量具内校规范(1)

计量器具内部校准作业指导书文献编号：版本：1.0A编制:审核:同意:密级：内部资料公布日期:目录目录目录.................................................................................................................................... 错误!未定义书签。

1、硬度计旳内校程序...................................................................................................... 错误!未定义书签。

2、深度尺内校程序：...................................................................................................... 错误!未定义书签。

3、高度尺内校程序：...................................................................................................... 错误!未定义书签。

4、外径千分尺内校程序：.............................................................................................. 错误!未定义书签。

5、卡尺内校程序：.......................................................................................................... 错误!未定义书签。

6、厚度仪内校程序：...................................................................................................... 错误!未定义书签。

1、游标卡尺内部校准规程1目的对游标卡尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于普通游标卡尺及带表游标卡尺的内部核准。

3校验基准外校合格的量块。

4环境条件室温5校验步骤检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，带表卡尺表头的指针是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头是否平稳、平滑。

调校零位，或使指针对准零点。

取2～3块任意基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整。

每块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《量具内部校验记录表》内。

允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±、±。

测内径接触面磨损程度：取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，取平均值。

测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±、±，将其平均值记录在《量具内部校验记录表》中。

可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准；历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格；6校准周期每年一次7相关记录《量具内部校验记录表》2、千分尺内部校验规程1目的对千分尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于千分尺的内部校准。

3校验基准外校合格的标准量块。

4环境条件室温5校验步骤检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，刻度是否清晰。

扭动千分尺螺栓调校零位，使刻度对准零点。

根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3～4块，（可对标准量块进行组合测量）。

每块量块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《量具内部校验记录表》内。

允许误差范围为±。

外径千分尺的校验：任意取5-6块标准量块，取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，扭动螺栓使外径千分尺的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内。

计测器内校管理程序1、硬度计的内校程序（1）、结构说明：常用硬度计分为①章氐其计算符号为HV。

②布氐其计算符号为HB，③洛氐其计算机符号为HR三者之结构大致相同。

是由以下结构组成如图（一）所示：（2）、校验基准：使用外校合格的硬度计进行对比校准。

（3）、校准环境及周期：常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月。

（4）、校准步骤：（5）、判定标准：表示值误差不超过±0.02，即为合格。

（6）、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。

②、校准不合格时：依实际情况，判定为：暂停使用，降级使用，维修，报废处理。

③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。

2、深度尺内校程序：（1）、结构概述：深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具，结构组成如图（二）所示：（2）、校准基准：标准量块（外校合格的标准块）。

（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。

（4）、校准步骤：（5）、判定标准：表示值误差不超过±0.04MM即判为合格。

（6）、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。

②、校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理。

③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。

3、高度尺内校程序：（1）、结构概述：高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要由以下结构组成，如图（三）所示：（2）、校准基准：选用外校合格的量块和平台进行比对校准。

（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。

（4）、校准步骤：（（6）、记录保存：①、校准合格后，贴上校准标签。

②、校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用报废处理。

③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。

4、外径千分尺内校程序：（1）、外径千分尺又叫螺旋测微器，外径千分尺是由尺架，测砧，测微螺杆，微调装置，锁紧装置，固定套筒，微分筒等组成，如图（三）所示。

目录玻璃量器容量示值校准总则 (1)滴定管校准规程 (2)移液管校准规程 (4)容量瓶校准规程 (5)负压筛校准规程 (7)水筛、干筛校准规程 (8)比表面积仪校准规程 (9)氯离子测定仪校准规程 (10)f-CaO测定仪校准规程 (14)李氏瓶校准规程 (16)量水器校准规程 (17)量筒校准规程 (18)酸度计校准规程 (20)玻璃量器容量示值校准总则一、仪器检定前的准备工作1、被检定仪器必须预先洗净，干燥。

如果仪器玷污很严重，可先用洗涤液处理。

洗涤液的选择需根据污垢的性质而定，如酸性（或碱性）污垢用碱性（或酸性）洗涤液洗。

氧化物（或还原性）污垢用还原性（或氧化性）洗涤液洗；有机污垢用碱液或有机溶液洗。

2、容量示值检定的环境条件（1）室温（20±5）℃，且室温变化不大于1℃/h。

（2）水温与室温之差不得大于2℃（3）检定介质为纯水（蒸馏水或去离子水），应符合GB6682的要求。

3、将待校准的玻璃量器连同蒸馏水放在天平室一段时间，使其与室温达到平衡，用校准过的温度计（分度值0.1℃）准确测量蒸馏水的温度。

二、容量示值检定点的选择。

1、滴定管（1）标定容量1ml-10ml的滴定管：半容量和总容量两点。

（2）标定容量25ml的容量管：0ml-5ml、0ml-10ml、0ml-15ml、0ml-20ml、0ml-25ml五点。

（3）标定容量50ml的容量管：0ml-10ml、0ml-20ml、0ml-30ml、0ml-40ml、0ml-50ml五点。

（4）标定容量100ml的容量管：0ml-20ml、0ml-40ml、0ml-60ml 0ml-80ml 、0ml-100ml五点。

2、分度吸量管（1）标称容量0.5ml以下（含0.5ml）：半容量（半容量-流液口）和总容量两点。

（2）标称容量0.5ml以上：总容量的1/10。

若无总容量的1/10分度线，则检测1/20点（自流液口起），总容量。

计量器具内校规程一、引言计量器具是用于测量和检验各种物理量的工具，其准确性和可靠性对各行业的生产和质量控制至关重要。

为了保证计量器具的准确性，减少误差，提高测量的可靠性，内校（内部校验）成为一项必要的工作。

本文档旨在规范计量器具的内校工作，确保内校的准确性和可靠性。

二、内校的目的内校的目的是检验计量器具的准确性和可靠性，保证其符合相应的技术标准和规范要求。

通过内校，可以及时发现和纠正计量器具的偏差，确保其在测量过程中的可靠性和准确性，提高产品质量和生产效率。

三、内校的方法1.选择校验设备：根据被测量的计量器具的种类和特点，选择相应的校验设备。

校验设备应符合国家和行业标准，保证其准确性和可靠性。

2.准备校验材料：根据内校的要求，准备相应的校验材料，例如标准样品、校验盘等。

校验材料应具有相对准确度较高且稳定的特性。

3.内校流程：按照内校规程，进行内校的具体操作流程。

包括以下步骤：–准备工作：检查校验设备的状态和准确性，保证其正常运行。

准备被测量的计量器具，确保其处于可内校状态。

–校验：根据内校要求和被测量的计量器具的特点，进行相应的校验操作。

记录校验结果，并与标准要求进行比对。

–处理不合格：对于校验结果不合格的计量器具，应及时进行维修、调整或更换，确保其符合内校要求。

–记录与报告：记录内校的相关数据和过程，编制内校报告，包括校验结果、不合格处理情况等。

报告应存档备查。

4.内校周期：根据计量器具的使用频率和重要性，确定内校的周期。

常见的内校周期有日常内校、定期内校和验收内校等。

不同的计量器具可能需要不同的周期来进行内校，应根据实际情况确定。

四、内校的要求1.计量器具的内校应由经过培训并具备相关专业知识和技能的人员进行。

内校人员应熟悉内校的操作流程和要求，具备相应的仪器操作和维护能力。

2.内校应在符合相应的环境条件下进行，避免干扰和误差。

内校环境应具备相对稳定的温度、湿度和光照条件。

3.内校应严格按照内校规程进行，确保操作的准确性和可靠性。

1、数显卡尺校准规程1目的对游标卡尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于数显卡尺的内部校准3校验基准外校合格的量块。

4环境条件室温5校验步骤5.1检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，表头是否平稳、平滑。

5.2调校零位，或使指针对准零点。

5.3取2〜3块任意基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整。

每块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《内校记录》内。

允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm。

5.4测内径接触面磨损程度：取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，取平均值。

测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm,将其平均值记录在《内校记录》中。

5.5可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准；5.6历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格；6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》2、数显千分尺内部校验规程1目的对千分尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于千分尺的内部校准。

3校验基准外校合格的标准量块。

4环境条件室温5校验步骤5.1检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，刻度是否清晰。

5.2扭动千分尺螺栓调校零位，使刻度对准零点。

5.3根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3〜4块，（可对标准量块进行组合测量）。

每块量块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《内校记录》内。

允许误差范围为±0.01mm。

5.5历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格。

6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》1目的对FRT进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于FRT的内部校准。

计测器内校管理程序1、硬度计的内校程序（1）、结构说明：常用硬度计分为①章氐其计算符号为HV 。

②布氐其计算符号为HB ，③洛氐其计算机符号为HR 三者之结构大致相同。

是由以下结构组成如图（一）所示：（2）、校验基准：使用外校合格的硬度计进行对比校准。

（3）、校准环境及周期：常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月。

（4）、校准步骤：（6）、记录保存：①、 校准合格后，贴校准标签。

②、 校准不合格时：依实际情况，判定为：暂停使用，降级使用，维修，报废处理。

③、 将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。

2、深度尺内校程序：（1）、结构概述：深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具，结构组成如图（二）所示：（2）、校准基准：标准量块（外校合格的标准块）。

（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。

（4）、校准步骤：（6）、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。

②、校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理。

③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。

3、高度尺内校程序：（1）、结构概述：高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要由以下结构组成，如图（三）所示：（2）、校准基准：选用外校合格的量块和平台进行比对校准。

（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。

（4）、校准步骤：（5（6）、记录保存：①、校准合格后，贴上校准标签。

②、校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用报废处理。

③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。

4、外径千分尺内校程序：（1）、外径千分尺又叫螺旋测微器，外径千分尺是由尺架，测砧，测微螺杆，微调装置，锁紧装置，固定套筒，微分筒等组成，如图（三）所示。

（2）、使用基准：外校合格的标准量块：（3）、校准环境及周期。