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ZnO基稀磁半导体研究的开题报告一、选题背景随着信息技术的发展和应用范围的扩大，磁性材料在计算机、自动控制、通信和生物医学等领域中得到了广泛的应用，从而引发了磁性材料研究的热潮。
同时，在半导体材料领域，ZnO作为一种广泛使用的半导体材料，其性能也得到了极大的关注。
因此，研究ZnO基稀磁半导体的性质和应用具有重要的理论和应用价值。
二、研究目的和意义ZnO基稀磁半导体是指在ZnO材料中掺杂稀土离子或过渡金属离子后，出现磁性现象的半导体材料，具有具有磁性、电学、光学等多种复合性质。
由于目前ZnO基稀磁半导体材料的研究还处于初级阶段，因此本研究旨在探索ZnO基稀磁半导体的性质和应用，并进一步探讨其潜在的应用前景。
三、研究内容和方法1. 研究现有ZnO基稀磁半导体材料的制备方法和表征手段；2. 探究掺杂稀土离子、过渡金属离子的不同类型和量对磁性和电性能的影响；3. 研究ZnO基稀磁半导体的光学性质及其对磁性和电性能的影响；4. 基于现有的实验结果，探究ZnO基稀磁半导体的潜在应用和前景。
本研究主要采用分析实验方法和理论计算方法进行。
具体实验方法包括化学合成、物理制备、表征测试等实验手段。
理论计算方法主要采用第一性原理计算、密度泛函理论、Monte Carlo模拟等方法，对材料的结构、性质进行理论计算和模拟。
四、预期成果本研究预期可以探究出一种新型的ZnO基稀磁半导体材料及其性质，为材料科学领域探索提供新的思路和方法。
同时，基于实验和理论计算结果，将预测该材料在磁性、电学、光学等方面的性质和其潜在的应用前景。
ZnO外延层结构与性质的演变与机制的开题报告一、研究背景与意义锌氧（ZnO）是一种广泛应用于光电领域的半导体材料，具有宽带隙、高电子迁移率以及良好的光学和电学性质等优点。
在实际应用中，ZnO通常采用外延法的方法生长量子结构化、掺杂等复杂结构，进而发挥出其优良的性质。
而外延法主要分为分子束外延法（MBE）和金属有机化学气相沉积法（MOCVD）等方法，二者在结构控制和性质优化方面都具有优缺点，但主要研究的是MBE法。
在ZnO外延中，其结构与性质的演变有着极为重要的意义，对于ZnO的应用性能与基础研究等领域都有着重要的影响，而相应的演变机理也需要得到深入的探究。
同时，对于外延方法的探究，也是有着实践意义的。
因此，本文旨在研究ZnO外延层结构与性质的演变与机制，探究其在实际应用和基础研究等领域中的重要性，并为其后续研究奠定基础。
二、研究内容和方法1、研究内容本文主要研究ZnO外延层结构与性质的演变与机制，具体包括以下内容：（1）ZnO外延层结构与性质的演变过程及其规律；（2）ZnO外延层结构与其性能之间的关系及影响因素；（3）影响ZnO外延层结构演变与性能的因素及其机理。
2、研究方法（1）实验方法：采用MBE法生长ZnO外延层，并通过XRD、PL等技术手段分析其结构和性能的变化；（2）理论模拟方法：采用第一性原理和分子动力学模拟等方法研究ZnO外延层裂变、退火和生长过程中的相关规律和机制。
三、研究进展和预期目标对于ZnO外延层结构与性质的演变与机制，目前已有少量研究成果，但尚未形成系统性和深入的了解。
因此，本文旨在从实验和理论两个方面深入探究ZnO外延层裂变、退火和生长等过程中的相关机制和规律，推测对其性质的影响因素，并为其后续研究提供参考。
预期目标：（1）通过实验方法，探究外延层裂变、退火和生长过程中的结构演变规律，建立其时间和工艺参数与结构和性质之间的联系；（2）结合第一性原理和分子动力学模拟等技术手段，探究ZnO外延层结构演变与性能之间的关系及影响因素，预测其未来的性能潜力；（3）揭示影响ZnO外延层结构演变与性能的因素及其机理，为其后续研究提供理论基础和深入思考。
ZnO基稀磁半导体的光学和磁学性质的开题报告
一、研究背景及意义
随着人类对磁性材料的研究不断深入，发现了许多具有独特光学和电学特性的材料，如铁电材料、压电材料、磁性材料等。
其中，稀磁半导体材料是近年来研究的热点之一。
这类材料在光电工程、电子学等领域具有广泛的应用前景，例如在原子频标、光学传感、磁存储和量子计算等方面都有潜在的应用。
二、研究内容和方法
本文主要研究ZnO基稀磁半导体的光学和磁学性质。
具体研究内容如下：
1.了解ZnO基稀磁半导体材料的结构和性质；
2.研究ZnO基稀磁半导体的光学性质，如吸收谱、荧光光谱等；
3.研究ZnO基稀磁半导体的磁学性质，如磁滞曲线、磁性测量等；
4.比较不同条件下ZnO基稀磁半导体的光学和磁学性质的变化，探究其变化规律。
本研究将主要采用实验和理论计算相结合的方法，通过X射线衍射、电子显微镜和光谱仪等仪器对样品进行测量和分析。
三、预期成果
通过对ZnO基稀磁半导体的光学和磁学性质的研究，可以对其物理机制和特性进行深入理解。
同时，对于材料科学领域也具有重要的理论和应用价值。
四、研究难点
1.稀磁半导体存在较弱的磁性，如何准确测量其磁学性质是个难点；
2.稀磁半导体的光学性质与其结构密切相关，如何对其结构进行准确控制也是一个挑战。
五、研究意义和应用前景
ZnO基稀磁半导体具有广泛的应用前景，例如在电子、光电子、磁性存储和量子计算等领域应用。
因此，对其光学和磁学性质的深入研究将为其进一步应用提供理论基础和实验支撑。
ZnO基半导体电致发光材料与器件的理论研究的开题报告摘要：本文基于前期实验结果，对ZnO基半导体电致发光材料及器件进行理论研究。
首先对ZnO材料的基本结构、电子能带结构进行分析，并探讨了其发光机理。
其次，我们通过数值计算模拟了ZnO材料在不同电场下的电致发光特性，并分析了其影响因素；随后，我们进一步针对器件的特性展开研究，探讨了外部电压对ZnO基器件发光强度的影响，以及发光器件在不同光照强度下的性能表现。
最后，我们提出了对于该材料及器件进一步研究的思考。
总体来说，本文通过建立理论模型和数值计算，对ZnO基半导体电致发光材料及器件的关键性能进行了研究，有望为该领域的深入发展提供理论指导。
关键词：ZnO；半导体；电致发光；数值模拟一、研究背景半导体电致发光材料及器件广泛应用于光电子行业，其应用领域涵盖照明、显示、生物医学等多个方向。
ZnO作为一种重要的半导体材料，因其高的生物兼容性、热稳定性及可塑性，受到了广泛关注。
近年来，研究人员对于ZnO基半导体电致发光材料及器件的研究逐渐增多，但仍存在一些理论问题尚需深入探究。
二、相关理论（1）ZnO材料的基本结构及电子能带结构ZnO是一种六角晶系的半导体材料，存在两个能带：价带和导带。
其中，价带中有三个重要的能级：O 2p能带、Zn 3d能带和Zn 4s能带；导带中则有一个重要的Zn 4s能级。
ZnO的导带带隙为3.37eV，价带带隙为7.8eV。
（2）ZnO材料的发光机理当ZnO材料处于电场作用下时，载流子会被电场加速并进入导带中，与导带上的空穴结合产生激子，激子会随后辐射出光子，从而形成电致发光的现象。
ZnO发光分为紫外、蓝光、绿光等多个波长范围，其中蓝光发光最为明显。
三、研究内容（1）对ZnO材料在不同电场下的电致发光特性进行数值计算，并对其影响因素进行分析。
（2）针对ZnO基电致发光器件，探讨了外部电压对器件发光强度的影响，以及器件在不同光照强度下的性能表现。
ZnO基稀磁半导体的电子结构和磁性研究的开题报告一、研究背景和意义ZnO是一种重要的半导体材料，在光电子学和器件制造领域有着广泛的应用。
然而，传统的ZnO材料是非磁性的，而且其磁性能与其它稀磁半导体材料相比较差。
因此，寻找一种具有磁性的ZnO材料，对于提高其在磁性材料和磁存储器等方面的应用具有重要的意义。
二、研究目的本研究通过密度泛函理论方法，探究ZnO基稀磁半导体的电子结构和磁性质，并进一步分析其在磁性材料和磁存储器等领域的应用前景。
三、研究内容1. 探究ZnO基稀磁半导体的电子结构和磁性质的基本规律；2. 分析ZnO基稀磁半导体的性质与晶体结构、晶格缺陷、掺杂和氧空位等因素的关系；3. 模拟和计算不同条件下的ZnO基稀磁半导体的电子结构和磁性质，并对模拟结果进行分析和评价；4. 探究ZnO基稀磁半导体在磁性材料和磁存储器等领域的应用前景。
四、研究方法本研究主要采用密度泛函理论方法，利用第一性原理数值计算软件VASP，探究ZnO基稀磁半导体的电子结构和磁性质，并分析其在磁性材料和磁存储器等领域的应用前景。
五、研究进度安排本研究分两年完成，具体进度如下：第一年：1. 学习和掌握密度泛函理论和VASP计算软件；2. 收集和整理ZnO基稀磁半导体相关文献资料，对其进行深入分析；3. 开展基于VASP软件的ZnO基稀磁半导体的电子结构和磁性质的计算模拟，并对其进行初步分析。
第二年：1. 深入分析和评价第一年计算模拟的结果；2. 根据计算结果，进一步探究ZnO基稀磁半导体的电子结构和磁性质的基本规律；3. 探究ZnO基稀磁半导体在磁性材料和磁存储器等领域的应用前景，并写出论文并发表。
ZnO介电性能的研究的开题报告一、选题的依据与意义随着科技的不断发展，材料科学作为一个重要的学科逐渐得到人们的重视。
介电材料是一类十分重要的材料，在信息技术、通信技术、电力技术、医疗技术等领域有着广泛的应用。
ZnO作为一种重要的半导体材料，具有许多优良的物理和化学性质，因此，研究其介电性能不仅对了解其在各个领域的应用具有重要意义，而且也能为材料科学研究提供新的思路和方法。
为此，本研究将对ZnO的介电性能进行研究，以期为该材料的应用和研究提供有益的参考。
二、研究的内容与方法1. 研究内容本研究将主要从以下三个方面对ZnO的介电性能进行研究:（1）介电常数介电常数是材料介电性能的重要指标之一，本研究将通过测量ZnO的介电常数来了解其介电性能。
（2）介电损耗介电损耗是指介电材料在交变电场下引起的损耗，是研究材料介电性能另一个重要指标。
本研究将通过测量ZnO的介电损耗来完善其介电性能研究。
（3）极化率极化率是反映材料电极化能力的物理量，也是研究材料介电性能的重要指标之一。
本研究将综合测量ZnO的极化率，并对其进行比较和分析。
2. 研究方法为了研究ZnO的介电性能，本研究将采用以下方法：（1）X射线衍射通过X射线衍射方法分析ZnO的晶体结构，为后续的介电性能测量做铺垫。
（2）交流阻抗分析法采用交流阻抗分析法测量ZnO的介电常数和介电损耗，并研究其与频率的关系。
（3）霍尔效应分析法采用霍尔效应分析法测量ZoO的极化率，并对其不同参数进行比较和分析。
三、预期结果与意义通过对ZnO介电性能的研究，可以得到如下预期结果：（1）确定ZnO的介电常数、介电损耗和极化率；（2）研究ZnO的介电性能与其微结构、化学成分等因素之间的关系；（3）为ZnO的应用和研究提供重要的参考和数据支持。
此外，本研究的意义还在于：为进一步研究与应用介电材料提供新的思路和方法；提高对介电材料的认识和理解，促进材料科学的发展。
ZnO低维纳米材料的制备研究的开题报告一、研究背景和意义近年来，具有独特光学、电学、磁学等性质的低维纳米材料备受研究者重视。
ZnO是一种重要的半导体材料，其低维纳米材料具有许多独特的性质和应用前景。
比如，ZnO纳米线可以作为柔性电子器件和传感器的基底材料，ZnO纳米带可应用于高性能光伏电池、激光器、发光器件等领域。
因此，低维纳米结构的ZnO材料引起了广泛的研究兴趣。
二、研究内容和目标本研究旨在通过化学合成法制备出具有不同结构形态的ZnO低维纳米材料，并进行其结构、形貌、光学和电学性质的表征和研究。
具体目标如下：1. 制备具有不同结构形态的ZnO低维纳米材料，如纳米线、纳米带、纳米棒等。
2. 利用X射线衍射、透射电子显微镜等分析方法对制备的低维纳米材料进行结构和形貌表征，并探究其生长机制。
3. 对不同结构形态的ZnO低维纳米材料进行光学和电学性质表征，如光吸收、荧光发射、暗电导等，了解其基本特性及应用前景。
三、研究方法和步骤本研究将采用溶剂热合成、气相沉积、水热法等多种化学合成方法制备不同结构形态的ZnO低维纳米材料。
针对不同合成方法所得材料的特点，通过X射线衍射、透射电子显微镜等技术进行结构和形貌表征，并初步探究其生长机制。
同时，利用光学和电学测试仪器对材料进行光学和电学性质表征，并分析不同结构形态低维纳米材料的基本特性及应用前景。
四、预期结果本研究预期将制备出各种不同结构形态的ZnO低维纳米材料，并对其进行全面的结构和性质表征。
同时，将深入探究其生长机制和特殊性质，为进一步开发其应用提供理论基础和实验依据。
五、研究意义本研究对于深入了解ZnO低维纳米材料的结构、形貌、光学和电学性质有重要意义，将为该领域的研究提供新的思路和方法。
同时，通过本研究，可以进一步探究ZnO低维纳米材料在柔性电子器件、光电器件、能源转换等领域的应用前景，促进其在实际生产中的应用。
ZnO基稀磁半导体磁性机理研究的开题报告一、研究背景稀磁半导体是指具有磁性和半导体特性的材料，与传统的半导体和磁性材料都有所不同。
本研究选取的稀磁半导体为ZnO基稀磁半导体，其具有优良的电学和磁学性质，具有广泛的应用前景。
目前，关于ZnO基稀磁半导体的磁性机理尚未完全阐明，因此有必要对其磁性机理进行深入研究。
二、研究内容本研究将着眼于以下内容：1.制备不同杂质掺杂的ZnO基稀磁半导体材料，并对其进行表征与测试。
2.应用第一性原理计算方法，对其磁性机理进行理论分析。
3.通过实验数据和计算结果进行对比，研究其磁性机理和电学特性之间的联系。
4.探究实验和计算结果的不一致性，并尝试解释其中的物理机制。
三、研究意义1.深入理解ZnO基稀磁半导体的磁性机理，为其应用研究提供理论基础。
2.针对ZnO基稀磁半导体的缺陷磁性问题，提供新的解决方案和思路。
3.扩大稀磁半导体的应用领域，提高高科技材料的实验制备水平。
四、研究方法本研究采用杂质掺杂法制备ZnO基稀磁半导体材料。
通过扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、X射线衍射（XRD）、能量色散谱（EDS）等表征方法对材料进行测试和分析。
基于第一性原理计算方法，应用VASP程序包对材料进行电子结构、磁性和磁各向异性等方面的计算和分析。
通过实验数据和计算结果进行对比，寻找其中的规律和规律的物理解释。
五、预期成果1.成功制备出ZnO基稀磁半导体材料，并进行多方位的表征和测试。
2.探究其磁性机理，并对缺陷磁性作出解释。
3.提出可靠的磁性机理模型，并构建原子级别的磁结构图。
4.发表高水平的学术论文。
六、研究计划第一年：1.研究文献调研和预研，对ZnO基稀磁半导体的制备方法和磁性机理进行研究。
2.准备样品并进行表征测试，探究其电学和磁学性质。
第二年：1.应用第一性原理计算方法，对ZnO基稀磁半导体的电子结构和磁性进行模拟计算。
2.分析计算结果，预测其电学和磁学特性。
宽带隙半导体SiC、ZnO的同步辐射光电子能谱研究的开题报告题目：宽带隙半导体SiC、ZnO的同步辐射光电子能谱研究一、研究背景随着现代半导体技术的发展与普及，宽带隙半导体作为一种新型材料被广泛研究，其中SiC与ZnO是最具代表性的两种宽带隙半导体。
宽带隙半导体的主要应用包括高温与高功率电子器件、紫外线发射器件、探测器领域等。
为了深入了解宽带隙半导体材料的电子结构及其物理性质，采用同步辐射光电子能谱技术进行表征具有重要意义。
二、研究目的本研究旨在通过同步辐射光电子能谱技术对宽带隙半导体SiC、ZnO 进行表征，探究其电子结构、能级分布、化学键性质等方面的信息，为进一步研究这两种材料在电子器件、光电器件及光电催化等领域的应用提供科学依据。
三、研究内容1. 制备SiC与ZnO单晶样品并表征其电学性能。
2. 建立同步辐射光电子能谱测试系统并对样品进行测试。
3. 利用软X射线，以不同的光子能量进行测试，研究SiC、ZnO材料的电子结构、原子价态、化学键性质等方面信息。
4. 对实验结果进行分析并提出结论。
四、研究意义本研究通过同步辐射光电子能谱技术对宽带隙半导体SiC、ZnO进行深入表征，为研究这两种材料的电学性质、光学性质以及光电器件等领域的应用提供了科学依据。
同时本研究也有助于完善现有宽带隙半导体理论，为开展进一步研究提供重要信息。
五、研究方法1. SiC、ZnO单晶样品的制备及电学性能的表征。
2. 建立同步辐射光电子能谱测试系统，并进行样品测试。
3. 数据处理：对测试得到的能谱数据进行处理和解析，分析SiC和ZnO样品的芯层结构、价带结构及其它表征信息。
4. 结果分析：基于实验结果，对SiC和ZnO材料的电子结构和物理性质进行分析、比较，并从中提取结论。
六、研究进度计划1. 完成SiC与ZnO单晶样品的制备与电学性能表征，历时3个月。
2. 建立同步辐射光电子能谱测试系统，历时2个月。
3. 对SiC、ZnO进行测试，得到原始光电子能谱数据，历时3个月。
山东建筑大学毕业论文开题报告表班级： 姓名：论文题目宽禁带半导体ZnO的调研一、选题背景和意义Zn0是一种新型的II-VI族宽禁带半导体材料，具有优异的晶格、光电、压电和介电特性，和III-V族氮化物及II-VI族硒化物比具有很多潜在的优点。
首先，它是一种直接带隙宽禁带半导体，室温下的禁带宽度为，与GaN()相近，而它的激子结合能()却比GaN()高出许多，因此产生室温短波长发光的条件更加优越；而且ZnO薄膜可以在低于500℃温度下获得，不仅可以减少材料在高温西制备时产生的杂质和缺陷，同时也大大简化了制备工艺；同时ZnO来源丰富，价格低廉，又具有很高的热稳定性和化学稳定性。
ZnO在UV、蓝光LED和LDS器件等研究方面被认为是最有希望取代GaN的首选材料，ZnO已经成为国内外半导体材料领域一个新的研究热点。
国内外有很多科研团队都在进行ZnO的研究．虽然Zn0暂时不能完全取代si 在电子产业中的基础地位，但是ZnO以其特殊的性质成为Si电路的补充。
国内外对于ZnO的研究一直是近几年半导体材料研究的热点。
无论是薄膜ZnO、纳米ZnO或是体单晶ZnO，文献很好地总结了2003年之前的国外ZnO晶体的研究与发展状况。
随着高质量、大尺寸单晶ZnO 生产已经成为可能，单晶ZnO通过加工可以作为GaN衬底材料。
ZnO与GaN的晶体结构、晶格常量都很相似。
晶格失配度只有2.2%(沿〈001〉方向)、热膨胀系数差异小，可以解决目前GaN生长困难的难题。
GaN作为目前主要的蓝、紫外发光半导体材料，在DVD播放器中有重要的应用。
由于世界上能生产ZnO单晶的国家不多，主要是美国、日本。
所以ZnO单晶生产具有巨大的市场潜力。
近年来，材料制备技术的突破，纳米ZnO半导体的制备、性能及其应用成为材料学的一个研究热点。
本文介绍了ZnO薄膜具有的许多优异特性，优良的压电性、气敏性、压敏性和湿敏性，且原料廉价易得。
这些特点使其在表面声波器件(SAW)、太阳能电池、气敏元件等领域得到广泛的应用。
随着对ZnO紫外受激发射特性的研究和P型掺杂的实现，ZnO作为光电材料在紫外探测器、LED、LD等领域也有着巨大的应用潜力。
另外本文还介绍了纳米氧化锌的许多优点和在许多方面的应用。
目前，我国各类氧化锌处于供不应求的状况，而以活性氧化锌和纳米氧化锌取代传统氧化锌是不可阻挡的趋势，可见，今后纳米氧化锌必会有非常广阔的市场前景。
二、课题关键问题及难点要深入研究该方面的知识，就要涉猎很多方面的知识。
作为本科学生，如何在现有知识的基础上，阅读并理解有关书目、文献，总结归纳相关理论和研究方法，是本课题首先要解决的关键问题。
首先，要了解氧化锌作为宽禁带半导体的特性，然后再细致的查找氧化锌薄膜的诸多性质和这些性质在哪些方面的应用。
同时要寻找纳米氧化锌材料与普通氧化锌材料相比有哪些优点、在发展中存在的问题和以后的研究方向。
查询相关资料并阅读和理解之后，合理的安排介绍氧化锌作为宽禁带半导体材料的性质和应用。
三、文献综述当前，电子器件的使用条件越来越恶劣，要适应高频、大功率、耐高温、抗辐照等特殊环境。
为了满足未来电子器件需求，必须采用新的材料，以便最大限度地提高电子元器件的内在性能。
近年来，新发展起来了第三代半导体材料——宽禁带半导体材料，该类材料具有热导率高、电子饱和速度高、击穿电压高、介电常数低等特点，这就从理论上保证了其较宽的适用范围。
Zn0是一种新型的II-VI族宽禁带半导体材料，具有优异的晶格、光电、压电和介电特性，和III-V族氮化物及II-VI族硒化物比具有很多潜在的优点。
ZnO晶体具有四种晶体结构，闪锌矿结构；纤锌矿结构；NaCl结构；CsCl结构。
ZnO晶体随着环境条件的改变形成不同结构的晶体。
ZnO晶体中的化学键既有离子键的成分，又有共价键的成分，两种成分的含量差不多，因而使得ZnO晶体中的化学键没有离子晶体那么强，导致其在一定的外界条件下更容易发生晶体结构上的改变。
ZnO的紫外受激发射性质与应用ZnO是一种理想的短波长发光器件材料。
能以带间直接跃迁的方式获得高效率的辐射复合。
ZnO薄膜还具有较低的激射阈值，这主要是由于ZnO很高的激子束缚能(室温下为60meV)可以大大降低低温下的激射阈值，而且在室温下适当的激发强度，ZnO激子间的复合可取代电子-空穴对的复合，因而可预期一个低的阈值来产生受激发射。
ZnO的紫外受激发射中主要是紫外光波段、蓝绿光波段的发射。
ZnO紫外光发射的主要机理是带间跃迁和激子复合。
因其紫外受激发射性质主要应用有ZnO基光电探测器，紫外光、蓝光等发光器件。
光电探测器是一种把光辐射信号转变为电信号的器件，其工作原理是基于光辐射与物质的相互作用所产生的光电效应。
ZnO的透明导体特性与应用ZnO的光学透明性是由宽禁带引起的。
ZnO带隙宽，对可见光和红外光吸收很小，基本上是透明的。
ZnO的导电性主要不是依赖本征激发，而是靠附加能级的电子或空穴激发。
具有光学透明特性的宽禁带氧化物半导体材料，一般都是绝缘体，但ZnO既有高透明性又有导电性。
因此，ZnO材料在制备透明导电薄膜，紫外波段LED和LD以及能量窗口，液晶显示，太阳电池，气体传感器，超声振荡器和转换器等光电子器件有不错的应用前景。
ZnO的其他特性与应用除此之外ZnO还具有气敏特性、压敏特性、P—n结特性等特性，可以引用在压电特性、压电器件、太阳能电池、气敏元件、压敏元件、声表面波器件(SAW)等许多领域。
纳米氧化锌的主要性质表面效应：表面效应是指纳米粒子表面原子与总原子数之比随粒径的变小而急剧增大后所引起的性质上的变化。
这种变化使其表面与内部的晶格振动产生了显著变化，导致纳米材料具有许多奇特的性能。
体积效应：当纳米粒子的尺寸与传导电子的德布罗意波长相当或更小时，周期性的边界条件将被破坏，磁性、内压、光吸收、热阻、化学活性、催化剂及熔点等都较普通粒子发生了很大的变化，这就是纳米粒子的体积效应。
纳米氧化锌在防晒化妆品中的应用纳米氧化锌具有紫外线屏蔽性、透明性及灭菌性。
当受到紫外线的照射时，价带上的电子可吸收紫外线而被激发到导带上，同时产生空穴-电子对，因此具有吸收紫外线的功能。
纳米ZnO比普通ZnO对可见光的吸收弱得多，有很好的透过率，因此具有高度的透明性。
纳米ZnO在阳光尤其在紫外线照射下，在水和空气（氧气）中，能自行分解出自由移动的带负电的电子（e-），同时留下带正电的空穴（h+）。
这种空穴可以激活空气中的氧变为活性氧，有极强的化学活性，能与多种有机物发生氧化反应（包括细菌内的有机物），从而把大多数病菌和病毒杀死。
纳米ZnO应用于防晒化妆品中，不但使体系拥有收敛性和抗炎性，而且具有吸收人体皮肤油脂的功效。
纳米氧化锌在纺织中的应用将金属氧化锌粉末制成纳米级时，由于微粒尺寸与光波相当或更小，尺寸效应使导带及价带的间隔增加，故光吸收显著增强。
在350~400nm（UVA）时，氧化锌的遮蔽效率高，同时氧化锌（n=1.9）的折射率小，对光的漫反射率较低，使得纤维透明度较高且利于纺织品染制。
远红外线反射纤维的材料：这种远红外线反射功能纤维是通过吸收人体发射出的热量，并且再向人体辐射一定波长范围的远红外线，可促进人体血液循环，遮蔽红外线，减少热量损失。
光致发光材料：可利用紫外光、可见光或红外光作为激发光源而诱导其发光。
氧化锌在室温下拥有较强的激发束缚能，可以在较低激发能量下产生有效率的放光。
防紫外线纤维。
纳米氧化锌在催化剂和光催化剂中的应用纳米氧化锌具有优异的光催化活性。
当氧化锌纳米粒子受到大于禁带宽度能量的光子照射后，电子从价带跃迁到导带，产生了电子-空穴对，空穴能使OH-生成氧化性很高的·OH 自由基，可以把许多难降解的有机物氧化成CO2和H2O等无机物。
纳米氧化锌在电化学中的应用浅色导电材料导电氧化锌主要用于涂料、橡胶、纤维材料和陶瓷中作为导电的白色颜料，氧化锌的导电性可赋予塑料和聚合物以抗静电性。
纳米氧化锌在橡胶轮胎中的应用将纳米氧化锌作为导电的白色颜料填充于橡胶中，可研制出导电性橡胶，用来制造静电屏蔽橡胶及制品。
目前，纳米氧化锌的应用研究不如制备技术研究广泛和深入。
如何更好地发挥纳米氧化锌的优异性能，提高产品的性能价格比，使制造出的产品在国际市场上具有竞争力都是应用研究努力的方向参考文献：[1]Jenny JR，Malta DP．Muller SG．et a1．Joumal of Elactronic Materials 2003，32：432[2]吕建国，汗雷，叶占镇等．ZnO薄膜府用的最新研究进展.功能材料与器件学报．2002．9，8(3)303-308[3]Zhuge F，Zhu L．P，Ye Z．Z．et a1．Effects of growth ambient on electricalproperties of AI-N co-doped p-type ZnO films.Thin Solid Films．2005．4，476：272-275[4]Emanetoglu Nuri W，Zhu Jun，Chan，Ying et a1．Surface acoustic waveultraviolet photo detectors using epitaxial ZnO multilayers grown on r-plane sapphire． Applied Physics Letters．2004．10，85(17)：3702-3704[5]Guillermo Santana et a1．Structural and optical properties of (ZnO)x(CdO)l-x thinfilms obtained by spray pyrolysis．Thin Solid Films．2000，373：235-238[6] 应春，沈杰，陈华们等．ZnO：AI透明导屯薄膜的研制．真空科学与技术．1998．3，18(2)：125-129[7] 刘玉华，孙汪典．Zn0薄膜的射频磁控溅射法制备及特性．暨南大学学报(自然科学版) ．2004．6，25(3)：289-292[8] 马瑾，李淑英．真空反应蒸发法制．ZnO透明导电薄膜．山东人学学报(臼然科学版) ．1994.6，29l(2)：230-234[9] 杨成兴，季掘国，刘坤等．雾化热解法制备ZnO薄膜及其光电性能．半导体学报．2002．10，23(10)：1083-1087[10] Nagase,t Ooie,J．Sakakibara．Th/nSolidFilms．1999，357：151—158[11] 刘大力，杜国同，于金忠等．ZnO薄膜的掺杂特性．发光学报．2004，4，25(2)：134．137[12] 叶志镇，张银珠，徐伟中等．ZnO薄膜P型掺杂的研究进展．无机材料学报．2003．1，18（1）：11-18[13] 杨田林，杨光德．薄膜厚度对ZnO：AI透明导电膜的结构和光电性能的影响．淄博学院学报．2002．6，4(2)：32-35[14] R．Groenen，J．L．Linden el a1．AppliedSurface Science．2001 73(1-2)：40-43[15] 吕建国，叶志镇．ZnO薄膜的最新研究进展．功能材料．2002，33(6)：581-583[16]叶建东，顾传林，朱顺明等．高质量ZnO薄膜的退火性质研究．高技术通讯．2002．12：45-48[17]林碧霞，傅竹两，刘磁辉等．氧化锌宽禁带’n导体薄膜的发光及其p-n结特性．嗣体电子学研究与进展．2002．I l，22(4)：417—420四、方案论证1)通过对宽禁带半导体材料ZnO的深入学习，了解ZnO的发展情况及应用的程度。
