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x射线的衍射实验报告X射线的衍射实验报告引言：X射线的衍射是一项重要的实验，它可以帮助我们了解物质的结构和性质。
本实验旨在通过X射线的衍射实验，探究X射线在晶体中的衍射现象，进一步了解晶体的结构和性质。
实验目的：1. 了解X射线的衍射现象；2. 掌握X射线衍射实验的操作方法；3. 理解晶体的结构和性质。
实验器材：1. X射线衍射仪；2. X射线源；3. 晶体样品；4. 探测器。
实验步骤：1. 将晶体样品固定在X射线衍射仪上；2. 调整X射线源的位置和角度，使其射线垂直照射到晶体样品上；3. 打开探测器，记录X射线的衍射图样；4. 根据衍射图样，计算晶格常数和晶体结构。
实验结果与分析：通过实验观察到的衍射图样，我们可以发现在不同角度下，晶体样品会出现不同的衍射斑点。
这些斑点的位置和强度可以帮助我们确定晶体的结构和晶格常数。
进一步分析衍射图样，我们可以发现晶体的衍射斑点呈现出一定的规律性。
根据布拉格方程，我们可以计算出晶格常数。
同时，通过比对已知晶体结构的数据库，我们可以推断出晶体的结构类型。
实验的重点在于观察和记录衍射图样。
通过仔细观察衍射斑点的位置和强度，我们可以推断出晶体的晶格常数和结构类型。
这对于研究物质的结构和性质具有重要意义。
实验的局限性：1. 实验中使用的晶体样品可能存在杂质，这可能会对衍射图样产生影响；2. 实验中的X射线源可能存在能量分布不均匀的问题，这可能会导致衍射图样的畸变；3. 实验中的探测器可能存在灵敏度不均匀的问题，这可能会导致衍射图样的误差。
实验的应用：X射线的衍射实验在材料科学、地质学、生物学等领域具有广泛的应用。
通过衍射实验，我们可以研究晶体的结构和性质，进一步了解物质的特性。
这对于材料的设计和开发具有重要意义。
结论：通过本次实验，我们成功地进行了X射线的衍射实验，并通过观察和分析衍射图样，计算出了晶格常数和推断出了晶体的结构类型。
这些结果对于研究物质的结构和性质具有重要意义。
实验名称：X射线实验一、实验目的：1.了解X射线的产生及有关晶体的基本知识。
2.掌握晶体中X射线衍射理论。
3.测量单晶NaCl、LiF的晶面距及晶格常数。
二、实验仪器：554—81型X射线衍射仪：NaCl单晶，面心立方体结构，表明：平行（100）三、实验原理：1.布拉格方程设一束波长为λ的单色X射线射到晶体上，入射X射线将被晶体中原子的电子散射，每一个原子构成散射波的波源，这些散射波是相干的，在某个方向上的衍射波就是从晶体中全部原子所发出的波在这个方向上的叠加。
只有当散射波之间的光程差等于零或波长的整数倍时，才在空间互相加强，否则将相互抵消。
研究X射线在晶体中衍射时，可把晶体看作是由某一晶面族所组成，X射线平行地入射到晶面族上，如图1所示。
先就一个晶面A看，根据惠更斯原理，衍射线就是原射线在该晶面上的反射线。
由于X射线的透射能力强，在研究它在晶面族中衍射时，不仅要考虑第一个晶面A的反射，而且要考虑来自相继的晶面B,V.....的反射，这些来自相继晶面的反射线之间有一定的光程差，因而发生干涉。
对晶面距为d的两个相邻晶面来说其反射线之间的光程差为2dsinθ(θ为掠射角)。
只有当2dsinθ=nλn=1,2,3 (1)得到满足时，各个晶面的反射线才互相加强，从而产生衍射线。
（1）式称为布拉格方程，它表明，当产生一定波长λ的X射线在晶面距为d的晶面族上，则只有某种X射线其波长满足（1）式才能产生衍射线。
至于衍射线的方向，无论上诉哪种情况，都是原射线在晶面上反射的方向。
通常说晶面反射X射线，应该按上诉含义来理解，这种反射称为选择反射。
2.晶体中X射线衍射的光路图本实验所使用的554-81型组合式衍射仪主要由以下几部分组成：X 射线定位测角器、传感器、Geiger-Muller计算机等。
X射线管发出谱线，经锆滤波片下Ka线（λKa=0.711A）。
在经准直器变平行的单色X射线。
晶体的角位置（θ）测角器测量，通过传感器使计数管和（靶）以2：1的角耦合旋转，X射线晶体，反射光射向Geiger-Muller计由此记录反射光子弹数率N（单位为将数据传输给计算机，就可得到晶体的θ-N关系）四、实验内容1.将待测晶体放置在靶台上。
X射线测试分析技术——实验报告实验原理：所有的物质，之所以存在差别，是因为物质的原子各类、原子排列方式和点阵参数不同，进而在进行衍射试验时衍射结果不同，呈现不同的衍射花样，并且多相物质的衍射花样只是各单相物质衍射花样的机械叠加，因此我们可以从某物质的衍射花样判断物质中的元素化学结合态。
在实验的过程中，只需要将试样的衍射花样同标准的衍射花样相对比，从中选出相同者就可以确定，但是由于标准的稍微花样不便于保存，因此将各种衍射花样的特征数字化，得到一张“卡片”，加以对比就方便得多了。
实验目的：1）：学习使用jade5.0；2）：掌握X射线分析方法；3）：分析XRD导致的实验误差；实验步骤：安装软件→PDF卡片导入→实验数据导入→数据处理（平滑处理）→实验结果分析定性分析：1）单相物质定性分析1.根据待测相的衍射数据，得出三强线的晶面间距值d1,d2,d3。
2.根据d1值（或d2、d3），在数值索引中检索适当d值，找出与d1d2d3值复合比较好的一些卡片。
3.把待测相的三强线的d值和I/I1值与卡片上的对应值相比较、淘汰一些不相符的卡片，最后获得与实验数据一一吻合的卡片，卡片上所示物质即为待测相。
2）复相物质定性分析当待分析样为多相混合物时，根据混合物的衍射花样为各相衍射花样的叠加，也可对物相逐一进行鉴定，但手续比较复杂。
具体过程为：1.用尝试的办法进行物相鉴定：先取三强线尝试，吻合则可定；不吻合则从谱中换一根（或二根）线再尝试，直至吻合。
2.对照卡片去掉已吻合的线条（即标定一相），剩余线条归一化后再尝试鉴定。
直至所有线条都标定完毕。
定量分析：内标法确定各项含量：选定mg为标样Kmg=2.88 Kmg2zn=11.27根据绝热法，如果一个相中存在N个相，其中X相的质量分数为：W X=I XiK A X∑I iK A iNi=AImg=9400 Img2zn=2100Wmg=（9400/2.88）/（9400/2.88+2100/11.27）=0.946 Wmg2zn=1-Wmg=0.54根据卡片计算点正常数:Mg为密排六方,计算a、c，（100）面d=2.7782（002）面d=2.6050dℎkl′=√43ℎ2+ℎk+k2a2+(lc)2带入计算得：a=3.208 c=5.210物相分析注意事项：1）要注意的是，计算机并不能自动消除式样花样或原始卡片带来的误差。
x射线实验报告X射线实验报告引言：X射线是一种高能电磁辐射，具有穿透力强、波长短等特点。
它在医学、材料科学等领域有着广泛的应用。
本次实验旨在通过探究X射线的特性以及其在材料表征方面的应用，加深对X射线的理解。
实验一：X射线的产生和特性在实验室中，我们使用了X射线发生器产生了X射线，并通过探测器进行了测量。
实验中，我们发现X射线具有穿透力强的特点，可以穿透一些物质并在背后形成阴影。
这一特性使得X射线在医学诊断中起到了重要的作用。
实验二：X射线在材料表征中的应用在这个实验中，我们使用了X射线衍射技术来研究材料的晶体结构。
通过将X射线照射到晶体上，我们观察到了衍射图样。
根据衍射图样的特征，我们可以推断出晶体的晶格常数和晶体结构。
这项技术在材料科学领域有着广泛的应用，可以帮助我们研究材料的性质和结构。
实验三：X射线在医学诊断中的应用X射线在医学诊断中有着广泛的应用。
通过照射患者的身体部位，X射线可以穿透软组织，形成影像。
医生可以通过观察这些影像来判断患者是否患有疾病或损伤。
然而，由于X射线的辐射对人体有一定的伤害，我们在使用X射线进行医学诊断时需要注意剂量的控制，以保护患者的安全。
实验四：X射线在材料检测中的应用除了用于研究晶体结构，X射线还可以用于材料的非破坏性检测。
通过照射材料，我们可以观察到材料内部的缺陷、裂纹等。
这对于工业生产中的质量控制非常重要。
通过检测材料的内部结构，我们可以及时发现问题并采取相应的措施，以确保产品的质量。
结论：通过本次实验，我们对X射线的产生和特性有了更深入的了解。
我们了解到X 射线在医学和材料科学领域的重要应用，以及在这些领域中需要注意的安全问题。
X射线技术的发展将进一步推动医学和材料科学的进步，为人类的健康和生活质量提供更好的保障。
参考文献：1. Smith, A. et al. (2018). X-ray diffraction analysis of crystal structures. Journal of Materials Science, 53(15), 11057-11064.2. Brown, L. et al. (2019). X-ray imaging in medical diagnosis. Radiology, 285(3), 897-912.3. Zhang, Y. et al. (2020). Non-destructive testing of materials using X-ray technology. Materials Science and Engineering: R: Reports, 140, 100543.。
x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的：本实验旨在通过X射线衍射技术对晶体结构进行分析，以了解晶体的结构和性质，并掌握X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验仪器与设备：1. X射线衍射仪，用于产生X射线，并测量样品对X射线的衍射情况。
2. 样品，需要进行分析的晶体样品。
3. 数据处理软件，用于处理和分析实验得到的数据。
实验步骤：1. 样品制备，取得晶体样品，进行必要的处理和制备。
2. 实验仪器准备，打开X射线衍射仪，调试仪器参数，确保仪器正常工作。
3. 进行X射线衍射，将样品放置在X射线衍射仪中，进行X射线衍射实验。
4. 数据处理与分析，使用数据处理软件对实验得到的数据进行处理和分析，得出样品的晶体结构信息。
实验结果与分析：通过本次实验，我们成功得到了样品的X射线衍射图谱，并进行了数据处理和分析。
根据X射线衍射图谱的特征峰值和衍射角度，我们确定了样品的晶体结构信息，包括晶格常数、晶胞结构等。
通过对实验数据的分析，我们得出了样品的晶体结构参数，并对样品的性质进行了初步了解。
实验结论：本次实验通过X射线衍射技术对样品的晶体结构进行了分析，得出了样品的晶体结构信息，并初步了解了样品的性质。
实验结果表明，X射线衍射技术是一种有效的手段，可用于分析晶体结构和性质。
通过本次实验，我们对X射线衍射技术有了更深入的了解，并掌握了X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验总结：本次实验对我们了解晶体结构分析技术具有重要意义，通过实际操作，我们深入掌握了X射线衍射技术的原理和方法。
同时，本次实验也为我们今后的科研工作奠定了基础，为我们进一步深入研究晶体结构和性质打下了良好的基础。
希望通过今后的努力，能够更深入地探索X射线衍射技术在晶体结构分析中的应用，为科学研究做出更大的贡献。
通过本次实验，我们不仅学习到了X射线衍射技术的基本原理和操作方法，还对晶体结构分析有了更深入的了解。
我们相信，通过不断的学习和实践，我们一定能够运用所学知识，取得更加丰硕的科研成果。
x射线实验报告X射线实验报告。
本实验旨在通过对X射线的研究和实验，探索其在物理学和医学领域的应用，以及对人类健康和科学研究的影响。
通过本次实验，我们希望能够更深入地了解X 射线的特性和作用，为相关领域的研究和应用提供更多的数据支持和实验依据。
实验一，X射线的发现和特性。
X射线最早由德国物理学家朗特根于1895年发现。
在实验中，我们使用了X 射线管和感光底片，通过调节管电压和电流的大小，观察了X射线在不同条件下的穿透能力和成像效果。
实验结果表明，X射线具有很强的穿透能力，能够透过多种物质，并在感光底片上形成清晰的影像。
实验二，X射线在医学影像中的应用。
X射线在医学影像中的应用是其最重要的应用之一。
通过本次实验，我们使用X射线设备对不同部位的人体进行了成像，观察了X射线在诊断骨折、肿瘤和其他疾病中的作用。
实验结果显示，X射线能够清晰地显示骨骼结构和软组织，为医生提供了重要的诊断依据。
实验三，X射线在材料分析中的应用。
除了在医学影像中的应用外，X射线还在材料分析领域有着重要的作用。
在本次实验中，我们利用X射线衍射技术对不同材料的晶体结构进行了分析，研究了X射线在材料表面和内部的透射和散射规律。
实验结果表明，X射线衍射技术可以准确地确定材料的晶体结构和晶面间距，为材料科学研究提供了重要的手段。
实验四，X射线对人体健康的影响。
尽管X射线在医学影像中有着重要的应用，但长期接触X射线也会对人体健康产生一定的影响。
在本次实验中，我们对X射线的辐射剂量和对人体的影响进行了测量和研究。
实验结果显示，高剂量的X射线辐射会对人体的细胞和基因造成损伤，因此在使用X射线设备时需要严格控制辐射剂量，以保护医护人员和患者的健康。
总结：通过本次实验，我们对X射线的特性、应用和影响有了更深入的了解。
X射线作为一种重要的物理现象和技术手段，对医学、材料科学和科学研究都具有重要的意义。
然而，我们也要注意控制X射线的辐射剂量，以确保其安全应用。
实验报告: X 射线衍射一、实验原理X 射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法,在众多领域的研究和生产中被广泛应用。
X 射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当某物质(晶体或非晶体) 进行衍射分析时,该物质被X 射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。
X 射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此,X 射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
X 射线与物质的相互作用X 射线与物质的相互作用分为两个方面, 一是被原子吸收, 产生光电效应；二是被电子散射。
X 射线衍射中利用的就是被电子散射的X 射线。
X 射线散射: 当光子和原子上束缚较紧的电子相互作用时, 光子的行进方向受到影响而发生改变, 但它的能量并不损失, 故散射线的波长和原来的一样, 这种散射波之间可以相互干涉, 引起衍射效应, 这是相干散射, 是取得衍射数据的基础。
X 射线的相干散射是XRD 技术应用的基础, 接下来研究一下X 射线衍射的条件, 找到其与物质本身结构之间的关系。
X 射线衍射一束平行的X 光照到两个散射中心O 、M 上, 见下图O 与M 之间的距离远小于它们到观测点的距离, 从而可以认为, 观测到的是两束平行散射线的干涉。
下面考查散射角为2θ时散射线的干涉情况。
0ˆs 和ˆs分别表示入射线和散射线方向上的单位矢量。
两条散射线之间的光程差为mo on δ=+即00ˆˆˆˆ()sr s r s s r δ=-⋅+⋅=-⋅ 其中为两个散射中心之间的位置矢量, 与相应的相位差应为 0ˆˆ22s s r πφδπλλ-=⋅=⋅散射线之间的相位差φ是决定散射线干涉结果的关键量。
因此有必要再进一步讨论。
定义 0ˆˆss s λ-= 为散射矢量如右图所示, 散射矢量与散射角的角平分线垂直, 它的大小为由此可见, 散射矢量的大小只与散射角和所用波长有关, 而与入射线和散射线的绝对方向无关。
x射线衍射仪原理与结构实验报告X 射线衍射仪原理与结构实验报告一、实验目的本次实验的目的是深入了解 X 射线衍射仪的工作原理和结构组成，掌握其操作方法，并通过实际实验数据分析物质的晶体结构。
二、实验原理X 射线衍射是一种基于 X 射线与晶体相互作用产生衍射现象的分析技术。
当 X 射线照射到晶体时，由于晶体中原子排列的周期性，会使得 X 射线发生散射。
这些散射波相互干涉，在某些特定的方向上会产生加强的衍射峰。
布拉格定律是解释 X 射线衍射现象的重要定律，其表达式为：＄2d\sin\theta ＝ n\lambda$，其中$d$为晶面间距，＄＼theta$为入射 X 射线与晶面的夹角，＄n$为整数，称为衍射级数，＄＼lambda$为 X 射线的波长。
通过测量衍射角$＼theta$和 X 射线的波长$＼lambda$，可以计算出晶面间距$d$，从而推断出晶体的结构。
三、实验仪器本次实验使用的是_____型 X 射线衍射仪，主要由以下几个部分组成：1、 X 射线源X 射线源通常采用 X 光管，通过给灯丝加热产生热电子，在高压电场的作用下加速撞击阳极靶材，产生 X 射线。
2、测角仪测角仪用于精确测量衍射角$＼theta$，它由样品台和探测器臂组成，可以使样品和探测器在一定的角度范围内转动。
3、探测器探测器用于检测衍射 X 射线的强度，常见的探测器有正比计数器、闪烁计数器和固体探测器等。
4、控制与数据处理系统控制与数据处理系统用于控制仪器的运行参数、采集衍射数据，并对数据进行处理和分析。
四、实验步骤1、样品制备将待测样品研磨成粉末状，然后均匀地填充到样品槽中，确保样品表面平整。
2、仪器调试打开 X 射线衍射仪，设置 X 射线管的工作电压和电流，以及测角仪的扫描范围、步长和扫描速度等参数。
3、样品测量将制备好的样品放入样品台，启动测量程序，仪器会自动按照设定的参数进行扫描，并记录衍射数据。
4、数据处理测量完成后，使用配套的数据处理软件对衍射数据进行处理，包括扣除背景、平滑曲线、寻峰和指标化等操作，以获得晶体结构的相关信息。
X 光系列实验报告本次共做了调校测角器的零点，测定LiF 晶体的晶面间距，测定X 光在铝中的衰减系数，并验证朗伯定律和普朗场常数h 的测定。
通过做一系列的实验，从而对X 射线的产生、特点、原理和应用有较深刻的认识，提高自己的实验能力并提高独立从事研究工作的能力。
本次分别写了X 光在铝中的衰减系数，并验证朗伯定律和普朗克常数h 的测定的实验报告。
实验一、测定X 光在铝中的衰减系数，并验证朗伯定律 一、实验的目的和意义通过本实验了解X 射线的基础知识，学习X 射线仪的一般操作；掌握X 射线的衰减与吸收体材料和厚度的关系，训练实验技能和实验素养。
二、实验原理和设计思想X 射线穿过物质之后，强度会衰减，这是因为X 射线同物质相互作用时经历各种复杂的物理、化学过程，从而引起各种效应转化了入射线的部分能量。
X 射线穿过物质时要减弱，减弱的大小取决于材料的厚度和密度。
在同一介质里不同波长的射线减弱的程度不同。
满足： 0e dI I μ-=⋅ 本实验研究X 射线衰减于吸收体材料和厚度的关系。
假设入射线的强度为R0，通过厚度dx 的吸收体后 ，由于在吸收体内受到“毁灭性”的相互作用，强度必然会减少，减少量dR 显然正比于吸收体的厚度dx ，也正比于束流的强度R ，若定义μ为X 射线通过单位厚度时被吸收的比率，则有-dR=μR dx 考虑边界条件并进行积分，则得： R=R0e^(-μx） 透射率T=R/R0,则得：T=e^(-μx)或lnT=-μx 式中μ称为线衰减系数，x 为试样厚度。
我们知道，衰减至少应被视为物质对入射线的散射和吸收的结果，系数μ应该是这两部分作用之和。
但由于因散射而引起的衰减远小于因吸收而引起的衰减，故通常直接称μ为线吸收系数，而忽略散射的部分。
三、实验内容与步骤设置高压U=35KV, 设置电流I=0.02mA,设置步长Δβ=0.1o 设置Δt=3s,下限角为6o，上限角为70o。
将铝板底板端部插入原来靶台的支架，置传感器于0位，按下TARGET 键，然后再按SCAN 。
大学物理实验报告课程名称：近代物理实验实验名称：X射线系列实验学院：专业班级：学生：学号：实验地点：实验时间：实验一：X射线在NaCl单晶中的衍射一、实验目的（1）了解X射线的产生、特点和应用。
（2）了解X射线管产生连续X射线谱和特征谱的基本原理。
（3）研究X射线在NACL单晶体上的衍射，并通过测量X射线特征谱线的衍射角测定X射线的波长。
二、实验原理1.X射线的产生和X射线的光谱实验常使用X光管来产生X射线。
在抽成真空的X光管，当由热阴极发出的电子经高压电场加速后，高速运动的电子轰击由金属做成的阳极靶时，靶就发射X射线。
发射出的X射线分为两类：（1）如果被靶阻挡的电子的能量不越过一定限度时，发射的是连续光谱的辐射。
这种辐射叫做轫致辐射。
（2）当电子的能量超过一定的限度时，可以发射一种不连续的、只有几条特殊的谱线组成的线状光谱，这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射。
连续光谱的性质和靶材料无关，而特征光谱和靶材料有关，不同的材料有不同的特征光谱，这就是为什么称之为“特征”的原因。
（1）连续光谱。
连续光谱又称为“白色”X射线，包含了从短波限λm开始的全部波长，其强度随波长变化连续地改变。
从短波限开始随着波长的增加强度迅速达到一个极大值，之后逐渐减弱，趋向于零（图1-1）。
连续光谱的短波限λm 只决定于X射线管的工作高压。
图1-1 X射线管产生的X射线的波长谱（2）特征光谱。
阴极射线的电子流轰击到靶面，如果能量足够高，靶一些原子的层电子会被轰出，使原子处于能级较高的激发态。
图2-1-2b表示的是原子的基态和K,L,M,N等激发态的能级图，K层电子被轰出称为K激发态，L层电子被轰出称为L激发态，依次类推。
原子的激发态是不稳定的，层轨道上的空位将被离核更远的轨道上的电子所补充，从而使原子能级降低，多余的能量便以光量子的形式辐射出来。
图1-2（a）描述了上述激发机理。
处于K激发态的原子，当不同外层（L,M,N,层）的电子向K层跃迁时放出的能量各不相同，产生的一系列辐射统称为K系辐射。
同样，L层是电子被轰出后，原子处于L激发态，所产生的一系列辐射统称为L系辐射，依次类推。
基于上述机制产生的X射线，其波长只与原子处于不同能级时发生电子跃迁的能级差有关，而原子的能级是由原子结构决定的。
图1-2元素特征X射线的激发机理2.X 射线在晶体中的衍射光波经过狭缝将产生衍射现象。
狭缝的大小必须与光波的波长同数量级或更小。
对X 射线，由于它的波长在0.2nm 的数量级，要造出相应大小的狭缝观察X 射线的衍射，就相当困难。
·劳厄首先建议用晶体这个天然的光栅来研究X 射线的衍射，因为晶体的晶格正好与X 射线的波长属于同数量级。
图1-3显示的是NaCl 晶体中氯离子与钠离子的排列结构。
下面讨论X 射线打在这样的晶格上所产生的结果。
由图1-4（a ）可知，当入社X 射线与晶面相交角时，假定晶面就是镜面（即布拉格面，入射角与出射角相等），那么容易看出，图中两条射线1和2的光程差是，即。
当它为波长的整数倍时（假定入射光为单色的，只有一种波长）布拉格（Bragg ）公式在方向射出的X 射线即得到衍射加强。
图1-3NaCl 晶体中氯原子与钠原子的排列结构（a）（b）图1-4 布拉格公式的推导根据布拉格公式，既可以利用已知的晶体（已知）通过测角来研究未知X射线的波长；也可以利用已知X射线（已知）来测量未知晶体的晶面间距。
三、实验装置本实验使用X射线实验仪如图1-5所示。
该装置分为三个工作区：中间是X光管区，是产生X射线的地方；右边是实验区；左边是监控区。
X光管的结构如图1—6所示。
它是一个抽成高真空的石英管，其下面（1）是接地的电子发射极，通电加热后可发射电子；上面（2）是钼靶，工作时加以几万伏的高压。
电子在高压作用下轰击钼原子而产生X射线，钼靶受电子轰击的面呈斜面，以利于X射线向水平方向射出。
（3）是铜块，（4）是螺旋状热沉，用以散热。
（5）是管脚。
图1-5 X射线实验仪右边的实验区可安排各种实验。
A1是X光的出口。
A2是安放晶体样品的靶台。
A3是装有G—M计数管的传感器，它用来探测X光的强度。
A2和A3都可以转动，并可通过测角器分别测出它们图1-6 X光管的转角。
左边的监控区包括电源和各种控制装置。
B1是液晶显示区。
B2是个大转盘，各参数都由它来调节和设置。
B3有五个设置按键，由它确定B2所调节和设置的对象。
B4有扫描模式选择按键和一个归零按键。
SENSOR—传感器扫描模式；COUPLED—耦合扫描模式，按下此键时，传感器的转角自动保持为靶台转角的2倍（如图1—7）B5有五个操作键，它们是：RESET；REPLAY；SCAN（ON/OFF）；是声脉冲开关；HV（ON/OFF）键是X光管上的高压开关。
图1-7 COUPLED模式下靶台和传感器的角位置四、实验容钼原子的X特征谱线（1）将NaCl放置在靶台上。
操作时，必须戴一次性手套，首先将锁定杆逆时针转动，靶台锁定解除，把NaCL样品（平板）轻轻放在靶台上，向前推到底后将靶台轻轻向上抬起，确保样品被支架上的凸楞压住；最后顺时针轻轻转动锁定杆，使靶台锁定。
（2）设置工作参数。
高压，发射电流，，=0.1分别按COUPLED和limits键设置靶的下限为2.5，上限为25。
启动管高压HV （ON/OFF），按SCAN启动测量。
（3）记录实验结果。
测量结束后，调出程序中的setting对话框（F5），输入NaCl的值（），此时图的横坐标由掠射角自动转变为波长（pm）。
记录各级衍射峰的中心值（（），（）），并求出其平均值。
五、实验数据及数据处理（1）X射线在NaCl晶体中的衍射2.5 7.8 6.3 312.7 10.1 99.5 13.9 57 17.7 36.5 21.5 24.5 2.6 12.7 6.4 467.7 10.2 87.8 14 59.8 17.8 29.7 21.6 19.2 2.7 9.7 6.5 671.8 10.3 89.2 14.1 58.2 17.9 32.3 21.7 21.8 2.8 12.5 6.6 630.8 10.4 85.3 14.2 54.2 18 28.5 21.8 20.82.9 10.8 6.7 347.7 10.5 84.2 14.3 59.7 18.1 29.7 21.9 25.53 12.5 6.8 280.2 10.6 85.5 14.4 59 18.2 28 22 26 3.1 9.8 6.9 266.2 10.7 78 14.5 76.7 18.3 32.7 22.1 36.7 3.2 7.8 7 268.3 10.8 72.8 14.6 241.5 18.4 26.2 22.2 85.2 3.3 12.5 7.1 301.8 10.9 72.8 14.7 378.3 18.5 33.2 22.3 104.8 3.4 11.2 7.2 800.7 11 71.2 14.8 300.5 18.6 27.3 22.4 74.5 3.5 11.8 7.3 1483.2 11.1 69.3 14.9 112.7 18.7 27.2 22.5 49 3.6 11.2 7.4 1437.8 11.2 68 15 49 18.8 29.5 22.6 23.2 3.7 14.8 7.5 466.2 11.3 66.2 15.1 42.7 18.9 26 22.7 20.5 3.8 31 7.6 221.7 11.4 72 15.2 46.5 19 28.3 22.8 193.9 89.2 7.7 199.7 11.5 68.3 15.3 49.3 19.1 28.3 22.9 19.54 162.7 7.8 190.7 11.6 61.5 15.4 50.7 19.2 27.2 23 19.2 4.1 228.8 7.9 194 11.7 58.8 15.5 44 19.3 32.2 23.1 20.7 4.2 271.5 8 182.8 11.8 61.3 15.6 46.5 19.4 31.2 23.2 18 4.3 321.3 8.1 176.7 11.9 57.3 15.7 40 19.5 28.5 23.3 18.7 4.4 342.3 8.2 177.5 12 53.2 15.8 40 19.6 37.2 23.4 17.2 4.5 355.2 8.3 175.5 12.1 54.5 15.9 43.3 19.7 49.3 23.5 16 4.6 380.3 8.4 160.7 12.2 54.3 16 49 19.8 51.5 23.6 15.3 4.7 395.5 8.5 157.7 12.3 62.2 16.1 41.8 19.9 31 23.7 15.7 4.8 406.5 8.6 152.2 12.4 59.2 16.2 40.8 20 25.5 23.8 16.84.9 418.3 8.7 156.8 12.5 51.7 16.3 38.8 20.1 23.5 23.9 16.55 395.3 8.8 147.8 12.6 62 16.4 38.2 20.2 22.3 24 15 5.1 408.3 8.9 140.5 12.7 68.8 16.5 39 20.3 22.8 24.1 15 5.2 407.2 9 132.8 12.8 84 16.6 37.5 20.4 20.7 24.2 16.7 5.3 391.5 9.1 129.8 12.9 90.5 16.7 37.3 20.5 19.7 24.3 16.8 5.4 378.7 9.2 124.2 13 144.2 16.8 37.8 20.6 25.7 24.4 18.2 5.5 379.2 9.3 117.3 13.1 140.5 16.9 34.7 20.7 18.8 24.5 15.7 5.6 371.8 9.4 117 13.2 86.8 17 37.8 20.8 24.2 24.6 14.7 5.7 363.8 9.5 109.7 13.3 62 17.1 36.5 20.9 22.5 24.7 16.3 5.8 345 9.6 111.5 13.4 62.2 17.2 33.3 21 23.2 24.8 16.75.9 346.7 9.7 97.2 13.5 58.3 17.3 33.5 21.1 20.7 24.9 126 316.3 9.8 100.3 13.6 57.8 17.4 33.7 21.2 21.2 25 17.7 6.1 309.2 9.9 97.7 13.7 54.2 17.5 31.3 21.3 21.26.2 306.7 10 95 13.8 58.3 17.6 31.2 21.4 21X射线在NaCl晶体的布拉格衍射示意图根据布拉格（Bragg）公式（其中）级数n掠射角波长1 α7.3β 6.563.8489 2 α14.7β13.063.4384 3 α22.3β19.863.6850 得：实验二：X射线的康普顿效应一、实验目的（1）通过X-射线在NaCl晶体上的第一级衍射认识钼阳极射线管的能谱，了解Edge absorption。
