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EMI test report

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Electromagnetic Interference Audit test

Model: S1383WHne Test Stage: MP Test Date: 2015.05.11

Test Result: Pass Tested By: Water

Test Equipment:

a. Agilent EMC Analyzer E7402A ---- EMC Analyzer (頻譜分析儀)

b. Turntable Controller VULB9168 ---- Tower (天線).

Test Radiation Specification Product Family Standard: CISPR 22 (Class B)+A1:1995+A2:1997,Class B

Frequency Range: 30-1000 MHz (Radiated Emission)

Input Voltage: 110Vac, 60Hz

Temperature: 23℃

Relative Humidity : 55%

Atmospheric Pressure: 974 mbar

Test projector setup drawing

Test Procedure and method

a. Turn on the power all equipment

b. PC run a test program to enable all function.

c. Test pattern under cross- hatch “ H ” dynamic pattern.

d. Test Resolution: 1600*1200 on 60 Hz.

e. The below attached file the example of EMI test data and shall meet CISPR 22 within

Class B curve than can pass this item.

P07-3011F4 Rev.A Electromagnetic Interference Audit test

Model: S1383WHne Test Stage: MP Test Date: 2015.05.11

Test Result: Pass Tested By: Water

Pass Define:

After test data must meet specification -4 dB

Test Equipment:

a. Agilent EMC Analyzer E7402A ---- EMC Analyzer (頻譜分析儀)

b. Turntable Controller VULB9168 ---- Tower (天線)

Test Procedure and method

a. Turn on the power all equipment

b. PC run a test program to enable all function.

c. Test pattern under cross- hatch “ H ” dynamic pattern.

d. Test Resolution: 1600*1200 on 60 Hz.

e. The below attached file the example of EMI test data and shall meet CISPR 22 within

Class B curve than can pass this item.

Test Item:

EMI test S/N.

Specification FF566700AC-0015 FF566700AC-0018

Horizontal MHz dBuV dbuV dB MHz dBuV dbuV dB

1 204.60 25.70 30.00 -4.30 204.60 25.97 30.00 -4.03

2 223.03 25.78 30.00 -4.22 229.82 24.80 30.00 -5.20

3 619.76 31.10 37.00 -5.90

4 941.80 31.95 37.00 -5.05

5

6

7

8

Vertical MHz dBuV dbuV dB MHz dBuV dbuV dB

1 61.04 25.64 30.00 -4.36 61.04 24.66 30.00 -5.34

2 202.66 25.37 30.00 -4.63

3

4

5

6

7

8

Remark:

08.BSS83G001 Phase out導入2nd source 08.5LN01GM01 for P-R,特P-R.

P07-3011F4 Rev.A

合集下载

笔记本DVT测试规范

笔记本DVT测试规范

□M/B ■System

Qty:

EC Ver:

HDD:

ODD:

Memory:

Chipset:

VGA:

Audio:

Lan:

Wifi:

Showeasy:

No.Test ItemSNQtyResultRemark

13DMARK高温（35℃）

3DMark

Benchmark Mode 4H

Demo Mode 4HNetbook使用3DMark03

Notebook使用3DMark 05 or 3DMark 06不得有报错跳出、自动退出、自动关机、死机、掉驱动等异常现象100

(产线操作）

2Burn In Test高温（35℃）

Burn in test 4HBurn In Test 6.0 DefaultRun

(如配置有ODD，需勾选ODD项并放置数据光盘后运

行）不得有报错跳出、自动退出、自动关机、死机、掉驱动等异常现象100

(产线操作）

3Reboot Test高温（35℃）

自动运行 Reboot 200 次使用Rebooter测试软件,设定间隔时间20s。不得有报错跳出、自动退出、停留进系统Loading界面或关机界面、死机、掉驱动、无法进入系统等异常现象100

(产线操作）

4非法Power

On/Off Test手动长按Power Button 开关

机1、AC+DC 和DC下 各做 50 次。

2、每次关机后需间隔3s后再开机。

3、每次在进系统的Loading画面长按Power Button关

机。不得有死机、无法进入系统Loading界面、不开机等异常现象4

5Power On/Off

Test手动按Power Button 开关机1、AC+DC 和DC下 各做 50 次。

2、每次关机后需间隔3s后再开机。

3、每次进系统后间隔5s后关机。不得有停留进系统Loading界面或关机界面、死机、掉驱动、无法进入系统、不开机等异常现象4

高温（35℃）

自动运行S4 200次使用Suspend 自动运行S4不得有报错跳出、自动退出、自动关机、死机、掉驱动、无法自动唤醒、无法进入S4状态、LED各灯显示异常等异常现象（S4 LED灯正常状态：只有Battery灯亮蓝或红灯，其余三灯不亮）100

EVT阶段进阶评审模板

EVT阶段进阶评审模板

生效日期：2015年3月9日 文件名称：EVT Close review report 文件编号：CZC-QR-RD-010 版本：A0

第1页 共4页 EVT Close review report

Project name: Project version: EVT

Date: Meeting place:

Chairman: Recorder:

Attendance: All project members

Check

point 1. Check related project documents are ready.

2. Check all critical & Major bugs are closed or remainder bugs don’t affect entering DVT phase.

3. Review project marketing preview.

Document List check

O:Option根据项目情况可选,Y:Yes必须,N:No没有,NA:不需要

Owner Document List

（所有文档都必须上传RDM） Not

Applicable Checked

by Result DQA

Check Remark

Yes No

SE 《系统设计总体方案》

EE 《硬件总体设计方案》

《H/W to S/W Spec》

电子原理图

EE BOM for DVT

湿敏元件清单

EE调试和改版清单

Power Test Report

BIOS-EC BIOS

《EC SPEC》

BIOS_EC ROM、Release Note及刷写工具

Image Files、Release Note及刷写工具

EMC 《EMC Assembly Notice》for DVT

CE

CE

Report No. NTEK-2010NT0507001E

EMC TEST REPORT

Report No.： NTEK-2010NT0507001E

Product： 24 key full-color Controller

Model No.： PHIRZK02

Applicant： Shenzhen Phimar. Electronics Co., Ltd

Address： C3-802 Block, Fortis Ranks Beaulieu C, South Side of Park

Avenue, Xixiang Street, Bao’an District Shenzhen.

Issued by： NTEK Testing Technology Co., Ltd

Lab Location： 3/F,Block B, Hua feng Technology & Business Building, Xin

‘an 6 Road, Bao an Center District, Shenzhen, China

Tel： (86)-0755-29453021 Fax: (86)-0755-27667047

This test report consists of 15 pages in total. It may be duplicated completely for legal use with

the approval of the applicant. It should not be reproduced except in full, without the written

approval of our laboratory. The client should not use it to claim product endorsement by SET.

The test results in the report only apply to the tested sample. The test report shall be invalid

EMI测试的基本问题

EMI测试的基本问题

E M I 測 試 的 基 本 問 題

前言

隨著電子產品數位化的普及，各國也紛紛對電磁干擾的問題加以重視，在可以預見的未來，大部份的電子產品，在銷售到市場之前，都會被要求符合相關的EMI測試規格，而在EMI測試上的許多名詞與方法，一直缺少詳盡的說明與解釋。本文即針對在EMI測試上常會遇到的一些問題，提供讀者作一參考。

一‧EMI要求測試的精確度為何？

關於測試上的精確度，一般而言自然是要求達到精確，例如一顆石頭用不同的秤來秤，其結果是不會相差太大的，但是在EMI上的測試卻不同於一般的量測，往往同一個樣品在甲測試場地和乙測試場地所測得的結果值會有很大的差異，甚而在甲測試場地所測得的值可以符合限制值的要求，但乙測試場地所測得的值卻無法符合要求。關於這個問題，相信許多接觸過EMI測試的工程師都有這種經驗，因此便有某個實驗室較鬆或較嚴的說法產生，要清楚的說明這個問題，便需要了解EMI要求測試的精確度為何？由於大多數人一直沿用一般的測試觀念來看待EMI的測試，故而產生了許多誤解與人云亦云的說法。嚴格地來說，在EMI測試的要求上並沒有精確度的觀念，也就是EMI測試是無法要求每一個雜訊頻率點的讀值非常精確，那麼EMI測試的基本要求是什麼呢？這一點在早期的MP4中有很清楚的說明，輻射和AC電源傳導測量必須在一能確保有效的(valid)、可重覆的(repeatable)測試結果的環境下測量，事實上，這兩點是EMI測試上所要求的精確性。

所謂有效的是指所測得的雜訊確實是由待測物(Equipment Under Test)中所輻射出來的，而非外界或其它儀器所產生的。例如在開放測試場地(Open Site)測試輻射與傳導雜訊，因為外界的雜訊非常多，像FM電台、TV電台、火腿族或附近正在使用的一些電子產品，這些會與待測物的雜訊同時出現在頻譜分析儀(Spectrum Analyzer)上，若沒有仔細的判，可能會將外界雜訊誤認為是待測物產生的雜訊，那麼便失去了有效性的要求，而且也無甚意義，所以通常有經驗的EMI測試工程師會事先在屏蔽室(Shielded Room)或電波無反射室(Anechoic Chamber)內，將待測物的雜訊輻射頻率點找出，以避免產生錯誤，或將待測物的電源關掉，若此時雜訊仍然存在，則表示是外界所產生。若雜訊消失而再開電源雜訊又產生，則可確定該點之雜訊是待測物所產生，如果沒有經過這些方法的檢驗，則測試的結果可能是不正確的。