程序，并使程序处于不断运行状态，开关都打开是，二极管全发光，关闭一些开关后，I0~I3上的开关开对应K4~K7的二极管灯亮,I4~I7上相对应的开光开对应K4~K7的二极管亮。
5.实验结论
在运行程序后，单片机实现了用输入与输出之间高地位的转换。
目录第一章 EL-EMCU-I实验系统的资源介绍 (1)一、系统功能概述 (1)二、系统硬件资源 (2)第二章数字可编程设计实验 (18)实验一组合逻辑3-8译码器的设计 (18)实验二半加器 (29)实验三全加器 (30)实验四全减器 (32)实验五 4位向量加法/减法器 (34)实验六向量乘法器 (35)实验七数据比较器 (37)实验八多路数据选择器 (39)实验九编码器 (40)实验十译码器 (43)实验十一二进制码转换成BCD码 (45)实验十二 BCD码转换成二进制码 (47)实验十三 BCD码转换成格雷码 (48)实验十四组合逻辑电路的设计 (50)实验十五简单状态机 (53)实验十六串入/并出移位寄存器 (54)实验十七并入/串出移位寄存器 (56)实验十八多功能寄存器 (58)实验十九单脉冲发生器 (61)实验二十节拍脉冲发生器 (62)实验二十一奇偶检验 (64)实验二十二计数器 (66)实验二十三 7段数码管显示 (68)实验二十四步进电机控制实验 (70)实验二十五蜂鸣器演奏实验 (72)实验二十六继电器和光耦控制实验 (74)实验二十七半导体温度传感器DS18B20实验 (76)实验二十八秒表设计实验 (77)第三章基于NIOS的软核设计实验 (79)实验一 16×16 LED点阵实验 (79)实验二 UART与PC机通信实验 (80)实验三 12位串行A/D实验 (81)实验四 12位串行D/A实验 (84)实验五 RS485通讯实验 (85)实验六基于SOPC的uC/OS-II操作系统应用实验 (88)实验七 7279键盘显示接口实验 (94)实验八压入弹出式IC卡实验 (101)实验九直流电机调速实验 (104)实验十 4相步进电机实验 (106)附录I NIOS II常用函数 (108)附录II USB下载线驱动安装 (119)第一章 EL-EMCU-I实验系统的资源介绍一、系统功能概述EL-EMCU-I型教学实验系统是属于一种综合的教学实验系统，该系统支持8位的8051 / C8051F021等型号、16位的MSP430系列 / AVR系列以及基于Cortex-M3内核的32位群星系列ARM处理器，实现了多模块的应用实验。
