平面度计算

四点平面度的计算方法
在制造业中，平面度是指平面在垂直方向上的弯曲程度。

通常使用千分尺或测厚仪等工具来测量平面度。

以下是四点测量法计算平面度的步骤：
1. 确定测量点：在平面的四个角落中选择四个测量点，确保它们分布均匀且能够代表平面的整体情况。

2. 测量尺寸：使用千分尺或测厚仪等工具，分别测量四个测量点处的厚度尺寸。

3. 计算平均值：将四个测量点的尺寸平均值作为平面度的基准尺寸。

4. 计算偏差值：将每个测量点尺寸与基准尺寸进行比较，计算出每个测量点的偏差值。

5. 计算平面度：将每个测量点的偏差值代入以下公式，计算出平面度误差：
平面度误差 = 允许误差 / 基准尺寸 ×四个测量点偏差值的平均值
其中，允许误差是特定应用中可接受的误差范围。

根据实际应用需求，可以调整允许误差的值以控制平面度误差的计算结果。

通过以上步骤，可以使用四点测量法计算平面的平面度误差。

注意在实际操作中，还需要考虑其他因素如表面粗糙度、温度变化和材料膨胀等对测量结果的影响。

5,1点第一次修正值 5,2点第一次修正值 5,3点第一次修正值 5.4点第一次修正量
0.318932584
4,1点第二次 修正值
0.400955056
4,2点第二次 修正值
0.442977528
4,3点第二次 修正值
0.505
4.4点第二次 修正量
0.567022472
4.5点第二次 修正量
0.291910112
0.536666667
3,2点第一次修 正值
0.411240993 3,2点第二次修正值
0.5
3,3点第一次修 正值
0.523333333
3.4点第一次修 正量
0.506666667
3.5点第一次修 正量
0.51
4,1点第一次修 正值
4,2点第一次修 正值 4,3点第一次修 正值 4.4点第一次修 正量 4.5点第一次修 正量
0.490496397 3,3点第二次修正值
0.549751801 3.4点第二次修正量
0.569007206 3.5点第二次修正量
0.312978383 4,1点第二次修正值 0.382233787 4,2点第二次修正值 0.411489191 4,3点第二次修正值 0.460744596 4.4点第二次修正量
后，整个平面数据围绕第一次旋转的基
5*5点阵对角线 计算平面度
准旋转至左下右上对角线等高，除去左 0.0525 上右下点外的所有数据根据三角函数和
几何关系进行修正，修正之后的最大值
减去最小值就是平面度，程序若有错
误，请联系作者：289573965 迷津待渡
是计算程序简化算法用。 间量（自动计算值，勿修改）
0.395955056

一、平面度定義:
平面度測量是指被測實際表面對其理想平面的變動量。

平面度誤差是將被測實際表面與理想平面進行比較，兩者之間的線值距離即為平面度誤差值
二、理想平面計算方式 -- 迴歸分析（Regression）：
迴歸分析原理
a. 目的在於找出一條最能夠代表所有觀測資料的函數（迴歸估計式).
b。

用此函數代表因變數和自變數之間的關係
三、TRI 7700Q平面度量測範例：
在平面上取得16個點的X, Y座標與Z絕對高度數據如下，
利用回歸分析算出理想平面函數： a0+a1*X+a2＊Y = Z
得到三個參數a0, a1, a2,
將X, Y座標帶入理想平面公式, 得到每一點的理想平面高度Zs= a0+a1*X+a2＊Y ，
計算所有點的(原始高度—理想平面高度）得到差值Z—Zs=delta,
平面度結果即為Flatness=MAX(delta)-MIN（delta)
平整度數據與趨勢圖。

平面度计算方法
平面度计算方法有很多种,以下是其中的一些主要方法:
1. 测量平面度:使用平面度的测量工具,如平面度计或量角器,
对平面进行测量。

通常使用一个光源或摄像头来测量平面的位置和角度,然后将其转换为平面度值。

2. 计算平面上的条:使用数学算法来计算平面上的条。

在欧氏几何中,可以使用欧拉定理来计算平面上的条。

该定理表明,对于任何平面上的向量u和v,u·v=|u|·|v|·cosθ,其中θ是u和v之间的夹角。

可以使用这个定理来计算平面上的条。

3. 计算几何图形的平面度:对于几何图形,可以使用几何学的平
面度计算方法来计算其平面度。

这些方法包括计算几何图形的交线数目、计算对称轴的度数、计算轮廓的度数等。

4. 使用计算机程序来计算平面度:使用计算机程序来计算平面
度是另一种方法。

一些常见的平面度计算软件包括MATLAB和Python 等。

这些软件可以使用欧氏几何、拉格朗日乘子法或卡尔曼滤波等算法来计算平面度。

需要注意的是,不同的平面度计算方法可能会得到不同的结果。

因此,应该选择一种合适的方法来解决实际问题并确保结果的准确性。

平面度计算公式实例平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。

在工程领域中，准确计算平面度对于保证产品质量和性能至关重要。

下面咱就通过一些实例来瞅瞅平面度的计算公式到底咋用。

先来说说平面度的计算公式，常见的有最小二乘法、三点法等等。

咱就以最小二乘法为例展开讲讲。

假设咱有一组测量点的坐标（x₁,y₁,z₁），（x₂,y₂,z₂），......，（xₙ,yₙ,zₙ）。

最小二乘法的基本思路就是找到一个理想平面，让这些测量点到这个平面的距离的平方和最小。

那这个理想平面的方程可以表示为 Ax + By + Cz + D = 0 。

通过一系列数学推导和计算（这部分就不展开细说了，不然脑袋得晕乎），可以得出平面度的值。

我记得之前在一个机械加工厂实习的时候，就碰到过跟平面度有关的事儿。

当时厂里在加工一批金属零件，要求平面度误差不能超过一个很小的数值。

师傅们拿着各种测量工具，忙得不亦乐乎。

我在旁边看着，心里充满了好奇。

有个师傅拿着三坐标测量仪，仔细地测量着零件上的各个点。

那认真的劲儿，就好像在对待一件珍贵的宝贝。

测完数据后，就开始用电脑软件进行计算平面度。

我凑过去看，满屏幕的数字和图表，看得我眼花缭乱。

师傅一边操作，一边跟我解释：“这平面度要是超了，零件装上去可就不灵光啦，会影响整个机器的性能。

”我似懂非懂地点点头。

后来，经过一番努力，终于算出了平面度。

结果还算不错，在允许的误差范围内。

大家都松了一口气，脸上露出了欣慰的笑容。

咱再来看个具体的计算例子。

假如有五个测量点，坐标分别是（1,1,5），（2,3,7），（3,2,6），（4,4,8），（5,5,9）。

首先，咱要建立一个方程组，然后通过求解这个方程组，得出平面方程的系数A、B、C 和 D 。

经过一番计算（过程略去，不然太复杂啦），得到平面方程比如是 2x + 3y - z + 1 = 0 。

接下来，计算每个测量点到这个平面的距离。

这距离公式是：d =|Ax₁ + By₁ + Cz₁ + D| / √(A² + B² + C²) 。

平面度测量算法设计
平面度定义：
平面度误差是指被测实际表面对其理想平面的变动量。

平面度误差的评定方法：
1、三远点法：是以通过实际被测表面上相距最远的三点所组成的平面作为评定基准面，以平行于此基准面，且具有最小距离的两包容平面间的距离作为平面度误差值。

2、对角线法：是以通过实际被测表面上的一条对角线，且平行于另一条对角线所作的评定基准面，以平行于此基准面且具有最小距离的两包容平面间的距离作为平面度误差值。

3、最小二乘法：是以实际被测表面的最小二乘平面作为评定基准面，以平行于最小二乘平面，且具有最小距离的两包容平面间的距离作为平面度误差值。

最小二乘平面是使实际被测表面上各点与该平面的距离的平方和为最小的平面。

此法计算较为复杂，一般均需计算机处理。

4、最小区域法：是以包容实际被测表面的最小包容区域的宽度作为平面度误差值，是符合平面度误差定义的评定方法。

各方法有优劣分析：
三点法比较简单，但不够精确结果也不唯一；对角线法比较方便且经济适用，精度也比较高；最小二乘法比较便于用计算机对数据进行处理，尤其测量数据较多时更加方便快捷；最小区域包容法符合最小条件，但是解析法很难直接求出，当测量数据较小时，可以根据数据和个人经验找出符合最小条件的两平行平面，当平面度误差评定结果有异议或精度要求最高时，应使用最小区域包容法。

根据共焦位移传感器的特点，本算法采用最小二乘法求平面度误差。

最小二乘法数学计算：。

平面度的计算方法
平面度是指工件表面与参照面之间的平面距离差，是衡量工件表面平整度的重要参数。

平面度的计算方法可以通过以下步骤进行：
1. 准备测量工具：平面度计、检测平台、参照平面等。

2. 将待测工件放置在检测平台上，并使其表面与参照平面接触。

3. 将平面度计垂直于参照平面放置在待测工件表面上，并记录初始读数。

4. 按照标准的测量方法，移动平面度计并记录各个位置的读数。

5. 将读数进行比较，计算平面度的差值。

平面度的计算公式为：平面度=最大读数-最小读数。

6. 如果平面度差值超过了允许范围，需要进行调整或修整操作，以提高工件的平整度。

除此之外，还有一些注意事项需要注意。

例如，需要确保检测平台和参照平面的平整度符合标准要求，以避免误差。

此外，需要避免在测量过程中产生外力，以保证测量精度。

总的来说，平面度的计算方法是一项非常重要的工作，可以帮助工程师和制造商提高工件的质量和性能。

通过科学的计算方法和严格的质量控制，可以确保工件的平整度符合标准，为生产制造提供更好的保障。

平面度算法
平面度算法是一种用于评价图像平整度的算法，由于图像在数字化后会存在一些像素级别上的变化，因此需要进行平面度评价来确定图像是否平整。

平面度算法的核心思想是通过对图像高度和宽度进行统计，计算图像整体的平均高度和宽度之比，从而得出图像的平面度指数。

其中，平均高度和宽度可通过图像的像素点数据进行计算，具体计算公式是：平均高度=图像所有像素点高度的和/图像总宽度，平均宽度=图像所有像素点宽度的和/图像总高度，平面度指数=平均宽度/平均高度。

通过对图像的平面度进行评价，可以有效的判断出图像平整度是否达到要求，为图像处理和分析提供了可靠的依据。

光学平面度计算方法光学平面度是指物体表面在某一平面上的平整程度，也可以理解为物体表面的平坦程度。

在光学领域中，光学平面度是一个非常重要的参数，它直接影响着光学元件的光学性能。

因此，准确地计算光学平面度是非常必要的。

光学平面度的计算方法有很多种，下面我将介绍几种常用的方法。

第一种方法是使用平面度测量仪进行测量。

平面度测量仪是一种专门用于测量物体表面平整度的仪器，它可以通过对物体表面进行扫描，然后根据扫描结果计算出物体表面的平整程度。

这种方法可以非常准确地计算出光学平面度，但是需要使用专门的仪器，并且操作比较复杂。

第二种方法是使用投影仪进行测量。

投影仪可以将一个光源的光线投射到物体表面上，然后通过观察投影结果来判断物体表面的平整程度。

具体操作时，可以将物体放置在投影仪的工作台上，然后调整光源的位置和角度，使得投影结果呈现出均匀的亮度。

如果投影结果呈现出均匀的亮度，则说明物体表面比较平整；如果投影结果呈现出不均匀的亮度，则说明物体表面存在一定程度的不平整。

这种方法操作简单，但是测量结果相对不够准确。

第三种方法是使用光学干涉仪进行测量。

光学干涉仪是一种利用光的干涉原理来测量物体表面平整度的仪器。

具体操作时，可以将物体放置在光学干涉仪的工作台上，然后调整干涉仪的参数，使得干涉图样呈现出均匀的亮度。

如果干涉图样呈现出均匀的亮度，则说明物体表面比较平整；如果干涉图样呈现出不均匀的亮度，则说明物体表面存在一定程度的不平整。

这种方法可以相对准确地计算出光学平面度，但是需要使用高精度的光学干涉仪，并且操作比较复杂。

除了以上几种方法外，还可以使用计算机辅助设计软件进行光学平面度的计算。

这种方法需要将物体的三维模型导入到计算机软件中，然后通过软件自带的平面度计算功能来计算物体表面的平整程度。

这种方法操作简单，但是需要有一定的计算机技术和软件操作经验。

总结起来，光学平面度的计算方法有很多种，每种方法都有其优缺点。

在实际应用中，可以根据具体情况选择合适的方法来进行计算。

怎样计算平板‎的平面度1、最近很多朋友‎都向我咨询铸铁平板的平面度怎么‎计算，我整理了一些‎资料不知道对‎大家有没有帮‎助；有兴趣的朋友‎可以参考一下‎。

对于用刀口尺‎和微米量块检‎定尺寸较小的‎平板，其平面度算法‎比较简单。

但是对于大尺‎寸平板需要用‎电子水平仪或‎者自准直仪来‎检定，其数据处理是‎比较繁琐，也没有更好的‎手算方法，通常只能借助‎程序进行数据‎处理。

对于小铸铁平板，按照米字形测‎量，其算法如下：a1 a2 a3b1 b2 b3c1 c2 c3测量a1b2‎c3对角线，在a1、c3位置架设‎1mm的等高‎量块，在b2位置塞‎入恰好能塞入‎的量块（原理同塞尺），如恰好塞入1‎.003mm的‎量块，说明受检点处‎凹下0.003mm，同理测量米字‎形的八条线，记下数据。

如得到一组测‎量数据（单位：μm）：a1，b2，c3=0，-3，0c1，b2，a3=0，-3，0a1，a2，a3=0，-1，0b1，b2，b3=0，-1，0c1，c2，c3=0，-1，0a1，b1，c1=0，-2，0a2，b2，c2=0，-2，0a3，b3，c3=0，-1，0得到米字形数‎据表为：0 -1 0-2 -3 -20 -1 0平板的平面度‎为3μm以上不过这是‎特例，很多平板的对‎角线所测得的‎数据是无法正‎好重合的，需要以一根对‎角线为基准，另外七条线采‎用数据叠加的‎方法运算，但道理是相通‎的，如果大家有什‎么不明白的可‎以再问我。

以下大家可以‎参考一下啊。

铸铁平板1、范围本标准规定了‎精度等给为000级、00级、0级、1级、2级、3级铸铁平板‎的型式与尺寸‎，技术要求，检验方法，标志与包装等‎。

本标准适用于‎工作面为16‎0m×100mm～4000mm‎×2500mm‎（长度×宽度）的铸铁平板（以下简称平板‎）。

2、引用标准下列标准所包‎含的条文，通过在本标准‎中引用而构成‎为本标准的条‎文，本标准出版时‎，所示版本均为‎有效。

平面度计算方式
平面度，亦被称平整度，是产品几何规范中常见的四项形状公差之一，也是用于评定产品成形表面质量的关键指标之一。

对于安装表面而言，平面度直接影响零部件的贴合效果和紧固性能。

一、定义
根据最新ISO12781-2011国际标准，以及与之对应的国家标准《GB/T24630.1-2009产品几何技术规范（GPS）平面度第1部分：词汇和参数》，平面度被定义为实测表面高度距离理想平面的偏差。

理想平面是利用实测数据计算并拟合出的平面，与理想平面平行的上下两个平面在空间内包含所有测量点，这两个平面的最小距离t被称之为公差值。

二、两种计算方法
平面度的计算首先需确定理想平面，再以该理想平面作为基准平面计算各测量点到基准平面的绝对距离值，最终取最大值。

最小区域平面和最小二乘平面是用于评定理想平面的两种常用方法。

最小区域基准平面是指包容所有测量数据且距离为最小的两平行平面，两平面的最小距离值t即为平面度的公差值。

最小二乘基准平面是指各测量点距该表面的距离的平方和为最小的平面，分别计算波峰、波谷至该平面的距离绝对值，即为平面度偏差。

平面度计算公式平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。

在机械制造、工程测量等领域，准确计算平面度是非常重要的。

咱先来说说平面度的计算公式。

常见的平面度计算公式有好几种，比如最小二乘法、对角线法等等。

最小二乘法呢，简单来说就是通过一系列测量点的数据，找到一个最能拟合这些点的平面，然后计算各个测量点到这个拟合平面的距离，这些距离中的最大值和最小值之差就是平面度。

这就好像你要给一群调皮的小朋友排排坐，找到一个最合适的位置让他们都能乖乖待着，然后看看谁离这个位置最远和最近，这最远和最近的距离差就是平面度啦。

对角线法呢，是通过测量平面上两条对角线以及平行于这两条对角线的直线上的点的高度值，然后比较这些高度值的差值来确定平面度。

举个例子吧，有一次我在工厂里看到师傅们在检测一个大型零件的平面度。

他们拿着精密的测量仪器，小心翼翼地在零件表面上选取测量点，那认真的劲儿，就好像在对待一件珍贵的宝贝。

师傅一边测量，一边嘴里还念叨着数字，额头上都冒出了汗珠。

我在旁边看着，心里也跟着紧张起来。

最后，经过一系列的计算和分析，确定了这个零件的平面度是否符合要求。

这让我深刻地感受到，哪怕是一点点的平面度偏差，都可能影响到整个产品的质量和性能。

在实际应用中，选择哪种平面度计算方法，得根据具体的情况来。

比如测量的精度要求、测量工具的精度、测量对象的特点等等。

如果精度要求特别高，可能就得用更复杂但更准确的方法。

总之，平面度的计算可不是一件简单的事儿，需要我们仔细认真，选择合适的方法，才能得出准确可靠的结果。

这就像是我们解决生活中的难题一样，得找对方法，才能事半功倍。

希望大家在面对平面度计算的时候，都能胸有成竹，轻松应对！。

最小二乘法平面度计算公式最小二乘法（Least Squares）是一种常用的数学方法，在众多领域中都有广泛的应用，包括拟合曲线、拟合平面、数据回归分析等。

平面度是指物体表面的平整程度，用于描述物体表面与参考平面之间的偏差。

而最小二乘法通过计算数据点到拟合平面的残差，来评估拟合平面与数据的拟合程度，从而对平面度进行计算和分析。

在介绍最小二乘法平面度计算公式之前，我们先讨论一下最小二乘法平面拟合的原理。

对于二维平面上的n个数据点(xi, yi)，我们需要找到一个平面方程z = α + βx + γy，使得数据点到拟合平面的总残差最小。

其中，(x, y, z)为平面上的任意一点坐标，(α, β, γ)为待求的平面参数。

通过最小二乘法，我们可以得到以下的计算公式：1.计算平均坐标值：x¯ = (Σxi) / ny¯ = (Σyi) / nz¯ = (Σzi) / n2.计算中心化坐标：ui = xi - x¯vi = yi - y¯wi = zi - z¯3.构建法方程：∑(ui^2)α + ∑(uivi)β + ∑(uizi)γ = ∑(uiwi)∑(uivi)α + ∑(vi^2)β + ∑(vizi)γ = ∑(viwi)∑(uizi)α + ∑(vizi)β + ∑(zi^2)γ = ∑(ziwi)4.解法方程：[ ∑(ui^2) ∑(uivi) ∑(uizi) ] [ α ] [ ∑(uiwi) ][ ∑(uivi) ∑(vi^2) ∑(vizi) ] [ β ] = [ ∑(viwi) ][ ∑(uizi) ∑(vizi) ∑(zi^2) ] [ γ ] [ ∑(ziwi) ]5.计算平面系数：[ α ] [ ∑(ui^2) ∑(uivi) ∑(uizi) ]^-1 [ ∑(uiwi) ] [ β ] = [ ∑(uivi) ∑(vi^2) ∑(vizi) ] x [ ∑(viwi) ] [ γ ] [ ∑(uizi) ∑(vizi) ∑(zi^2) ] [ ∑(ziwi) ]通过求解方程组，我们可以得到平面方程的系数(α,β,γ)，从而得到拟合的平面方程。

最小二乘法计算平面度公式最小二乘法的基本思想是通过最小化实际观测值与拟合曲线的残差平方和来求解拟合曲线的参数。

对于平面度计算而言，拟合曲线可以视为对于一个平面表面进行拟合。

通过最小二乘法，我们可以计算出平面表面的方程，从而得到平面度的公式。

假设给定的平面度测量数据为一组点(x1, y1), (x2, y2), ..., (xn, yn)，我们的目标是找到一个尽可能符合这些数据点的平面方程。

平面度的主要目标是使得测量点到平面的距离最小化。

首先，我们需要选择合适的平面方程表示。

一般而言，二次函数可以很好地逼近一个平面。

因此，我们可以将平面度表示为以下的二次函数形式：Z = a + bx + cy + dx^2 + exy + fy^2其中，Z表示表面高度，x和y是平面上的坐标，a、b、c、d、e、f是模型的未知参数。

接下来，我们使用最小二乘法来确定这些参数。

我们的目标是最小化残差平方和，即测量点到拟合平面的距离之和的平方。

假设第i个测量点的坐标为(xi,yi)，对应的测量高度为zi，则该点到拟合平面的距离可以表示为：di = zi - (a + bxi + cyi + dxi^2 + exiyi + fy^2i)为了简化计算，我们可以将上述的二次函数展开成以下形式：di = a1 + b1xi + c1yi + d1xi^2 + e1xiyi + f1yi^2其中，a1 = a，b1 = bxi，c1 = cyi，d1 = dxi^2，e1 = exiyi，f1 = fy^2i。

进一步地，我们可以将所有的参数放在一个向量中表示：P=[a1,b1,c1,d1,e1,f1]我们将所有的测量点放在一个矩阵中表示：X=[1,x1,y1,x1^2,x1y1,y1^2;1,x2,y2,x2^2,x2y2,y2^2;...1, xn, yn, xn^2, xnyn, yn^2]我们还可以将所有的残差放在一个向量中表示：D = [d1, d2, ..., dn]那么，残差平方和可以表示为：RSS=D^TD其中，T表示矩阵的转置。

怎样计算平板的平面度1、最近很多朋友都向我咨询铸铁平板的平面度怎么计算，我整理了一些资料不知道对大家有没有帮助；有兴趣的朋友可以参考一下。

对于用刀口尺和微米量块检定尺寸较小的平板，其平面度算法比较简单。

但是对于大尺寸平板需要用电子水平仪或者自准直仪来检定，其数据处理是比较繁琐，也没有更好的手算方法，通常只能借助稈序进行数据处理。

对于小铸铁平板，按照米字形测量，其算法如下：a1a2a3 b1b2b3c1c2c3测量a1b2c3对角线，在al、c3位置架设1mm的等高量块，在b2位置塞入恰好能塞入的量块（原理同塞尺），如恰好塞入1.003mm的量块，说明受检点处凹下0.003mm,同理测量米字形的八条线，记下数据。

如得到一组测量数据（单位：pm）：a1，b2，c3=0，-3，0c1，b2，a3=0，-3，0a1，a2，a3=0，-1，0b1，b2，b3=0，-1，0c1，c2，c3=0，-1，0a1，b1，c1=0，-2，0a2，b2，c2=0，-2，0a3，b3，c3=0，-1，0得到米字形数据表为：0-10-2-3-20-10平板的平面度为3pm以上不过这是特例，很多平板的对角线所测得的数据是无法正好重合的，需要以一根对角线为基准，另外七条线采用数据叠加的方法运算，但道理是相通的，如果大家有什么不明白的可以再问我。

以下大家可以参考一下啊。

铸铁平板1、范围本标准规定了精度等给为000级、00级、0级、1级、2级、3级铸铁平板的型式与尺寸，技术要求，检验方法，标志与包装等。

本标准适用于工作面为160mx100mm〜4000mmx2500mm（长度x宽度）的铸铁平板（以下简称平板）。

2、引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文，本标准出版时，所示版本均为有效。

所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。

GBT1184--1996形状和位置公差，未注公差的规定。

平面度公差表
摘要：
1.平面度公差的定义和重要性
2.平面度公差的表示方法
3.平面度公差的测量和计算
4.平面度公差的应用实例
正文：
一、平面度公差的定义和重要性
平面度公差是指一个平面上各个点与其理想平面之间的偏差。

在机械制造、仪器仪表、建筑等领域，平面度公差是一个非常重要的参数，因为它直接影响到产品的质量和使用效果。

在实际生产中，需要对产品的平面度公差进行严格的控制。

二、平面度公差的表示方法
平面度公差的表示方法主要有以下几种：
1.直接表示法：通过数字和符号直接表示平面度公差的大小。

例如，一个平面的平面度公差为0.01mm，可以表示为“平面度公差：0.01mm”。

2.间接表示法：通过平面度公差的等级来表示其大小。

平面度公差的等级分为0、1、2、3、4 五个等级，等级越高，公差越大。

例如，一个平面的平面度公差为2 级，可以表示为“平面度公差：2 级”。

三、平面度公差的测量和计算
平面度公差的测量和计算主要包括以下步骤：
1.确定测量基准：选择一个平面作为基准，用于测量其他平面的平面度公差。

2.测量各点的高度：使用高度计等测量工具，测量基准平面上各点的高度。

3.计算偏差：根据测量结果，计算各点与基准平面之间的偏差。

4.计算平面度公差：根据偏差的最大值和最小值，计算平面度公差。

四、平面度公差的应用实例
平面度公差在机械制造、仪器仪表、建筑等领域都有广泛应用。

例如，在机械制造中，需要对机床的工作台面、刀具的刀尖等部件的平面度公差进行严格控制，以保证产品的加工精度。