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10
质谱仪
接口 等离子体源 进样系统
A Typical ICP-MS in 1990s
(PE, Plasm. aQuad II)
11
ICP-MS Lab. in Phys. Sci. Center, USTC
(Thermo VG Elemental, PlasmaQuad III)
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12
A Typical ICP-MS Laboratory in 2000s
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仪器和试样制备所引起的干扰
▪ 等离子体气体通过采样锥和分离锥时,活泼性
氧离子会从锥体镍板上溅射出镍离子。采取措 施使等离子体的电位下降到低于镍的溅射闭值, 可使此种效应减弱甚至消失。
▪ 痕量浓度水平上常出现与分析物无关的离子峰,
例如在几个ng·mL-1的水平出现的铜和锌通常 是存在于溶剂酸和去离子水中的杂质。因此, 进行超纯分析时,必须使用超纯水和溶剂。最 好用硝酸溶解固体试样,因为氮的电离电位高, 其分子离子相当弱,很少有干扰。
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7
Part II: ICP-MS系统组成及工作原理
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8
原子质谱分析包括下面几个步骤:
原子化 将原子化的原子大部分转化为离子 离子按照质荷比分离 计数各种离子的数目
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9
质谱仪
Ion D etector
M ass Separation D evice
接口 等离子体源 进样系统
MS In te rfa c e
方向聚焦和动能聚焦 ➢扇形磁场偏转分离 ➢静电分析器消除相 同质量离子间的动能 差别 具有更高的分辨率
N. Jakubowskia et. al., Spectrochimica Acta 53B (1998) 1739–1763