式。电子设备中的继电器、断路器、开关、
磁控管等元器件的故障往往服从威布尔分布。
• 故障密度函数
f
(t)
m
(t
(t )m
)m1e t0
t
(t )
1
t0 m (1
1
)
m
• 备件的平均寿命
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③ 正态分布
• 高斯分布、误差分布。广泛应用的分布。因磨损、老化、腐蚀而出现故障的备件故障分布。
(4) 对于充分小的
在泊松过程中,相应的质点流即质点出现的随机 时刻称为强度为 λ 的泊松流.
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可以证明泊松过程的增量的分布律为
t t0, k 0,1,2,
由上式易知增量N(t0,t)=N(t)-N(t0)的概率分布 是参数为 λ(t-t0) 的泊松分布,且只与时间t-t0有关, 所以强度为 λ 的泊松过程是一齐次的独立增量 过程.
③ 备件库存水平很大第程10页度/共7上8页是如何使用和如何维
2、备件寿命分布函数类型
① 指数分布 ② 威布尔分布 ③ 正态分布 ④ 对数正态分布
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① 指数分布
• 指数分布是最常用的故障分布。统计规律显示,
许多电子设备和较复杂的机械设备在使用期内
其故障大多数服从指数分布。电路的短路、机
对电话呼叫次数进行累计的计数过程,这也就是计数 过程名称的由来.对 0≤s<t,N(t)-N(s)就表示在(s,t]中 发生的电话呼叫次数.
计数对象不仅仅是来到的电话呼叫,也可以是到
某商店的顾客数,到某机场降落的飞机数,某放射性
物质在放射性蜕变中发射的粒子数,一次足球赛 的进球数,某医院出生的婴儿数等等,总之,对某种