实验1基本门电路及数字电
- 格式:doc
- 大小:111.00 KB
- 文档页数:5
实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路学习机及示波器使用方法。
二、实验仪器及材料1、双踪示波器2、器件74LS00 二输入端四与非门2片74LS20 四输入端双与非门1片74LS86 二输入端四异或门1片74LS04 六反相器1片三、预习要求1、复习门电路工作原理相应逻辑表达示。
2、熟悉所有集成电路的引线位置及各引线用途。
3、了解双踪示波器使用方法。
四、实验内容实验前按学习机使用说明先检查学习机是否正常,然后选择实验用的集成电路,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导教师检查无误方可通电。
试验中改动接线须先断开电源,接好线后在通电实验。
1、测试门电路逻辑功能。
(1)选用双输入与非门74LS20一只,插入面包板,按图连接电路,输入端接S1~S4(电平开关输入插口),输出端接电平显示发光二极管(D1~D8任意一个)。
(2)将电平开关按表1.1置位,分别测出电压及逻辑状态。
(表1.1)2、异或门逻辑功能测试(1)选二输入四异或门电路74LS86,按图接线,输入端1﹑2﹑4﹑5接电平开关,输出端A﹑B﹑Y接电平显示发光二极管。
(2)将电平开关按表1.2置位,将结果填入表中。
表 1.23、逻辑电路的逻辑关系(1)选用四二输入与非门74LS00一只,插入面包板,实验电路自拟。
将输入输出逻辑关系分别填入表1.3﹑表1.4。
(2)写出上面两个电路的逻辑表达式。
表1.3 Y=A ⊕B表1.4 Y=A ⊕B Z=AB 4、逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器(非门)按图1.5接线,输80KHz 连续脉冲,用双踪示波器测输入,输出相位差,计算每个门的平均传输延迟时间的tpd 值 : tpd=0.2μs/6=1/30μs 5、利用与非门控制输出。
选用四二输入与非门74LS00一只,插入面包板,输入接任一电平开关,用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用:一端接高有效的脉冲信号,另一端接控制信号。
实验一基本门电路(验证型)一、实验目的(1)熟悉常用门电路的逻辑功能;(2)学会利用门电路构成简单的逻辑电路。
二、实验器材数字电路实验箱 1台;74LS00、74LS02、74LS86各一块三、实验内容及步骤1、TTL与非门逻辑功能测试(1)将四2输入与非门74LS00插入数字电路实验箱面板的IC插座上,任选其中一与非门。
输入端分别输入不同的逻辑电平(由逻辑开关控制),输出端接至LED“电平显示”输入端。
观察LED亮灭,并记录对应的逻辑状态。
按图1-1接线,检查无误方可通电。
图1-1表1-1 74LS00逻辑功能表2、TTL或非门、异或门逻辑功能测试分别选取四2输入或非门74LS02、四2输入异或门74LS86中的任一门电路,测试其逻辑功能,功能表自拟。
3、若要实现Y=A′, 74LS00、74LS02、74LS86将如何连接,分别画出其实验连线图,并验证其逻辑功能。
4、用四2输入与非门74LS00实现与或门Y=AB+CD的功能。
画出实验连线图,并验证其逻辑功能。
四、思考题1.TTL与非门输入端悬空相当于输入什么电平?2.如何处理各种门电路的多余输入端?附:集成电路引出端功能图实验二组合逻辑电路(设计型)一、实验目的熟悉简单组合电路的设计和分析过程。
二、实验器材数字电路实验箱 1台,74LS00 三块,74LS02、74LS04、74LS08各一块三、实验内容及步骤1、设计一个能比较一位二进制A与 B大小的比较电路,用X1、X2、X3分别表示三种状态:A>B时,X1=1;A<B时X2=1;A=B时X3=1。
(用74LS04、74LS08和74LS02实现)要求:(1)列出真值表;(2)写出函数逻辑表达式;(3) 画出逻辑电路图,并画出实验连线图;(4)验证电路设计的正确性。
2、测量组合电路的逻辑关系:(1)图3-2电路用3块74LS00组成。
按逻辑图接好实验电路,输入端A、B、C 分别接“逻辑电平”,输出端D、J接LED“电平显示”;图3-2 表3-2(2)按表3-2要求,将测得的输出状态和LED显示分别填入表内;(3)根据测得的逻辑电路真值表,写出电路的逻辑函数式,判断该电路的功能。
数电实验报告实验一心得引言本实验是数字电路课程的第一次实验,旨在通过实际操作和观察,加深对数字电路基础知识的理解和掌握。
本次实验主要涉及布尔代数、逻辑门、模拟开关和数字显示等内容。
在实验过程中,我对数字电路的原理和实际应用有了更深入的了解。
实验一:逻辑门电路的实验实验原理逻辑门是数字电路中的基本组件,它能够根据输入的布尔值输出相应的结果。
常见的逻辑门有与门、或门、非门等。
本次实验主要是通过搭建逻辑门电路实现布尔函数的运算。
实验过程1. 首先,我按照实验指导书上的电路图,使用示波器搭建了一个简单的与门电路。
并将输入端连接到两个开关,输出端连接到示波器,以观察电路的输入和输出信号变化。
2. 其次,我打开示波器,观察了两个开关分别为0和1时的输出结果。
当两个输入均为1时,示波器上的信号为高电平,否则为低电平。
3. 我进一步观察了两个开关都为1时的输出信号波形。
通过示波器上的脉冲信号可以清晰地看出与门的实际运行过程,验证了实验原理的正确性。
实验结果和分析通过本次实验,我成功地搭建了一个与门电路,并观察了输入和输出之间的关系。
通过示波器上的信号波形,我更加直观地了解了数字电路中布尔函数的运算过程。
根据实验结果和分析,我可以总结出:1. 逻辑门电路可以根据布尔函数进行输入信号的运算,输出相应的结果。
2. 在与门电路中,当输入信号均为1时,输出信号为1,否则为0。
3. 示例器可以实时显示电路的输入和输出信号波形,方便实验者观察和分析。
结论通过本次实验,我对数字电路的基本原理和逻辑门电路有了更深刻的理解。
我学会了如何搭建逻辑门电路,并通过示波器观察和分析输入和输出信号的变化。
这对我进一步理解数字电路的设计和应用具有重要意义。
通过实验,我还锻炼了动手操作、实际观察和分析问题的能力。
实验过程中,需要认真对待并细致观察电路的运行情况,及时发现和解决问题。
这些能力对于今后的学习和研究都非常重要。
总之,本次实验让我更好地理解了数字电路的基本原理和应用,提高了我的实验能力和观察分析能力。
基本门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过对基本门电路进行逻辑功能测试,掌握基本门电路的逻辑功能及其工作原理。
二、实验器材1.数字电路实验箱2.直流稳压电源3.数字万用表三、实验原理基本门电路是数字电路中最基本的逻辑元件,包括与门、或门、非门等。
它们分别对应着布尔代数中的“与”、“或”、“非”运算。
在数字电路中,这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算,如异或、同或等。
四、实验步骤1.连接与门电路:将两个输入端分别连接到数字电路实验箱上的两个开关上,将输出端连接到数字万用表上。
2.打开第一个开关,记录输出结果。
3.关闭第一个开关,打开第二个开关,记录输出结果。
4.打开两个开关,记录输出结果。
5.重复以上步骤,连接或门和非门电路进行测试。
五、实验结果及分析1.与门电路测试:当两个输入都为高电平时(即两个开关都打开),输出为高电平;当有一个或两个输入为低电平时(即有一个或两个开关关闭),输出为低电平。
这符合与运算的规律。
2.或门电路测试:当两个输入都为低电平时(即两个开关都关闭),输出为低电平;当有一个或两个输入为高电平时(即有一个或两个开关打开),输出为高电平。
这符合或运算的规律。
3.非门电路测试:当输入为高电平时(即开关打开),输出为低电平;当输入为低电平时(即开关关闭),输出为高电平。
这符合非运算的规律。
六、实验结论通过对基本门电路进行逻辑功能测试,我们掌握了与门、或门、非门的逻辑功能及其工作原理。
在数字电路中,这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算,如异或、同或等。
掌握了基本门的工作原理之后,我们可以更好地理解和设计数字电路。
七、实验注意事项1.在连接实验箱之前,确认所有器材已经通电并处于正常工作状态。
2.在进行实验前,检查所有连接是否正确,并确保没有短路情况发生。
3.在进行实验过程中,注意安全操作,避免触碰到带电部分。
实验一数字电路实验基础一、实验目的⑴掌握实验设备的使用和操作⑵掌握数字电路实验的一般程序⑶了解数字集成电路的基本知识二、预习要求复习数字集成电路相关知识及与非门、或非门相关知识三、实验器材⑴直流稳压电源、数字逻辑电路实验箱、万用表⑵74LS00、74LS02、74LS48四、实验内容和步骤1、实验数字集成电路的分类及特点目前,常用的中、小规模数字集成电路主要有两类。
一类是双极型的,另一类是单极型的。
各类当中又有许多不同的产品系列。
⑴双极型双极型数字集成电路以TTL电路为主,品种丰富,一般以74(民用)和54(军用)为前缀,是数字集成电路的参考标准。
其中包含的系列主要有:▪标准系列——主要产品,速度和功耗处于中等水平▪LS系列——主要产品,功耗比标准系列低▪S系列——高速型TTL、功耗大、品种少▪ALS系列——快速、低功耗、品种少▪AS系列——S系列的改进型⑵单极型单极型数字集成电路以CMOS电路为主,主要有4000/4500系列、40H系列、HC系列和HCT系列。
其显著的特点之一是静态功耗非常低,其它方面的表现也相当突出,但速度不如TTL集成电路快。
TTL产品和CMOS产品的应用都很广泛,具体产品的性能指标可以查阅TTL、CMOS集成电路各自的产品数据手册。
在本实验课程中,我们主要选用TTL数字集成电路来进行实验。
2、TTL集成电路使用注意事项⑴外形及引脚TTL集成电路的外形封装与引脚分配多种多样,如附录中所示的芯片封装形式为双列直插式(DIP)。
芯片外形封装上有一处豁口标志,在辨认引脚分配时,芯片正面(有芯片型号的一面)面对自己,将此豁口标志朝向左手侧,则芯片下方左起的第一个引脚为芯片的1号引脚,其余引脚按序号沿芯片逆时针分布。
⑵电源每片集成电路芯片均需要供电方能正常使用其逻辑功能,供电电源为+5V单电源。
电源正端(+5V)接芯片的VCC引脚,电源负端(0V)接芯片的GND引脚,两者不允许接反,否则会损坏集成电路芯片。
数字电路实验报告实验一、引言数字电路是计算机科学与工程学科的基础,它涵盖了数字信号的产生、传输、处理和存储等方面。
通过数字电路实验,我们可以深入了解数字电路的原理和设计,掌握数字电路的基本知识和实验技巧。
本报告旨在总结和分析我所进行的数字电路实验。
二、实验目的本次实验的目的是通过搭建和测试电路,验证数字电路的基本原理,掌握数字电路实验中常用的实验仪器和操作方法。
具体实验目的如下:1. 组装和测试基础门电路,包括与门、或门、非门等。
2. 理解和实践加法器电路,掌握准确的运算方法和设计技巧。
3. 探究时序电路的工作原理,深入了解时钟信号和触发器的应用。
三、实验装置和材料1. 模块化数字实验仪器套装2. 实验台3. 数字电路芯片(例如与门、或门、非门、加法器、触发器等)4. 连接线、电源、示波器等。
四、实验步骤及结果1. 实验一:组装和测试基础门电路在实验台上搭建与门、或门、非门电路,并连接电源。
通过连接线输入不同的信号,测试输出的结果是否与预期一致。
记录实验步骤和观察结果。
2. 实验二:实践加法器电路将加法器电路搭建在实验台上,并输入两个二进制数字,通过加法器电路计算它们的和。
验证求和结果是否正确。
记录实验步骤和观察结果。
3. 实验三:探究时序电路的工作原理将时序电路搭建在实验台上,并连接时钟信号和触发器。
观察触发器的状态变化,并记录不同时钟信号下的观察结果。
分析观察结果,总结时序电路的工作原理。
五、实验结果与分析1. 实验一的结果与分析:通过测试与门、或门、非门电路的输入和输出,我们可以观察到输出是否与预期一致。
若输出与预期一致,则说明基础门电路连接正确,电路工作正常;若输出与预期不一致,则需要检查电路连接是否错误,或者芯片损坏。
通过实验一,我们可以掌握基础门电路的搭建和测试方法。
2. 实验二的结果与分析:通过实践加法器电路,我们可以输入两个二进制数字,并观察加法器电路的运算结果。
如果加法器电路能正确计算出输入数字的和,则说明加法器电路工作正常。
实验一基本逻辑关系与基本门电路一、实验目的(1)掌握TTL与非门、异或门、或门等输入与输出之间的逻辑关系。
(2)熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。
(3)掌握数字电路实验系统仪器的使用方法。
(4)掌握TTL门电路间的相互转换。
(5)掌握用数字表逻辑档检测TTL门电路好坏的方法。
二、实验器材(1)实验仪器:数字电路实验箱、稳压电源、万用表;(2)实验器件:74LS00、74LS04、74LS08、74LS32、74LS86、74LS55各一片。
三、实验原理1.基本逻辑关系与基本逻辑门在数字逻辑电路中,研究的主要问题是输入信号的状态和输出信号的状态之间的关系,也就是所谓的逻辑关系,基本逻辑关系有三种,即与、或、非。
几乎所有的电路功能都是这三种逻辑关系的组合。
实现这些基本逻辑关系的电路就是逻辑门,所以最基本的逻辑门是“与门”、“或门”、“非门”。
下面用三种控制指示灯开关电路来分别说明三种基本逻辑关系。
开关的闭合或断开为条件是否具备,灯的亮灭作为事件是否发生,开关和灯之间的因果关系,即为逻辑关系。
实现与逻辑关系的电路称为与门。
最简单的与门可以由二极管和电阻组成。
只有决定一件事情的全部条件都具备了,这件事情才会发生的逻辑关系称作逻辑与,或者称作逻辑乘。
为了便于理解它的含义,来看一个简单的例子。
如图1-1所示,图1-1为一照明电路,灯亮这件事,只有在两个开关A、B同时闭合时,灯Y才会亮,否则灯就不会亮。
如果把开关闭合作为条件,把灯亮作为结果,那么灯亮与开关之间是一种与逻辑关系。
图1-2为它的逻辑符号。
如果用“1”表示开关闭合,“0”表示开关断开;用“1”表示灯亮,“0”表示灯灭,则可以得到描述开关与灯亮之间与逻辑关系的图表,如表1-1所示,这种图表称作逻辑真值表,简称为真值表。
表1-1 与逻辑真值表A B Y0 0 0 1 1 0 1 1 0 0 01由表1-1可知,Y 与A 、B 之间的关系是:只有当A 和B 都是1时,Y 才为1;否则Y 为0。
湖南工学院教案用纸p.1 实验1 基本门电路逻辑功能测试(验证性实验)一、实验目的1.熟悉基本门电路图形符号与功能;2.掌握门电路的使用与功能测试方法;3.熟悉实验室数字电路实验设备的结构、功能与使用。
二、实验设备与器材双列直插集成电路插座,逻辑电平开关,LED发光显示器,74LS00,74LS20,74LS86,导线三、实验电路与说明门电路是最简单、最基本的数字集成电路,也是构成任何复杂组合电路和时序电路的基本单元。
常见基本集门电路包括与门、或门、与非门、非门、异或门、同或门等,它们相应的图形符号与逻辑功能参见教材P.176, Fig.6.1。
根据器件工艺,基本门电路有TTL门电路和CMOS门电路之分。
TTL门电路工作速度快,不易损坏,CMOS门电路输出幅度大,集成度高,抗干扰能力强。
1. 74LS00—四2输入与非门功能与引脚:2. 74LS20—双4输入与非门功能与引脚:3. 74LS86—四2输入异或门功能与引脚:四、实验内容与步骤1. 74LS00功能测试:①74LS00插入IC插座;②输入接逻辑电平开关;③输出接LED显示器;④接电源;⑤拔动开关进行测试,结果记入自拟表格。
2. 74LS20功能测试:实验过程与74LS00功能测试类似。
3. 74LS86功能测试:实验过程与74LS00功能测试类似。
4. 用74LS00构成半加器并测试其功能:①根据半加器功能:S A B=,用74LS00设计一个半加器电路;=⊕,C AB②根据所设计电路进行实验接线;③电路输入接逻辑电平开关,输出接LED显示器;④通电源测试半加器功能,结果记入自拟表格。
5. 用74LS86和74LS00构成半加器并测试其功能:实验过程与以上半加器功能测试类似。
五、实验报告要求1. 内容必须包括实验名称、目的要求、实验电路及设计步骤、实验结果记录与分析、实验总结与体会等。
2.在报告中回答以下思考题:①如何判断逻辑门电路功能是否正常?②如何处理与非门的多余输入端?实验2 组合逻辑电路的设计与调试(设计性综合实验)一、实验目的1.熟悉编码器、译码器、数据选择器等MSI 的功能与使用;2.进一步掌握组合电路的设计与测试方法;3.学会用MSI 实现简单逻辑函数。
实验一基本门电路及数字实验台的使用
一、实验目的
1、熟悉各种基本逻辑门电路的逻辑符号和逻辑功能。
2、掌握集成门电路器件的使用及逻辑功能测试方法。
3、熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。
二、实验器材
DZX-3型数字电路实验台(双列直插式集成电路插座、+5V直流电源、逻辑电平开关、LED发光二极管显示器)
集成芯片
74LS00(四2输入与非门)、74LS20(双四输入与非门)、74LS86(四2输入异或门)
三、实验原理
集成逻辑门电路是最简单和最基本的数字集成元件。
任何复杂的组合电路和时序电路都可用逻辑门通过适当的组合连接而成。
基本逻辑运算有与、或、非运算,相应的基本逻辑门有与、或、非门。
目前已有门类齐全的集成门电路,如与非门、或非门异或门等。
虽然大、中规模集成电路相继问世,但要组成某一个系统时,仍少不了各种门电路。
TTL 集成电路由于工作速度快,输出幅度大,种类多,不易损坏等特点而使用较广。
CMOS 集成电路功耗低,输出幅度大,扇出能力强,电源范围较宽,应用也很广泛。
四、实验内容
1、介绍熟悉数字电路实验台
2、掌握本实验所有芯片的管脚识别方法。
74LS00外引线排列图 74LS20外引线排列图
74LS86外引线排列图
3、74LS00与非门逻辑功能的测试
4、74LS20与非门逻辑功能的测试
5、74LS86异或门逻辑功能的测试
6、 分析,测试用与非门74LS00组成的半加器的逻辑功能 1)逻辑表达式:
B A B A B A S ⊕=+= AB
C
=输入 输出 A B Q 0 0 0 1 1 0 1 1
输入 输出 A B C D Q 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0
输入 输出 A B Q 0 0 0 1 1 0 1 1
2)实验电路
用74LS00与非门组成的半加器电路图
3)实测半加器真值表
7、 分析、测试用异或门74LS86和与非门74LS00组成的半加器逻辑电路 1)实验电路与实测真值表
用74LS86异或门和与非门组成的半加器电路
0 0 0 1 1 0 1 1
S C
A B
0 0 0 1 1 0 1 1
S C
A B S C
&
&
=1
A
B
1
2
3
1
5 4 3
6
2
1 2
3
5 6 109
8
12
13 11
S
4
五、实验注意事项
1、接插集成芯片时,要认清定位标志,不得插反。
2、今天所使用集成芯片是双列直插式14引脚芯片,其7脚接地,14脚接+5V,实验中
电源极性绝对不允许接错。
3、所有的集成芯片都必须加电源驱动。
4、逻辑门电路输出端不允许直接接地或直接接+5V电源,否则将损坏器件,这就要求
在接线,拆线或改接电路时,一定要断开电源。
5、悬空,相当于高电平(状态为1),对于比较简单的电路,实验允许悬空处理但易受
外界干扰,导致电路的逻辑功能不正常,因此,对于使用集成芯片较多的复杂电路,不允许悬空。
6、实验前请逐个检测芯片中各门电路是否正常工作,以确保用逻辑功能正常的门电路
来组成所要求的组合逻辑电路。
六、实验报告的编写要求及实验成绩
实验报告应包括以下内容:
实验报告封面(所有栏目需填写,一人一组,同组者可不填,指导老师:瞿曌,张跃勤)
实验报告内容:
(一)实验目的
(二)实验仪器列出实验中所要使用的主要仪器。
(三)实验原理
简要地用文字和公式说明其原理。
原理叙述简洁清楚,原理图、线路图、公式完整、公式解析清晰。
(四)实验步骤应简明扼要地写出实验步骤、方法、流程。
(五)实验数据及其处理应用文字、表格、图形、将数据表示出来。
根据实验要求及计算公式计算出分析结果并进行有关数据和误差处理,尽可能地使记录表格化。
(六)实验结论及问题讨论完成实验指导书上的思考题;对实验中的现象、产生的误差等进行讨论和分析,尽可能地结合有关理论,以提高自己的分析问题、解决问题的能力,也为以后的科学研究打下一定的基础。
实验报告格式要求
实验报告要求每个同学用学校专用的报告纸书写,字迹工整,版面整洁,符号标准、图表规范,各班课代表在下次实验课前将本班实验报告及预习报告(预习报告夹在实验报告中)按学号顺序整理好,交任课教师。
实验成绩
实验成绩为考查,考查成绩即每次实验的平均成绩
每次实验成绩==预习报告(预习分10%)+实验操作(操作分40%)+实验报告(报告分50%)
七、实验预习
实验二组合逻辑电路的设计与测试
预习:列出下列实验任务的设计过程,并根据的所给的标准器件画出实验电路。
1、设计一个四人无弃权表决电路(多数赞成则提案通过)本设计要求采用四2输入与
非门(74LS20)实现。
2、设计一个保险箱的数字代码锁,该锁有规定的4位代码A、B、C、D的输入端和一个
开锁钥匙孔信号E的输入端,锁的代码由实验者自编(例如1001)。
当用钥匙开锁时(E=1),如果输入代码符合该锁设定的代码,保险箱被打开(Z1=1),如果不符,电路将发出报警信号(Z2=1)。
要求用最少的与门(74LS00和74LS20)来实现,检测并记录实验结果。
欢迎您的下载,资料仅供参考!。