Si_111_表面离子束辅助沉积对类金刚石薄膜结构影响的计算机模拟
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离子束轰击Si及SiC的计算机模拟的开题报告尊敬的评委老师,大家好!本人拟报告的课题为“离子束轰击Si及SiC的计算机模拟”。
本课题旨在研究离子束轰击Si及SiC材料的过程,采用计算机模拟方法,得出离子束轰击Si及SiC材料的产生过程及其影响因素。
以下是本人的开题报告。
一、研究背景及意义离子束轰击材料的研究在材料科学领域中具有重要意义。
离子束轰击材料可以模拟电子、质子等粒子在宇宙空间和宇宙辐射环境下对材料的影响,因此具有广泛的应用前景。
此外,离子束轰击还可以用于微电子器件的制造、表面处理等方面的应用。
Si及SiC材料是目前微电子器件中广泛使用的材料。
因此,对离子束轰击Si及SiC材料的研究具有重要的现实意义,并为材料科学领域的发展提供了新的研究方向。
二、研究目的本研究的目的是通过计算机模拟的方式,研究离子束轰击Si及SiC材料的过程,得出离子束轰击Si及SiC材料的产生过程及其影响因素。
三、研究方法本研究将采用机器学习方法,建立离子束轰击Si及SiC材料的计算机模拟模型,通过模拟分析离子在材料中的散射、电离、激发等过程,得出离子束轰击Si及SiC材料的产生过程及其影响因素。
四、研究内容及进度安排1.建立离子束轰击Si及SiC材料的计算机模拟模型。
时间安排:1个月。
2.分析离子在Si及SiC材料中的散射、电离、激发等过程,得出离子束轰击Si 及SiC材料的产生过程及其影响因素。
时间安排:3个月。
3.研究离子束参数对Si及SiC材料的影响。
时间安排:2个月。
4.撰写论文及做出总结。
时间安排:2个月。
5.进行论文答辩准备工作。
时间安排:1个月。
五、预期成果本研究计划通过计算机模拟的方式,研究离子束轰击Si及SiC材料的过程,得出离子束轰击Si及SiC材料的产生过程及其影响因素。
通过对离子束轰击Si及SiC材料的研究,拟得出离子束参数对材料的影响规律,为离子束加工Si及SiC材料提供科学依据,并为相关领域的研究提供新思路。
离子束增强沉积Ni、Ti纳米金属薄膜的表面形貌与摩擦特性研究夏冬生;张会臣;孙昌国;高玉周;严立【期刊名称】《润滑与密封》【年(卷),期】2007(032)004【摘要】在原子力显微镜上对采用离子束增强沉积方法制备的Ni、Ti纳米金属薄膜的形貌进行了观察,应用分形理论分析了薄膜表面的分形特征,并且对金属薄膜的纳米摩擦特性进行了研究,分析了载荷和表面力对金属薄膜摩擦特性的影响.结果表明,Ti薄膜晶粒细小,表面平整,而Ni薄膜表面粗糙.Ni、Ti沉积薄膜表面具有显著分形特征,各向同性.Ni、Ti纳米薄膜的摩擦力均随载荷的增大而增大,并且都存在一个临界载荷值,超过这个值,摩擦力急剧增加.将分形理论和接触力学JKR模型结合,对纳米金属薄膜摩擦的临界载荷进行的预测与实验结果具有相同的趋势.【总页数】5页(P97-101)【作者】夏冬生;张会臣;孙昌国;高玉周;严立【作者单位】大连海事大学机电与材料工程学院,辽宁大连,116026;大连海事大学机电与材料工程学院,辽宁大连,116026;大连海事大学机电与材料工程学院,辽宁大连,116026;大连海事大学机电与材料工程学院,辽宁大连,116026;大连海事大学机电与材料工程学院,辽宁大连,116026【正文语种】中文【中图分类】TG115【相关文献】1.Si表面离子束辅助沉积Ti纳米膜的研究 [J], 白彬;陆雷;严东旭;张厚亮;梁红伟2.离子束增强沉积纳米金属薄膜的摩擦特性 [J], 张会臣;高玉周;孙昌国;刘莎;严立3.离子束溅射沉积Ti-Ni薄膜及其电化学性能的研究 [J], 崔岩;牟宗信;邹学平;李国卿4.离子束混合增强陶瓷基体上金属薄膜附着力的研究 [J], 王齐祖;陈玉峰5.离子束增强沉积制备碳化硼及C—B—Ti化合物薄膜的结构与力学性能… [J], 王宇;尤大纬因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
用离子束辅助沉积在Si基体上制备Al膜
康卫红
【期刊名称】《等离子体应用技术快报》
【年(卷),期】1996(000)009
【总页数】2页(P4-5)
【作者】康卫红
【作者单位】无
【正文语种】中文
【中图分类】TN304.055
【相关文献】
1.Fe基体上Ni膜和Cu基体上Ag膜的膜内应力 [J], 王姗姗;祝要民;任凤章;赵士阳;田保红
2.离子束辅助沉积制备Al/Al2O3双层膜及其性质 [J], 薛建明;Wolf.,GK
3.离子束辅助沉积法制备TiAlN/TiB2纳米多层膜的研究 [J], 孙延东;颜景岳;张帅;董磊;曹猛;刘梦寅;李德军
4.多孔不锈钢基体上多孔SiO2陶瓷膜的制备 [J], 李忠宏;仇农学;田晓琴;杨公明
5.通过制备Ti/TiC和Si/Si_xN_y过渡层在铜基体上沉积类金刚石膜的研究 [J], 王静;刘贵昌;汲大鹏;徐军;邓新禄
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离子束辅助沉积
离子束辅助沉积(IonBeamAssistedDeposition,IBAD)是一种新型薄膜材料制备技术,它是将离子束注入到目标材料表面,通过离子束的能量和动量传递,改变材料表面物理和化学性质,从而实现薄膜沉积的一种方法。
这种技术可以用于制备多种材料的薄膜,如氧化物、金属、半导体等。
它的优点是可以控制薄膜的厚度、结构和性质,同时可以在低温下进行制备,避免了高温处理对材料的热损伤。
此外,离子束辅助沉积可以实现大面积、高质量、均匀性好的薄膜制备。
离子束辅助沉积技术在集成电路、光电器件、传感器等领域有广泛应用。
在集成电路制造中,利用这种技术可以制备高质量的氧化硅薄膜、多层金属膜等,在光电器件制造中也可以制造高质量的掺杂氧化锌薄膜、氮化硅薄膜等。
总之,离子束辅助沉积技术的出现,为新型材料的制备提供了新的思路和方法,同时为材料科学的发展做出了重要贡献。
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离子氮化对高速钢表面类金刚石膜性能的影响
张涛;冯利民;李建中
【期刊名称】《材料与冶金学报》
【年(卷),期】2024(23)1
【摘要】根据空心阴极原理,研究了离子氮化对高速钢表面渗氮层的厚度、硬度等影响.在此基础上,研究了气体体积配比对渗氮后高速钢表面沉积的类金刚石膜的结合力、sp3键含量和耐磨性能的影响.研究结果表明:离子氮化后,高速钢表面镀膜结合力明显提高,由10.35 N提高至18.56 N;降低气体体积配比中CH_(4)的含量有利于提高膜层中sp3键的含量,高速钢耐磨性能明显提升,摩擦系数由0.175降至0.1.离子氮化可有效提高高速钢表面沉积的类金刚石膜性能.
【总页数】7页(P54-59)
【作者】张涛;冯利民;李建中
【作者单位】东北大学冶金学院;上海新弧源涂层技术有限公司
【正文语种】中文
【中图分类】TG115.5
【相关文献】
1.具有表面类金刚石膜高速钢的耐磨性能
2.基体偏压对铜/金刚石复合材料表面离子镀氮化铝膜层组织和性能的影响
3.离子氮化高速钢沉积掺钨类金刚石薄膜的摩擦磨损性能研究
4.基于线性离子束技术的镁合金表面类金刚石膜的制备与性能研究
5.氮和碳等离子体基离子注入铝合金表面氮化铝/类金刚石碳膜改性层的摩擦学特性
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硅掺杂金刚石薄膜形成过程的研究
刘学杰;乔海懋
【期刊名称】《内蒙古科技大学学报》
【年(卷),期】2017(036)002
【摘要】采用第一性原理计算和实验研究了Si掺杂金刚石薄膜的形成过程.运用第一性原理计算了Si粒子在具有活性位的氢终止金刚石(001)表面上的吸附能和迁移激活能.结果表明,Si粒子在该表面上吸附能和迁移激活能均为3.0-4.7eV.因此,Si粒子可以在氢终止金刚石表面活性位上吸附并形成稳定结构.采用微波等离子化学气相沉积方法制备了Si掺杂金刚石薄膜,电子扫描电镜检测验证了理论计算结果.【总页数】5页(P126-130)
【作者】刘学杰;乔海懋
【作者单位】内蒙古科技大学机械工程学院,内蒙古包头 014010;内蒙古科技大学机械工程学院,内蒙古包头 014010
【正文语种】中文
【中图分类】TB43;TQ164
【相关文献】
1.硅掺杂类金刚石薄膜微米尺度摩擦性能研究 [J], 刘翊;范真;丁建宁;凌智勇;程广贵;蒋楠楠
2.硅掺杂CVD金刚石薄膜 [J], 崔雨潇;张建国;孙方宏;张志明
3.多界面氟硅共掺杂类金刚石薄膜的腐蚀性 [J], 张仁辉;赵娟;石维
4.紫外光辐照下钛硅共掺杂类金刚石薄膜微结构的演化 [J], 姜金龙;王琼;黄浩;张
霞;王玉宝;耿庆芬
5.硅掺杂对圆柱形硬质合金基体表面金刚石薄膜生长的影响 [J], 张建国
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PVD薄膜生长过程的计算机模拟王新蒙;刘学杰;Engelbert Westkaeper【期刊名称】《工具技术》【年(卷),期】2005(39)7【摘要】运用KMC方法对金属Ti膜的生长过程进行了计算机模拟,在合理选用势函数和相关参数的基础上,全面考虑了表面上所有不稳定团簇粒子发生扩散迁移运动的可能性。
在对粒子团簇进行统计分析时,提出根据粒子的不同颜色对粒子团簇进行统计的新方法。
模拟结果表明,随基底温度的升高,团簇总数呈现下降趋势,最大团簇尺寸在温度高于350K时,有明显的长大。
而沉积速率的变化对粒子团簇的分布和团簇尺寸的影响不大。
【总页数】5页(P36-40)【关键词】计算机模拟;生长过程;PVD;薄膜;MC方法;合理选用;扩散迁移;统计分析;模拟结果;基底温度;沉积速率;团簇;粒子;势函数;可能性;不稳定;尺寸;表面【作者】王新蒙;刘学杰;Engelbert Westkaeper【作者单位】内蒙古科技大学机械工程学院;内蒙古科技大学;IFF,University,Stuttgart,Germany【正文语种】中文【中图分类】O484.1;TP391.9【相关文献】1.铝薄膜的生长过程的计算机模拟 [J], 王翰林;赵鹏远2.Kinetic Monte Carlo模拟PVD薄膜生长的算法研究 [J], 赫晓东;单英春;李明伟;史丽萍3.PVD薄膜生长的Monte Carlo模拟 [J], 单英春;赫晓东;李明伟;李垚;史丽萍4.计算机模拟薄膜生长过程研究 [J], 孙治国5.蒙特卡罗方法模拟PVD薄膜生长的研究进展(综述) [J], 谭天亚;李春梅;吴炜;郭永新;韩宇;张静;苏宇因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
第24卷 第3期内蒙古民族大学学报(自然科学版)V o.l24 N o.3 2009年5月Journal o f Inner M ongo li a U niversit y for N ationa lities M ay2009S i(111)表面离子束辅助沉积对类金刚石薄膜结构影响的计算机模拟郭德成,李 双,阎梦泽,赵艳春,李之杰(内蒙古民族大学物理与电子信息学院,内蒙古通辽 028043)摘 要本文选C分子和A r离子作为沉积源和辅助沉积粒子,采用分子动力学(M D)方法在Si(111)面上2分子和A r离子的入射能模拟研究了离子束辅助沉积(I BAD)类金刚石(DLC)膜的物理过程.重点讨论了C2量及到达比(A r/C)对平均密度和sp3键含量的影响,并与S i(001)-(2!1)表面生长类金刚石膜的结果进行比较.结果表明,到达比和入射能的改变,对薄膜结构的影响不同;S i(111)面上生长类金刚石膜,薄膜在衬底的附着力更强.关键词类金刚石薄膜;Si(111)面;离子束辅助沉积;分子动力学模拟中图分类号O411.2 文献标识码A 文章编号1671-0185(2009)03-0256-03Si m ulations of the Structure Characteristi c of D i a mond-li ke CarbonFil m s For med by Ion-bea m-assiste d Depositi on on Silicon(111)S urfaceGUO De-cheng,LI Shuang,YAN M eng-ze,Z HAO Yan-chun,LI Zh i-jie (College of Physica l and Electronic Infor mati on,InnerM ongo li a U niversity for Nationalities,Tong li ao028043,Chi na)Abstract:In t h is article,M o lecu l a r dyna m ics(M D)w as used t o st udy the gro w t h process o f d i amond-li ke carbonmo lecu l es (DLC)fil m s synt hesized v i a i on-bea m-assisted depositi on(IBAD)on S ilicon(111)surface.The C2 and A r i onsw ere se l ected as deposition and assi stance pro jectiles respectively.T he study focused on t he average denm o l ecules and A r i ons and diff e rent the ass i s sity and SP3hybridization fraction under d ifferent i nc i dence energy of C2tance depositi on atom ic rati o(A r/C),and m ake co m parison w it h S ili con(001)-(2!1)sur f ace.T he res u lts i nd icate that t he i nfl uence o f structure o f dia m ond-li ke carbon fil m s was different under different i ncidence energy andthe assistance depos i tion a t om i c ra tio.A dhesive force of fil m s w as stronge r on S ilicon(111)surface.K ey word s:D ia m ond-li ke carbon fil m s;Silicon(111)surface;Ion-beam assi sted depos ition;M o l ecular dyna m icssi m u lati on1 引言类金刚石(DLC)膜是一种非晶碳膜,具有许多类似于金刚石的优良性能,如高硬度、低摩擦系数、高耐磨、导热、电绝缘、透光以及良好的化学稳定性和生物相容性等,能广泛应用于机械、电子、化学、军事、航空航天、生物医学等领域 1.当前已有很多制备类金刚石薄膜技术.采用离子束辅助沉积(IBAD)方法可以制备出多种非晶薄膜及亚稳态薄膜,并应用于工件表面改性,因此IB AD已成为一项研发新型非晶材料的有力工具.理论上对I BAD制备DLC膜的机理有不同的解释,例如,择优溅射和SP2杂化原子的移位效应等 3~5.文献 4用M onte Ca rl o方法研究了离子能量和离子(A r)与原子(C)的到达比率对薄膜结构的影响,和实验测量结果定性符合.F edotov 等人采用T ersoff作用势的分子动力学(M o lecu l ar D ynam ics,M D)模拟研究了IBAD方法合成碳膜的动力学过程 6,定量的*收稿日期:2008-12-15项目基金:内蒙古自治区教育厅科研基金资助项目(NJ04062)作者简介:郭德成(1983-),男,内蒙古呼伦贝尔人,在读硕士研究生,主要从事计算物理研究.通讯作者:李之杰,E-m ai:l liz h ijie-t@.第3期郭德成等:Si(111)表面离子束辅助沉积对类金刚石薄膜结构影响的计算机模拟计算了离子与原子的比率对薄膜结构的影响.其不足之处是假设离子直接注入薄膜,没有考虑离子的散射.文献研究了DLC 膜在辅助粒子下的生长和结构特性以及不同烷烃基团对沉积过程的影响.但没有考虑衬底不同时对DLC 膜结构的影响.本文用M D 模拟方法研究C 2分子和A r 离子作为沉积源和辅助沉积粒子在S i(111)面上生长类金刚石膜.重点讨论辅助离子对薄膜结构的影响.2 计算模型2.1 M D 模拟和原子间相互作用势 本文的M D 计算模型与文献 9,10 类似.笔者研究的体系是以原子为基本粒子组成N 个粒子的体系,由入射粒子和衬底原子构成,分子动力学M D 方法的核心是通过数值求解系统的运动方程,得到体系的相空间轨道r N (t),p N (t).体系的哈密顿量H 为 H (r N ,p N )=∀n i=1p i #p i 2m i + (r r N )(1)体系的正则方程为 dr i dt = H p i =p i m i ,dp i d t =- H r i= i (r N )(2)式中 (r n )为体系的总势能,它只与粒子的坐标有关而与动量无关;m i ,r i ,p i 分别为i 粒子的质量,位置和动量,r N ,p N 表示N 个粒子的位置和动量,t 为时间.由(2)式可看出,作用势的选取对正确求解正则方程至关重要.选取半经验公式B renner 作用势描述C -C 、C -H 、H -H 原子间的相互作用 11 ,T ersoff 作用势描述C -S i 和S i-S i 原子间的相互作用 12 .Z i eg l e r ,B iersack 和L itt m ark(ZBL )对势描述A r-C 、A r-H 和A r-Si 原子间的相互作用 13 .2.2 离子束辅助沉积的物理模型 M D 方法模拟A r 辅助沉积合成DLC 膜,用C 2分子沉积在S i(111)表面,S i 衬底温度为100K,C 2是由两个碳原子构成的线性分子,C 2分子的入射能量记作E C ,分别选为5,10和20eV.辅助沉积离子用荷能A r 原子代替.A r 原子入射能量记作E a ,分别选为30和50eV.辅助和沉积原子的比率(到达比)记作 ,它分别选为0.1,0.25和0.5.Si 衬底的厚度为10层,每层64个S i 原子.并通过M D 模拟试验,验证衬底尺寸足以保证模拟结果的收敛.衬底底部两层保持固定不动,模仿成厚衬底.顶部两层原子的动力学过程完全受势场的作用.应用Be rendsen 14 速度标度法于中间的几层原子,维持衬底为常温.平行于表面(x-y 平面)应用周期边界条件.C 2分子开始放置的位置距离当前表面足够远,使得分子和表面原子的相互作用可以忽略,然后,C 2分子沿法线方向(z 轴)入射到Si(111)表面.全部原子体系的运动方程应用蛙跳算法求积分.在薄膜制备过程的模拟中,用900个以上的C 2分子合成薄膜,厚度大约1.5n m.为了与实验结果相比较,在M D 模拟中,设置的沉积速率尽可能低,在每个团簇开始入射时,保证前一个团簇和衬底得以充分地弛豫.根据单个团簇的模拟结果,每个团簇沉积动力学过程大约需1ps 9,10 .因此,每两个C 2入射的时间间隔选择为2.5至3.0ps ,A r 和C 2之间的碰撞时间间隔设置为3ps,比前者稍大.为研究A r 辅助沉积在S i(111)表面生长DLC 膜的机理,对A r 轰击碳膜的影响进行了研究,定量分析了A r 轰击引起的薄膜密度、近邻数、衬底表面C 原子和Si 原子的个数以及C-S i 成键的个数.3 计算结果与讨论3.1 A r 辅助沉积对薄膜结构的影响 模拟了几种不同 和E a 值的薄膜.分别研究了到达比 和入射能量E a 对碳膜平均密度的影响. 的取值分别为0.5,0.25,0.1和0.0(无A r).A r 离子的轰击能量为50e V.合成碳膜的原子数相同,均超过1800个,其他的模拟参数相同.在碳膜的中间部分截取相同体积.其结果如图1所示.在C 2=5e V 时,碳膜的平均密度随值的增大而增大,且变化显著;当C 2=20e V 时,碳膜的平均密度随 值的增大而减小.接下来,研究了入射能量E c 和E a 对薄膜结构的影响.A r 的碰撞能量选为30和50e V,选取相同的到达比值( =0.25).按如上方法计算了两种薄膜的平均密度.如表1所示.选取多组不同入射能量和 值进行模拟,当C 2=20e V,A r =30e V, =0.5时,碳膜的平均密度可高达3.06g /c m 3.考虑到石墨和金刚石分别具有三配位和四配位结构,为进一步分析薄膜的类金刚石特性,使用了与计算平均密度相同的统计方法计算了薄膜中C 原子的近邻数分布,如图2所示,计算的截断距离取为0.21n m,从图中看出 =0时3近邻最大,且随着 的增大而降低.4近邻随着 值的增大而增大,反映出薄膜中有更多的SP 3键形成.另外一个有意义的、用以判定薄膜质量的参数是合成的薄膜与衬底的附着力.实验发现,IBAD 方法制备的薄膜与衬底界面的结合处变宽且附着力增强 15 .用计算机模拟比较了下述两种薄膜在衬底表面附近的结构,没有A r 辅助沉积( =0)和有辅助沉积(E a =50eV,E c =5e V )合成的薄膜.为了表达清楚,在底靶表面附近,以底靶表面高度为标准,表2给出了溅射至衬底表面的Si 原子和注入到衬底表面以下的C 原子数目.如在E a =50eV, =0.25时,前者注入Si 衬底的C 原子数是46后者为78,而溅射至衬底表面的S i 原子分别为43和50.再看C 原子进入S i 衬底的深度,当 =0.25时深度达0.6952n m,是 =0时(0.4613)的1.507倍.因此有辅助沉积合成的薄膜在界面处的混合层变宽.257内 蒙 古 民 族 大 学 学 报2009年表1 不同的入射能量Ec 和Ea合成薄膜的平均密度比较(到达比=0.25)T ab le1 Th e average den sity of fil m s co mparisionfor var i ous i n ciden ce energy Ec and Ea,wh ile th e arr i va l of proporti on(A r is0.25) EcEa /eV51020502.732.852.89302.703.003.03表2 不同到达比进入底靶表面以下的C原子数和进入底靶表面以上的S i原子数目统计T ab le2 W ith the d ifferen t arr i va,l the nu m ber of S iato m s above the end of the target surface and the nu m berof C ato m s belo w th e end of th e targe t s u rface到达比0.00.10.250.5C原子数465478108Si原子数43435049另外,以S i C的键长(0.189n m)为基准计算了在分界面附近C-S i键的成键数目,如图3给出A r的能量选取50eV时,随着A r的到达比不同,在1.4n m~2.3n m的高度内,统计了C-S i键的成键数目,发现有辅助沉积合成的薄膜和无辅助沉积的薄膜相比,前者成键数目比后者增加了55.6%.图1 不同到达比和入射能量合成碳膜密度的比较Figure1 The density of fil m s co m par isi on for var i ou s i n ci d ence en ergy and d ifferent rati o图2 不同到达比合成碳膜的近邻数分布比较F i gure2 Th e structu re ne i ghborsof fil m s co m par isi onfor differen t ratio图3 在薄膜高度为1.4n m-2.3n m内,C-Si键的成键数目随到达比的变化曲线F i gure3 In the fil m h eigh t of1.4n m-2.3nm,the B ond i ng nu m berof C-S i func ti on of d ifferen t ratio4 结论本文用分子动力学方法模拟研究了I BAD法制备DLC膜的物理过程.详细分析了不同入射能量和离子与原子的到达比对DLC膜结构的影响,得到如下结论:(1)入射团簇和辅助沉积A r离子采用适当的能量(Ea =30e V,Ec=20eV)时,可以改善合成碳膜的类金刚石性质.随着值的增加,薄膜的密度和SP3杂化比例均随之增加.(2)笔者发现S i(111)衬底和薄膜的原子混合层增加显著,从而使薄膜在表面的附着力更强.最后,应该注意到因为计算机运算时间所限,M D模拟行为被限制到只能研究瞬间动力学.众所周知,DLC膜的生长是一个复杂的物理和化学过程.其他因素,像热激发的过程,被视为一个较长期的过程,尚未考虑在内.因此,所得到结果与实验结果定性一致,还不能定量解释实验结果.今后我们将结合M D和M onte-C arlo模拟开展进一步研究.参 考 文 献1刘贵昂.类金刚石膜及其淀积条件的研究 J.大自然探索,1998,17(4):71-74.2Br itton D T,H rti ng M,H e m pe lM.D e fect character i sati on i n a m orphous dia m ond-li ke carbon coati ngs J.A pplied Sur face Sc ience,1999,149:130-134.3L ifsh itz Y,K asi S R,R aba l a is JW.Subplan tati on m ode l fo r fil m gro w t h from hype rt her m a l spec ies:A pp licati on to d i amond J.Phy s R ev L ett,1989,62:1290-1293.4F ran cco is R oss i BernardAndre.M on te Car l o M ode lli ng o f Ion-Beam-A ssi sted-D e Position:A pplica tion to D ia m ond-li ke Carbon J.Jpn J A pp l Phys,1992,31:872-879.(下转第277页) 258第3期阿力塔等:水热合成法制备{[Cu(en)2][KFe(CN)6]}n 3 结论从实验得知,配阴离子[K Fe(CN)6]2-与配阳离子[Cu(en)2]2+在配比得当时,利用低温水热合成的方法,通过压力的改变可以制备出更好的晶体.参 考 文 献1OHBAM,U S AKAN,FUK I TAN,et a.l Structure and m agne tic properti es of one-di m ens i ona l PPh4[N i(Ph)2][M(CN)6].H2O(M=Fe,C r,Co)b i m eta lli c asse m bli es J.Inorg Chem,1998,37:3349-3354.2OHBAM,OKAWAH,FUK ITAN,et a.l B i m eta llic m agnetic m ate rial[N i(dia m i ne)2]2[F e(C N)6]X w ith t wo-d i m ensi onal ne t w ork ex tended by F eIII-CN-N iIIli nk ages J.J Am Che m Soc,1997,119:1011-1019.3OHBA M,FUK I TA N and OKAW A H.M agnetic characteristi cs o f b i m eta llic assemb lies,[N i(en)2]3[M(CN)6]2#2H2O(en=H2NCH2C H2NH2;M=(F e,M n,C r,or Co),w ith a one-d i m ensiona l rope-ladde r cha i n structure J.JChem Soc,1999,207:1028-1030.4FU JI TAM,KW ONY J,W A S H IZU S,et a.l Preparation,c l a t hration ab ility,and cata l y si s o f a t wo-d i m ensiona l square net wo rk m a terial composed o f cadm i um(II)and4,4∃-b i py ridi ne J.J Am Chem Soc,1994,116:1151-1153.5TORRES J,LAVANDERA J L,CABILDO P,e t a.l Synthes i s and che m ica l stud i es on1,2-b i sazo l y lethanes J.JH eterocycl Che m,1988,25:771-787.6L I B L.Syn t hesis,structure and characterization o f the first m i xed-va l ence CoIICoIII one-d i m ensiona l cha i n coord i na ti on po l ym er J.苏州大学学报(自然科学),2001,17(4):87-93.7李宝龙,宗水珍,朱利明,等.1,2-(1H-1,2,4-三唑)乙烷桥联配合物的合成和研究 J.苏州大学学报(自然科学),2001,17(3):70-74.责任编辑 郑 瑛(上接第258页)5M o ll er W.M odeli ng of the sp3/sp2ratio i n i on bea m and plas m a-deposited carbon fil m s J.A pp lP hys L ettN ovember4, 1991,59:2391-2393.6Fedotov S A,E fi m ch i k A A,By eliA V.DLC gro w t h by ion beam assisted depo siti on:a mo lecu l ar si m ulation J.D i a m ond and R e lated M aterials,1997,6:1638-1642.7L i Z J,P an Z Y,W ang Y X,et a.l Investigati on o f i on-bea m-assisted deposition o f DLC fil m s by m o lecular dyna m ics si m u-lati on J.Surface&Coati ngs T echno l ogy,2005,192:64-69.8H uang Z,Pan Z Y,W ang Y X,et a.l D epositi on o f hydrocar-bon m o l ecules on dia m ond(001)surfaces:ato m ic scale M ode li ng Surface and Coati ngs T echno l ogy,2002,158-59:94-98.9L i ZJ,P an ZY,W e i Q,e t a,l S tructure character i ns ma ll-carbon-cluster depositi on on dia m ond surface J.Eur Phys J D,2003,23:369-373.10W e iQ.I m pact-energy dependence of atom i c m obility i n dia m ondli ke ca rbon fil m g row t h J.Phy s R ev B,2003,68: 235408-235412.11B renner D W.E m pir i ca l Potential for H ydrocarbons fo r U se i n Su m ulati ng the Che m ical V apor D epositi on o f D i a m ondF il m s J.Phys R ev B,1990,42:9458-9471.12T ersoff J.M ode ling soli d-state che m i stry:Interatom ic po tentials for m ultico m ponent syste m s J.P hys R ev B,1989,39: 5566-5568.13Eckste i n W.Co m pute r s i m u l a tion o f i on-so lid interacti ons J.Spri nger Se ries i n M ate rials Sc i ence,1991,10:296.14Berendsen H J C,Po st m an J P M,van G unsteren W F,e t a.l M olecu lar dynam ics w it h coupling to an external bath J.Chen P hys,1984,81:3684-3690.15W ang Z,Seebauer E G.Ex trao rdina ry temperature a m plifi cation i n i on-sti m ulated surface processes at l ow energ ies J.Phys R ev B,2002,66:205409.责任编辑 郑 瑛277。