三坐标测量机的升级改造和多功能化

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以降低加工难度。从事模具制造的
Gm I l e 0公司通过简单地将夹套系 b
统 由双 角设 计 更 换 为单 角的 D 2 R0
和精力 ( 取决于 C M的服役年限 M 性 ,使刀具寿命和加工精度都得到 和复杂程度)往往可能成为生产流 了提高。波音公司在加工复合材料 程中的一个瓶颈。通过有选择地对 仪表板时 ,由于刀具非常小,几乎 C M进行升级 改造 和采用多功能 M 不允许有不平衡引起 的误差,因此 C M技术 ,有助于提高 C M的测 M M 为转速 30  ̄ 00 m的弹簧夹头设计了 0
量速度 和检测柔性 。 特殊的突出部 , 进一步提高了夹头 的平衡性 和同心度 。另一个 明尼苏 C MM 的升级 改造 达州的制造商用单点金刚石刀片对 对 C M进行升级改造时,首 M 几十万个孔进行单点镗孔加工 , 孔 先必须考虑 的问题 是 C M的机械 M 的公差 仅 为 000i. ( .r m) .03n O ̄T 。 m 性能。为此 , 要检查 C M 的使 需 M 要通过多次自动换刀完成如此高精 用状态 ,如果机械部分状况 良好 , 度的加工操作,主轴 的适配精度极 能够校准和保持精度 ,那么就适合 其重要 。 对其进行升级。如果机械系统 已经 在上述加工实例中,有些属于 损坏,丧失了精度 ,就没有必要对 极端加工条件,有些则不是 ( 如更 其进行升级改造。 换夹套系列 ) 。关键在 于,如果没 如果一台 C M机械性能完好, M 有精确的主轴适配性、同心度和 良 好的动平衡 ,要在这种极端条件下
系列,改善 了同心度 和换 刀重复
状态 良 好但软件运行平台仍为 D S O
操作系统的 C M。用基于 W nos M i w d 操作系统的新型测量软件 ( zi 如 es s 公司的 Cl s 软件包 )对其进行 ap yo 更新升级后 , 就能输入 C D文件 , A 选择i量范围, 自 见 0 并 动创建测量程
序。这种面向操作者的软件允许脱
机编程,可在不中断测量 的情况下 为检测新的零件进行编程准备 ( 见
图பைடு நூலகம்1。 )
如果一个加工车间有多台不同
品牌 的 C M,可 以将它们升级 到 M 同一个测量软件包 , 这样操作人员 就可以方便地在多台 C M 之间轮 M 换操作。软件的标准化还有利于新 购置 C M设备 ,因为可 以将测量 M 软件直接移植到新增的 C M上。 M
密制造商应认真考虑高质量工具夹
头的边际成本差异。良好的工具夹 头能够在增加生产效率的同时减少 刀具费用和辅助工时。
( 华锟 谢
1 6
译)
图 1 用 基于 Widw 系统的 C l s 软件 包更新 C V。可输入 C D文件、选 择测 n os a po y Ml l A
量范围和自动创建测量程序 。如有必要还可脱 机编程
提 高扫描测 头 的扫描 测量 速度
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20 0 6 NO. 工 一 展 5
不可忽视工具夹头
许 多事例表 明,通过改善主 轴适配性、同心度和平衡性能,可
三坐标测量机的升级改造和多功能化
三坐标测量机 (M C M)使加 比较经济实惠的升级方式就是更新 工车间能够对用户要求 日 益严格的 其测量软件。软件升级是 C M改 M 零 件 公 差 进 行 检 测。但 是 ,用 造的工作重点。一个典型实例是升 C M进行精密测量所耗费的时间 级改造一 台已使用 了 1 年 ,硬件 M 5
完成加工实际上是不可能的。而将 这些理念应用于车间的日常加工中 也大有裨益。精确的主轴适配性可 提高批量加工零件的重复精度 ,在 生产过程中易于保证公差 ,从而降
低加工成本。高的同心度可使刀具
每齿 切削负荷均衡 ,刀具寿命延 长 , 而减少刀具 费用和辅助 工 从 时。良 好的平衡能充分发挥机床的 加工能力 ,提高工效 ,减少工时。 希望降低加工过程可变性的精
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2O O6 No. 工 具 展 望 5
完成 软件升 级后 ,下一个 步 2 分钟,而采用 Nv a r 2 agt 套件 ( io 即 检测薄壁金属工件则可能因测力过 骤是升级更新 C M控 制器。通过 使不对测量程序作任何改编)可使 大而损坏工件 ,检测此类工件 的精 M 更换新型控制器 ,可以显著提高数 检测速度提高 3%。 度 要求可能 比检 测发 动 机汽 缸体 的 o 据 采 集 的 速 度 和 精 度 ,还 能 为 典型精度要求 ( 2 a < t )要低 l ~ m O C M提供信息采集 、随机诊断 等 M 功能和预检修程序 。
传感技术的改进
2 倍。 o
传感器技术 的进 一步发展包 新型扫描测头能够弥补传统测 完成软件和控制器升级后 ,更 括在不接触工件的情况下采集其尺 头测量功能 的不足。传统的触发测 新测头技术也可 以显著 改善 C M 寸数据的能力。如采用激光测头进 头 只能用于单个点的尺寸/ M 位置测 的性能。C M的标准测 头 为触发 行探测时,将一束相干光投射到被 量 ,而扫描 测 头具有 多 点快 速测 量 M 式测头,它的探针 与被测工件接触 测工件表面,通过对反射光信号进 功能 ,是 工件 形貌 测 量 的首选 。例


次, 就激活一次发讯开关 ,记录 行分析,即可记录到单点或多点尺 如 ,R n hw公 司 新 开 发 的扫 描 测 ei o s 个数据点。现在许多触发式测头 寸数据 ( 见图 3 )的扫描速度 比传统测 如同采用 接触 式 扫描测 头 头 ( 的性能不断提高和完善 ,如接触式 时一样) 。视频 传感 系统则采用一 头大幅度提高,同时又保 留了触发 测头的单个数据点快速测量功能。