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1目的为了使员工正确熟悉的使用ZYGO干涉仪。
本文详细说明了如何使用ZYGO 干涉仪来测试晶体的平行度、波前、平面度等指标。
2范围本文件涉及用ZYGO 干涉仪检测平面元件的一般方法。
3 录取数据在检验过程中将会生成以下记录：3.1干涉图（保存文件名为*.Tif），在实时窗口上点击FILE-SAVE保存。
3.2测试数据（保存文件名为*.Dat），测试完成后点击SAVE DATE保存。
4 Zygo干涉仪的定义4.1 应用（application）应用是ZYGO 干涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“*.app”的文件。
不同的应用用于不同项目的测量。
比较常用的是GIP.app 用于一般的平面和球面的测量，GPI-Cylinde.app 用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角度的测试。
4.2 猫眼像（cateye）又称为标准镜的像。
标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。
4.3 镜片像从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生干涉产生的干涉图形。
包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息来源。
4.4 升降台可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。
4.5 Align/View 模式按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一。
align模式可以看到一个黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较大。
View 模式是按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一，可以看到干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。
一般在align界面对准后在view 界面观察条纹。
4.6 标准镜 干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准。
4.7 长度基准设定图像的长度基准，因为放大率不同或者屈光度不同，同样大小的干涉图所代表的零件大小可能有很大的差异。
前言一、本次我们主要研究：如何检测机床的螺距误差。
因此我们主要的任务在于：1.应该使用什么仪器进行测量2.怎么使用测量仪器3.怎么进行数据分析4.怎么将测量所得的数据输入对应的数控系统二、根据第一点的要求，我们选择的仪器为：Renishaw 激光器测量系统，此仪器检测的范围包括：1.线性测量2.角度测量3.平面度测量4.直线度测量5.垂直度测量6.平行度测量线性测量：是激光器最常见的一种测量。
激光器系统会比较轴位置数显上的读数位置与激光器系统测量的实际位置，以测量线性定位精度及重复性。
三、根据第二点的解释，线性测量正符合我们检测螺距误差的要求。
因此，我们此次使用的检测方法——线性测量。
总结以上我们的核心在于：如何操作Renishaw 激光器测量系统结合线性测量的方法进行检测，之后将检测得到的数据进行分析，最后将分析得到的数据存放到数控系统中。
这样做的目的在于——提高机床的精度。
第二章、基础知识2.1 什么是螺距误差？开环和半闭环数控机床的定位精度主要取决于高精度的滚珠丝杠。
但丝杠总有一定螺距误差，因此在加工过程中会造成零件的外形轮廓偏差。
由上面的原因可以得知：螺距误差是指由螺距累积误差引起的常值系统性定位误差。
2.2 为什么要检测螺距误差？根据2.1节，检测螺距误差是为了减少加工过程中造成零件的外形轮廓偏差，即提高机床的精度。
2.3 怎么检测螺距误差？（1）安装高精度位移检测装置。
（2）编制简单的程序，在整个行程中顺序定位于一些位置点上。
所选点的数目及距离则受数控系统的限制。
（3）记录运动到这些点的实际精确位置。
（4）将各点处的误差标出，形成不同指令位置处的误差表。
（5）多次测量，取平均值。
（6）将该表输入数控系统，数控系统将按此表进行补偿。
2.4 什么是增量型误差、绝对型误差？①增量型误差增量型误差是指：以被补偿轴上相邻两个补偿点间的误差差值为依据来进行补偿②绝对型误差绝对型是误差是指：以被补偿轴上各个补偿点的绝对误差值为依据来进行补偿2.5 螺距误差补偿的原理是什么？螺距误差补偿的基本原理就是将数控机床某轴上的指令位置与高精度位置测量系统所测得的实际位置相比较，计算出在数控加工全行程上的误差分布曲线，再将误差以表格的形式输入数控系统中。
干涉仪器的使用方法和标准
一、功能介绍：用于检查研磨后镜片面形精度（牛顿环、局部误差），
检查范围≤∮75，放大比例：１：１
二、精度描述：标准板精度为λ/ 20
三、操作规程
a)确认校验有效期：看干涉仪的标识校验有效期是否超过，若
超过有效期，则先向校验员提出校验后再使用。
b)开电源：打开变压器（２２０Ｖ变为１１０Ｖ），此时激光
干涉仪电源驱动器进入对激光管驱动工作。
c)电源驱动激光管约15分钟左右，干涉仪专用电源稳定后指
示灯亮，进入稳定状态。
d)清理台面，将待检品、不良、良品按标示区域整理准备检测
镜片。
e)擦拭干净放置镜片的检测治具，戴好手指套、口罩。
f)放置镜片到载物台或载物台的治具上，将对焦/成像开关切
换到对焦，在目视视场中可见三个光点，调节载物台的旋
扭，让屏幕上可移动按扭中较亮点与原视场点重合；再将
对焦/成像开关切换至成像。
g)调整载物台旋扭，读取需要数据，最好是将干涉条纹调到
3-5条相对数据比校准确。
四、保管保养
a)仪器玻璃表面严禁用手触摸，可用镜头纸或脱脂棉蘸酒精清
擦。
b) 清洁毛巾不能沾水，放置场地需保持干燥、清洁。
c) 若需在2H以内需使用则不需关闭电源，但需关闭显示器的
电源；若需超2H再使用则需关闭电源。
开电源：打开变压器（２２０Ｖ变为１１０Ｖ），此时
五、注意事项
a)放置干涉仪桌子与墙壁不能接触，干涉仪及干涉仪桌子不能受外力震动，否则会影响检测精度。
b)室内需恒温在１℃以内，否则会影响检测精度。
1目的为了使员工正确熟悉的使用ZYGO干涉仪。
本文详细说明了如何使用ZYGO 干涉仪来测试晶体的平行度、波前、平面度等指标。
2范围本文件涉及用ZYGO 干涉仪检测平面元件的一般方法。
3 录取数据在检验过程中将会生成以下记录：3.1干涉图（保存文件名为*.Tif），在实时窗口上点击FILE-SA VE保存。
3.2测试数据（保存文件名为*.Dat），测试完成后点击SA VE DATE保存。
4 Zygo干涉仪的定义4.1 应用（application）应用是ZYGO 干涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“*.app”的文件。
不同的应用用于不同项目的测量。
比较常用的是GIP.app 用于一般的平面和球面的测量，GPI-Cylinde.app 用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角度的测试。
4.2 猫眼像（cateye）又称为标准镜的像。
标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。
4.3 镜片像从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生干涉产生的干涉图形。
包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息来源。
4.4 升降台可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。
4.5 Align/View 模式按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一。
align模式可以看到一个黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较大。
View 模式是按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一，可以看到干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。
一般在align界面对准后在view界面观察条纹。
4.6 标准镜 干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准。
4.7 长度基准设定图像的长度基准，因为放大率不同或者屈光度不同，同样大小的干涉图所代表的零件大小可能有很大的差异。
zygo干涉仪工作原理介绍如下：
Zygo干涉仪（Zygo Interferometer）是一种高精度光学测试仪器，用于测量物体表面形状和平整度等参数。
它主要基于干涉原理，通过将光束分成两部分，再将其重新合并，来检测光束通过物体后发生的光程差，从而得到物体表面的高度差异信息。
下面是Zygo干涉仪的基本工作原理：
1.首先，干涉仪将一束激光光束分成两束，一束经过反射镜后被反射回来，另一束经
过被测试物体的表面后被反射回来。
这两束光线再次交汇，形成干涉。
2.在干涉的区域中，光束的光程差取决于被测试物体的表面高度差异。
如果被测试物
体的表面是平整的，两束光线会完全重合，形成明亮的干涉条纹；如果被测试物体
的表面存在高度差异，则两束光线的相位差会引起干涉条纹的相移，形成暗纹和亮
纹交替的条纹。
3.Zygo干涉仪使用一台高精度的控制器来计算这些条纹的位置和数量，并从中推断出
被测试物体表面的高度差异。
4.为了提高测量的精度和减少干涉条纹的噪声，Zygo干涉仪通常使用一些附加的技术，
如使用一个可调谐的激光源来保持干涉条纹的稳定性，以及使用相干的光源来减少
光源的噪声和干涉条纹的抖动等。
总的来说，Zygo干涉仪利用光的干涉原理来检测被测试物体表面的高度差异，具有高精度、高灵敏度和高可靠性等特点，广泛应用于光学制造、半导体制造、航空航天等领域的表面形状和平整度的测量和检测。
一、用途激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。
仪器配有激光光源（波长为632.8nm）。
对于干涉条纹可目视、测量读数。
工作时对防震要求一般。
该仪器可应用与光学车间、实验室、计量室。
如需配购相关的必要附件，可精密测量光学平面的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90度棱镜的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。
二、主要数据1. 第一标准平面（A面）,不镀膜。
工作直径：D1=φ146mm不平度小于0.02um2.第二标准平面（B面），不镀膜。
工作直径：D2=φ140mm不平度小于0.03um3.准直系统：孔径F/2.8，工作直径：D0=φ146mm焦距：f=400mm4.测微目镜：焦距f=16.7mm，放大倍数β=15X，视场角2W=40°，成像物镜：1.D=4.5 II.D=7 III.D=10F=15 f=23 f=375.工作波长：632.8nm6.干涉室尺寸：深260X宽300X190mm。
7.光源规格：激光ZN18（He-Ne）。
8.仪器的外形尺寸：长X宽X高 350X400X720mm9.仪器重量：100公斤图一第一标准平面（A面）精度照片图二第二标准平面（B面）三、工作原理本仪器工作基于双光束等厚干涉原理。
根据近代光学的研究结果，光兼有波动与颗粒两重特性。
光的干涉现象是光的波动性的特性。
因此，介绍本节内容时，仅在光的波动性的范围内讨论，例如，把“光”称为“光波”，“平行光”称为“平面光”。
波长为的单色光经过仪器有关的光学系统后成为平面波M。
（如图三所示），经仪器的标准平面P1和被检系统P2反射为平面波M1和 M2。
M1、M2即为两相干光波，重叠后即产生等厚干涉条纹。
等厚干涉原理能够产生干涉的光束，叫相干光。
相干光必须满足三个条件：1.震动方向必须一致，2.频率相等：3.光束必须相遇，且在相遇点处的相位差在整个时间内为一常量。
干涉仪的使用方法-概述说明以及解释1.引言1.1 概述干涉仪是一种非常重要的光学仪器，用于测量光波的干涉现象。
通过观察和分析光波的干涉现象，可以得到有关光波性质的重要信息，例如波长、相位差等。
在科学研究、工程应用和教学实验等领域都有广泛的应用。
本文将介绍干涉仪的原理、分类和使用方法，帮助读者更深入地了解和掌握这一重要的光学仪器。
在正文部分，我们将详细介绍干涉仪的原理，包括干涉现象的基本概念和干涉仪的工作原理。
其次，我们将介绍干涉仪的分类，根据不同的工作原理和结构特点进行分类，使读者对干涉仪有更清晰的认识。
在正文的最后，我们将介绍如何正确使用干涉仪，包括使用步骤、注意事项等。
通过本文的介绍和讲解，读者将能够更好地理解和掌握干涉仪的使用方法，为科学研究和工程应用提供帮助。
文章结构部分的内容如下：1.2 文章结构本文主要分为三部分：引言、正文和结论。
- 引言部分主要介绍了本文的背景和目的，以及文章结构的概要。
- 正文部分将详细介绍干涉仪的原理、分类和使用步骤，帮助读者了解干涉仪的基本知识和操作方法。
- 结论部分将总结干涉仪的使用方法，并展望其未来的应用前景，最后给出结语。
通过这样的结构安排，可以帮助读者系统地了解干涉仪的使用方法，同时也为后续的研究和实践提供了参考和指导。
1.3 目的干涉仪是一种重要的光学仪器，它广泛应用于科研领域、工程技术和生产实践中。
本文的目的是介绍干涉仪的使用方法，帮助读者了解干涉仪的原理、分类以及正确的操作步骤。
通过深入探讨干涉仪的使用方法，希望读者能够掌握干涉仪的使用技巧，提高实验的准确性和效率。
同时，为了推动干涉仪在各个领域的应用和发展，本文还将展望干涉仪的未来应用前景。
通过本文的阅读，读者将能够全面了解干涉仪的使用方法，为实验和研究工作提供有力的支持。
2.正文2.1 干涉仪的原理干涉仪是一种利用光的干涉现象进行测量的仪器。
其原理基于光的波动性质，当两束光波相遇时，它们会互相叠加产生干涉条纹，从而揭示出样品表面的微小变化或者检测光的性质。
激光干涉仪对光操作指南6.1 使用前的工作6.1.1 为什么要对光？对光的目的是为了让检测的光线能准确返回激光干涉仪上，让激光干涉仪得到最强的反馈信息，以便计算实际的行程数值。
6.1.2 影像线性测量精度的因素包括哪些？①、死程误差死程误差是在线性测量过程中与环境因素改变有关的误差，这时已采用 EC10 自动补偿功能。
在正常状况下，死程误差并不大，而且只会发生在定标后以及测量过程中的环境改变。
路径 L2的激光测量死程误差与两个光学元件间的距离有关，此时系统定标为 L1，请参阅图 1。
若干涉镜及反射镜之间没有动作，且激光束四周的环境状况有所改变，整个路径(L I + L2)的波长（空气中）都会改变，但激光测量系统只会对 L2距离进行补偿。
因此，死程测量误差会由于光束路径 L1没有获得补偿而产生。
图 1 - 死程误差不过，若当设定定标时固定和移动镜组彼此邻接，死程误差就可忽略不计。
如下图 2 所示。
图 2 - 死程误差可不计时的正确设置如果可能，定标激光器时使镜组互相靠近。
若定标激光器时镜组彼此相隔不到 10 mm，则正常状况下的死程误差就可忽略。
机床几何显示当移动镜组位于轴的零点位置，这两个镜组彼此分得最开，此时可用预置功能来避免与定标激光干涉镜系统有关的潜在死程误差。
②、余弦误差激光束路径与运动轴之间存在的任何未准直都会造成测得的距离和实际的运动距离之间有差异，如图 1 所示。
图 1 - 余弦误差.此未准直误差通常被称为余弦误差。
此误差的大小与激光束和运动轴间的未准直角度有关，如图 1 中的。
当激光测量系统与运动轴未准直时，余弦误差会使得测量的距离比实际距离要短。
随着角度未准直的增加，误差也跟着显著增加，如下表所示：角度( mm/metre) 角度（弧分）误差( ppm)0.451.001.403.204.50 10.001.533.434.8710.8715.3935.390.10.51.05.010.050.0要使余弦误差达到最小，测量激光束必须准直，并与运动轴平行。
ZYGO干涉仪使用说明1.0 目的制定本文件是为了详细说明如何使用ZYGO干涉仪测量平面、球面、柱面晶体元件的曲率半径、面形（平行度、平面度）、以及透过波前畸变，并提高检验过程的准确性和可重复性。
2.0 范围本文件涉及用ZYGO干涉仪检测平面、球面、柱面元件的一般方法。
3.0 记录在检验过程中将会生成以下记录：3.1干涉图（保存文件名为*.Tif），在实时窗口上点击保存。
3.2测试数据（保存文件名为*.Dat），测试完成后点击SAVE DATE 保存。
4.0 相关文件4.1与本文件相关的文件有：•待测零件图纸5.0 定义5.1 应用（application）应用是ZYGO干涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“*.app”的文件。
不同的应用用于不同项目的测量。
比较常用的是GIP.app用于一般的平面和球面的测量，GPI-Cylinde.app用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角度的测试。
5.2 猫眼像（cateye）又称为标准镜的像。
标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。
5.3 镜片像从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生干涉产生的干涉图形。
包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息来源。
5.4 升降台可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。
5.5 Align/View 模式按下控制盒上的align/view切换的2个模式之一。
align模式可以看到一个黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较大。
View模式是按下控制盒上的align/view切换的2个模式之一，可以看到干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。
一般在align界面对准后在view界面观察条纹。
5.6 标准镜干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准。
5.7 长度基准设定图像的长度基准，因为放大率不同或者屈光度不同，同样大小的干涉图所代表的零件大小可能有很大的差异。
设定长度基准的目的就是告诉干涉仪图形中的一段长度相当于镜片中长度的多少，方便控制测量区域和设定掩膜。
5.8 掩膜（mask）表明干涉图中有效区域的工具。
可以根据需要设定有效区域的形状、大小、位置，也可以从有效区域中挖去一部分不需要的。
6.0 职责主要包括以下几个方面：6.1 zygo干涉仪使用和维护部门为品管部。
品管部经理负责保证过程实施所需的培训及资源。
6.2按照校准计划对设备定期检定。
6.3指定的仪器使用者需保证使用过程按按照操作规程操作仪器（程序文件要求实施）。
6.4定期对设备进行保养。
7.0 工具、计量器具、测量设备7.1主要设备和工具包括：ZYGO干涉仪，导轨，三爪卡盘，六维调整架，平面标准镜TF，各种规格的球面标准镜TS，柱面标准镜CGH，标准平面反射镜，升降台 7.2认识ZYGO干涉仪ZYGO干涉仪由主机，测长装置导轨，电脑，控制盒四个主要部分组成。
其中主机又分为主机箱，移相头和标准镜支架三部分。
测长装置是多普勒双频激光测距仪，其中角锥（反射器）安装在导轨上的六维调整架上可以随着调整架上的镜片同步移动。
7.3认识软件界面干涉仪软件MetroPro界面左边是各种功能按钮，有些的作用是实现某种操作，有些的点开是一个窗口，右边是各种图形、数据、信息窗口。
8.0 安全要求•测量过程中，注意对透镜的防护，尤其是表面和边角容易损坏的部位。
•标准镜使用时要插入到位，螺丝拧紧。
不用时要摆放到盒子中避免意外损坏。
9.0 操作流程使用干涉仪测量面形主要包括以下步骤：开机，选择、安装标准镜，找到待测零件表面干涉条纹，输入零件号等相关信息，设定长度基准，取掩膜，测量，结果保存和打印。
不同的零件在找干涉条纹和一些设定方面有所区别，但是基本步骤差不多。
9.1开机依次开启ZYGO显示器电源，机箱控制面板上电源按钮：MASTER、MONITOR、AUX1、AUX2，以及干涉仪主机箱右侧下方POWER。
9.2启动软件，运行程序打开干涉仪主机上的开关以及光栅尺显示屏背后的开关，打开电脑开关启动电脑。
进入Windows 后，双击电脑桌面上的Metropro.exe （如图一）图标启动干涉测量分析软件，运行程序，进入ZYGO测试操作桌面。
启动完成后会自动进入GPI.app，如果没有，关闭当前的窗口，待其缩小为按钮后，在应用选择窗口中点击GPI.app，或者相应的程序。
图一9.3平行度测试主要测试步骤如下：9.3.1按监视器遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIEW），使监视器处于排列状态。
扭动参考反射镜上方的调节旋钮，调整镜面方向，使得反射镜反射回的最亮光斑与十字分划线交点重合。
完成后,按遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIEW），使监视器处于浏览状态。
双击ZYGO测试操作桌面中angle.app按钮进入平行测试操作界面。
9.3.2调整好后将待测晶体放置到样品支架上，通过观察监视器调整晶体，使晶体垂直于测试光（监视器中晶体边缘清晰可见。
）9.3.3点击操作界面左下角Measure Controls 对话框中的Refractive index, 录入待测晶体的折射率（选择632.8nm时对应晶体的折射率，如图二），按回车键确定。
图二9.3.4点击测试界面左上角的Calibrate按钮，在弹出的对话界面中点击Fringe 按钮,对话框中图像显示会进行更新，锁定并显示监视器中画面。
使用鼠标标记晶体通光面宽度，在弹出的对话框中，录入晶体通光面宽度，按回车键确定。
9.3.5点击测试界面中左上角Mask Data按钮（如图三、四所示）, 在弹出的有动态图像的对话框中，首先从下部选项中选择晶体外形标定（例如正方形则选择square）。
在动态图像中，使用鼠标准确标定待测晶体，要求标定范围不能超出晶体。
并在动态图像上方无晶体的空间内，选择与待测晶体规格相近的区域，此区域将作为参考区域。
图三然后，点击下部选项中的BG Inc使该按钮变为BG EXC，锁定选择区，点击Define，定义Acq。
之后点击Test，选择Unfill，去除最后标定的参考区域，图四点击Define，定义Test（晶体测试区域）。
再点击Ref，选择Fill，添加最后标定的参考区域，点击Pick，然后用鼠标点击待测晶体区域边框，选择Unfill，去除晶体待测区域，点击Define，定义Ref （参考区域）。
9.3.6点击测试界面中左上角Measure按钮，系统进行自动测算。
当监视器中左下角出现Wedge X.X sec（表示被测量器件两表面的夹角为X.X秒）时，记录下此时X.X 即为晶体的平行度。
测试完毕后关闭平行度测试操作界面，点击左上角X符号，退回到ZYGO主测试操作桌面。
9.4 平面度测试9.4.1 调整监视器遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIEW），使监视器处于排列状态。
移除标准参考反射镜面，将晶体放置到样品支架上，调整晶体方向，使其反射回的光斑与十字分划线交点重合。
完成后，按监视器遥控器上的显示切换键，使监视器处于浏览状态。
点击ZYGO测试操作桌面中GPI.app按钮进入平面度测试操作界面。
9.4.2点击测试界面左上角的Calibrate按钮（如图五所示），在弹出的对话界面中点击Fringe按钮,对话框中图像显示会进行更新，锁定并显示监视器中画面。
使用鼠标标记晶体通光面宽度，在弹出的对话框中，录入晶体通光面宽度，按回车键确定。
9.4.3点击测试界面中左上角Mask Data按钮（如图五所示）, 在弹出的有动态图像的对话框中，首先从下部选项中选择晶体外形标定（例如正方形则选择square）。
在动态图像中，使用鼠标准确标定待测晶体，要求标定范围不能超出晶体。
点击Define，定义待测区域。
9.4.4点击测试界面中左上角Measure按钮，系统进行自动测算。
当监视器中左上角出现PV X.XXX Wave（表示被测样品最高点与最低点之间的距离为X.XXXλ）时（如图六所示），记录此时X.XXX即为晶体的平面度值。
测试完毕后关闭测试操作界面，点击左上角X符号，退回到ZYGO主测试操作桌面。
图五图六9.5 波前畸变测试主要测试步骤如下：9.5.1调整监视器遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIEW），使监视器处于排列状态。
扭动参考反射镜上方的调节旋钮，调整镜面方向，使得反射镜反射回的最亮光斑与十字分划线交点重合。
完成后,按监视器遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIEW），使监视器处于浏览状态。
点击ZYGO测试操作桌面中GPI.app按钮进入波面测试操作界面。
9.5.2将待测晶体放置到样品支架上，通过观察监视器调整晶体，使晶体垂直于测试光（监视器中晶体边缘清晰可见）。
9.5.3点击测试界面左上角的Calibrate按钮，在弹出的对话界面中点击Fringe 按钮,对话框中图像显示会进行更新，锁定并显示监视器中画面。
使用鼠标标记晶体通光面宽度，在弹出的对话框中，录入晶体通光面宽度，按回车键确定。
9.5.4 点击测试界面中左上角Mask Data按钮, 在弹出的有动态图像的对话框中，首先从下部选项中选择晶体外形标定（例如正方形则选择square）。
在动态图像中，使用鼠标准确标定待测晶体，要求标定范围不能超出晶体。
点击Define，定义待测区域。
9.5.5点击测试界面中左上角Measure按钮，系统进行自动测算。
当监视器中左上角出现PV X.XXX Wave（表示被测样品最高点与最低点之间的距离为X.XXXλ）时，记录此时X.XXX即为晶体的波面数值（如图五所示）。
测试完毕后关闭波面测试操作界面，点击左上角X符号，退回到ZYGO主测试操作桌面。
10.0 细节说明和结语10.1 安全要求10.1.1 测量过程中，注意对透镜的防护，尤其是表面和边角容易损坏的部位。
10.1.2 标准镜使用时要插入到位，螺丝拧紧。
不用时要摆放到盒子中避免意外损坏。
10.1.3使用干涉仪测量面形主要包括以下步骤：开机，选择、安装标准镜，找到待测零件表面干涉条纹，输入零件号等相关信息，设定长度基准，取掩膜，测量，结果保存和打印。
不同的零件在找干涉条纹和一些设定方面有所区别，但是基本步骤差不多。
10.2选择、安装标准镜选择：平面和柱面选择平面标准镜TF，球面选择球面标准镜。
球面标准镜在选择的时候要考虑镜片的曲率半径和口径，参照JENfizar的标准镜选择图例（附件A）。
安装：将标准镜的两个插销对准标准镜安装支架上的卡口插入，旋转，安装到位，旋转锁死螺钉固定好。
按下控制盒上align/view切换到align模式，将光点调到十字线的中心。
10.3寻找干涉条纹10.3.1平面：将待测面正对干涉仪主机放置到升降台上，如果是楔角较小的平片或者直角棱镜之类的可能需要把背面事先涂上凡士林来消除杂光影响。
