【CN109709063A】基于太赫兹时域光谱技术的翡翠鉴定方法【专利】

专利名称：基于太赫兹时域光谱成像的胶囊鉴别技术专利类型：发明专利
发明人：陈锡爱,张松
申请号：CN201610465772.1
申请日：20160615
公开号：CN106198445A
公开日：
20161207
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种基于太赫兹时域光谱成像技术的封装胶囊鉴别技术，所述药物主要为诺氟沙星、阿莫西林、头孢拉定等胶囊类药物，大致步骤为：(1)准备多组胶囊类药物的标准样品，在消除各类环境噪音以及各类环境的影响后，得到各个样品的太赫兹吸收光谱；(2)选取各标准样品在太赫兹波段有效区间内的光学参数，并建立光学参数三维特征谱数据库；(3)将待检测药物的有效光学参数放入先前建立的三维特征谱数据库进行光谱图吸收峰比对，从而进行分类与识别，以此判断待测药物纯正与否。

利用本发明方法可以高效、准确的对胶囊内药物成分进行鉴别，这在药物分析与药物检测等领域有着较为广阔的应用前景。

申请人：中国计量大学
地址：310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
国籍：CN
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专利名称：一种太赫兹时域光谱测量系统
专利类型：发明专利
发明人：袁英豪,杨建强,李超,熊波涛,周正,陈师雄申请号：CN201711212601.9
申请日：20171128
公开号：CN108007897A
公开日：
20180508
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种太赫兹时域光谱测量系统，包括飞秒激光系统、太赫兹发射装置、太赫兹探测装置、样品测量装置和延时扫描装置，所述飞秒激光系统输出泵浦激光和探测激光，分别传输给太赫兹发射装置和太赫兹探测装置，产生和探测太赫兹波，所述的太赫兹探测装置接收太赫兹波束并将其转化为电压信号，所述的样品测量装置位于太赫兹光路中,控制太赫兹波束入射样品，所述的延迟扫描装置改变太赫兹波束在太赫兹发射装置和太赫兹探测装置之间的传播光程；本发明可显著降低延时扫描装置中对光学反射面粗糙度和运动机构稳定性的苛刻要求、减小光路装调难度、大幅度缩减太赫兹时域光谱测量系统的器件成本。

申请人：湖北久之洋红外系统股份有限公司
地址：430223 湖北省武汉市江夏区庙山开发区明泽街9号
国籍：CN
代理机构：武汉凌达知识产权事务所(特殊普通合伙)
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专利名称：一种翡翠鉴定的系统及方法专利类型：发明专利
发明人：周辉,袁丁,吴红彦,夏征
申请号：CN201911211998.9
申请日：20191202
公开号：CN110779924A
公开日：
20200211
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明提出了一种翡翠鉴定系统及方法。

本发明的系统采用驱动电机改变反射镜的状态，当反射镜处于待鉴定翡翠的出射光路上时，通过摄像系统获取待鉴定翡翠的图像信息，对翡翠进行经验鉴定；当反射镜偏离待鉴定翡翠的出射光路时，通过可以分析荧光和拉曼光的第一拉曼光谱仪和第二拉曼光谱仪获得第一光谱和第二光谱，通过第一光谱和第二光谱中的荧光和拉曼光对翡翠进行鉴定。

实现了集人工经验、荧光光谱分析和拉曼光谱分析为一体的鉴定，避免了对翡翠综合鉴定过程中，需要更换鉴定仪器的技术缺陷，缩短鉴定时间，提高鉴定效率，并解决了拉曼光谱分析时受荧光干扰的问题。

申请人：北京华泰诺安探测技术有限公司
地址：101312 北京市顺义区空港融慧园20号楼2层20-2
国籍：CN
代理机构：北京高沃律师事务所
代理人：杨媛媛
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专利名称：太赫兹时域光谱仪
专利类型：实用新型专利
发明人：何坚兵,刘永祯,赵洪美,潘奕,黄培雄申请号：CN201822239467.8
申请日：20181228
公开号：CN209400084U
公开日：
20190917
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本实用新型涉及太赫兹光谱技术领域，提供了一种太赫兹时域光谱仪，包括光谱仪主机体、样品承载结构以及扫描驱动装置，光谱仪主机体包括太赫兹发生器和安装配合结构，安装配合结构与反射成像装置/透射谱测试装置可拆卸连接，样品承载结构具有扫描作业位置和扫描待业位置，扫描驱动装置用于驱动样品承载结构往复运动于扫描作业位置和扫描待业位置之间，并用于驱动样品承载结构在样品承载结构处于扫描作业位置时进行扫描动作。

该太赫兹时域光谱仪变换测试模式无需频繁拆装并调试扫描成像测试装置，测试装置更换快捷方便、转换无需光学对准，可满足用户多样化测试需求。

申请人：深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司,雄安华讯方舟科技有限公司
地址：518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东
国籍：CN
代理机构：深圳中一专利商标事务所
代理人：高星
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(10)申请公布号 CN 102621083 A(43)申请公布日 2012.08.01C N 102621083 A*CN102621083A*(21)申请号 201210060137.7(22)申请日 2012.03.08G01N 21/31(2006.01)G01N 21/41(2006.01)(71)申请人中国石油大学(北京)地址102249 北京市昌平区府学路18号(72)发明人赵昆 宝日玛(74)专利代理机构北京三友知识产权代理有限公司 11127代理人任默闻(54)发明名称一种基于太赫兹时域光谱测定岩石光学参数的方法及系统(57)摘要本发明是关于一种基于太赫兹时域光谱测定岩石光学参数的方法及系统，所述的方法包括：对岩石基底和岩石样品进行检测，获取所述的岩石基底的太赫兹脉冲时域波形和所述的岩石样品的太赫兹脉冲时域波形；对所述的岩石基底的太赫兹脉冲时域波形和所述的岩石样品的太赫兹脉冲时域波形进行处理，得到所述的岩石样品的吸收谱和折射率谱数据。

本发明提供的一种基于太赫兹时域光谱测定岩石光学参数的方法及系统，能够对岩石进行快速、无损检测，检测方法易操作，数据处理简单，重复性好。

(51)Int.Cl.权利要求书3页 说明书6页 附图5页(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请权利要求书 3 页 说明书 6 页 附图 5 页1.一种基于太赫兹时域光谱测定岩石光学参数的方法，其特征在于，所述的方法包括：对岩石基底和岩石样品进行检测，获取所述的岩石基底的太赫兹脉冲时域波形和所述的岩石样品的太赫兹脉冲时域波形；对所述的岩石基底的太赫兹脉冲时域波形和所述的岩石样品的太赫兹脉冲时域波形进行处理，得到所述的岩石样品的吸收谱和折射率谱数据。

2.根据权利要求1所述的基于太赫兹时域光谱测定岩石光学参数的方法，其特征在于，对所述岩石基底的太赫兹脉冲时域波形和所述的岩石样品的太赫兹脉冲时域波形进行处理，得到所述的岩石样品的吸收谱和折射率谱数据包括：对所述岩石基底的太赫兹脉冲时域波形和所述的岩石样品的太赫兹脉冲时域波形进行快速傅里叶变换处理，得到所述的岩石样品的折射率n(v)、消光系数k(v)和吸收系数α(v)；在有效频率范围内建立岩石样品的吸收谱和折射率谱。

专利名称：测量太赫兹时域光谱的方法及设备专利类型：发明专利
发明人：李元景,冯兵,赵自然,王迎新,俞冬梅申请号：CN200610171670.5
申请日：20061231
公开号：CN101210874A
公开日：
20080702
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：一种测量太赫兹时域光谱的方法及设备，涉及太赫兹时域光谱领域。

该方法包括步骤：以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束，用于产生太赫兹脉冲；以所述重复频率从第二飞秒激光器发出第二脉冲激光束；测量在所述第一脉冲激光束与所述第二脉冲激光束之间的各个相位差处的太赫兹脉冲的电场强度；以及通过对表示所述电场强度的数据进行傅立叶变换来得到太赫兹时域光谱。

同现有技术相比，本发明在保持高探测带宽的同时能保持高的频谱分辨力，从而使装置鉴别物质的能力优于其它同类装置。

申请人：清华大学,同方威视技术股份有限公司
地址：100084 北京市海淀区清华大学
国籍：CN
代理机构：中科专利商标代理有限责任公司
代理人：朱进桂
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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910283518.3(22)申请日 2019.04.10(71)申请人 中国计量大学地址 310018 浙江省杭州市江干区学源街258号(72)发明人 王强　陈强　谷小红　(51)Int.Cl.G01S 17/89(2006.01)G01N 21/3586(2014.01)(54)发明名称基于合成孔径聚焦的聚乙烯材料太赫兹时域光谱成像方法(57)摘要本发明涉及一种基于太赫兹时域光谱技术的合成孔径聚焦成像方法，包括：利用透镜改变太赫兹波的传播路径，利用二维移动平台对样品进行扫查，得到相应的太赫兹脉冲光谱；根据像素点与虚拟发射源的相对位置关系进行空间建模；根据相对位置关系计算每个扫查点得到的脉冲光谱上的相对应的强度值。

根据计算得到的所有的脉冲强度值计算像素点强度，根据像素点强度计算相应的灰度值；利用本方法得到的太赫兹图像与利用太赫兹时域光谱系统直接成像相比具有较高的横向分辨率，对聚乙烯管道上的微小缺陷具有更强的检测能力。

权利要求书1页 说明书3页 附图2页CN 109959938 A 2019.07.02C N 109959938A权　利　要　求　书1/1页CN 109959938 A1.基于合成孔径聚焦的聚乙烯材料太赫兹时域光谱成像方法，其特征在于，它包括以下步骤：1)在太赫兹发射探头下放置一个凸透镜将发射的太赫兹波在样品上方聚焦，将透镜的焦点视为太赫兹发射源，成像时透镜焦点距样品表面约1cm，利用透镜改变太赫兹波在空间中的传播路径，将从太赫兹发射源发射出的太赫兹波的覆盖面从圆柱变为圆锥形，增大一次扫查到覆盖的样品面积；2)移动二维移动平台移动太赫兹探头以及透镜，对样品进行二维扫查，得到各个扫查点的反射式太赫兹时域脉冲光谱；3)根据扫查点与样品成像点的相对位置关系建模；4)根据相对位置的不同，计算像素点与各个扫查点位置的时间差，通过时间差在太赫兹脉冲光谱上寻找相对应的太赫兹脉冲响应强度；5)根据查找到的各个扫查点上的脉冲强度通过累加计算得到该像素点的像素强度；6)根据所有像素点的像素强度值进行成像。

基于太赫兹时域光谱的物质定性鉴别和定量分析方法研究基于太赫兹时域光谱的物质定性鉴别和定量分析方法研究摘要：太赫兹时域光谱技术是一种新兴的非破坏性检测方法，它在物质定性鉴别和定量分析方面具有广阔的应用前景。

本文通过对太赫兹时域光谱技术的原理、方法和应用进行综述，探讨了太赫兹时域光谱在物质定性鉴别和定量分析中的研究进展，并对其未来的发展方向和挑战进行了展望。

关键词：太赫兹时域光谱、物质定性、定量分析、应用前景引言：太赫兹时域光谱技术是一种基于太赫兹波段的光学技术，其频率位于红外辐射和微波辐射之间，具有很高的穿透能力和物质辨识能力。

近年来，随着太赫兹时域光谱技术的快速发展，其在物质定性鉴别和定量分析方面得到了广泛的应用。

通过对物质分子和晶格的振动模式的特征光谱进行分析，太赫兹时域光谱技术可以实现对物质的定性鉴别和定量分析。

本文旨在系统概述太赫兹时域光谱技术的研究进展，以及其在物质定性鉴别和定量分析中的应用。

一、太赫兹时域光谱技术的原理太赫兹时域光谱技术是利用太赫兹脉冲激光产生的电磁波与物质相互作用的光学检测方法。

太赫兹波段的电磁波与物质之间的相互作用主要是通过物质的吸收谱和折射谱来体现的。

物质在太赫兹波段具有明显的光谱吸收特征，通过测量样品吸收和相位延迟随时间的变化，可以得到样品的太赫兹时域光谱。

太赫兹时域光谱可以提供物质的复折射率和复吸收系数，从而实现物质的定性鉴别和定量分析。

二、太赫兹时域光谱技术的方法太赫兹时域光谱技术主要包括脉冲激发源、探测系统和信号处理系统三个主要组成部分。

脉冲激发源是产生太赫兹脉冲激光的关键部件，目前常用的脉冲激发源有光电探测器、激光光纤等。

探测系统负责测量样品与太赫兹脉冲激光之间的相互作用，目前常用的探测方法有光学探测和电磁探测两种。

信号处理系统负责处理测量得到的太赫兹时域光谱信号，主要包括频率域处理和时间域处理两种方法。

三、太赫兹时域光谱技术在物质定性鉴别中的应用太赫兹时域光谱技术在物质定性鉴别方面具有很高的准确性和可靠性。

专利名称：一种翡翠光谱数据量化分析的方法
专利类型：发明专利
发明人：兰延,罗强,高孔,梁榕,雷自力,顾浩,苏隽,陆太进,魏然申请号：CN202010506678.2
申请日：20200605
公开号：CN111562265A
公开日：
20200821
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种翡翠光谱数据量化分析的方法，该方法包括：首先，建立各种翡翠的漫反射法红外吸收光谱、透射法红外光谱和紫外‑可见光吸收光谱的样本库；然后，对已采集的待分析光谱数据进行校验和滤波去噪，采用梯度算法提取和辨识光谱数据特征位置和特征范围内的有效峰位，初步辨识翡翠种属；最后，利用待测样品光谱数据与样本库中数据的相关度对翡翠种属进行第二次分析判断，最终确定翡翠种属。

申请人：自然资源部珠宝玉石首饰管理中心深圳珠宝研究所
地址：518000 广东省深圳市罗湖区贝丽南路4号珠宝检测中心大厦15层
国籍：CN
代理机构：深圳市卓科知识产权代理有限公司
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专利名称：一种太赫兹异常光谱识别方法及系统专利类型：发明专利
发明人：邵桂芳,李铁军,文玉华
申请号：CN201810568711.7
申请日：20180605
公开号：CN108760675A
公开日：
20181106
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开一种太赫兹异常光谱识别方法及系统。

所述识别方法包括：获取样本点的太赫兹光谱数据集合，所述数据集合中包括每一个样本点对应的太赫兹光谱数据；所述样本点为太赫兹扫描的像素点；获取基于t分布随机邻域嵌入算法的太赫兹光谱识别模型；根据所述太赫兹光谱识别模型对所述太赫兹光谱数据集合进行识别，获得降维后的太赫兹光谱数据集合；对所述降维后的太赫兹光谱数据集合进行可视化分析，识别所述降维后的太赫兹光谱数据集合中的异常点。

采用本发明的方法或系统，为进一步太赫兹光谱成像分析提供先验知识和基础，进而提高太赫兹图像识别的准确性和效率。

申请人：厦门大学
地址：361000 福建省厦门市思明区思明南路422号厦门大学
国籍：CN
代理机构：北京高沃律师事务所
代理人：王戈
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