GaAs PHEMT器件高温加速寿命试验及物理分析
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恒定应力加速寿命试验中无失效数据的处理
茆诗松;陆淑兰
【期刊名称】《应用概率统计》
【年(卷),期】1993(009)002
【摘要】1.问题的提出:一种KP500A/1600 V平板型普通晶闸管的寿命服从Weibull分布,为获得此种产品在正常温度s_0=85℃下的各种可靠性指标。
特选温度作为加速应力,在三个不同温度下按排一次恒定温度加速寿命试验(简称恒加试验)。
试验情况和试验结果如表1所示。
值得注意的是,该恒加试验在低温度s_1=125℃下出现无失效现象。
这给数据处理带来了困难。
本文试图用定时截尾寿命试验的方法[2]去处理s_2和s_3下的有失效数据,而用Bayes方法去处理s_1下的无失效数据。
最后用恒加试验方法[1]进行综合,获得初步结果。
【总页数】3页(P216-218)
【作者】茆诗松;陆淑兰
【作者单位】不详;不详
【正文语种】中文
【中图分类】O213.2
【相关文献】
1.恒定及步进应力加速寿命试验在电容器中的应用 [J], 王锡清;张皓;杨广斌
2.恒应力加速寿命试验中无失效数据的处理 [J], 严拴航;师义民
3.双应力下恒定应力加速寿命试验的最优线性不变估计 [J], 孙利民;夏爱生;周学清
4.灰色预测在恒定应力加速寿命试验中的应用 [J], 傅志中
5.瑞利分布恒定应力加速寿命试验的贝叶斯估计 [J], 武东;李琼
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2020年6月一种高线性度的单片集成电调衰减器白银超,刘方罡,王磊(中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050051)【摘要】本文设计了一款GaAs PHEMT 微波单片集成电调衰减器,该电路设计采用T 型衰减器的拓扑结构,对电调衰减器的线性度进行了专门设计。
针对电调衰减器的线性度进行分析,提出了一种有着更小的电阻变化率的FET 管,提高了输入三阶交调截取点。
采用中国电科第十三研究所0.25μm GaAs PHEMT 工艺进行了仿真和流片,测试结果表明,在频率0.05~3GHz 内,衰减动态范围大于25dB ,输入三阶交调截取点大于30dBm 。
该款微波单片集成电调衰减器设计达到了预期性能,并实现了高线性度的目标。
【关键词】砷化镓(GaAs );微波单片集成电路(MMIC );电调衰减器;输入三阶交调截取点(IIP3)【中图分类号】TN715【文献标识码】A 【文章编号】1006-4222(2020)06-0203-020引言衰减器是一种重要的无源控制电路,用于在微波系统中实现对信号幅度的控制。
在现代通信系统中,对信号幅度的控制也可以用电压可变放大器(variable voltage amplifier ,VGA )实现,但是改变VGA 的增益需要改变偏置电压或电流,就会改变放大器的线性偏置点,从而影响系统的线性。
因此,衰减器就成为在大功率输入下实现增益调节的同时保持良好线性度的选择。
目前已经有相关学者设计了高线性度的电调衰减器,Marcus Granger-Jones 等人使用SOI CMOS 工艺设计了工作频率在0.05~4GHz ,IIP3达到47dBm 的电调衰减器[1]。
A.Bessemoulin 等人使用GaAs 工艺设计了工作频率在5~45GHz ,IIP3达到27dBm 的电调衰减器[2]。
但是,SOI CMOS 工艺的抗辐照能力较弱,使得该工艺设计的电路难以在空间中使用,而GaAs 工艺尚未有设计在低频下工作的电调衰减器。
0.25μm GaAs基MHEMT器件石华芬;刘训春;张海英;石瑞英;王润梅;汪宁;罗明雄【期刊名称】《半导体学报:英文版》【年(卷),期】2004(25)3【摘要】采用普通接触曝光研制成栅长为0 .2 5 μm的 Ga As基 In Al As/ In Ga As变组分高电子迁移率晶体管(MHEMT) ,测得其跨导为 5 2 2 m S/ m m,沟道电流密度达 4 90 m A/ mm,截止频率为 75 GHz,比同样工艺条件下Ga As基 In Ga P/ In Ga As PHEMT的性能有很大的提高 .对该器件工艺及结果进行了分析 ,提取了器件的交流小信号等效电路模型参数 ,并提出了进一步得到高稳定性、高性能器件的方法 .【总页数】4页(P325-328)【关键词】铟铝砷/铟镓砷;变组分高电子迁移率晶体管;赝配高电子迁移率晶体管【作者】石华芬;刘训春;张海英;石瑞英;王润梅;汪宁;罗明雄【作者单位】中国科学院微电子中心【正文语种】中文【中图分类】TN386【相关文献】1.电子束实现210 nm栅长115 GHz GaAs基mHEMT器件 [J], 曾建平;安宁;李志强;李倩;唐海林;刘海涛;梁毅;;;;;;;;2.电子束实现210nm栅长115GHz GaAs基mHEMT器件 [J], 曾建平;安宁;李志强;李倩;唐海林;刘海涛;梁毅3.电子束实现210nm栅长115GHz GaAs基mHEMT器件 [J], 曾建平;安宁;李志强;李倩;唐海林;刘海涛;梁毅;;;;;;;;;;;;;;4.GaAs基改性高电子迁移率晶体管(MHEMT)的计算机模拟与优化 [J], 吴旭;陈效建;李拂晓5.1.0μm栅长GaAs基MHEMT器件及SPDT开关MMIC(英文) [J], 徐静波;黎明;张海英;王文新;尹军舰;刘亮;李潇;张健;叶甜春因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
高温加速寿命试验在激光器管芯可靠性分析中的应用作者:杨绸绸戴智丽王连进来源:《科技创新导报》 2014年第1期杨绸绸戴智丽王连进(1,2燕山大学信息科学与工程学院河北秦皇岛 066004,3燕山大学车辆与能源学院)摘要:该文研究了高温加速寿命试验在激光器管芯可靠性分析中的应用,给出了加速老化试验的试验方法、基本概念和流程,并结合试验数据研究了高温加速寿命试验对激光器管芯的可靠性影响以及对激光器管芯寿命的预测,为在实际应用中使用高温加速寿命试验节省时间,为提高管芯可靠性提供技术支持。
关键词:激光器管芯高温加速寿命试验可靠性寿命中图分类号:TN248 文献标识码:A 文章编号:1674-098X(2014)01(a)-0077-011 可靠性分析基本理论随着市场经济和科学技术的发展,设计和制造水平的不断提高,各个领域的设备和产品不断朝着高性能和高可靠性方向发展,人们不仅要求产品物美价廉,而且十分重视产品的可靠性和安全性。
产品的可靠性越高,寿命越长,在相对短期内几乎不可能失效,因此很难获得失效数据。
这些情况的出现给可靠性分析带来了一些问题,由于无法得到足够的失效数据,这使得基于失效数据分析的传统可靠性分析方法很难使用或分析结果与实际应用偏差较大。
产品的高温加速寿命试验数据包括很多的可靠性信息,通过产品的加速寿命试验进行可靠性分析可以在很大程度上节省时间和费用。
也可以解决可靠性高、寿命比较长的产品可靠性评估问题。
本文以激光器管芯高温加速寿命为例,对高温加速寿命试验的一般概念和激光器管芯的可靠性进行了探讨,并对激光器管芯的可靠性进行了分析预测。
2 可靠性指标产品的可靠性有好几种标准衡量,有定量的,也有定性,有时要用好几种指标去衡量一种产品的可靠性,但最主要的指标有:可靠度、失效率、平均无故障工作时间(MTBF)等。
对电子产品而言,产品失效一般符合浴盆曲线分布,即产品失效分为早期失效阶段、中期稳定失效阶段和后期失效阶段。
真空封装MEMS陀螺高温老化失效机理研究谷专元;何春华;陈俊光;赵前程;张大成;闫桂珍【摘要】为了快速掌握真空封装MEMS陀螺老化失效机理,陀螺进行125℃高温加速实验,并对不同时间节点下的陀螺关键性能进行参数提取。
分析结果表明,由于高温老化导致MEMS陀螺内部材料放气、疲劳和应力释放,从而改变品质因子和初始检测电容,最终导致陀螺的零偏、角随机游走系数、零偏稳定性、标度因子等关键性能的严重退化。
在工程实际中有一定的参考价值。
%In order to learning the aging failure mechanism of vacuum packaging MEMS gyroscopes,here we start an accelerating experiment on gyroscopes in high temperature 125℃,and extracting the key performance parame⁃ters of gyroscope in different period. The analysis shows that high temperature brings about leakage,fatigue and stress relief of MEMS gyroscopes’inside materials,changes the quality factor and beginning detecting capacitance, finally leads to the serious degradation of gyroscopes’key performance,such as bias,angle random walk,bias sta⁃bility,scale factor,which provides theoretical basis for improving the performance and reliability of gyroscopes. In engineering practice,this paper has a certain practical reference.【期刊名称】《传感技术学报》【年(卷),期】2016(029)011【总页数】6页(P1637-1642)【关键词】微机械陀螺;老化;真空封装;失效机理【作者】谷专元;何春华;陈俊光;赵前程;张大成;闫桂珍【作者单位】华南理工大学电子与信息学院,广州510640; 工业和信息化部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室,广州510610;工业和信息化部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室,广州510610; 北京大学微电子学研究院微米/纳米加工技术国家级重点实验室,北京100871;工业和信息化部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室,广州510610;北京大学微电子学研究院微米/纳米加工技术国家级重点实验室,北京100871;北京大学微电子学研究院微米/纳米加工技术国家级重点实验室,北京100871;北京大学微电子学研究院微米/纳米加工技术国家级重点实验室,北京100871【正文语种】中文【中图分类】TP393MEMS陀螺是基于柯氏效应原理,在输入角速度的作用下,使能量在驱动模态和检测模态间转移的惯性器件[1]。
Si基GaN HEMT器件高温可靠性研究Si基GaN HEMT器件高温可靠性研究摘要:随着集成电路工作温度的不断提高,高温环境下器件的可靠性成为亟待解决的问题。
本文研究了Si基氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)器件在高温环境下的可靠性,并分析了其失效机理以及可能的解决方案。
一、引言近年来,随着高功率、高速度、高频率电子设备的发展,对功率放大器和射频应用的需求也不断增加。
Si基氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)凭借其优异的电特性被广泛应用于射频功率放大器、通信系统和雷达技术等领域。
然而,高温环境下的工作可靠性成为制约其广泛应用的一个重要因素。
二、高温环境下器件失效机理1. 热失效高温环境下,器件内部发生的热失效是主要的失效机制之一。
当温度升高时,晶体管的导电层与绝缘层之间的激发电子和空穴的数目增加,导致局部热点,进而引发热失效。
2. 电热失效高温下电热失效也是影响器件可靠性的重要因素之一。
电子与其他粒子的碰撞频率加快,其能量转化为热能的速率也相应增加,导致电热失效。
3. 氧化层失效高温下,氧化层的腐蚀速度增加,导致其失效,从而引起漏电、导通等问题。
三、高温环境下Si基GaN HEMT器件可靠性研究1. 温度加速寿命测试通过对一批Si基GaN HEMT器件进行不同温度下的加速寿命测试,观察器件的性能变化情况,从而评估其在高温环境下的可靠性。
2. 失效分析通过对失效的Si基GaN HEMT器件进行分析研究,确定所用失效机制以及关键成因。
3. 解决方案(1)热管理策略:采用更好的散热结构和材料,提高热导率,降低局部温度,减少热失效的发生。
(2)材料选择:优化材料选择,选用高温稳定性好的材料,减少氧化层失效的可能性。
(3)工艺优化:改进制程工艺,提高器件的可靠性。
四、结论通过对Si基GaN HEMT器件在高温环境下的可靠性研究,我们发现热失效、电热失效和氧化层失效是主要的失效机制。
针对这些失效机制,我们可以采取热管理策略、优化材料选择和改进工艺等方案来提高器件的高温可靠性。
基于高加速极限试验与加速寿命试验的可靠性增长试验方案研究作者:叶奇赵京党丽君毛翔伍巧凤来源:《科技视界》2020年第17期摘要本文通过对高加速极限试验和加速寿命试验两种试验方式进行分析,对其试验方法、试验流程,加速应力,加速模型,试验剖面等方面进行了论述,形成两种试验方式相结合的可靠性增长试验方案,可有效地用于电子设备可靠性增长试验。
关键词可靠性增长;高加速极限试验(HALT);加速寿命试验(ALT);加速因子;MTBF中图分类号: V416 ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; 文献标识码: ADOI:10.19694/ki.issn2095-2457 . 2020 . 17 . 77AbstractThis paper analyzed and discussed the test scheme, test process, accelerated stree,accelerated model and test profile of two test methods of High Accelerated Limit Test(HALT) and Accelerated Life Test(ALT),and formed a reliability-growth scheme combined by this two test methods, which can be effectively used in reliability-growth test of electronic equipment.Key wordsReliability-growth; HALT; ALT; Accelerated factor; MTBF0 引言可靠性增长试验是在研制过程中模拟实际的使用条件或加速条件进行试验,将产品存在的设计缺陷和工艺缺陷,激发成故障,通过“试验—分析--纠正—再试验”这样的反复循环过程,使产品在研制阶段通过试验不断暴露产品的可靠性薄弱环节,采取有效的纠正措施,来提高产品可靠性而进行的一系列试验。
GaAs PHEMT器件的退化特性及可靠性表征方法
刘红侠;郑雪峰;郝跃;韩晓亮;李培咸;张绵
【期刊名称】《半导体学报:英文版》
【年(卷),期】2004(25)1
【摘要】测量了应力前后 Ga As PHEMT器件电特性的退化 ,指出了 Ga As PHEMT阈值电压的退化由两个原因引起 .栅极下 Al Ga As层深能级的空穴积累可以解释阈值电压漂移中暂时性的、可恢复的那部分 ,积累在栅金属与半导体之间界面层的空穴可以解释阈值电压漂移中永久性的漂移 .空穴积累来源于场助作用下电子的退陷和沟道中碰撞电离产生的空穴向栅极流动时被俘获 .对高场下碰撞电离率的实验曲线进行拟合 ,得到碰撞电离率与器件沟道电场峰值的量化关系 ,可以对 Ga As
【总页数】5页(P77-81)
【关键词】高电子迁移率晶体管;阈值电压;碰撞电离;可靠性表征
【作者】刘红侠;郑雪峰;郝跃;韩晓亮;李培咸;张绵
【作者单位】西安电子科技大学微电子研究所;中国电子科技集团公司第十三研究所
【正文语种】中文
【中图分类】TN386.3
【相关文献】
1.基于GaAs激光器性能退化的可靠性度量方法 [J], 李玲玲;顾训华;李凤强;李志刚
2.GaAs PHEMT器件的可靠性评估方法研究 [J], 许燕;邓文基;黄云
3.一种GaAs FET/pHEMT器件噪声参数测量的新方法 [J], 刘章文;蒋毅;古天祥
4.用248nm光刻机制作150nm GaAs PHEMT器件性能及可靠性评估 [J], 郭啸;章军云;林罡
5.一种新的GaAs PHEMT器件可靠性评估方法研究 [J], 刘红侠;郑雪峰;韩晓亮;郝跃;张绵
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GaAs pHEMT和GaN HEMT的高功率电磁效应及机理研究GaAs pHEMT(磷化铟锗化镓)和GaN HEMT(氮化镓高电子迁移率晶体管)是两种具有高功率电磁效应的晶体管。
本文将对这两种材料的高功率电磁效应及机理进行研究。
首先,我们来了解一下GaAs pHEMT。
GaAs pHEMT是一种基于磷化铟锗化镓材料的功率晶体管。
它具有很高的功率增益和较低的噪声系数,适用于高频率和高功率应用。
在高功率电磁场作用下,GaAs pHEMT的电子迁移率和载流子浓度会发生变化,从而导致晶体管的电特性发生变化。
这一变化主要是由于电磁场对晶格振动的影响。
电磁场的作用使得晶格结构发生畸变,进而影响晶体管的载流子输运性能。
此外,电磁场也会激发电子和空穴之间的跃迁,从而引起载流子密度的变化。
因此,GaAs pHEMT在高功率电磁场下的电特性会发生变化,这一现象被称为高功率电磁效应。
接下来,我们来了解一下GaN HEMT。
GaN HEMT是一种基于氮化镓材料的高功率晶体管。
相比于传统的GaAs材料,氮化镓具有更高的电子迁移率和更好的热导率,适用于高功率和高温应用。
GaN HEMT在高功率电磁场下的电特性变化也主要是由电磁场对晶格振动和载流子输运造成的影响。
电磁场的作用使得GaN材料的晶格结构发生畸变,改变了载流子的迁移率和浓度。
此外,电磁场还会激发氮化镓材料中的电子和空穴之间的跃迁,从而改变载流子密度。
因此,GaN HEMT在高功率电磁场下的电特性也会发生变化,同样表现出高功率电磁效应。
高功率电磁效应的机理主要包括电磁场对晶格结构的影响和电子与空穴之间的相互作用。
电磁场作用下晶格结构的畸变主要是由于电磁场与晶格振动之间的相互作用力。
电磁场的电场部分会导致晶格离子的位移,进而改变晶格结构。
同时,电磁场的磁场部分会影响晶格的磁性和电子自旋。
电子与空穴之间的相互作用主要是由于电磁场对载流子输运性能的影响。
电磁场的电场部分会改变载流子的迁移率,进而影响晶体管的电特性。
第21卷 第4期 装 备 环 境 工 程2024年4月EQUIPMENT ENVIRONMENTAL ENGINEERING ·35·收稿日期:2024-03-01;修订日期:2024-04-06 Received :2024-03-01;Revised :2024-04-06引文格式:李芳, 张鹏辉, 王红刚, 等. 71 ℃试验法寿命外推结果的影响因素分析[J]. 装备环境工程, 2024, 21(4): 35-39.LI Fang, ZHANG Penghui, WANG Honggang, et al. Analysis of Influencing Factors on Life Extrapolation Results of 71 ℃ Test Method[J]. Equipment Environmental Engineering, 2024, 21(4): 35-39.71 ℃试验法寿命外推结果的影响因素分析李芳,张鹏辉,王红刚,谢明伟,彭钺,胡伟(陕西应用物理化学研究所 瞬态化学效应与控制全国重点实验室,西安 710061)摘要:目的 研究71 ℃试验法用于火工品贮存寿命外推结果的准确性。
方法 采用对比分析的方法,对美军标和国军标中71 ℃试验法的寿命影响因素进行分析。
结果 加速模型、试验条件和外推温度取值对火工品的寿命外推结果均有影响。
结论 71 ℃试验法评估结果的准确性取决于使用场景是否正确,试验条件设置是否合理,贮存环境温度取值是否准确,并提出了71 ℃试验法的使用建议。
关键词:火工品;71 ℃试验法;贮存寿命;加速模型;寿命外推中图分类号:TJ450.89 文献标志码:A 文章编号:1672-9242(2024)04-0035-05 DOI :10.7643/ issn.1672-9242.2024.04.005Analysis of Influencing Factors on Life Extrapolation Results of 71 ℃ Test MethodLI Fang , ZHANG Penghui , WANG Honggang , XIE Mingwei , PENG Yue , HU Wei(State Key Laboratory of Transient Chemical Effects and Control, Shaanxi Applied Physics-chemistryResearch Institute, Xi'an 710061, China)ABSTRACT: The work aims to study the accuracy of the 71 ℃ test method for extrapolating the storage life of pyrotechnics. By using a comparative analysis method, the life influencing factors of the 71 ℃ test method in the US military standard and the national military standard were analyzed. The acceleration model, experimental conditions, and extrapolated temperature values all had an impact on the life extrapolation results of pyrotechnics. In conclusion, the accuracy of the evaluation results using the 71 ℃ test method depends on whether the usage scenario is correct, whether the test conditions are set reasonably, and whether the storage environment temperature value is accurate. Suggestions for the use of the 71 ℃ test method are proposed. KEY WORDS: pyrotechnics; 71 ℃ test method; storage life; acceleration model; life extrapolation火工品承担着点火、起爆和分离做功等重要作用,具有首发性、敏感性和作用一次性等特点[1]。
AlGaN-GaN HEMT器件可靠性研究共3篇AlGaN/GaN HEMT器件可靠性研究1AlGaN/GaN HEMT器件可靠性研究随着电力电子、微电子、通信等领域的飞速发展,人们对高性能功率器件的需求越来越迫切。
高性能功率器件需要高性能的材料、高效的设计和制造工艺,并且需要在运行时可靠性高,避免因器件损坏或寿命短而带来的负面影响。
AlGaN/GaN HEMT 器件在高电压、高频率、高温等极端环境下的性能优势,使其成为具有巨大潜力的高性能功率器件。
然而,其可靠性问题也是研究者们面临的重大挑战之一。
本文将对AlGaN/GaN HEMT 器件的可靠性问题进行探讨。
一、器件失效机制AlGaN/GaN HEMT器件的失效机制主要有两种:热失效和电失效。
热失效是由于高浓度载流子注入引起的器件结温度升高,从而引发热失效问题。
电失效是电场强度高于材料固有电场,从而引起材料局部击穿,结构发生几何缺陷,引起氧化、合金层发生变质等问题。
二、提高器件可靠性的方法GaN材料的晶格结构可大大改善器件的高功率性能和可靠性,关键在于获得高质量的GaN生长和优化设计的器件结构。
以下是提高AlGaN/GaN HEMT器件可靠性的基本方法:1. 合适的材料缺陷控制GaN材料具有广泛的而且复杂的缺陷,如晶格缺陷、位错、面缺陷等。
短位错密度和少许的晶格缺陷可以显著提高GaN材料的质量,从而提高器件的可靠性。
缺陷颗粒产生的热点会使材料退化,因此,限制这些缺陷的发展可以防止器件寿命缩短。
2. 优化器件的设计和制造工艺器件结构的优化和制造工艺的精细化,则是提高器件可靠性的基本方法之二。
在制备AlGaN/GaN HEMT器件时,需要考虑晶体缺陷的适当控制,同时需要考虑出现电偏差情况的等级;同时,应制定一套规范的制造工艺操作程序来确保产品的品质和稳定性。
3. 合适的器件使用方式器件的失效通常是由于电和热引起的,因此,合适的使用方法可以提升器件的可靠性。
可靠性加速寿命试验例:GaAs微波器件的退化与金属化稳定性有关,实现PHEMT器件功能的金属化有栅金属化、欧姆接触金属化和信号传输线金属化。
在电流应力或电流+温度应力的作用下,由于金属原子的电迁移会使金属化系统电阻增大,最终导致器件失效。
表1-3是这种器件在恒定热应力(环境温度)下加速寿命试验结果,请根据上述结果,利用所附的坐标纸,计算:(1) 在正常工作环境温度(60︒C)下的寿命;(2)400︒C环境温度对正常环境温度的加速寿命系数(35分)。
表1 服役时间对PHEMT器件在200︒C环境下的失效率的影响仓储时间260 477 1219 2400 8450(h)lg 2.41 2.68 3.09 3.38 3.93失效率(%) 12.5 18.8 28.1 37.5 50表2服役时间对PHEMT器件在300︒C环境下的失效率的影响仓储时间5 50 250 518 1020(h)lg 0.70 1.70 2.40 2.71 3.01失效率(%) 3.1 12.5 28.1 37.5 43.8表3服役时间对PHEMT器件在400︒C环境下的失效率的影响仓储时间2 10 63 1000 3162(h)lg 0.30 1 1.80 3 3.5失效率(%) 3.1 9.4 28.1 40 68解:1. 各环境温度下的寿命分布及相关参数在对数概率纸上绘出寿命分布直线,求得各环境温度下的中位寿命和对数标准差见表A表A 中位寿命及对数标准差环境温度,︒C 200 300 400t i(0.5) 7300 1500 330lg t i(0.5) 3.86 3.18 2.52t i(0.84) 130000 24000 4300lgt i (0.84) 5.11 4.38 3.63 σi = lgt i (0.84)- lg t i (0.5)1.2511.2041.1152. 在单对数坐标纸上绘出中位寿命与环境温度倒数之间的关系直线,由此求得在60︒C 下的中位寿命为7.8⨯105h 。
(100)n-GaAs在H_(2)SO_(4)-H_(2)O_(2)-H_(2)O溶液中的腐蚀速度徐菊香;杨英;刘成林;黎宝良【期刊名称】《稀有金属》【年(卷),期】1995(19)3【摘要】以C-V测量、击穿电压测量并结合逐层腐蚀技术,对GaAs外延多层结构的剖面分布进行了测量,获得了GaAs(100)晶片在不同温度下的H_2SO_4-H_2O溶液中的腐蚀速度数据。
结果表明,当H_2SO_4:H_2O_2:H_2O=9:1:1时,对n=1.10 ̄(14)~1.10 ̄(18)cm ̄-3的GaAs(100)晶片,20℃时的腐蚀速度为v=0.3~0.9μm/min.作者认为,这一配方对GaAs(100)多层结构是一个最为理想的减薄腐蚀剂。
【总页数】4页(P200-203)【关键词】砷化镓;腐蚀速度;H_(2)S_(O)4-H_(2)O_(2)-H_(2)O三元系;掺杂浓度影响;【作者】徐菊香;杨英;刘成林;黎宝良【作者单位】北京有色金属研究总院【正文语种】中文【中图分类】TN304.23【相关文献】1.锂云母连续管式反应器中混酸H_(2)SO_(4)+H_(2)SiF_(6)体系强化溶出锂 [J], 郭慧;旷戈;李欢;裴文涛;王海东2.四元交互体系Li^(+),Mg^(2+)/SO_(4)^(2-),B_(4)O_(7)^(2-)—H_(2)O25℃溶解度和溶液物化性质的研究 [J], 宋彭生;付宏安3.Ca(H_(2)PO_(4))_(2)-H_(3)PO_(4)-K_(2)SO_(4)体系中石膏晶型及形貌调控 [J], 吴钦;杨林;易芸;耿平兰;曹建新4.用Fe_(2)(SO_(4))_(3)-H_(2)SO_(4)-O_(2)体系从含铜难处理金精矿中浸出铜 [J], 蔡创开5.利用数字化实验探究氧化还原反应方程式的配平——以“探究KMnO_(4)、H_(2)O_(2)、H_(2)SO_(4)三者反应的实质”为例 [J], 王培;杨飞因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
GaAs HBTTaN HEMT器件的热生成机制及其热性能仿真与可靠性分析的开题报告一、研究背景与意义高性能射频器件在当前信息通信领域中的应用越来越广泛,其中GaAs HBTTaN HEMT器件是一种优良的器件,具有高频率响应、低噪声、高线性度等特点,并且在应用于通信系统中也展现出了非常良好的性能。
然而,同时由于其高速运行的特点,器件内部容易产生一定的热量导致电性能下降,进一步影响器件的可靠性。
因此,对于GaAs HBTTaN HEMT器件的热生成机制及其热性能进行研究,不仅有助于深入探究器件的工作机制,而且在实际应用中也能提高器件的性能及可靠性,为实现高性能通信系统提供一定的理论和技术支持。
二、研究内容本研究旨在探究GaAs HBTTaN HEMT器件内部的热生成机制,并通过数值仿真的方法模拟其热性能及可靠性,具体的研究内容包括以下几个方面:1.研究GaAs HBTTaN HEMT器件的内部热生成机制以及影响因素,建立相应的理论模型。
2.基于理论模型,设计数值仿真实验,模拟器件内部热量的分布与传递特性,分析器件的热性能。
3.通过数值仿真模拟分析器件的可靠性,研究其在不同工况下的寿命与损耗特性。
4.在理论与实验的基础上,进一步完善GaAs HBTTaN HEMT器件的热性能与可靠性设计规范,提高其在实际应用中的可靠性及稳定性。
三、研究方法与技术路线本研究的方法与技术路线如下:1.理论模型的建立:参考文献及现有研究成果,综合分析GaAs HBTTaN HEMT器件内部热生成机制,建立相应的理论模型。
2.数值仿真实验的设计与模拟:根据理论模型,设计合理的数值仿真实验,并利用COMSOL Multiphysics软件建立热学仿真模型,模拟器件内部热量的分布与传递特性。
3.数值仿真结果的分析与评估:基于数值仿真实验的结果,分析评估器件的热性能及可靠性,提出相应的优化措施。
4.热性能与可靠性规范的完善与优化:总结数值仿真实验的经验,完善GaAs HBTTaN HEMT器件的热性能与可靠性规范,提高其在实际应用中的可靠性及稳定性。
目录目录摘要 (I)Abstract (III)第1章绪论 (1)1.1课题背景 (1)1.2太阳电池工作原理 (1)1.3空间太阳电池及其少子寿命测试研究现状 (2)1.3.1空间单结砷化镓太阳电池研究现状 (2)1.3.2空间多结砷化镓太阳电池研究现状 (3)1.3.3少子寿命测试研究现状 (4)1.4本文的研究内容 (6)第2章实验材料、设备及研究方法 (7)2.1空间太阳电池的结构和电学参数 (7)2.1.1单结砷化镓太阳电池结构和电学参数 (7)2.1.2三结砷化镓太阳电池结构和电学参数 (8)2.2实验设备 (10)2.2.1辐照实验设备 (10)2.2.2电学性能测试设备 (10)2.2.3光谱响应测试设备 (11)2.3少子寿命测试设备 (11)2.4试验方案 (14)第3章测试参数对空间太阳电池少子测试寿命的影响 (16)3.1单结砷化镓太阳电池少子寿命测试 (16)3.1.1波长对GaAs/Ge太阳电池少子测试寿命的影响 (16)3.1.2光强对GaAs/Ge太阳电池少子测试寿命的影响 (17)3.1.3占空比对GaAs/Ge太阳电池少子测试寿命的影响 (18)3.1.4频闪频率对GaAs/Ge太阳电池少子测试寿命的影响 (19)3.2三结砷化镓太阳电池少子寿命测试 (20)3.2.1波长对GaInP/GaAs/Ge太阳电池最大开路电压的影响 (20)3.2.2波长对GaInP/GaAs/Ge太阳电池少子测试寿命的影响 (21)3.2.3光强对GaInP/GaAs/Ge太阳电池少子测试寿命的影响 (22)3.2.4占空比对GaInP/GaAs/Ge太阳电池少子测试寿命的影响 (24)3.2.5频闪频率对GaInP/GaAs/Ge太阳电池少子测试寿命的影响 (27)3.3本章小结 (29)第4章电子辐照下空间太阳电池的放电行为 (30)4.1电子辐照对GaAs/Ge太阳电池的影响 (30)4.2电子辐照对GaInP/GaAs/Ge太阳电池的影响 (32)4.2.1电子辐照下GaInP顶电池少子寿命变化 (32)4.2.2电子辐照下GaAs中间电池的少子寿命变化 (34)4.3本章小结 (36)结论 (37)参考文献 (38)攻读硕士学位期间发表的学术论文 (42)哈尔滨师范大学学位论文原创性声明 (43)哈尔滨师范大学学位论文版权使用说明书 (43)致谢 (44)摘要本文以空间GaAs/Ge单结太阳电池和GaInP/GaAs/Ge三结太阳电池为研究对象,首先基于超快光谱采用开路电压法分析电池的放电行为,得到电池的开路电压随时间变化的衰减曲线,进行少数载流子寿命分析;在此基础上研究测试参数(入射光波长、强度、占空比和频闪频率)对太阳电池放电行为的影响规律,进而得到分析少数载流子寿命的最优测试参数。
高纯VPE-GaAs、LPE-GaAs的电学性质
徐寿定;李瑞云
【期刊名称】《半导体学报:英文版》
【年(卷),期】1983(0)4
【摘要】用Van der Pauw法测量高纯VPE-GaAs和LPE-GaAs样品在20—300K温度范围内的电学性质,分析了它们的电子散射机理.最纯的VPE-GaAs样品峰值迁移率高达3.76×10~5cm^2/V·s,LPE-GaAs样品的峰值迁移率为
2.54×10~5Cm^3/V·s.这两个样品的总离化杂质浓度分别为7.7 × 10^(13)cm^(-
3)和1.55 ×10^(14)cm^(-3).
【总页数】6页(P389-394)
【关键词】LPE-GaAs;光学;温度范围;电子迁移率;电导率;声子散射;VPE-GaAs;电学性质
【作者】徐寿定;李瑞云
【作者单位】中国科学院半导体研究所
【正文语种】中文
【中图分类】TN3
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用分析和测量来取代寿命试验
陶光发
【期刊名称】《文献快报:纤维光学与电线电缆》
【年(卷),期】1991(000)008
【总页数】3页(P29-31)
【作者】陶光发
【作者单位】无
【正文语种】中文
【中图分类】TM503.5
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