第7章多晶体织构的测定
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织构的测定摘自:《X射线衍射技术及设备》(鞍钢钢铁研究所,丘利、胡玉和编著,冶金工业出版社1999年出版)1 织构定义单晶体在不同的晶体学方向上,其力学、电磁、光学、耐腐蚀、磁学甚至核物理等方面的性能会表现出显著差异,这种现象称为各向异性。
多晶体是许多单晶体的集合,如果晶粒数目大且各晶粒的排列是完全无规则的统计均匀分布,即在不同方向上取向几率相同,则这多晶集合体在不同方向上就会宏观地表现出各种性能相同的现象,这叫各向同性。
然而多晶体在其形成过程中,由于受到外界的力、热、电、磁等各种不同条件的影响,或在形成后受到不同的加工工艺的影响,多晶集合体中的各晶粒就会沿着某些方向排列,呈现出或多或少的统计不均匀分布,即出现在某些方向上聚集排列,因而在这些方向上取向几率增大的现象,这种现象叫做择优取向。
这种组织结构及规则聚集排列状态类似于天然纤维或织物的结构和纹理,故称之为织构。
织构测定在材料研究中有重要作用。
2 织构类型为了具体描述织构 (即多晶体的取向分布规律),常把择优取向的晶体学方向 (晶向) 和晶体学平面 (晶面) 跟多晶体宏观参考系相关连起来。
这种宏观参考系一般与多晶体外观相关连,譬如丝状材料一般采用轴向;板状材料多采用轧面及轧向。
多晶体在不同受力情况下,会出现不同类型的织构。
轴向拉拔或压缩的金属或多晶体中,往往以一个或几个结晶学方向平行或近似平行于轴向,这种织构称为丝织构或纤维织构。
理想的丝织构往往沿材料流变方向对称排列。
其织构常用与其平行的晶向指数<UVW>表示。
某些锻压、压缩多晶材料中,晶体往往以某一晶面法线平行于压缩力轴向,此类择优取向称为面织构,常以{HKL}表示。
轧制板材的晶体,既受拉力又受压力,因此除以某些晶体学方向平行轧向外,还以某些晶面平行于轧面,此类织构称为板织构,常以{HKL}<UVW>表示。
3 织构的表示方法择优取向是多晶体在空间中集聚的现象,肉眼难于准确判定其取向,为了直观地表示,必须把这种微观的空间集聚取向的位置、角度、密度分布与材料的宏观外观坐标系 (拉丝及纤维的轴向,轧板的轧向、横向、板面法向) 联系起来。
第七章多晶体织构的测定【教学内容】1.织构及其表示方法。
2.丝织构指数的测定。
3.正极图与反极图的获得与分析。
【重点掌握内容】1.极射赤面投影法。
2.丝织构指数的测定。
3.正极图与反极图的测定与分析。
【了解内容】织构的种类和表示方法。
【教学难点】极射赤面投影法。
【教学目标】1.了解利用X射线衍射分析方法测定多晶体织构的意义、原理和方法。
2.培养学生善于利用织构测定方法解决实际问题的能力。
【教学方法】以课堂教学为主,并通过一定的习题练习,使学生了解X射线衍射分析方法在多晶体形变的各种织构的测定方法。
多晶体材料在制备、合成及加工等工艺过程形成择优取向,即各晶粒的取向朝一个或几个特定方向偏聚的现像,这种组织状态称为织构。
如材料经拉拔、轧制、挤压、旋压等压力加工后,由于塑性变形中晶粒方位转动、变形而形成形变织构;退火后又产生不同冷加工状态的退火织构(或再结晶织构):铸造材料具有某些晶向垂直于模壁的组织特点,电镀、真空蒸镀、溅射等方法制备的薄膜材料也表现出特殊的择优取向。
不仅金属、在陶瓷、天然岩石、天然和人造纤维材料中都存在织构,所以说择优取向在多晶材料中几乎是无所不在的。
织构使多晶体材料的物理、力学、化学性能发生各向异性,这种性质有时是有害的,如冷轧钢板的择优取向使用它制成的冲压件出现“制耳”和厚度不均匀以致折皱的疵病;而有时又是有益的,如冷轧硅钢片经适当退火得到的“高斯织构”有利于减小磁损,织构还可以作为一些材料的强化方法加以利用。
因而测定织构并给它一定的指标是材料研究的一个重要方面,多处来X射线衍射是揭示材料织构特征的主要方法。
近年来背散射电子衍射(EBSD)法在结构测定上亦得到广泛应用。
本章介绍织构的分类以及其表达和测定方法。
因要涉及晶体空间方位关系的表示,需先介绍一种特殊的投影方法——极射赤面投影法。
第一节极射赤面投影法极射赤面投影法:为了在平面上表达三维晶体中晶面、晶向的方位以及它们之间的角度关系,目前最常用方法是极射赤面投影。
专利名称:一种平面内多晶织构的测量方法
专利类型:发明专利
发明人:熊旭明,江向峰,张永水,王延凯,桑洪波,贺昱旻申请号:CN201710170444.3
申请日:20170321
公开号:CN106908461A
公开日:
20170630
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明公开了一种平面内多晶织构的测量方法。
包括:采用X射线管发出X射线,所述X射线为线焦斑;使用Sollar狭缝限制X射线在线焦斑长度方向的发散,并使用发散狭缝控制所述X射线在垂直于线焦斑方向的发散;使呈线焦斑的X射线照射到待测产品上,并使用X射线探测器接收待测产品衍射的X射线;控制所述X射线管与所述X射线探测器对待测样品进行Phi扫描,并由X射线探测器记录接收到的待测产品衍射的X射线的强度,根据待测产品衍射的X射线的强度的变化得出待测产品的平面内多晶织构。
本发明的测量速度相比于现有技术有了很大的提高,测量值的波动范围也大幅度减少。
并保持了测量的精度。
同时,本发明具有低成本优势。
申请人:苏州新材料研究所有限公司,北京布莱格科技有限公司
地址:215000 江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物园C18栋
国籍:CN
代理机构:北京工信联合知识产权代理有限公司
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