平面度和粗糙度区别天准
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. 平面度和粗糙度的区别
尺寸特征所属类别形位公差
测量方法1、平晶干涉法 1.比较法
平晶干涉法用光学平晶将被测量表面与标有一定数值的工作面体现理想平面,直接的粗糙度样板比较来确定被测表
以干涉条纹的弯曲程度确定被面粗糙度数值的方法。
比较时可以测表面的平面度误差值。
时目测: Ra > 1.6μm 采用的方法Ra 时用放大镜Ra1.6~Ra0.4μm 2、光波干涉法
< 0.4μm 时用比较显微镜。
光波干涉法常利用平晶进行,可以把干涉图案作为被特点:该方法测量简便,使用于车检验表面的等高线,因此可以间现场测量,常用于中等或较粗糙画出该表面的形状。
表面的测量。
3、打表测量法2.触针法
打表测量法是将被测零微米左利用针尖曲率半径为2件和测微计放在标准平板上,右的金刚石触针沿被测表面缓慢滑以标准平板作为测量基准面,行,金刚石触针的上下位移量由电用测微计沿实际表面逐点或沿学式长度传感器转换为电信号,经几条直线方向进行测量。
放大、滤波、计算后由显示仪表指4、液平面法示出表面粗糙度数值,也可用记录
液平面法是用液平面作器记录被测截面轮廓曲线。
一般将为测量基准面,液平面由仅能显示表面
粗糙度数值的测量工“连通罐”内的液面构成,然后用传具称为表面粗糙度测量仪,同时能感器进行测量。
记录表面轮廓曲线的称为表面粗糙
5、三坐标测量法度轮廓仪(简称轮廓仪。
这两种测
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