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光耦发射极输出问题
光耦发射极输出问题可能有以下原因和解决方法：
1. 光耦输入电流过大：检查输入光耦的电流是否超过了发射极输出电流的最大值。
如果是，则需要通过合适的电阻来限制输入光耦的电流。
2. 光耦输入电压过大或过小：检查输入光耦的电压是否在发射极输出范围内。
如果电压过大或过小，则需要进行合适的电平转换或放大。
3. 发射极输出电路连接错误：检查发射极输出电路的连接是否正确。
确保输出电路的极性和接线正确。
4. 发射极输出电路负载过大：如果发射极输出电路驱动的负载过大，则可能导致发射极输出问题。
可以尝试减小负载或增加输出电路的功率。
5. 发射极输出电路电源电压问题：检查发射极输出电路的电源电压是否合适。
如果电源电压过高或过低，则可能影响发射极输出。
6. 光耦或发射极输出器件损坏：如果以上方法都无效，可能是光耦或发射极输出器件损坏。
需要更换故障的器件。
请注意，以上仅为常见的光耦发射极输出问题原因和解决方法，
具体问题需要根据实际情况进行分析和解决。
如果无法解决问题，建议咨询专业人士或技术支持。
开关电源光耦损坏故障在电子设备维修中，开关电源是常见的电源模块之一。
其中的光耦作为一种重要的电子元件，扮演着信号隔离和传输的关键角色。
然而，开关电源的光耦损坏故障是一种常见的问题，可能会导致电路无法正常工作。
本文将重点介绍开关电源光耦损坏故障的原因、诊断方法和解决方案。
原因分析光耦是由发光二极管（LED）和光敏三极管（光电晶体管）组成的。
在开关电源中，光耦主要用于隔离输入和输出，传递控制信号。
光耦损坏的原因主要包括以下几点：1.过电压冲击：开关电源工作时，可能会受到电网电压的波动或雷电等因素的影响，导致光耦承受过高的电压冲击，损坏光耦内部结构。
2.温度过高：长时间工作或环境温度过高也可能导致光耦元件内部受热过度，使其性能下降或损坏。
3.老化：光耦作为电子元件，随着使用时间的增长可能会出现老化现象，导致性能逐渐变差，最终损坏。
4.焊接不良：在制造过程中，光耦与电路板焊接不良或接触不良，也可能成为导致损坏的原因之一。
故障诊断当出现开关电源工作异常或无法正常开启时，可以考虑光耦是否损坏。
以下是一些常用的故障诊断方法：1.外观检查：首先检查光耦外观是否有明显的损坏迹象，如外壳破裂、焊点脱落等。
2.电阻测量：使用万用表在光耦的输入和输出端进行电阻测量，正常情况下应该具有一定的电阻值。
若电阻值为无穷大或接近零，表明光耦可能损坏。
3.LED发光检测：通过外部电压驱动，观察光耦中的LED是否能够正常发光，如果LED不亮，则说明LED损坏。
4.光电三极管检测：通过外部光源照射光电三极管端口，使用示波器或万用表测量输出端是否有相应的信号输出，以确定光电三极管是否损坏。
故障解决一旦确认开关电源光耦损坏，需要及时采取措施修复或更换：1.更换光耦：将损坏的光耦进行更换，选择适配的型号进行替换。
注意在更换时需注意焊接质量，确保焊接牢固可靠。
2.检查电路：在更换光耦后，检查整个电路板是否有其他损坏或疑似故障点，确保开关电源能够正常工作。
光耦关断太慢
（最新版）
目录
1.光耦的工作原理
2.光耦关断速度慢的问题
3.解决光耦关断速度慢的方法
4.结论
正文
光耦，全称为光电耦合器，是一种电子元件，主要用于在数字电路和模拟电路之间传输信号。
它的工作原理是利用半导体材料将光信号转换为电信号，从而实现信号的传输。
这种传输方式有效地隔离了数字信号和模拟信号，避免了互相干扰，因此在电子设备中得到了广泛的应用。
然而，光耦在使用过程中也存在一些问题，其中最为常见的就是关断速度慢。
由于光耦的工作原理，其在开关状态下的响应速度相较于普通的电子元件要慢很多。
在高速信号传输的场景下，这种速度差异可能会导致信号传输的延迟，从而影响设备的整体性能。
那么，如何解决光耦关断速度慢的问题呢？一种方法是通过选择高速光耦。
高速光耦在设计和制造过程中，特意优化了其关断速度，能够有效地解决这一问题。
另一种方法是通过调整电路设计，减小光耦在信号传输过程中的影响。
例如，可以通过增加缓冲电路，或者使用多级光耦的方式，来提高信号传输的速度。
总的来说，虽然光耦在信号传输过程中可能会出现关断速度慢的问题，但是只要我们选择合适的光耦，或者合理设计电路，都能够有效地解决这一问题。
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开关电源光耦损坏故障怎么办现代电子设备中的开关电源模块在各种应用中起着至关重要的作用，而其中的光耦作为一个关键元件更是必不可少。
然而，有时候由于各种原因，光耦可能会损坏，造成电源模块无法正常工作。
当发现开关电源光耦损坏时，我们应该如何应对呢？首先，要确认光耦是否真的损坏。
一旦出现电源模块异常，如输出电压不稳定、无输出等情况，应该首先检查光耦。
可以通过使用万用表测量光耦的导通情况来检验其是否完好。
如果测量结果显示光耦没有导通，那么很可能是光耦损坏导致了电源模块故障。
一旦确认光耦损坏，那么接下来需要进行更进一步的处理。
常见的解决方法包括更换损坏的光耦元件。
首先需要将设备断电，并找到损坏的光耦元件所在位置。
通常光耦位于电源模块的反馈回路中，因此需要小心拆卸周围的元件以及连接线路。
在更换光耦时，需要注意选择适配型号和参数的光耦，并严格按照电路图连接光耦引脚。
除了更换光耦元件外，有时候也可以尝试修复损坏的光耦。
例如，如果是由于光耦内部的发光二极管或光敏三极管损坏所导致的故障，可以尝试替换其中一个元件。
但需要注意的是，修复光耦需要一定的专业知识和技能，如果不确定自己的能力，最好还是选择更换全新的光耦元件。
另外，有时候光耦并非因为自身损坏，而是由于外部环境因素导致其性能下降或失效，比如电气噪声、温度过高等。
在这种情况下，除了更换光耦外，还需要检查电源模块的设计是否合理，是否存在其他因素影响光耦的正常工作。
合理的布局和设计可以降低光耦的损坏风险。
在日常维护中，也应该注意定期检查电源模块中的光耦元件，以确保其正常工作。
定期清洁和保养电源模块，降低灰尘和杂质对光耦的影响也是很重要的。
及时发现并处理光耦损坏问题，可以避免进一步的故障扩大，保障设备的稳定运行。
总的来说，当遇到开关电源光耦损坏的故障时，我们应该及时发现、确认并采取有效的处理措施。
无论是更换损坏的光耦元件，还是修复光耦，都需要谨慎操作并确保符合电路要求。
维护电源模块的稳定性和可靠性，对于设备的正常工作和延长使用寿命都至关重要。
光耦关断太慢光耦是一种常见的电子元件，用于隔离和传输电信号。
它由一个发光二极管和一个光敏三极管组成，通过光的传输来实现电信号的隔离。
然而，近年来，一些用户反映光耦在关断时速度较慢，给电路的正常工作带来了一定的困扰。
光耦关断速度慢的问题主要源于以下几个方面。
首先，光耦的发光二极管在关断时需要一定的时间来停止发光。
其次，光敏三极管在接收到光信号后，需要一定的时间来停止导通。
这两个因素的叠加导致了光耦关断速度较慢的现象。
为了解决光耦关断速度慢的问题，我们可以采取以下几种方法。
首先，选择关断速度较快的光耦。
市场上有一些专门设计用于高速开关的光耦，其关断速度可以达到纳秒级别，可以满足一些对速度要求较高的应用场景。
其次，可以通过增加驱动电流来提高光耦的关断速度。
适当增加驱动电流可以加快发光二极管的关断速度，从而缩短整个关断过程的时间。
此外，还可以通过优化电路设计来提高光耦的关断速度。
例如，可以采用更短的电路路径，减少电路中的电容和电感等元件，从而减少信号传输的延迟。
光耦关断速度慢可能会对一些特定的应用场景产生一定的影响。
例如，在一些需要快速切换的电路中，光耦关断速度慢可能导致信号传输的延迟，影响整个电路的工作效果。
在一些高频率的应用中，光耦关断速度慢可能会导致信号失真，影响系统的性能。
因此，对于这些对速度要求较高的应用场景，我们需要选择关断速度较快的光耦，或者采取其他措施来提高光耦的关断速度。
总之，光耦关断速度慢是一个存在的问题，但我们可以通过选择合适的光耦、增加驱动电流和优化电路设计等方法来解决这个问题。
对于一些对速度要求较高的应用场景，我们需要特别注意光耦的关断速度，以确保电路的正常工作。
同时，我们也期待在未来的技术发展中，能够有更多的创新和突破，提供更快速的光耦产品，满足不同应用场景的需求。
光耦输出低电平不到地-回复标题：光耦输出低电平不到地的原因及解决方法序言：光耦（Opto-coupler）是一种常用的光电隔离器件，被广泛应用于电子设备和电路中。
然而，有时我们可能会遇到一个问题，那就是光耦的输出低电平无法完全到达地位。
这篇文章将深入解析光耦输出低电平无法到达地位的原因，并提供一些解决方法。
一、为什么光耦输出低电平无法到达地位？光耦的输出低电平无法到达地位主要有以下几个原因：1. 光敏二极管饱和电压：光敏二极管在导通时会产生一个饱和电压，该电压不为零且通常为几百毫伏到数百毫伏。
这使得光耦的输出低电平无法完全到达地位。
2. 动态输出电流：在光耦输出低电平时，输出端存在一个动态输出电流，这个电流会造成输出低电平的上升，使其无法到达地位。
3. 驱动电路设计不合理：如果驱动电路的设计不合理，未考虑到光耦输出低电平无法到达地位的问题，也会导致这一情况的发生。
二、如何解决光耦输出低电平无法到达地位的问题？针对光耦输出低电平无法到达地位的问题，可以采取以下解决方法：1. 选择合适的光耦器件：在选取光耦器件时，应该参考光敏二极管的饱和电压参数，并尽量选择饱和电压较小的器件。
这样可以降低光耦输出低电平的上升幅度，使其更接近地位。
2. 添加负载电阻：在光耦器件的输出端串联添加一个合适大小的负载电阻，可以通过限制动态输出电流来降低低电平上升的速度。
这样可以有效减小输出低电平无法到达地位的问题。
3. 驱动电路设计优化：合理设计光耦的驱动电路，可以通过增加高阻抗和减小驱动电流的方式，改善输出低电平上升的情况。
同时，还可以通过减小输入端电阻和增加输出端负载来实现更好的驱动效果。
4. 进一步调试调整：在以上方法无法解决问题时，我们还可以通过进一步的调试和调整来解决这一问题。
例如，可以增加串联二极管的饱和电容值或者采用其他二极管连接方式等。
结语：光耦作为一种常见的光电隔离器件，在电子设备和电路中起着重要的作用。
开关电源光耦坏现象近年来，随着科技的不断发展，电子产品已经成为人们日常生活中不可或缺的一部分。
而开关电源作为一种常见的电源形式，在各类电子设备中广泛使用。
然而，有时候在使用开关电源的过程中，会出现一些问题，其中光耦损坏是一种比较常见的现象。
光耦器件在开关电源中扮演着重要的角色，它通常用于隔离输入和输出电路，起到传递信号的作用。
在开关电源中，光耦器件经常承受着较大的工作电压和电流，而且长时间工作会造成器件内部温升，使得器件老化加速，从而导致光耦损坏。
一旦光耦器件损坏，将会给开关电源带来一系列问题。
首先，由于光耦失效，输入和输出电路将无法有效隔离，可能导致电路短路或漏电等现象，给设备和使用者带来潜在的安全隐患。
其次，由于光耦损坏，信号传递将受到阻碍，可能导致开关电源无法正常启动或工作，进而影响设备的正常使用。
因此，及时发现和解决开关电源光耦损坏问题显得至关重要。
要解决开关电源光耦损坏的问题，首先需要定期对开关电源进行检查和维护，特别是对光耦器件进行定期测试。
通过测试光耦器件的工作状态，可以及时发现潜在的问题，并采取相应的措施。
其次，在选择使用时，应尽可能选用品质可靠的光耦器件，以提高其工作稳定性和耐久性。
此外，在实际使用中，要避免过载或长时间工作，以减少光耦器件的损坏风险。
除此之外，当发现开关电源光耦损坏时，应及时更换或修复损坏的光耦器件。
在更换光耦器件时，要确保新器件的参数和原有器件相符合，以保证设备的正常工作。
同时，在更换过程中要注意操作规范，避免对其他部件造成误操作或损坏。
如此一来，设备的故障率可以得到有效降低，延长设备的使用寿命。
总的来说，开关电源光耦损坏是一种常见的问题，但通过定期检查、选用优质器件以及及时维修等措施，我们可以有效预防和解决这一问题。
在日常使用中，对开关电源加以重视，保持设备的正常运行状态，不仅能提高设备的可靠性和稳定性，也能保证使用者的安全。
希望随着技术的不断进步和完善，开关电源光耦损坏问题能得到更好的解决，为人们的生活带来更多便利和安全。
光耦限流电阻导致电压不稳问题探究在电子电路设计中，光耦限流电阻是一个重要的元件，它的主要作用是限制电流，保护光耦器件。
然而，在实际应用中，有时会出现光耦限流电阻导致电压不稳的情况，这给电路的稳定性和可靠性带来了严重影响。
本文将对此问题进行深入探讨，分析其原因，并提出相应的解决方案。
一、光耦限流电阻的作用及原理光耦是一种将输入电信号转换为光信号，再将光信号转换为输出电信号的器件。
它具有隔离作用，可以实现输入与输出电路之间的电气隔离。
光耦限流电阻则串联在光耦的输入端，用于限制输入电流，防止光耦器件因过流而损坏。
二、光耦限流电阻导致电压不稳的原因1. 电阻值选择不当：光耦限流电阻的阻值选择过大或过小，都可能导致电压不稳。
阻值过大，会使得输入电流过小，影响光耦的正常工作；阻值过小，则可能使输入电流过大，造成光耦器件损坏或性能下降。
2. 环境温度变化：环境温度的变化会影响电阻的阻值，从而导致电压不稳。
特别是在高温环境下，电阻的阻值可能会减小，使得输入电流增大，进而影响光耦的稳定性和可靠性。
3. 电源电压波动：电源电压的波动也会导致光耦限流电阻两端的电压不稳。
当电源电压上升时，输入电流增大，可能导致光耦器件过热或损坏；当电源电压下降时，输入电流减小，可能影响光耦的正常工作。
三、解决方案1. 合理选择电阻值：根据光耦器件的规格书和应用需求，合理选择光耦限流电阻的阻值。
一般来说，应选择既能保证光耦正常工作，又不会使输入电流过大的电阻值。
2. 考虑环境温度因素：在设计电路时，应充分考虑环境温度对电阻阻值的影响。
可以选择温度系数较小的电阻，以降低环境温度变化对电压稳定性的影响。
3. 稳定电源电压：采取措施稳定电源电压，如使用稳压电源、滤波电容等，以减少电源电压波动对光耦限流电阻和整个电路的影响。
四、案例分析以某型号的光耦为例，其输入端需要串联一个限流电阻。
在设计初期，由于电阻值选择不当，导致在实际应用中出现了电压不稳的问题。
光耦无信号导通
光耦无信号导通可能由以下几个原因导致：
输入端驱动电流不足：光耦的输出信号强度与输入端的驱动电流成正比。
如果输入端的驱动电流不足，光耦将无法提供足够强的输出信号。
解决这个问题的方法是增加输入端的驱动电流。
光发射二极管损坏：光耦的输出信号是通过光发射二极管产生的。
如果光发射二极管损坏，就会导致输出信号弱或无输出。
这个问题可以通过替换损坏的光发射二极管来解决。
光接收二极管损坏：光接收二极管负责接收光发射二极管产生的光信号，并将其转换为电信号输出。
如果光接收二极管损坏，也会导致输出信号弱或无输出。
解决这个问题的方法是更换损坏的光接收二极管。
此外，还有一些其他因素可能导致光耦无信号导通。
例如，使用的光耦型号可能不匹配，或者电路中的其他元件可能存在问题。
因此，在排查问题时，需要仔细检查电路的各个部分，确保所有元件都正常工作并且匹配。
如果以上方法都无法解决问题，建议寻求专业技术人员的帮助。
他们可以通过更深入的检测和排查，帮助找到问题的根源，并提供有效的解决方案。
同时，也可以考虑使用质量更好、更耐用的光耦产品，以提高整个电路的稳定性和可靠性。
光耦次级损坏原因及预防措施一、引言光耦，也被称为光电耦合器或光电器件，是一种能将输入信号电气特性转化为光信号输出的器件。
它由发光二极管（LED）和光敏晶体管（光电二极管）组成，广泛用于电子设备中实现电气和光学之间的隔离。
然而，光耦次级损坏是光耦常见的故障之一，本文将探讨光耦次级损坏的原因并提出相应的预防措施。
二、光耦次级损坏原因1. 过电压和过电流过电压和过电流是光耦次级损坏的主要原因之一。
当光耦继电器开关负载过重或电源电压不稳定时，光耦次级电路容易受到过大的电压和电流冲击，从而导致器件损坏。
此外，开关频率过高或电路中存在电源峰值和干扰也可能引起过电压和过电流，加剧光耦的次级损坏风险。
2. 静电放电静电放电是光耦次级损坏的另一个常见原因。
现代电子设备中，静电放电是无法避免的，特别是在工作环境中由于干燥气候、地板绝缘不良等原因，静电可能会在操作或维护过程中导致器件损坏。
静电放电会瞬间使器件产生巨大的电流和电压，进而引发光耦次级电路的故障，甚至损坏整个光耦器件。
3. 环境温度变化光耦次级损坏的另一个潜在原因是环境温度的变化。
由于光耦器件内部结构的特殊性质，在高温或低温环境中工作时，光器件的性能可能会受到明显的影响。
温度的变化会导致器件内部部件的膨胀和收缩，从而引起接触不良或部件破裂，最终导致光耦次级损坏。
三、光耦次级损坏的预防措施1. 限制电压和电流为了预防过电压和过电流对光耦次级电路的损坏，可以通过采用保护电路来限制电压和电流。
例如，可以使用稳压电阻、电流限制电阻等措施来保护光耦器件。
此外，在设计电路时，合理选择负载和电源以确保电压和电流处于安全范围内。
2. 防止静电放电为了防止静电放电对光耦次级电路的影响，可以采取一系列的预防措施。
首先，操作人员应使用防静电器材，并在操作区域保持良好的通风和潮湿度。
其次，可以在光耦器件周围加装防静电保护罩或接地设备，降低静电放电的风险。
3. 控制环境温度为了稳定光耦次级电路的工作环境温度，应注意控制工作环境的温度波动。
最近在使用光耦的时候遇到几个问题恳请指教？小生在使用光耦的时候遇到几个问题，恳请大侠指教：1：CTR（50%-300%）是什么意思？在电路中这个CTR是多少？与If有关吗？2：光耦的工作方式是电流控制还是电压控制。
最近在PS2561与TL431配合稳压反馈的电路中，外部参数怎么调整光耦都在正常工作，很费解。
3：希望有大侠分享光耦的使用心得。
潮光光耦网答：1、CTR（50%-300%）是电流传输比， CTR（Curremt-Trrasfer Ratio），它等于直流输出电流IC与直流输入电流IF的百分比。
简单来讲，就是个电流放大系数。
50%-600%是该系列光耦的CTR，在电路中是多少要看你选择的是哪个光耦。
2、光耦是电流控制的，你调节外部参数还在那个工作的范围里面，肯定可以工作啊，如果你把限流的电阻加很大就会出问题了。
3、CTR是电流传输比Ice/If我知道。
但是在具体电路中CTR的值是变化的还是固定的呢。
我用的光耦是NEC的PS2561，W系列。
传输比是130%-260%，看规格书是说CTR与If有关，是吗？另外我也想知道怎么来测量光耦的传输比。
在这个电路中，我通过改变R425的阻值，从100R改变为15K，光耦均能正常工作，R426两端的电压维持在1V。
当R425=100R的时候，Vk=22.9V，计算得出流过光耦的电流为1.1mA；当R425=15K的时候，Vk=3.68V，计算得出流过光耦的电流为0.13mA.这个电流变化还是很大的，但是光耦正常工作。
关于东芝光耦缺货型号,瑞萨(原NEC)光耦替代方案.关于东芝光耦缺货型号,潮光光耦网()建议各位采购和技术人员,瑞萨(原NEC)光耦替代方案另外还有很多高速光耦型号的替代详情登录光耦器件在变频器电路中的作用一、电路中为什么要使用光耦器件？电气隔离的要求。
A与B电路之间，要进行信号的传输，但两电路之间由于供电级别.一、电路中为什么要使用光耦器件？电气隔离的要求。
A与B电路之间，要进行信号的传输，但两电路之间由于供电级别过于悬殊，一路为数百伏，另一路为仅为几伏；两种差异巨大的供电系统，无法将电源共用；A电路与强电有联系，人体接触有触电危险，需予以隔离。
而B线路板为人体经常接触的部分，也不应该将危险高电压混入到一起。
两者之间，既要完成信号传输，又必须进行电气隔离；运放电路等高阻抗型器件的采用，和电路对模拟的微弱的电压信号的传输，使得对电路的抗干扰处理成为一件比较麻烦的事情——从各个途径混入的噪声干扰，有可能反客为主，将有用信号“淹没”掉；除了考虑人体接触的安全，又必须考虑到电路器件的安全，当光电耦合器件输入侧受到强电压（场）冲击损坏时，因光耦的隔离作用，输出侧电路却能安全无恙。
以上四个方面的原因，促成了光耦器件的研制、开发和实际应用。
光耦的基本作用，是将输入、输出侧电路进行有效的电气上的隔离；能以光形式传输信号；有较好的抗干扰效果；输出侧电路能在一定程度上得以避免强电压的引入和冲击。
二、光电耦合器件的一般属性：1、结构特点：输入侧一般采用发光二极管，输出侧采用光敏晶体管、集成电路等多种形式，对信号实施电-光-电的转换与传输。
2、输入、输出侧之间有光的传输，而无电的直接联系。
输入信号的有无和强弱控制了发光二极管的发光强度，而输出侧接受光信号，据感光强度，输出电压或电流信号。
3、输入、输出侧有较高的电气隔离度，隔离电压一般达2000V以上。
能对交、直流信号进行传输，输出侧有一定的电流输出能力，有的可直接拖动小型继电器。
特殊型光耦器件能对毫伏，甚至微伏级交、直流信号进行线性传输。
4、因光耦的结构特性，输入、输出侧需要相互隔离的独立供电电源，即需两路无“共地”点的供电电源。
下述一、二类光耦输入侧由信号电压提供了输入电流通路，但实质上输入信号回路，也是有一个供电支路的；而线性光耦，则输入侧与输出侧一样，是直接接有两种相隔离的供电电源的。
三、在变频器电路中，经常用到的光电耦合器件，有三种类型：1、一种为三极管型光电耦合器，如PC816、PC817、4N35等，常用于开关电源电路的输出电压采样和误差电压放大电路，也应用于变频器控制端子的数字信号输入回路。
结构最为简单，输入侧由一只发光二极管，输出侧由一只光敏三极管构成，主要用于对开关量信号的隔离与传输；2、第二种为集成电路型光电耦合器，如6N137、HCPL2601等，输入侧发光管采用了延迟效应低微的新型发光材料，输出侧为门电路和肖基特晶体管构成，使工作性能大为提高。
其频率响应速度比三极管型光电耦合器大为提高，在变频器的故障检测电路和开关电源电路中也有应用；3、第三种为线性光电耦合器，如A7840。
结构与性能与前两种光耦器件大有不同。
在电路中主要用于对mV级微弱的模拟信号进行线性传输，在变频器电路中，往往用于输出电流的采样与放大处理、主回路直流电压的采样与放大处理。
下图为三类光耦器件的引脚、功能原理图：三种光耦合器电路图四、第一类光耦器件的测量与在线检测：第一类型的光电耦合器，输入端工作压降约为1.2V，输入最大电流50mA，典型应用值为10 mA；输出最大电流1A左右，因而可直接驱动小型继电器，输出饱合压降小于0.4V。
可用于几十kHz较低频率信号和直流信号的传输。
对输入电压/电流有极性要求。
当形成正向电流通路时，输出侧两引脚呈现通路状态，正向电流小于一定值或承受一定反向电压时，输出侧两引脚之间为开路状态。
测量方法：数字表二极管档，测量输入侧正向压降为1.2V，反向无穷大。
输出侧正、反压降或电阻值均接近无穷大；指针表的x10k电阻档，测其1、2脚，有明显的正、反电阻差异，正向电阻约为几十kΩ，反向电阻无穷大；3、4脚正、反向电阻无穷大；两表测量法。
用指针式万用表的x10k电阻档（能提供15V 或9V、几十μA 的电流输出），正向接通1、2脚（黑笔搭1脚），用另一表的电阻档用x1k测量3、4脚的电阻值，当1、2脚表笔接入时，3、4脚之间呈现20kΩ左右的电阻值，脱开1、2脚的表笔，3、4脚间电阻为无穷大。
可用一个直流电源串入电阻，将输入电流限制在10mA以内。
输入电路接通时，3、4脚电阻为通路状态，输入电路开路时，3、4脚电阻值无穷大。
3、4种测量方法比较准确，如用同型号光耦器件相比较，甚至可检测出失效器件（如输出侧电阻过大）。
上述测量是新器件装机前的必要过程。
对上线不便测量的情况下，必要时也可将器件从电路中拆下，离线测量，进一步判断器件的好坏。
在实际检修中，离线电阻测量不是很便利，上电检测则较为方便和准确。
要采取措施，将输入侧电路变动一下，根据输出侧产生的相应的变化（或无变化），测量判断该器件的好坏。
即打破故障电路中的“平衡状态”，使之出现“暂态失衡”，从而将故障原因暴露出来。
光耦器件的输入、输出侧在电路中串有限流电阻，在上电检测中，可用减小（并联）电阻和加大电阻的方法（将其开路）等方法，配合输出侧的电压检测，判断光耦器件的好坏。
部分电路中，甚至可用直接短接或开路输入侧、输出侧，来检测和观察电路的动态变化，利于判断故障区域和检修工作的开展。
测量时的注意事项：光耦器件的一侧可能与“强电”有直接联系，触及会有触电危险，建议维修过程中为机器提供隔离电源！下图为常见三极管光耦器件的应用电路图。
光电耦合器在线检测示意图上图中的（1）电路，为变频器控制端子电路的数字信号输入电路，当正转端子FWD与公共端子COM短接时，PC817的1、2脚之间的电压由0V变为1.2V，4脚电压由5V变为0V。
同理，当控制端子呈开路状态时，PC817的1、2脚之间电压为0V，而3、4脚之间电压为5V。
图（1）电路可以看出光耦器件的各脚电压值，故障或正常状态测量输入、输出脚电压即可得出判断。
上图（2）电路，测量1、2之间为0.7V（交流信号平均值），3、4脚之间为3V ，说明光电耦合器有了输入信号，但光耦器件本身是否正常？用金属镊子短接PC817的1、2脚，测量4脚的电压由原3V上升为5V（或有明显上升），说明光耦器件是好的。
若电压不变，说明光耦损坏。
五、第二类光耦器件的测量与在线检测：第二种类型的光电耦合器（6N137），输入端工作压降约为1.5V左右，但输入、输出最大电流仅为mA级，只起到对较高频率信号的传输作用，电路本身不具备电流驱动能力，可用于对MHz级信号进行有效的传输。
同第一类光耦器件一样，对输入电压/电流有极性要求。
当形成正向电流通路时，输出侧两引脚呈现通路状态，正向电流小于一定值或承受一定反向电压时，输出侧两引脚之间为开路状态。
此种类型光耦器件的构成电路，同第一类光耦器件构成的电路形式相类似，但电路传输的信号频率较高。
其测量与检查方法也基本上是相似的。
如果说第一类光耦为低速和普通光耦，那么第二类光耦合器，可称之为高速光耦，二者的区别，只是对信号响应速度的不同，在电路形式上则是相同的。
在线测量，1、可用短接或开路2、3输入脚，同时测量输出6、5脚的电压变化；2、减小或加大输入脚外接电阻，测量输出脚电压有无相应变化；3、从+5V供电或其它供电串限流电阻引入到输入脚，检测输出脚电压有无相应变化。
来判断器件是否正常。
六、第三类光耦器件——线性光耦：线性光耦，是光电耦合器中一种比较特殊的器件了。
1、线性光耦的特点：（1）结构特点：其输入、输出侧电路，不再像第一类光耦器件一样，只是二极管/三极管的简单电路，而是内含放大器，并有各自独立的供电回路；没有信号输入极性要求，只将输入信号幅度进行线性放大。
（2）输入侧信号输入端，不再呈现发光二极管的正、反向特性，或许我们完全可以将两个信号输入端看作是运算放大器的两个输入端子——输入阻抗非常高，不再吸取信号源电流；能用作微弱电压信号的输入和放大；能对差分信号有极高的放大能力，对共模信号有一定的抑制能力；（3）输出侧电路，为差分信号输出模式，便于与后级放大器连接，将信号作进一步处理。
2、线性光耦器件A7840的引脚功能图：A7840（HCPL-7840）功能方框图A7840（HCPL-7840）的工作参数：输入侧、输出侧的供电典型值为5V，输入电阻480kΩ，最大输入电压320mV；差分信号输出方式。
内部输入电路有放大作用，且为高阻抗输入，能不失真传输mV级交、直流信号，输出信号作为后级运算放大器差分输入信号。
具有1000倍左右的电压放大倍数。
典型应用，常与后级运算放大器配合，对微弱（交、直）电压信号进行放大和处理。
2、3脚为信号输入脚，1、4脚为输入侧供电端；6、7脚为差分信号输出脚，8、5脚为输出侧供电端。
在线检测方法：可将内部电路看作是一只“整体的运算放大器”，2、3脚为同相、反相输入端，7、6脚为信号输出端。
当短接2、3脚（使输入信号为零）时，6、7脚之间输出电压也为零。
