测试串行ATA系统
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测试串行ATA系统
随着串行ATA (SATA)的速度不断提高，其设计和测试变得越来越困难。
它要求以电子方式和机械方式实现非插入型探测，以查看链路上发生的协议。
设计人员通常还要求能够把这一业务与系统中其它总线建立时间关联(比如处理器正面总线或PCI-Express 链路)。
对此，它们要求逻辑分析仪的时间相关能力。
但乍一看，似乎并不是任何逻辑分析仪都能捕获3Gb/s 的串行ATA II 或串行相连SCSI (SAS)。
尽管看起来如此，但逻辑分析仪可以使用分析探头捕获SATA 或SAS 的全速链路。
分析探头处理时钟数据恢复，把数据“解复用”到(分成)多条低速并行通道中。
然后逻辑分析仪获得这些信息，以分组化方式重新显示信息，就象是在链路上发生的一样。
分析探头的一个重要考虑因素是其怎样捕获数据，这分成两种方法：重新定时中继器和“探测器”。
重新
定时中继器实际上中断总线，作为端点操作。
然后它把解复用的数据发送到逻辑分析仪，重新定时及重复信号，到达系统中的下一个器件(对SATA 来说，
可以是主机或设备)。
这允许下一个器件接收理想信号。
遗憾的是，这个理想信号是由分析探头生成的，而不是被测设备生成的，而首选应该由被测设备生成理想信号。
随着链路速率不断提高，尽管这类探测似乎不可避免，但3Gb/s 的SATA 或SAS 不要求这类探测。
第二种、也是首选的方法是“探测”总线。
探测总线需要把一小部分电子信号分流到分析探头(然后传送到逻辑分析仪上)。
通过这种方式，探测不会影响被测设备，允许链路使用设备和主机作为端点正确操作，而不是使用分析探头。
安捷伦N4219B 是同时适用于SATA 和SAS，可以“探测”链路的分析探头，而不是重新定时和重复信号。
另一个考虑因
素是分析探头怎样连接到被测设备上。
设计人员通常需要能够进行“目标内测试”。
目标内测试要求分析探头在密封于测试系统内部时分接信号。
对要求敷。
