ETCHING技术

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蚀刻(Etching)概念简介
一. 前言:
集成电路(IC)的制造流程,犹如一场精致细密的建筑结构施工,建筑师(Designer & Device Owner)将设计蓝图(LayOut)和施工流程(Process Flow)设计出来,经过工程部门(模块Module)制定施工法则(Setup Process)后,交由施工单位(制造部MFG)来执行建筑工事.
空白的硅晶圆就像一块平整的大工地,经过不断的整地(平坦化;离子植入),灌浆混沙填土上钢架(薄膜沉积),再经过砌墙挖坑打洞筑沟(显影&蚀刻)等重复的制程(Process),一层一层堆栈而上,制作成拥有复杂结构和完善功能的集成电路.
“晶圆”这块”工地”有多大呢? 这个超现代”工地”的大小尺吋演进,正代表着人类科技突飞猛进的新里程碑.从三吋晶圆到目前的十二吋晶圆,可用面积增加了16倍,在一个process cycle 后,晶粒产出量也提升了数十倍.
基本上,一套Process flow约需经过数百个不同步骤(step),耗时一,二个月才得以完成.而模块(Module)工程师的任务就是负责开发(Setup),维护(Maintain)和改良(Improve)各个步骤.而蚀刻模块在这项工事中占有不可或缺的重要角色.本章将针对蚀刻制程作一简略介绍.
二. 蚀刻技术概论:
集成电路的制造需要在晶圆上做出极细微尺寸的图案(Pattern).而这些图案最主要的形成方式,乃是使用蚀刻(Etching)技术,将微影(Lithography)技术所产生的光阻图形,无论是线(Line),面(EtchBack)或是孔洞(Hole),以化学腐蚀反应(Chemical)的方式,或物理撞击(Physical)的方式,或上述两种方式的综合,忠实无误的移转到薄膜上,以定义出整个集成电路所需的复杂结构.
下图是最基本的集成电路制作流程(Process Flow):
a. 薄膜沉积(Film Deposition)
b. 蚀刻制程(Etching)
& 微影制程(Photo Lithography)
2-1. 湿蚀刻(Wet Etching)与干蚀刻(Dry Etching):
蚀刻方式主要分成湿蚀刻(Wet Etching)与干蚀刻(Dry Etching)两种方式.早期半导体制程是使用湿蚀刻的方法,也就是利用合适的化学溶液,腐蚀所要蚀刻的材质未被光阻覆盖的部分,并在完成蚀刻反应后,由溶液带走腐蚀物。

湿蚀刻的进行主要是凭借溶液与欲蚀刻材质之间的化学反应,因此,可调配出蚀刻速率适当,以及欲蚀刻材质对光阻与下层材质的良好蚀刻选择比.
然而,当集成电路中的组件尺寸愈作愈小时,由于化学反应没有方向性,所以湿蚀刻是等向性(Isotropic)的,会有侧向的蚀刻,而产生Undercut现象,导致组件线宽失真.因此,逐渐被干蚀刻所取代.
干蚀刻法概略而言即所谓电浆蚀刻(Plasma Etching).所谓电浆(Plasma)是气体分子被激发或解离后处于崩溃(Breakdown) 状态下的一种现象,它可称为是一种第四状态的物质(气态,液态,固态之外),在电浆的环境中,组成包含带电荷离子(Charged Ions),原子团(Radicals),分子(Molecules)及电子(electrons)…等.
电浆蚀刻即利用气体分子或其产生的离子自由基,对晶圆上的材质同时进行物理式撞击溅蚀及化学反应,来移除欲蚀刻部份。

被蚀刻的物质变成挥发性的气体,经抽气系统抽离。

干蚀刻和湿蚀刻的比较:
干式蚀刻法的主要优点是可以进行所谓的非等向性蚀刻,获得良好的尺寸控制,对集成电路而言,组件尺寸的控制可以得到不错的效果。

而湿式蚀刻法会造成严重的侧向腐蚀的现象,显著地限制了组件尺寸向微细化的发展。

2-2. 等向蚀刻(Isotropic Etch)与非等向蚀刻(Anisotropic Etch):
一般蚀刻技术可分为等向性(Isotropic)与非等向性(Anisotropic)两种,其蚀刻形成的形状如图所示。

等向性蚀刻表示横向和纵向之蚀刻率相同,非等向性蚀刻则为横向性蚀刻率很慢或为0,因此,可较完美调控蚀刻截面轮廓(Etch Profile)和线宽(CD Control)。

2-3. 干蚀刻反应方式:依蚀刻产生之原理而分为化学性蚀刻(Chemical Etching),物理性蚀刻(Physical Etching)和两者综合之蚀刻方式(RIE).
a.化学性蚀刻(Chemical Etching):主要介由Plasma产生的原子团(Radicals)或反应性(Reactive)离子与薄膜间产生活性化学反应进行蚀刻.其特性为较Isotropic Etch, Profile Control 不易.
b.物理性蚀刻(Physical Etching):当带正电荷离子被电浆与阴极电极板间的电位差所加速,而轰击电极板表面,这种现象称为”离子轰击”(Ion Bonbardment).将芯片放置于阴极电极板上,利用加速离子对表面薄膜轰击以进行蚀刻,称为溅击蚀刻.这种物理性蚀刻方式非等向性极佳,但是相对的六亲不认,选择比很差.
c.反应性离子蚀刻RIE(Reactive Ion Etching): RIE 是一种介于Physical etching 与Chemical etching 之间的主流蚀刻技术.可获得兼具非等向性蚀刻及适当选择比之双重考量.为了达到先进制程的需求(Criteria),Recipe tuning的过程往往就是在其物性与化性之间取得一个平衡点,找出最佳的process window 以meet device criteria.
2-4.蚀刻率(Etching Rate)与均匀性(Uniformity):
蚀刻率与均匀性是蚀刻性能优异与否的依据之一, 蚀刻率愈快,表示产量愈大. 但是,并不代表快就是好,适当的蚀刻速率只是制程能力表现的其中一项指针.
均匀性指的是芯片不同位置的相对表现差异.一般除了within wafer 均匀性之外,还有within lot, lot to lot 之均匀性. 均匀性愈好,代表芯片品质控制愈完善.
2-5.蚀刻选择比: 定义为对于不同材质之薄膜间的蚀刻速率比.
Plasma etching 时因为需要使用不同程度的轰击作用(Ion Bonbardment),以提升etching performance,因此对不同材质薄膜间较难达到完美的蚀刻选择比.在制程开发中,提供适当足够可work的选择比是蚀刻制程工程师的角色和乐趣.
2-6. CD(Critical Dimension) Bias: ADI CD 与AEI CD 之间的差异,称为Etching CD Bias.
当device 越作越小,线宽的控制相对越重要,Etching CD Bias 的控制也越critical.
2-7蚀刻应用:
一般概略言之,蚀刻应用可分为以下几大类:
1. Poly Etching (Polysilicon Etching, Polycide Etching, STI etching, Deep Trench Etching)
2. Oxide Etching (SiO2 etching, Dual Damascene Etching, Low-K etching)
3. Nitride Etching (Si3N4 Etching)
4. Metal Etching (Aluminum Etching)
5. Tungston Etching (Pattern W Etching, W Etching Back)
6. PhotoResist Ashing
各种应用皆因其不同的材料特性及特殊需求(Criteria)而使用完全不同机制的蚀刻设备(Etcher)及蚀刻气体(Etchant),我们将在日后作更深入的介绍.
三. 后记:
当组件越作越小,晶圆尺吋越来越大, 蚀刻选择比与均匀性就越来越重要.因此,选择适当的蚀刻机台将是先进制程研发的利器,电浆蚀刻将仍是蚀刻技术的主流,而”电浆源”的研发和改良技术将成为耐米科技发展的瓶颈之一。