几何量公差与检测实验指导书.docx

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几何量公差与检测实验指导书

程飞月

武汉理工大学教材中心

2006年 6月

1.了解立式光学计的测量原理;

2.熟悉用立式光学计测量外径的方法。

立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪,用量块作为长度测

量基准,按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。

图 1-1 为立式光学计外形图,它由底座1、立柱 5、支臂 3、直角光管 6 和工作台 11 等几部分组成,光学计是利用光学

杠杆发大原理进行测量的仪器,其光学系统如图1-2(b)所示。照明光线经反射镜 1 照射到刻度尺 8 上,再经直角棱镜2、物镜 3,照射到反射镜 4 上。由于刻度尺 8 位于物镜 3 的焦平面上,故从刻度尺 3 上发出的光线经物镜 3 后成为平行光束。

若反射镜 4 与物镜 3 之间相互平行,则反射光线折回到焦平面,

刻度尺像 7 与刻度尺 8 对称。若被测尺寸变动使测杆 5 推动反射镜 4 绕支点转动某一角度 , (图 1-2a),则反射光线相对于

入射光线偏转2, 角度,从而使刻度尺像7 产生位移t (图1-2c),它代表被测尺寸的变动量。物镜至刻度尺8 间的距离为物镜焦距f ,设b 为测杆中心至反射镜支点间的距离, s 为测杆 5 移动的距离,则仪器的放大比 K 为:

tftg2,K,, Sbtg,

tg2,,2,,tg,,,当, 很小时,,因此:

2fK, b

光学计目镜放大倍数为12,f,200mm,b,5mm,故仪器的总放大倍数n 为:

2f2 , 200n,12k,12,12 ,,960 b5

由此说明,当测杆移动0.001mm时,在目镜中可见到0.96mm的位移量。

1.测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几

何形状来

选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。所以,测量平面或圆柱面工件时,

选用球形测头。

测量球面工件时,选用平面形测头。测量小于10mm的圆柱形工件时,选用刀口形测头。

2.按被测零件的基本尺寸组合量块。

3.调整仪器零位

10参看图 1- 1,选好量块组后,将下测量面置于工作台11 的中央,并使测头

对准上测量面中央。

粗调节:松开支臂紧固螺钉4,转动调节螺母2,使支臂缓慢下降,直到测头

与量块上

测量面轻微接触,并能在视线中看到刻度尺像时,将螺钉 4 锁紧。

细调节:松开紧固螺钉 8,转动调节凸轮 7,直至在目镜中观察到刻度尺像与指

示线接

近为止(图 1-3a)。然后拧紧螺钉8。

微调节:转动刻度尺微调螺钉 6(图 1-2b),使刻度尺的零线影像与指示线重

合(图 1-3b),然后压下测头提升杠杆 9 数次,使零位稳定。

将测头抬起,取下量块。

4.将工件洗净放在工作台上进行测量,将测量结果填入实验报告。

5.处理数据,判断是否合格。

1.比较量法的特点是什么?以什么作为比较标准?

2.用立式光学计能否进行绝对测量?

表面粗糙度的测量方法有光切法,光波干涉法及触针法(又称针描法)等,工

厂常用的

还有粗糙度样板直接和被测工件对照的比较法,以及利用塑性和可铸性材料将

被测工件加工

表面的加工痕迹复印下来,然后再测量复印的印模的印模法。

1.建立对表面粗糙度的感性认识;

2.了解用双管显微镜测量表面粗糙度的原理及方法。

用双管显微镜测量表面粗糙度的 Rz 值。

双管显微镜又撑光切显微镜,它是利用被测表面能反射光的特性,根据“光切

法原理”

制成的光学仪器,其测量范围取决于选用的物镜的放大倍数,一般用于测量

0.8-80 微米的表面粗糙度Rz 值。

仪器外型如图 3-1 所示,它由底座 6,支柱 5,横臂 2,测微目镜 13,可换物镜 8 及工作台 7 等部分组成。

仪器备有四种不同倍数(7X,14X,30X,60X )物镜组,被测表面粗糙度大小(估测)来

选择相应倍数的物镜组(见表3-1 )。

表 3-1 双管显微镜测量参数

物镜放大倍总放大倍数目镜视场直物镜与工件测量范围Rz 换算系数数 N 径( mm)距离( mm)(μ m)E( 微米 / 格 )

7X 60X 2.5 9.5 30~30 1.25 14X 120X 1.3 2.5 6.3~20 0.63 30X 260X 0.6

0.2 1.6~6.3 0.294 60X 510X 0.3 0.04 0.8~1.6 0.147

测量原理如图 3-2 所示,被测表面为P1-P2 阶梯表面,当一平行光束从45 度方向投射到阶梯表面时,即被折成S1 和 S2 两段,从垂直于光束的方向上就可以在显微镜内看到 S1 和 S2 两段光带的放大像S1'S2' ,同时距离 h 也被放大为 h1' 。通过测量和计算,可求得被测

表面的不平度高度h。

这种方法类似在零件表面斜切一刀,然后观察其剖面的轮廓形状,因此称为光

切法。

图3-3为双管显微镜的光学系统图,由光源 1 发出的光,经聚光镜2,狭缝

3,物镜 4 以45 度方向投射到北测表面上,调整仪器使反射光束经物镜 5 成像在目镜分划板 6 上,光束被测上表面的S1点反射,在下表面S2 点反射,它们各成像

于分划板 6 的 S1' 和 S2' ,距离 h1 被放大为 h1' ,通过目镜可观察到凹凸不平的光

带(图3-4 (b)) , 光带边缘即工件表面上被照亮了的h1 的放大轮廓像h1',测量h1'即可求出被测表面的不平高度h2。

h=h1cos45=(h1/N)cos45

式中N——物镜的放大倍数