杭州电子科技大学考研专业课历年真题试卷_运筹学2011--2014
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电子科技大学2014年《820计算机专业基础》考研专业课真题试卷电子科技大学2014年攻读硕士学位研究生入学考试试题考试科目:820计算机专业基础注:所有答案必须写在答题纸上,写在试卷或草稿纸上均无效。
《计算机操作系统》一、填空题(10分,每空2分)1.现有3个同时到达的作业J1、J2和J3,它们的执行时间分别为T1、T2和T3,且T1<t3<t2。
< bdsfid="72" p=""></t3<t2。
<> 若这三个作业在同一台处理器上以单道方式运行,则平均周转时间最小的执行顺序是____。
2.若一个信号量的初值是5,经过多次P、V操作以后,其值变为-3,则此时等待进入临界区的进程数目是____。
3.某基本分页存储管理系统具有快表,内存访问时间为2sμ,检索快表的时间为0.5sμ。
若快表的命中率为80%,且忽略快表更新时间,则有效访问时间是____sμ。
4.在段页式存储管理系统中,若不考虑快表,为获得一条指令或数据,至少需要访问_____次内存。
5.某虚拟存储器中的用户空间共有32个页面,每页1KB,主存16KB。
假设某时刻系统为用户的第0、1、2、3页分别分配的物理块为5、10、4、7,则虚拟地址0A6F对应的物理地址是_______(请使用十六进制表示)。
二、选择题(14分,每题2分)1.现代操作系统中最基本的两个特征是()。
A. 共享和不确定B. 并发和虚拟C. 并发和共享D. 虚拟和不确定2.引入多道程序技术的前提条件之一是系统具有()。
A. 分时功能B. 中断功能C. 多CPU技术D. SPOOLing技术3.操作系统是根据()来对并发执行的进程进行控制和管理的。
A. 进程的基本状态B. 进程调度算法C. 进程的优先级D. 进程控制块4.在段页式存储管理系统中,地址映射表是()A. 每个进程一张段表,一张页表。
电子科技大学2014年攻读硕士学位研究生入学考试试题考试科目:832 微电子器件注:所有答案必须写在答题纸上,写在试卷或草稿纸上均无效。
一、填空题(共48分,每空1.5分)1、PN结二极管用途广泛,在作为变容二极管使用时,主要利用其()向偏置的()电容;在作为温度传感器使用时,主要利用其正向导通压降会随温度的升高而()。
2、一个P+N型的二极管,电子和空穴的寿命分别为τn和τp,在外加正向直流电压V1时电流为I1,当外加电压反向为-V2时,器件会经历一段反向恢复过程,这主要是由正向导通时存储在()型中性区中的非平衡少子造成的,该非平衡少子的总量为()。
3、防止PN结发生热击穿,最有效的措施是降低器件的()。
同时,禁带宽带越()的半导体材料,其热稳定性越好。
(第二个空填“大”或“小”)4、双极型晶体管的基区宽度调变效应越严重,其厄尔利电压越(),共发射极增量输出电阻越()。
(填“大”或“小”)5、已知双极型晶体管的基区度越时间和基区少子寿命分别为τb和τB,则1/τB表示的物理意义为(),因此τb/τB可以表示()。
6、MOSFET的亚阈区摆幅S反应了在亚阈区中()的控制能力。
栅氧化层越厚,则S越(),该控制能力越()。
(第二个空填“大”或“小”,第三个空填“强”或“弱”)7、当金属和P型半导体形成金-半接触时,如果金属的功函数大于半导体的功函数,半导体表面将形成(),该结构()单向导电性。
(从以下选项中选择)A 电子阻挡层B 电子反阻挡层C空穴阻挡层 D 空穴反阻挡层E 具有F 不具有微电子器件试题共6页,第1页8、MOSFET的跨导是()特性曲线的斜率,而漏源电导是()特性曲线的斜率。
在模拟电路中,MOSFET一般工作在()区,此时理想情况下漏源电导应为零,但实际上由于()和(),漏源电导通常为正的有限值。
9、短沟道MOSFET中采用偏置栅结构或漏端轻掺杂结构,是为了降低漏端附近的电场强度,从而抑制()效应,防止器件电学特性退化。