实验十一:非线性系统的相平面分析
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第2章相平面分析方法212.1相平面分析的概念2.2 线性系统的相平面分析2.3 非线性系统的相平面分析2.1 相平面分析的概念211i 2.1.1 相平面图(Phase portraits )二阶自治系统1112(,)xf x x =&(2.1)a 2212(,)xf x x =&(2.1)b 以状态x 1与x 2为坐标的平面,称为相平面。
给定一对初值(0)=x (0)x 0,可以确定系统的一个解,在相平面中得到一条相平面轨线。
对不同初值的一簇相平面轨线称为系统的相平面图(相图)。
例2.1质量-弹簧系统k =1m=1&&系统的动态方程x x +=假设质点初始位置在x 0,其解为0()cos x t x t ==−&0()sin xt x t 相轨线方程2&22x xx +=图2.1 质量-弹簧系统相平面图相图的作用:一旦得到系统的相图,则系统对应于不同初值的特性即21展漏无遗。
从例2.1可以看出,系统的相轨线既不趋于零也不趋于无穷,而是以原点为中心的同心圆,表示系统处于临界稳定状态。
2.1.2 奇异点(Singular point)满足=奇异点是相平面上的一个平衡点。
112212(,)0(,)0f x x f x x=对线性系统,奇异点通常只有一个。
对非线性系统,则经常存在多个孤立的奇异点。
20.630x xx x +++=&&&例2.2二阶非线性系统两个奇异点:收敛区0x =3x =−奇异点是相平面不稳定奇异点的重要特征。
线性系统的稳定性完全由奇异点的本质决定,而非线性系统则会存在一些复杂22特征。
图2.2 系统相平面图2.2 线性系统的相平面分析0x axbx ++=&&&考虑下面二阶线性系统(2.2)系统的解为121212(),t tx t k e k e λλλλ=+≠111212(),ttx t k e k te λλλλ=+=系统(22)(2.2)只有一个奇异点(设b ≠0),但奇异点附近的系统轨线根据参数a 和b 的不同表现出不同的特征。
实验九实验九 非线性系统的相平面法分析非线性系统的相平面法分析一.实验目的一.实验目的1.掌握相平面法分析非线性系统;.掌握相平面法分析非线性系统;2.用相平面法分析非线性二阶系统,并绘制相轨迹图;.用相平面法分析非线性二阶系统,并绘制相轨迹图;二.实验内容1.搭建继电型非线性二阶系统,观测并绘制其相轨迹图;.搭建继电型非线性二阶系统,观测并绘制其相轨迹图;2.搭建带速度反馈的继电型非线性二阶系统,观测并绘制其相轨迹图;.搭建带速度反馈的继电型非线性二阶系统,观测并绘制其相轨迹图; 3.搭建饱和型非线性二阶系统,观测并绘制其相轨迹图。
.搭建饱和型非线性二阶系统,观测并绘制其相轨迹图。
三.实验步骤三.实验步骤在实验中观测实验结果时,可选用普通示波器,也可选用本实验台上的虚拟示波器。
在实验中观测实验结果时,可选用普通示波器,也可选用本实验台上的虚拟示波器。
如果选用虚拟示波器,如果选用虚拟示波器,只要运行只要运行ACES 程序,程序,选择菜单列表中的相应实验项目,选择菜单列表中的相应实验项目,选择菜单列表中的相应实验项目,再选择再选择开始实验,就会打开虚拟示波器的界面,点击开始即可使用本实验台上的虚拟示波器CH1、CH2两通道观察被测波形。
具体用法参见用户手册中的示波器部分。
两通道观察被测波形。
具体用法参见用户手册中的示波器部分。
1.继电型非线性二阶系统.继电型非线性二阶系统实验中所用到的功能区域:实验中所用到的功能区域:阶跃信号、虚拟示波器、实验电路A1A1、、A2A2、、A3A3、、A5A5、、A6A6。
继电型非线性二阶系统模拟电路如图1-9-1所示所示图1-9-1继电型非线性二阶系统模拟电路继电型非线性二阶系统模拟电路(1) 设置阶跃信号源:设置阶跃信号源:A .将阶跃信号区的选择开关拨至“.将阶跃信号区的选择开关拨至“00~5V 5V””; B .将阶跃信号区的“.将阶跃信号区的“00~5V 5V”端子与实验电路”端子与实验电路A1的“的“IN11IN11IN11”端子相连接;”端子相连接;”端子相连接; C .按压阶跃信号区的红色开关按钮就可以在“.按压阶跃信号区的红色开关按钮就可以在“00~5V 5V”端子产生阶跃信号。
7-5 非线性控制系统的相平面分析法相平面法在分析非线性系统时是很有用处的。
但是,我们在介绍非线性系统的分析方法之前,先讨论一下相平面法在分析线性二阶系统中的应用是很有好处的。
因为许多非线性元件特性一般都可分段用线性方程来表示,所以非线性控制系统也可以用分段线性系统来近似。
一、线性控制系统的相平面分析1、阶跃响应 设线性二阶控制系统如图7-38所示。
若系统开始处于平衡状态。
试求系统在阶跃函数)(1)(0t R t r ⋅= 作用下,在e e -平面上的相轨迹。
建立系统微分方程式,由图示系统可得Ke c cT =+ 因为c r e -=,代入上式得r r T Ke e e T +=++ (7-31) 对于->⋅=0),(1)(0t t R t r 时,0)()(==t r t r因此上式可写成0=++Ke e e T (7-32)方程(7-32)与(7-22)式相仿。
因为假设系统开始处于平衡状态,所以误差信号的初始条件是0)0(R e =和0)0(=e。
e e -平面上的相轨迹起始于)0,(0R 点,而收敛于原点(系统的奇点)。
当系统特征方程的根是共轭复数根,并且位于左半平面时,其相轨迹如图7-39(a)所示。
根据ee -平面上的相轨迹就可方便的求得c c -平面上系统输出的相轨迹,如图7-39(b)所示。
由图7-39可见,欠阻尼情况下系统的最大超调量P σ及系统在稳态时的误差为零。
因为e e -平面相轨迹最终到原点,即奇点;所以在cc -平面上相轨迹最终到达0R c =的稳态值,则奇点坐标为)0,(0R 。
2、斜坡响应 对于斜坡输入t V t r 0)(=;当0>t 时,)(t r 的导数0)(V t r= 及0)(=t r 。
因此,方程(7-31)可以写成0V Ke e eT =++ 或 0)(0=-++KV e K e e T 令v e K V e =-0,代入上式,则有0V Ke ee T =++ννν (7-33) 在v v ee -平面上,方程(7-33)给出了相平面图与在e e -平面上方程(7-32)给出的相平面图是相同的。
非线性系统的相平面分析实验指导书 合肥工业大学电气与自动化实验中心非线性系统的相平面分析实际应用中,完全线性的系统是不存在的,因为组成控制系统的元件,其静态特性都存在着不同程度的非线性,但只要系统不包含有特殊本质的非线性元件,并且传输的信号也不太大,那么根据线性系统分析法所得到的结果也同样适用于该类系统。
非线性系统与线性系统的本质区别。
线性系统输入与输出的关系可用线性微分方程来描述,能用叠加原理进行分析;而非线性系统的输入与输出的关系要用非线性微分方程描述,不能用叠加原理来分析。
线性系统的稳定性仅取决于系统本身的结构和参数,与初始条件和输入信号无关;而非线性系统的稳定性,除了与系统本身的结构和参数有关系外,还依赖于初始条件和输入信号的性质。
从频域的观点出发,给线性系统输入一个正弦或余弦信号,则输出响应也是同一频率的正弦或余弦信号,不同的仅在于输出响应的振幅和相位依系统特性和输入信号的频率而定。
输入信号振幅的变化,仅使输出响应的振幅呈比例变化,而不影响其波形,即线性系统不会输出输入信号未包含的频率分量。
但是,非线性系统输出信号的波形不仅与系统的特性有关,而且强烈地依赖输入信号的大小,即输出信号常含有输入信号所没有的频率分量。
调换线性系统各串联环节的位置不影响分析的结果;但在非线性系统中,非线性环节和线性环节的位置不能互相调换,否则会导致错误的结论。
本章实验先从典型环节的特性研究着手,然后用相平面分析法再对非线性系统的性能进行分析、研究并结合实验,描述了如何改善非线性系统的性能指标。
1.1 典型非线性环节本次实验以运算放大器为基本单元,在输入端和反馈网络中设置相应元件 (稳压管、二级管、电阻和电容) 组成各种典型非线性的模拟电路,来模拟实际系统中常见的继电、饱和、死区、间隙等典型的非线性特性,并对典型非线性特性进行详细的理论分析和实验研究,从而为非线性系统的研究打下良好的基础。
1.1.1 实验目的1.熟悉各典型非线性环节的理论分析。
实验五 非线性系统的相平面分析法一、实验目的1. 进一步熟悉非线性系统的电路模拟研究方法;2. 熟悉用相平面法分析非线性系统的特性。
二、实验设备同实验一。
三、实验内容1. 用相平面法分析继电型非线性系统的阶跃响应和稳态误差;2. 用相平面法分析带速度负反馈的继电型非线性控制系统的阶跃响应和稳态误差;3. 用相平面法分析饱和型非线性控制系统的阶跃响应和稳态误差。
四、实验原理非线性系统的相平面分析法是状态空间分析法在二维空间特殊情况下的应用。
它是一种不用求解方程,而用图解法给出x 1=e ,x 2=e的相平面图。
由相平面图就能清晰地知道系统的动态性能和稳态精度。
本实验主要研究具有继电型和饱和型非线性特性系统的相轨迹及其所描述相应系统的动、静态性能。
1. 未加速度反馈的继电器型非线性闭环系统 图5-1为继电器型非线性系统的方框图。
图5-1 继电型非线性系统方框图由图5-1得0=-+KM c cT (0>e ) 0=++KM c cT (0<e ) 式中T 为时间常数(T=0.5),K 为线性部分开环增益,M 为继电器特性的限幅值。
因为 c r e -=)(1t R r ⋅= c e-= 则有0=++KM e eT (0>e ) (5-1) 0=-+KM e eT (0<e ) (5-2) 基于 de e d e e = , 令 dee d =α 则式(5-1)改写为KM e e -=+ α5.0 α5.01+-=KMe (5-3)同理式(5-2)改写为KM e e=+ α5.0 α5.01+=KMe (5-4)根据式(5-3)、(5-4),用等倾线法可画出该系统的相轨迹,如图5-2所示。
不难看出,该系统的阶跃响应为一衰减振荡的曲线,其稳态误差为零,其中A 线段表示超调量的大小。
图5-2 阶跃信号作用下继电器型非线性系统的相轨迹2. 带有速度负反馈的继电型非线性闭环控制系统 图5-3为带速度负反馈的继电型非线性系统的方框图。
一、实验目的1. 了解非线性系统在自动控制中的应用及其特点。
2. 掌握非线性系统相平面分析方法,分析非线性系统动态性能。
3. 通过实验验证非线性环节对系统性能的影响。
二、实验原理非线性系统是指系统输出与输入之间存在非线性关系的系统。
非线性系统的特点是动态性能复杂,难以用线性理论进行分析。
相平面分析是研究非线性系统动态性能的一种有效方法。
本实验采用相平面分析方法,分析带有饱和非线性环节的控制系统动态性能。
饱和非线性环节是一种常见的非线性环节,其特点是输入输出之间存在饱和限制。
三、实验设备1. PC机一台2. MATLAB软件3. Simulink仿真工具箱四、实验步骤1. 建立带有饱和非线性环节的控制系统模型。
2. 设置系统参数,包括饱和非线性环节的上限和下限。
3. 对系统进行仿真,记录系统输入饱和非线性环节前后的相轨迹图。
4. 分析相轨迹图,比较有无非线性环节的性能。
5. 求解超调量。
五、实验结果与分析1. 建立控制系统模型本实验控制系统模型为:\[ G(s) = \frac{K}{1 + Ts} \]其中,K为比例增益,T为时间常数。
饱和非线性环节为:\[ f(x) = \begin{cases}0 & \text{if } x \leq -0.5 \\x & \text{if } -0.5 < x < 0.5 \\1 & \text{if } x \geq 0.5\end{cases} \]2. 设置系统参数设K=1,T=0.1,饱和非线性环节上限和下限分别为0.5和-0.5。
3. 仿真结果(此处插入仿真结果相轨迹图)从相轨迹图可以看出,饱和非线性环节对系统性能有显著影响。
在饱和非线性环节存在的情况下,系统相轨迹出现弯曲,动态性能变差。
4. 性能分析(1)超调量超调量是衡量系统响应速度和稳定性的重要指标。
本实验中,饱和非线性环节导致系统超调量增加,说明系统响应速度变慢,稳定性变差。
非线性系统的相平面分析实验一典型非线性环节一.实验要求1. 了解和掌握典型非线性环节的原理。
2. 用相平面法观察和分析典型非线性环节的输出特性。
二.实验原理及说明实验以运算放大器为基本元件, 在输入端和反馈网络中设置相应元件 (稳压管、二极管、电阻和电容组成各种典型非线性的模拟电路,模拟电路见图 3-4-5 ~ 图 3-4-8所示。
1.继电特性理想继电特性的特点是:当输入信号大于 0时,输出 U 0=+M,输入信号小于 0,输出 U 0=-M。
理想继电特性如图 3-4-1所示, 模拟电路见图 3-4-5, 图 3-4-1中 M 值等于双向稳压管的稳压值。
图 3-4-1 理想继电特性图 3-4-2 理想饱和特性注:由于流过双向稳压管的电流太小(4mA ,因此实际 M 值只有 3.7V 。
实验步骤:(1 将信号发生器 (B1 的幅度控制电位器中心 Y 测孔, 作为系统的 -5V~+5V输入信号 (Ui : B1单元中的电位器左边 K3开关拨上(-5V ,右边 K4开关也拨上(+5V 。
(2模拟电路产生的继电特性:继电特性模拟电路见图 3-4-5。
图 3-4-5 继电特性模拟电路①构造模拟电路:按图 3-4-5安置短路套及测孔联线,表如下。
(b 测孔联线②观察模拟电路产生的继电特性:观察时要用虚拟示波器中的 X-Y 选项慢慢调节输入电压(即调节信号发生器 B1单元的电位器,调节范围 -5V~+5V ,观测并记录示波器上的 U 0~Ui 图形,如下图:由图得 M=3.77V(3函数发生器产生的继电特性①函数发生器的波形选择为‘继电’ ,调节“设定电位器1” ,使数码管右显示继电限幅值为 3.7V 。
②测孔联线:③观察函数发生器产生的继电特性:观察时要用虚拟示波器中的 X-Y 选项慢慢调节输入电压(即调节信号发生器 B1单元的电位器,调节范围 -5V~+5V ,观测并记录示波器上的 U 0~Ui 图形。
实验二非线性系统分析2.1典型非线性环节2.1.1 实验目的1.掌握各典型非线性环节模拟电路的构成方法,掌握TDN-AC/ACS设备的使用方法。
2.了解参数变化对典型非线性环节动态特性的影响。
2.1.2 实验要求1.观察各种典型非线性环节的动态特性曲线2.观测参数变化对典型非线性环节动态特性曲线的影响2.1.3 实验设备1.TDN-AC/ACS 系列教学实验系统一套。
2.慢扫描示波器一台。
3.PC机一台。
4.连接导线。
2.1.4 实验原理本实验以运算放大器为基本元件,在输入端和反馈网络中设置相应元件(稳压管,二极管,电阻和电容)组成各种典型非线性环节的模拟电路。
1.继电特性:见图2 . 1-1图2.1-1 继电特性模拟电路理想继电特性如图2 . 1-2所示。
图中M值等于双向稳压管的稳压值。
U0UiM-M图2.1-2 理想继电特性 (2)饱和特性:见图2.1-3及图2 . 1-4图2.1-3 饱和特性模拟电路 图2.1-4理想饱和特性在理想饱和特性图2.1-4中,特性饱和值等于稳压管的稳压值,斜率K 等于前一级反馈电阻值与输入电阻值之比,即:1/R R K f (3)死区特性死区特性模拟电路图:见图2.1-5Ui+-+-R0U010K10KRfIN R2R1AB30K +12V -12V30K OUTU9 NC图2.1-5 死区特性模拟电路死区特性如图2.1-6所示。
KU0UiK图2.1-6 死区特性 图2.1-6中特性的斜率K 为: 0R R K f =死区)(4.0)(123022V R V R =⨯=∆ 式中2R 的单位为K Ω,)=(12R R 。
(实际Δ还应考虑二极管的压降) (4)间隙特性间隙特性的模拟电路图见图2.1-7。
间隙特性如图2.1-8所示,图中间隙特性的宽度Δ为)(4.0)(123022V R V R =⨯=∆ 式中2R 的单位为K Ω,)=(12R R 。
特性斜率αtg 为: 0R R C C tg ff i ⋅=α 改变2R 和1R 可改变间隙特性的宽度;改变R R f 或)(ttC C 的比值可调节特性斜率)(αtg 。
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实验十一 非线性系统的相平面分析
一、实验目的
(1)掌握非线性系统的模拟方法。
(2)用相平面分析法分析继电型非线性系统、饱和型非线性系统的瞬态响应和稳态误差。
二、实验设备 序
号
型 号
备 注
1
DJK01 电源控制屏 该控制屏包含“三相电源输出”等几个模块。
2 DJK15控制理论实验挂箱
或DJK16控制理论实验挂
箱 3
慢扫描示波器 4 万用表 三、实验线路及原理
相平面法是分析一阶和二阶非线性系统的有效方法。
通过作出的相轨迹,就能直观的知道系统的运动情况。
图11-1 非线性控制系统
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图11-2 理想继电器特性的模拟线路图
图11-1为一具有理想继电器特性的非线性系统的框图,图11-2为理想继电器特性的具体接线参考图。
由图11-1得 Km C C =+。
,0,
0m e m m e >⎧=⎨−<⎩
则有
)
,(),(。
0000<=++>=−+e KM C C e KM C C 令 r(t) = R,则 r(t)=0。
因为 r –c =e, 所以e
= c 。
于是上式改写为
)
,(),(。
0000<=−+>=++e KM e e e KM e e
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初始条件 e(0)= r(0)- c(0)=R ,用等倾线法作出该系统的相轨迹如图11-3所示。
由图可见,系统从初始点A 出发,最后运动到坐标原点。
这不仅表明该系统稳定,而且由图还能确定系统的超调量δ%=0F/0A ×100%。
和稳定误差为零等性能指标。
图11-3
四、思考题
(1)实验中如何获得c 和c
的信号?如何获得e 和e 的信号? (2)试说明e ⎯e
相轨迹和c ⎯c 相轨迹间的关系。
(3)你是如何从相平面图上得到超调量σρ和稳态误差ess 的?
五、实验方法
(1)用相轨迹分析图8-54所示的具有理想继电器特性的非线性系统在阶跃信号作用下的瞬态响应和稳态误差。
①根据图8-54设计相应的实验线路图,其中M=5V,K=1。
②在系统的输入分别为3V 和1V 时,用示波器观察系统e ⎯e
平面上的相轨迹,并记录超调量σρ 和振荡次数Ν及稳态误差ess。
(2)用相轨迹分析饱和非线性系统在阶跃信号作用下的瞬态响应和稳态误差。
图11-4
①根据图11-4所示的饱和非线性系统,设计相应的实验线路图,其中M=1V,斜率K1=1,K=10。
②令r(t)分别为2V和1V,用示波器(或X⎯Y记录仪)观察系统在e⎯e 平面上的相轨迹,并记录超调量σρ、振荡次数N 和稳态误差ess。
六、实验报告
(1)参考图11-2,画出框图11-4的实验接线图。
(2)根据实验,画出这两个系统在阶跃信号作用下的相轨迹图,并记录σρ、Ν、和ess 。
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