【工艺技术】新型高亮度芯片及其封装的一些问题
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封裝注意事項 (7)
大功率芯片考慮採用共晶方法固晶, 以達到最好的散熱效果. 高精度固晶機
!Au
coated ceramic substrate solder thickness: 3µm Conditions:
!AuSn
!Bonding
"Temp.: 300degC "Bond Time: 200ms "Bond Force: ~40g •Die shear ranged from 1.7 - 3.2kgf. Average die shear = 2.34kgf. (sample size =5)
推力測試結果
DS = 1.71kgf
DS = 2.77kgf
DS = 3.20kgf
DS = 1.94kgf
DS = 2.08kgf
總結
• 銳意提高芯片亮度並已取得突破性的進展;
• ㆒共晶焊仍然是大功率封裝的方向;
•- 技術發展給業界提供了解決方案.
封裝典型芯片的常見問題 (3)
- 擴散劑的不均勻引致亮度不均勻
封裝典型芯片的常見問題 (4)
- 芯片與環氧樹脂間出現分層 (1)
發射光在芯片與環氧樹脂分層區域多次反射, 形成暗區, 是 影響亮度和衰減的重要原因.
封裝典型芯片的常見問題 (4)
- 芯片與環氧樹脂間出現分層 (2)
分層形成的暗區
新型芯片 (1)
完
全新的高亮度芯片平台
新型芯片 (2)
簡單的銀漿固晶
新型芯片 (3)
高亮度 - 460 & 470nm @20mA 可至30mW - 460 & 470nm @350mA 可至 320mW
效率提高: Vf 典型值 3.2-3.3V
新型芯片 (4)
理想的發光模型
新型芯片家族
頂部 側視 底部 實物
型號 1 EZ290 電極面積(µm) Ø 90 (直徑) 100x100 105x105 110x110 電極厚度(µm) 2 2 3 3 推荐金線(mil) 1.0 1.0 1.25 1.25
2 EZR260 3 EZ700 4 EZ1000
封裝注意事項 (6)
注意與環氧樹脂的配合 集中, 高強的光, 可能對環氧樹脂的結構做成破壞, 嚴 重影響光衰特性. 可能由於環氧樹脂 結構破壞在芯片表 面的痕跡, 在發光時 形成暗區
新型高亮度芯片 及其封裝的一些問題探討
主講:陳承志先生 深圳市智威堡科技有限公司
一些典型的芯片
291
290 230
封裝典型芯片的常見問題 (1)
銀漿過多 - 一般銀漿的高度應控制在芯片高度的1/3
封裝典型芯片的常見問題 (2)
- 支架碗杯內壁污染
污染物减少了光 污染物减少了光 线的反射面积 线的反射面积
1 2
3
4
封裝注意事項 (1)
小心碰撞!!
芯片及其表面微晶結構
封裝注意事項 (2)
芯片表面碰撞痕跡及其對表面微晶結構的損傷
封裝注意事項 (3)
選擇合適的吸嘴 – 橡膠嘴
外型
吸嘴內部結構
封裝注意事項 (4)
選擇合適的吸嘴 – 鋼嘴
吸嘴內部結構
外型
封裝注意事項 (5)
金線的選用: 確保金球在在電極面積內