设备能力分析表

设备能力（Cmk）统计与分析表
设备名称 产品名称 产品特性 组数 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 计 样品的平均值 X= 样品的标准差 S = 上限能力指数CMU= 下限能力指数CML= 设备能力指数CMK= 统计/日期： 确认/日期： 算 结 当CMK<1.67时，必须 进行调整，调整后重新 取样、计算，直至 CMK>=1.67 论 重点说明 1 设备编号 产品代号 基准值 2 3 模具编号 取样时间 公差（+） 4 5 量具编号 样检担当 公差（－） 应对以下特殊情况进行 CMK的测量
◆ 新设备 ◆ 新模具 ◆ 新产品/老设备 ◆ 大修理后的设备 ◆ 长期闲置后重新启用 ◆ 产品要求提高等
设计：重庆恒伟陈川/2014.5.11
设计：重庆恒伟林陈川/2014.5.11

各类设备分析表
设备名称
规格
单价
使用年数
第一期
第期
第三期
第四期
数量
总价
折旧
数量
总价
折旧
数量
总价
折旧
数量
总价
折旧
表格说明（使用时删除）：
1、该表格主要用途包含不局限于学校、公司企业、事业单位、政府机构，主要针对对象为白领、学生、教师、律师、公务员、医生、工厂办公人员、单位行政人员等。
2、表格应当根据时机用途及需要进行适当的调整，该表格作为使用模板参考使用。
3、表格的行列、文字叙述、表头、表尾均应当根据实际情况进行修改。

批准：
工厂
机器编号
日期/时间
1
读
2
3
数
4
5
和
X=和/(读数数量)
R=最高—最低
S=STDEV(C6:V10)=δ s=
#DIV/0!
X=
#DIV/0!
UCLX=X+A2R= USL=
#DIV/0! 210.50
Cmk1=
LCLX=X-A2R=
#DIV/0!
LSL=
209.50
Cmk2=
Cmk= min(Cmk1,Cmk2)= #DIV/0!
*
2.28
5
2.33 0.58
*
2.11
6
2.53 0.48
*
2.00
7
2.7 0.42
0.08
1.92
8
2.85 0.37
0.14
1.86
9
2.97
0.22
1.78
说明：此表中有阴影的单元格不需改动，其中存在公式。
#DIV/0! ＞1.67,设备能力足够. 审核：
* 在测算设备能力之前，过程必须受控。
* 样本容量小于7时，没有极差的下控制线。
研究评定: 由以上计算结果可知Cmk＝
编制：
设备能力分析报告(Cmk)
部门 日期
工序 特性
R=
#DIV/0!
子
UCLR=D4R=
#DIV/0! 组
(USL-X)/4δ s= #DIV/0!
容
LCLR=D3R=
0.000
(X-LSL)/4δ s= #DIV/0! 量
零件名称/编号
工程规范
样本容量/频率

序号
评定项目
评定结果
1
设备是否清洁、有无油污和锈蚀现象。
清洁，无油污，无锈蚀。
2
设备零部件是否完整。
零部件完整。
3
电气控制系统运行是否正常。
电控系统运行正常。
4
各安全装置是否齐全、灵敏可靠。
表仪器指示正常。
6
润滑系统
润滑装置是否齐全。
润滑装置齐全。
7
有无泄漏。
陈必昌、张小霞
主要工艺生产设备能力评定表
SCGL(设) —Y—021
设备名称:120万套F11评定时间：2011-6-25
序号
评定项目
评定结果
1
设备是否清洁、有无油污和锈蚀现象。
清洁，无油污，无锈蚀。
2
设备零部件是否完整。
零部件完整。
3
电气控制系统运行是否正常。
电控系统运行正常。
4
各安全装置是否齐全、灵敏可靠。
无泄漏。
8
油质是否符合要求。
油质符合要求。
9
油量是否充足。
油量充足。
10
各电动机运行(声音和振动)及控制是否正常。
各电机运行正常。
11
生产线速度是否匹配。
生产线速度匹配。
12
各输送带、链轮是否正常
各输送带运行正常。
过程评定：
评定结果：
设备运行良好，符合设备能力评定条件。
设备参评人员：
史朋旗、朱志强
工艺参评人员：
各电机运行正常。
11
生产线速度是否匹配。
生产线速度匹配。
12
各输送带、链轮是否正常
各输送带运行正常。
过程评定：
评定结果：
设备运行良好，符合设备能力评定条件。

1 - C 檢討作業時間
0.13S/CHIP 0.13S/CHIP 0.35S/CHIP
檢討機種
177tty(ic)
(1190)275s (1190)270s (455)255s
81
35 2835 800S
設備構成
設備名
DEK I8
YG200
CP45FS CP45NEO KING-8820M
理論作業時間
无
CP60
CP40
CP40
SAMSUNG
0.12S/CHIP 0.22S/CHIP 0.22S/CHIP
0.23S/CHIP 0.45S/CHIP 0.45S/CHIP
8
216
102S
8
216
130S
0.08S/CHIP 0.193S/CHIP 0.179S/CHIP
1 - D 檢討作業時間
0.13S/CHIP 0.39S/CHIP 0.35S/CHIP
檢討機種
100tty(ic)
(560)76s (560)70s (140)77s
36
35 1260 223S
設備構成
設備名
DEK I8
YG200
檢討機種 ATAD10 3.0
(120)55S (96)57S
27
設備構成
設備名
半自动
CP45F
CP40
X
GHale Waihona Puke -800理論作業時間0.193S/CHIP 0.22S/CHIP
2 - B 檢討作業時間
0.39S/CHIP 0.45S/CHIP
檢討機種 ATAD10 3.0
(120)63S (96)67S
CP45FS CP45NEO GS-800

10N、5.00mm
台
、1000*1000mm
立方体抗压强度 按GB/T50107-2010中5.3 砼压力试验机
0-200T
±0.1N
0.1N
回弹法测量混凝 土抗压强度 抗水渗透试验
(逐级加压法) 密度
比表面积
按JGJ/T23-2011规定
/
≥2.8g/cm² S105≥500m2/kg、 S95≥400m2/kg、
数显鼓风恒温干燥箱 、电子天平、方孔筛
（0-400）℃、（01000）g、0.08mm、
1.25mm
数显鼓风恒温干燥箱 、电子天平、方孔筛
（0-400）℃、（01000）g、5.00mm、
2.50mm
1℃、±0.01g、 0.08mm、1.25mm
1℃、±0.01g、 5.00mm、2.50mm
1℃、0.01g、0.08mm 、1.25mm
1mm、1r/min、± 0.01g
1mm、1r/min、0.01g
高速125±10r/min、
（0-1000）g
强度
按GB175-2007中7.3.3表 3
全自动抗折抗压试验 机
抗折50N/s±10N/s， 抗压2400N/s± 200N/s
0.1MPa
0.1MPa
细度（比表面 积）
不小于300m2/kg
燥器
0-1600℃、（0220）g、240mm
±1℃、±0.0001g
1℃、0.0001g
细度
I级≤12%、II级≤30%、 试验筛、负压筛析仪 45μm、4000-6000Pa 45μm、30r/min、± 45μm、30r/min、
III级≤45%
、电子天平

0-11.5MPa 0.05MPa 20kN 1N
符合相应的粘结强度要求 符合相应的凝结时间要求 符合相应的抗渗要求 ≥24.0MPa ≥8.0MPa ≤3.0 符合相应的粘结强度要求 符合相应的流动度要求 符合相应的粘结强度要求 ≥6.0MPa ≥2.0MPa 符合相应的强度要求
0-300kN
0.01kN
附表2
检验能力分析表
检验仪器设备技术指标 序号 产品名称
胶粉聚苯颗粒保温浆 料 建筑节能工程
第 1 页，共 60 页
按标准能 检项数 按标准应 检项数
参数名称
允许变化范围
检验仪器设备名称
量程
0-20kN
测量不确 定度
1N
分辨率
1N
比率
1 2
（1） 压缩强度 （1） （2） （3） （4） （5） （6） （7） （8） 建筑幕墙可见光透 射比 建筑幕墙传热系数 建筑幕墙遮阳系数 建筑幕墙中空玻璃 露点 建筑幕墙气密性能 建筑幕墙水密性能 建筑幕墙抗风压性 能 散热器单位散热量
330-920nm +1nm
附表2
检验能力分析表
检验仪器设备技术指标 序号 产品名称 参数名称
地毯、地毯衬垫中 (25) 总挥发性有机化合 物限量 5 预铺/湿铺防水卷材 (1) (2) (1) (2) (3) (4) (5) (6) (7) 6 外墙外保温柔性耐水 腻子 容器中状态 施工性 干燥时间 打磨性 吸水量 耐水性 耐碱性 非粉状组分的低温 （8） 贮存稳定性 （1） （2） （3） （4） （5） （6） （7） 单位面积质量、厚 度 外观 拉伸性能 耐热性 低温弯折性 低温柔性 不透水性 无处理卷材与卷材 剥离强度 渗油性
测厚规 拉力试验机 电热鼓风干燥箱 低温试验箱 低温试验箱 不透水仪 拉力试验机 电热鼓风干燥箱 0-10mm 5000N 0-300℃ 0～-40℃ 0～-40℃ 0-0.6MPa 5000N 0-300℃ 0.01mm 1N ±1℃ ±1℃ ±1℃ 0.01MPa 1N ±1℃ 0.01mm 1N 1℃ 1℃ 1℃ 0.01MPa 1N 1℃

机
异地生产
设备变差完全满足加工要求
长期停产
定期测定
顾客要求
说明： 1、CMK是CMU和CML中的较小者，CMK必须至少为1.67，特殊情况下，也不能低于1.33； 2、取样时，必须确保已排除了人员、环境、加工方法与材料的影响，且取样数必须大于50。
Revision:A
Document:0329a
182.90 182.60 182.20 183.10 183.20 182.60 183.90
DATA 183.10 183.90 183.70 182.70 182.90 183.40 183.30
183.60 184.00 183.10 183.50 184.50 182.10 182.90
183.30 183.70 183.80 184.00 184.10 183.90 183.30
S = STDEV ( X1～X100 )
0.655
新的设备
设备上限能力指数： Cmu = [USL-AVE（X）]/3S
5.820
公差缩小
设备下限能力指数： Cml = [AVE（X）-LSL]/3S
4.353
测
定
过程更改
设备能力指数：
Cmk = Min（Cmu，Cml）
4.353
时
设备大修
分析结果：
文件版本：REV 1.0
设备能力指数Cmk分析表
统计
分析
核准
项目
设备名称
热熔机
设备编号
抽样数量
50
测定类别
定期普查
计算日期
Standard Value(℃)
185
USL(℃)
195
LSL(℃)