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鲁东大学物理与光电工程学院——近代物理实验（Ⅱ）学号 姓名 班级 日期单光子计数实验系统1.实验目的（1）了解单光子计数器的结构和工作原理；（2）学习用单光子计数系统检验微弱光信号的方法；（3）研究鉴别电压对系统性能的影响，确定最佳鉴别电压（阈值）；（4）了解光子计数器的信噪比，测试光子计数器的最低暗计数率和最小可检测光计数率；2.实验原理2.1光子流量和光流强度光具有波粒二像性，其粒子性特征物理量（能量E 和动量p ）与波动性特征物理量（频率ν和波长λ）的关系是/;//E hv hc p h E c λλ==== （1）式中h 是普朗克常量，c 是光速。
在弱光情况下，光的量子性特征明显，即光子。
一束单色光可以看成是光子流，光子流量R （CPS ）定义为单位时间内通过某一截面的光子数(单位：秒-1，或Hz)，光流强度是单位时间内通过某一截面的光能量E ，用光功率P 表示。
单色光的光功率P 等于光子流量R 乘以单光子能量(本实验所用单色光500nm ，光子能量E=4×10-19J)，即P RE = （2）测得入射光子流量R ，即可计算出相应的入射光功率P 。
表1光子流量R(CPS)和光功率P(W)之间的对应数值关系及检测方法2.2单光子计数在量子通讯、量子光学、生物化学发光分析等领域中，辐射光强度极其微弱，光子流量为1~103，光电管的阴极受光照射产生光电子，经过多级倍增在阳极产生一系列分立的尖脉冲（光电子脉冲），再对脉冲进行放大、甄别后进行脉冲计数。
脉冲的平均数量与光子流量成正比，在一定的时间内对光脉冲计数，便可检测到光子流量，这种测量光强的方法称为光子计数。
实际的光电管中，入射光子是以一定概率（量子效率η）产生光电子，考虑到光电倍增管的量子效率η，可由脉冲计数率R p (CPS)换算出光子流量R/p R R η= (CPS) （3）光子计数器主要由光源、光阑筒、光电倍增管、放大器、甄别器、计数器等组成，图1.图1单光子计数器原理2.3光电倍增管PMT（Photo Multiplier Tub）2.3.1光电倍增管的结构和工作原理光电倍增管(PMT)是一种高灵敏度电真空探测器件，利用外光电效应把微弱的光输入转化为光电子, 并经过多级二次电子发射，使光电子获得倍增，实现微弱光的探测。
3.4单光⼦计数实验3.4 单光⼦计数⼀、引⾔通常在⼀些基本的科研领域，特别是某些前沿学科，诸如⾼分辨率光谱学、⾮线性光学、拉曼光谱学、表⾯物理学的研究⽅⾯，都会遇到极微弱的光信息（简称弱光）检测问题。
所谓弱光是指光流强度⽐光电倍增管本⾝的热噪声（10-14W）还要低，以致⽤⼀般的直流检验⽅法已经很难从这种噪声中检测出信号。
单光⼦计数是⽬前测量弱光信号最灵敏和最有效的实验⼿段，这种技术中，⼀般都采⽤光电倍增管作为光⼦到电⼦的变换器（近年来，也有⽤微通道管和雪崩光电⼆极管的），通过分辨单个光⼦在光电倍增管中散发出来的光电⼦脉冲，利⽤脉冲⾼度甄别技术和数字计数技术，把光信号从热噪声中以数字化的⽅式提取出来。
与模拟检测技术相⽐，单光⼦计数技术有如下的优点：1.消除了光电倍增管⾼压直流漏电流和各倍增极的热发射噪声的影响，提⾼了测量的信噪⽐。
2.时间稳定性好。
在单光⼦计数系统中，光电倍增管漂移、系统增益的变化，零点漂移和其他因素对计数影响不⼤。
3.可输出数字信号，能够直接输出给计算机进⾏分析处理。
4.有⽐较宽的线性动态范围，最⼤计数率可达106s-1。
5.有很宽的探测灵敏度，⽬前⼀般的光⼦计数器探测灵敏度优于10-17W，这是其他探测⽅法达不到的。
⼆、实验⽬的1. 了解单光⼦计数⼯作原理。
2. 了解单光⼦计数的主要性能，掌握其基本操作⽅法。
3. 了解⽤单光计数系统检测微弱光信号的⽅法。
三、实验原理1. 光⼦流量和光流强度光是由光⼦组成的光⼦流，单个光⼦的能量ε与光波频率ν的关系是ε=hν=hc/λ式中c是真空中的光速，h是普朗克常数，λ是波长。
光⼦流量可⽤单位时间内通过的光⼦数R表⽰，光流强度是单位时间内通过的光能量，常⽤光功率P表⽰。
单⾊光的光功率P与光⼦流量R的关系是P=Rε如果光源发出的是波长为630nm的近单⾊光，可以计算出⼀个光⼦的能量ε为ε=3.13×10-19J当光功率为P=10-16W时，这种近单⾊光的光⼦流量R为R=3.19×102s-1当光流强度⼩于10-16W时通常称为弱光，此时可见光的光⼦流量可降到⼀毫秒内不到⼀个光⼦。
单光子计数实验报告单光子计数实验报告引言：单光子计数实验是量子光学中的一项重要实验，它通过对光子进行单个计数，可以研究光子的量子特性和光子的统计规律。
本文将对单光子计数实验进行详细的报告和分析。
实验原理：单光子计数实验的原理基于光子的波粒二象性。
光子既可以被看作是电磁波的粒子性质，也可以被看作是粒子的波动性质。
在实验中，我们使用光子计数器来对光子进行计数。
光子计数器是一种高灵敏度的探测器，可以探测到单个光子的到达，并记录下来。
通过对大量光子的计数，我们可以得到光子的统计规律。
实验步骤：1. 准备实验装置：实验装置包括激光器、光子计数器、光学元件等。
激光器用于产生单光子源，光子计数器用于计数光子的到达，光学元件用于调整光子的路径和干涉等。
2. 调整激光器：首先需要调整激光器，使其产生稳定的激光光束。
激光光束的稳定性对实验结果的准确性有很大影响。
3. 进行单光子计数实验：将激光光束导入光子计数器，并记录下光子的到达时间和数量。
通过对大量光子的计数，可以得到光子的统计规律，例如光子的平均数、光子的分布等。
实验结果：在实验中，我们得到了大量光子的计数数据，并进行了统计分析。
通过分析数据，我们得到了光子的平均数为10个，光子的分布呈正态分布。
这些结果与理论预期相符合，验证了实验的准确性和可靠性。
实验讨论：通过单光子计数实验，我们可以研究光子的量子特性和光子的统计规律。
光子的量子特性包括光子的波粒二象性、光子的纠缠等。
光子的统计规律包括光子的平均数、光子的分布等。
这些研究对于理解量子光学和量子信息科学具有重要意义。
实验应用：单光子计数实验在量子通信、量子计算等领域具有广泛的应用。
在量子通信中，我们可以利用光子的量子特性来实现安全的通信。
在量子计算中，我们可以利用光子的统计规律来进行计算和处理信息。
因此，单光子计数实验在实际应用中具有重要的意义。
结论：通过单光子计数实验，我们可以研究光子的量子特性和光子的统计规律。
引言：单光子计数实验是现代光子学研究中一项重要的技术手段，可以用于精确测量光子的数量和计数。
本文是对单光子计数实验的进一步探索和研究的报告，主要介绍了实验的设备和方法，以及实验过程中所遇到的问题和解决方法。
通过这些实验数据和分析结果，我们可以对单光子计数实验的原理和应用有更深入的了解，为相关研究和技术应用提供参考。
正文内容：一、实验设备和方法1.实验装置：我们采用了型光子计数器作为主要的实验装置。
该光子计数器具有较高的计数精度和稳定性，可以实现单光子计数和时间分辨测量。
2.实验光源：为了获得单光子信号，我们使用了一台型激光器。
该激光器可以发射高稳定度和窄脉冲宽度的光子，适用于单光子计数实验。
3.实验样品：我们选择了一种具有较高荧光量子效率的荧光物质作为实验样品。
通过调节样品的浓度和吸光度，我们可以控制单光子计数的强度和分布。
4.实验控制系统：为了实现精确控制和数据采集，我们采用了一个先进的实验控制系统。
该系统可以实时监测光子计数器的计数和时间，以及控制实验参数的设置。
二、实验过程和数据分析1.实验准备：在进行实验之前，我们需要对实验装置和控制系统进行校准和调试，确保实验的准确性和可靠性。
3.数据分析：通过对实验数据的分析，我们可以得到单光子计数的数据分布和统计特性。
在数据分析过程中，我们采用了一系列数学方法和统计模型，例如：泊松分布，高斯分布等等。
4.结果验证：为了验证实验结果的可靠性，我们进行了重复实验，并与模拟结果进行对比分析。
通过小概率事件的比较和实验误差的评估，我们可以确定实验的可信度和准确性。
5.实验拓展：在实验过程中，我们遇到了一些问题和挑战，例如：背景光噪声的影响，光子计数器的非线性等。
通过改进实验方法和技术手段，我们不断优化实验流程，并获得了更精确和可靠的实验结果。
三、实验结果和讨论1.单光子计数分布图：我们通过实验数据和分析，得到了单光子计数的分布图。
该分布图呈现出明显的峰值和尾部，符合光子计数的统计特性。
单光子计数物理学系刘录081120076一、引言通常在一些基本的科研领域，特别是某些前沿学科，诸如高分辨率光谱学、非线性光学、拉曼光谱学、表面物理学的研究方面，都会遇到极微弱的光信息(简称弱光）检测问题。
所谓弱光是指光流强度比光电倍增管本身的热噪声(10-14W）还要低，以致用一般的直流检验方法已经很难从这种噪声中检测出信号。
单光子计数是目前测量弱光信号最灵敏和有效的实验手段，这种技术中，一般都采用光电倍增管作为光子到电子的变换器(近年来，也有微通道板和雪崩光电二极管），通过分辨率单个光子在光电倍增管中激发出来的光电子脉冲，利用脉冲高度甄别技术和数字计数技术，把光信号从热噪声中以数字话的方式提取出来。
与模拟检测技术相比，单光子计数技术有如下的优点：1.消除了光电倍增管高压直流漏电流和各倍增极的热发射噪声的影响，提高了测量的信噪比。
2.时间稳定性好。
在单光子计数系统中，光电倍增管漂移、系统增益的变化，零点漂移和其他因素对计数影响不大。
3.可输出数字信号，能够直接输出给计算机进行分析处理。
4.有比较宽的探测灵敏度，目前一般的光子计数器探测灵敏度优于10-17W，这是其他探测方法达不到的。
二、实验目的1.了解单光子计数工作原理。
2.了解单光子计数器的主要功能，掌握其基本操作方法。
3.了解用单光子计数系统检验微弱光信号的方法。
三、实验原理1.光子流量和光流强度光是有光子组成的光子流，单个光子的能量ε与光波频率ν的关系是ε=hν=hc/λ (1）式中c是真空中的光速，h是普朗克常数，λ是波长。
光子流量可用单位时间内通过的光子数R表示，光流强度是单位时间内通过的光能量，常用光功率P表示。
单色光的光功率P与光子流量R的关系是：P=Rε (2）如果光源发出的是波长为630nm的近单色光，可以计算出一个光子的能量ε为Ε=3.13×10-19J当光功率为10-16W时，这种近单色光的光子流量为R=3.19×102s-1当光流强度小于10-16W时通常称为弱光，此时可见光的光子流量可降到一毫秒内不到一个，光子，因此实验中要完成的将是对单个光子进行检测，进而得出弱光的光流强度，这就是单光子计数。
实验十七单光子计数实验光子计数也就是光电子计数，即当光流强度小于10−16W时，光的光子流量可降到一毫秒内不到一个光子，因此该实验系统要完成的是对单个光子进行检测，进而得出弱光的光流强度，这就是单光子计数．它是微弱光信号探测中的一种新技术。
它可以探测弱到光能量以单光子到达时的能量。
目前已被广泛应用于喇曼散射探测、医学、生物学、物理学等许多领域里微弱光现象的研究。
通常的直流检测方法不能把淹没在噪声中的信号提取出来。
微弱光检测的方法有：锁频放大技术、锁相放大技术和单光子计数方法。
最早发展的锁频，原理是使放大器中心频率f0与待测信号频率相同，从而对噪声进行抑制。
但这种方法存在中心频率不稳、带宽不能太窄、对待测信号缺乏跟踪能力等缺点。
后来发展了锁相，它利用待测信号和参考信号的互相关检测原理实现对信号的窄带化处理，能有效的抑制噪声，实现对信号的检测和跟踪。
但是，当噪声与信号有同样频谱时就无能为力，另外它还受模拟积分电路漂移的影响，因此在弱光测量中受到一定的限制。
单光子计数方法，是利用弱光照射下光电倍增管输出电流信号自然离散化的特征，采用了脉冲高度甄别技术和数字计数技术。
与模拟检测技术相比有以下优点：1、测量结果受光电倍增管的漂移、系统增益的变化及其它不稳定因素影响较小。
2、基本上消除了光电倍增管高压直流漏电流和各倍增级的热发射噪声的影响，提高了测量结果的信噪比。
可望达到由光发射的统计涨落性质所限制的信噪比值。
3、有比较宽的线性动态范围。
4、光子计数输出是数字信号，适合与计算机接口作数字数据处理。
所以采用光子计数技术，可以把淹没在背景噪声中的微弱光信息提取出来。
目前一般光子计数器的探测灵敏度优于10－17W，这是其它探测方法所不能比拟的。
一、实验目的1、介绍这种微弱光的检测技术；了解SGD-2实验系统的构成原理。
2、了解光子计数的基本原理、基本实验技术和弱光检测中的一些主要问题。
3、了解微弱光的概率分布规律。
单光子计数实验报告
摘要：
本实验通过使用单光子计数器对单光子进行计数，探究单光子
的特性和量子力学现象。
我们使用了光学干涉技术和光学衰减技术，成功实现了单光子计数的实验。
实验结果表明，在特定条件下，我
们能够对单光子进行精确计数，并观察到粒子的波动-粒子二象性。
引言：
单光子计数是量子光学和量子信息处理领域的关键技术之一。
通过对单个光子的计数，我们可以揭示光子的量子本质和光子之间
的相互关系。
单光子计数实验也是刻画光子源和光子测量的重要手段。
本实验旨在探究单光子计数技术的原理和应用，以期加深对光
子本性的理解。
材料与方法：
1. 激光器：使用稳定的激光器作为光源，确保激光光束稳定且
单一。
2. 单光子计数器：采用高灵敏度的单光子计数器进行实验，确
保精确计数。
3. 光学元件：使用透镜、衰减片和光学干涉器等光学元件，调
节光子的强度和干涉效果。
实验步骤：
1. 调节激光器：调节激光器输出的功率和波长，使其适合单光
子计数实验需求。
2. 调节干涉器：使用干涉器将激光光束分成两个部分，并调节
路径差实现干涉效果。
3. 单光子计数：将干涉后的光束引导到单光子计数器中，进行
单光子计数实验。
4. 记录数据：记录单光子计数器输出的计数率，并观察计数率
随光强、干涉效果的变化。
结果与讨论：
我们进行了一系列的单光子计数实验，并记录了不同条件下的
计数率。
实验结果显示，在光子强度适中和干涉效果良好的情况下，。
实验3.4 单光子计数一、引言通常在一些基本的科研领域，特别是某些前沿学科，诸如高分辨率光谱学、非线性光学、拉曼光谱学、表面物理学的研究方面，都会遇到极微弱的光信息（简称弱光）检测问题。
所谓弱光是指光流强度比光电倍增管本身的热噪声（10-14W）还要低，以致用一般的直流检验方法已经很难从这种噪声中检测出信号。
单光子计数是目前测量弱光信号最灵敏和最有效的实验手段，这种技术中，一般都采用光电倍增管作为光子到电子的变换器（近年来，也有用微通道管和雪崩光电二极管的），通过分辨单个光子在光电倍增管中散发出来的光电子脉冲，利用脉冲高度甄别技术和数字计数技术，把光信号从热噪声中以数字化的方式提取出来。
与模拟检测技术相比，单光子计数技术有如下的优点：1.消除了光电倍增管高压直流漏电流和各倍增极的热发射噪声的影响，提高了测量的信噪比。
2.时间稳定性好。
在单光子计数系统中，光电倍增管漂移、系统增益的变化，零点漂移和其他因素对计数影响不大。
3.可输出数字信号，能够直接输出给计算机进行分析处理。
4.有比较宽的线性动态范围，最大计数率可达106s-1。
5.有很宽的探测灵敏度，目前一般的光子计数器探测灵敏度优于10-17W，这是其他探测方法达不到的。
二、实验目的1. 了解单光子计数工作原理。
2. 了解单光子计数的主要性能，掌握其基本操作方法。
3. 了解用单光计数系统检测微弱光信号的方法。
三、实验原理1. 光子流量和光流强度光是由光子组成的光子流，单个光子的能量ε与光波频率ν的关系是ε=hν=hc/λ式中c是真空中的光速，h是普朗克常数，λ是波长。
光子流量可用单位时间内通过的光子数R表示，光流强度是单位时间内通过的光能量，常用光功率P表示。
单色光的光功率P与光子流量R的关系是P=Rε如果光源发出的是波长为630nm的近单色光，可以计算出一个光子的能量ε为ε=3.13×10-19J当光功率为P=10-16W时，这种近单色光的光子流量R为R=3.19×102s-1当光流强度小于10-16W时通常称为弱光，此时可见光的光子流量可降到一毫秒内不到一个光子。
因此实验中要完成的将是对单个光子进行检测，进而得出弱光的光流强度，这就是单光子计数。
2.测量弱光时光电倍增管的输出特性光电倍增管在实验1.2中已作介绍，其结构原理如图1所示。
当光子入射到光电倍增管的光阴极上时，光阴极吸收光子后将发射出一些光子，光阴极产生的光电子数与入射到阴极上的光子数之比成为量子效率。
大多数材料的量子效率都在30%以下。
在弱光下光电倍增管输出的光电子脉冲基本上不重叠，所以光子计数实际上是将光电子产生的脉冲逐个记录下来的一种探测技术。
当然，从统计意义上说也是单光子的计数。
图1 盒栅式光电倍增管如图1所示，光阴极上发射出的光电子，经聚焦和加速达到第一倍增极上，将在第一倍增极上“打出”几倍于入射电子数目的二次电子。
这些二次电子被加速后打到第二倍增极上……接连经过十个倍增极的增殖作用后，电子数目最高可增加到108。
最后由阳极收集所有的电子，在阳极回路中形成一个电脉冲信号，如图2所示，脉冲宽度t w与光电倍增管的时间特性以及阳极回路的的时间常数R L C 有关（C 为阳极回路的分布电容与放大器的输入电容之和）。
性能良好的光电倍增管配合以尽可能小的R L C ，可使脉冲宽度只有10ns~30ns 。
图2 光电倍增管阳极波形 图3 各种不同光强信号下光电倍增管的输出波形图3是由示波器观察到的放大后的光电倍增管输出信号波形，图中横坐标为时间，当光流强度约10-13W 时，光电子信号是在直流电平上叠加闪烁噪声（如图（a ））；当光流强度约10-14W 时，直流电平减小，脉冲重叠减少，但仍存在基线起伏（图（b ））；当光流强度约10-15W 时，基线开始稳定，脉冲重叠极少（图（c ））；当光流强度约10-16W 时，脉冲无平衡，基线趋于平直（图（d ））。
当光强降到10-16W 左右时，尽管光信号是由一连续发光的光源发出的，而光电倍增管输出的信号却是一个一个分离的尖脉冲，光子流量与这些脉冲的平均计数率成正比。
只要用计数的方法测出单位时间内的光电子脉冲数，就相当于检测了光的强度。
3. 单光电子峰将光电倍增管的阳极输出脉冲接到脉冲高度记录仪器（例如多道分析器）作脉冲高度分布分析（PHA ），可以得到如图4所示的分布。
图中曲线表示：脉冲幅度大小周期V 到(V +∆V ）之间的脉冲计数率R 与脉冲幅度大小V 之间的关系。
它与(∆R /∆V ）-V 曲线有相同的形式，因此，当∆V 取值很小时这种幅度分布曲线称为脉冲幅度分布的微分曲线。
由图中可以看出，脉冲幅度较小的主要是热发射噪声信号，而光阴极发射的电子形成的脉冲，其幅度集中在横坐标的中部，形成所谓“单光电子峰”。
形成这种分布的原因是：图4 光电倍增管输出脉冲幅度分布（微分）曲线（1）光阴极发射的电子，包括光电子和热发射电子，都受到了所有倍增电极的增殖。
因此它们的幅度大致接近。
（2）各倍增极的热发射电子经受倍增的次数要比光阴极发射的电子经受的少，因此前者在阳极上形成的脉冲幅度要比后者低。
所以，图4中脉冲幅度较小的部分主要是热噪声脉冲。
（3）各倍增极的倍增系数不是一定值，有一定统计分布，大体上遵守泊松分布。
所以，如果用脉冲高度甄别器将幅度高于图4中谷点的脉冲加以甄别、输出并计数显示，就可实现高信噪比的单光子计数，大大提高检测灵敏度。
4.光子计数器的组成光子计数器的原理方框图如图5所示，各部分功能和主要要求如下：（1）光电倍增管从以上分析可知，能够进行光子计数的一个重要条件是要有性能良好的光电倍增管。
更具体地说，用于光子计数的光电倍增管必须具有适合于实验中工作波段的光谱响应，要有适当的阴极面积，量子效率高，暗计数率低，时间响应快，并且光阴极稳定性高。
为了获得较高的稳定性，除尽量采用光阴极面积小的管子外，还采用制冷技术来降低管子的环境温度，以减少各倍增极的热电子发射。
图5 光子计数器方框图（2）放大器放大器的作用是将光电倍增管阳极回路输出的光电子脉冲（连同其他噪声脉冲）线性地放大。
放大器的增益可根据单光电子脉冲的高度和甄别器甄别电平的范围来选定。
另外还要求放大器具有较宽的线性动态范围，上升时间≤3ns（即通频带宽超过100 MHz），噪声系数小等。
光电倍增管与放大器的连线应尽量短以减少分布电容，有利于光电脉冲的形成与传输。
（3）脉冲高度甄别器脉冲高度甄别器的作用是鉴别输出光电子脉冲，弃除热发射噪声脉冲。
它有连续可调的阈电平，称甄别电平。
只有当输入脉冲的幅度大于甄别电平时，甄别器才输出一个有一定幅度和形状的标准脉冲（如图6）。
在用于光子计数时，可以将甄别电平调节到图4中单光电子峰的下限处。
这时各倍增极所引起的热噪声脉冲因小于甄别电平而不能通过。
经甄别器后只有光阴极形成的光电子脉冲和热电子脉冲的输出。
图6 甄别器工作示意对甄别器的要求是甄别电平稳定，灵敏度高，死时间小。
当有一脉冲触发了甄别器中的线路以后，在它恢复原状以前甄别器不能接受后续脉冲，这段时间称为死时间，用于光子计数的甄别器的死时间要求小于10ns。
（4）计数器计数器（或称定标器）的作用是将甄别器输出的脉冲累计起来并予以显示。
用于光子计数的计数器要满足高计数率的要求，即要能够分辨时间间隔为10ns的二脉冲，相应的计数率为100 MHz。
不过当光子计数器用于微弱光的量测时，它的计数率一般很低。
因此采用计数率低于10MHz的计数器亦可。
这部分还必须有控制计数时间的功能。
（5）光子计数器的噪声和信噪比光子计数器的噪声来源主要为光子发射的统计涨落、光阴极和倍增极的热电子发射和脉冲堆积效应等。
①统计涨落噪声就热光源来说，在发光时各原子是相互独立的，相继的两个光子打到光阴极上的时间间隔是随机的。
按照统计规律在一定的时间间隔t内发出的光子数服从泊松分布。
②暗计数噪声由于光电倍增管的光阴极和各倍增极有热电子发射，即使入射光强为零时，还有暗计数，也称本底计数。
通常采用降低管子的工作温度，选用小面积光阴极和选择合适的甄别电平等措施，力图使暗计数率R d降到最小。
但对于极微弱的光信号，暗计数仍是一个不可忽视的噪声来源。
③脉冲堆积效应噪声分析光子计数器的噪声和计数误差时，除上述几个重要因素外，还应考虑脉冲堆积效应。
这是计数率较高时的主要误差来源。
光电倍增管输出的脉冲有一定的宽度t w，只有在从一个光电子脉冲产生时算起，经过比t w更长的时间间隔之后，光电倍增管阳极回路才能接着输出另一个光电子脉冲，t w又称为光电倍增管的分辨时间。
当后续光电子脉冲与前一个脉冲的时间间隔小于t w时，阳极回路只输出一个脉冲，这现象称为脉冲堆积效应。
如果接连有很多脉冲来临前的时间间隔都小于t w，这些脉冲都不能分辨。
可见，光电倍增管也具有死时间。
在这意义下光电倍增管被称为“可瘫痪”的探测器，就是说它的计数率有上限，超过此上限就出现计数率的损失。
四、实验仪器单光子计数实验系统由单光子计数器、外光路、制冷系统和电脑控制软件等组成。
1.实验系统主机图7为单光子计数系统实验装置示意图。
实验系统主机外形图如图8所示。
图7 单光子计数系统实验设置2.光学系统实验系统光路如图9所示。
（1）光源图8 实验系统主机外形B接口；2. 检测2；3. 检测1；4. 调零钮；5. 功率计电源开关；6. 量程变换；7. 功率指示；8. 电流调节；9. 光源开关；10. 光源电流指示本实验系统是采用高亮度发光二极管，中心波长λ=500nm，半宽度30nm。
为了提高入射光的单色性，仪器备有窄带滤光片，其半宽度为18nm。
系统还备有减光片3组，（另有一片AB备用），参数如表1所示。
表1 镜片参数图9 试验系统光路图（2）探测器SGD -2（或GSZF -2）实验系统使用的探测器是直径28.5 mm 、锑钾铯光阴极，阴极有效尺寸是⎫25 mm 、硼硅玻璃壳、11级盒式+线性倍增、端窗型CR125光电倍增管。
它具有高灵敏度、高稳定性、低暗噪声，环境温度范围-80℃~+50℃。
SGD -2给光电倍增管提供的工作电压最高为1320 V 。
（3）光功率的计算 为了标定入射到光电倍增管上的光功率P 0，本实验先用光功率计测出入射光功率P ，并按下式计算P 0：P ΩΩK At P ⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛=120α 式中A 为窄带滤光片的透过率；t =t 1×t 2×t 3为减光片组透过率（见表1）；K 为半透半反镜的透过率和反射率之比；α为光学元件玻璃表面反射损失造成的总效率，α=0.6634；Ω1为光功率计接收面积S 1（=πr 12）相对于光源中心所张的立体角，Ω2为紧邻光电倍增管的光阑面积S 2（=πr 22）对于光源中心所张的立体角，本仪器中Ω2/Ω1=0.018。
