射频无源器件测试方法

射频测试方法123汇总射频测试是对无线通信设备的性能和质量进行评估的重要手段之一、下面是射频测试的一些常用方法的汇总：1.功率测试：射频设备的输出功率是衡量设备性能的一个重要指标。

功率测试可以通过连接一个功率计或者谐波分析仪来实现。

2.敏感度测试：敏感度是指设备在接收弱信号时的表现。

敏感度测试可以通过连接一个信号发生器和一个功率计来实现。

信号发生器产生一个弱信号，然后通过功率计测量设备的输出功率，从而确定设备的敏感度。

3.谱分析：谱分析是对设备发送信号频谱进行分析的一种方法。

通过连接一个谱仪，可以获取设备输出信号的频谱信息，从而了解设备的频率特性和信号质量。

4.频率偏移：频率偏移是指设备输出信号的频率与预期频率之间的差异。

频率偏移测试可以通过连接一个频率计或者频谱分析仪来实现。

5.带宽测试：带宽是设备能够传输的频率范围。

带宽测试可以通过连接一个信号发生器和一个频谱分析仪来实现。

信号发生器产生一个宽带信号，然后通过频谱分析仪测量信号的频率范围，从而确定设备的带宽。

6.调制误差测试：调制误差是指设备发送信号与理想信号之间的差异。

调制误差测试可以通过连接一个频谱分析仪和一个信号发生器来实现。

信号发生器产生一个理想信号，然后通过频谱分析仪测量设备发送信号的频谱，从而确定设备的调制误差。

7.信噪比测试：信噪比是指设备发送信号中有用信号与噪声信号的比例。

信噪比测试可以通过连接一个信号发生器和一个功率计来实现。

信号发生器产生一个有用信号，然后通过功率计测量设备发送信号中的有用功率和总功率，从而确定设备的信噪比。

8.多径测试：多径是指信号在传播过程中通过多条路径到达接收器并产生干扰。

多径测试可以通过连接多个天线和一个功率计来实现。

通过测量不同路径上的干扰信号强度，可以确定设备的多径接收性能。

9.中频测试：中频测试是对设备中频信号进行测量和分析的一种方法。

中频测试可以通过连接一个频谱分析仪和一个中频信号发生器来实现。

中国铁塔股份有限公司QZTT 1003.3-2014无源分布系统无源器件技术要求及测试方法（试行）V1.02014-12-31发布2014-12-31实施中国铁塔股份有限公司发布目录1规范性引用文件 (1)2术语及定义 (1)2.1术语 (1)2.2定义 (2)3电气性能要求 (3)3.1功分器 (3)3.2耦合器 (3)3.33D B电桥 (5)3.4衰减器 (5)3.5负载 (6)4寿命要求 (7)5机械特性要求 (7)6工艺、材质要求 (7)7环境条件要求 (7)8无源器件测试方法 (8)8.1电气性能检测方法 (8)8.2工艺和材料的简易检测方法 (24)8.3环境试验检测方法 (25)9标志、包装和贮存 (28)9.1标志 (28)9.2包装 (28)9.3贮存 (28)前言我国当前存在着GSM、CDMA2000、TD-SCDMA、WCDMA、TD-LTE、LTE FDD等多种无线通信网络制式，各无线通信系统分别工作在800MHz、900MHz、1800MHz、1900MHz、2100MHz、2300MHz等多个公众无线通信频段上。

随着新技术发展，无线网络应用环境将更加复杂，一个运营商拥有多个制式、多段频率，一个覆盖区多系统、多网络、全频段共存的情况也将越来越多。

本技术要求依据相关国家标准和行业标准，结合中国铁塔股份有限公司（以下均简称为“中国铁塔”）的实际情况，提出了中国铁塔无源分布系统相应技术规定和要求，为中国铁塔无源分布系统的建设提供技术依据。

本技术要求是无源分布系统系列标准之一，该系列标准的名称及结构如下：无源分布系统总体技术要求无源分布系统多系统接入平台（POI）技术要求及测试方法无源分布系统无源器件技术要求及测试方法无源分布系统射频电缆技术要求及测试方法无源分布系统室分天线技术要求及测试方法随着技术的发展，还将制订后续的相关标准。

本技术要求由中国铁塔负责解释、监督执行。

本技术要求主编单位：中国铁塔股份有限公司。

射频无源器件是无线通讯设备的基础零部件之一，在无线通讯领域发挥着重要的作用，即在发射信号的过程中将二进制数字信号转换成高频率的无线电磁波信号；在接收信号的过程中将收到的电磁波信号转换成二进制数字信号。

作为无线通讯不可缺少的基础一环，其产品性能是至关重要的。

射频无源器件主要包括滤波器、功分器、天线、功率放大器、衰减器、混频器、耦合器等。

主要应用于无线通信系统基站建设和室内分布系统中，无源器件在无线通信系统基站建设、室内分布系统中起到连接多系统合路或分配的作用，在这个过程中选取适当规格参数的无源器件可减轻、或避免干扰造成的影响，而不当地使用无源器件或器件规格不符、性能不达标的产品则会产生或加剧信号干扰，目前关于射频无源器件性能测试参数主要包括：S参数、增益、损耗、阻抗、隔离度等参数指标。

S参数S参数是入射电压，反射电压，传输电压等物理量总称，它的描述的方法是以射频无源器件对入射信号散射后从射频器件外部散射出的可测量的物理量来实现的，测量到的物理量的大小反应出不同特性的射频器件对相同的输入信号散射的程度，这种不一样的散射程度就可以用来描述射频无源器件的特性，实现对射频无源器件性能的全面的评估。

增益增益一般指对射频无源器件、电路、设备或系统，其电流、电压或功率增加的程度，以分贝(dB)数来规定，增益简单而言就是放大倍数，在电子学上，通常为一个系统的讯号输出与讯号输入的比率，如天线增益表示定向天线辐射集中程度的参数,为定向天线和无方向天线在预定方向产生的电场强度平方之比、放大器增益表示放大器功率放大倍数,以输出功率同输入功率比值的常用对数表示等。

损耗损耗是指当射频无源器件接入传输电路后所增加的衰减，单位也是用dB表示。

损耗参数测试对于射频无源器件而言其测试精度要求很难把控的，损耗过大会使信号在链路上损失较多的能量影响覆盖范围，同时增加直放站又会引入新的干扰，而一味提高基站发射功率又不环保，而且超出功放线最优线性工作区间时发射机信号质量会恶化，会影响室内分布设计预期的实现。

射频电路调试测试流程（准备阶段）射频电路的调试作为通信整机研发工作中的重要一环，工作量非常大，几乎所有电路都需要调试，为了提高效率，需要对调试环境、调试方法等进行规范。

环境准备如下1、防静电佩戴“静电手环”，并良好接地，若着化纤、羊毛、羽绒服装，外层需加穿防静电服，或防辐射服；小功率、低电压、高频率、小封装的器件均ESD敏感，最容易被ESD击穿的射频器件：RF开关，其次是LNA；所有仪器，开机使用前必须将机壳良好接地；2、电源稳压电源接入负载前，先校准输出电压，电压等于负载的额定电压；3、仪器保护为安全起见：只要射频功率大于20dBm，射频信号源（30dBm）、频谱分析仪(27dBm)、信号源分析仪（23dBm）输入端必须级联同轴衰减器，一般情况下，5W 5dB衰减器为常态配置，若测试功放模块需根据实际输出功率大小配置合适的衰减器；4、仪器设置射频信号源：Keysight输出功率<13dBm，R&S输出功率<18dBm，若超出，输出功率可能小于显示值，需实测并进行补偿；频谱分析仪：屏幕显示的有效动态范围，FSV约70dB，FSW约80dB；仪器的线性输入功率<-3dBm，超出会恶化待测IM3（ACLR）、谐波，应选择合适的内部/外部衰减值；矢量网络分析仪：仪器的IF带宽决定噪声，测无源器件的带外抑制，应适当降低IF带宽；调测任何电路，必须保证输出功率<P1dB-3dB，一般设扫描功率=-20dBm；特别注意矢量网络分析仪的扫描功率，同一电路，同一设置；矢量网络分析仪使用正确的校准参数；5、工具准备恒温烙铁、热风枪；线缆检查柔性同轴电缆最容易损坏的部位：与连接器相连处，使用前先检查；半柔同轴电缆最容易损坏的部位：外导体有裂痕，使用前先检查；电路连接方式馈电6、电流、电压测定从限流电阻采样，计算V/R得到电流值；电压测试点靠近电源输入端、输出端；直流馈电导线需根据实际工作电流进行合理选择。

射频器件测试方法一、射频产品指标测试方法1、功分器➢功分器插入损耗和带内波动的测试1)微带功分器按照上图连接测试系统（腔体功分器在输出端口加衰减器）；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S21；3)读取曲线上的最大功率值和最小功率值；4)用最小功率值的绝对值减去最大功率值的绝对值即为功分器的带内波动；5)用最小功率值的绝对值减去理论插入损耗即为功分器的插损。

➢功分器驻波比的测试1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S11；3)读取曲线上的最大值即为该端口驻波比；4)更换端口重复上述操作；5)比较所测输入端口和输出端口值，最大值即功分器的端口驻波比。

➢三阶互调的测试无无无无无无无无无无无无无无无无无无无无1)按照上图连接测试系统；2)按照合路器的指标设置输入频率，输入功率为43dBm×2；3)读出三阶互调产物的电平值；4)取最大电平值即为互调。

2、耦合器➢耦合器的耦合偏差测量1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S21；3)读取曲线上的最小功率值和最大功率值；4)用最小功率值的绝对值减去耦合度设计值，再用最大功率值减去耦合度设计值，比较两个差值，取其中最大的一个即为耦合度的偏差。

➢耦合器的插入损耗测量1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S21；3)读取曲线上最小功率值；4)最小功率值的绝对值减去理论耦合损耗即为耦合器的插入损耗。

➢耦合器驻波比的测试方法1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S11；3)读取曲线上的最大值即为输入端的驻波比；4)更换端口重复上述操作；5)比较所测的输入端、输出端、耦合端的值，最大值即耦合器的端口驻波比。

➢耦合器隔离度的测试方法1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S21；3)读取曲线上的最大功率值，对其取绝对值即为其隔离度。

实验一：衰减器1、实验设置的意义在射频和微波传输系统中，通常需要控制功率电平，改善动态范围，衰减器有时作为一个去耦元件减小后级对前级的影响，也可以作为比较功率电平相对标准。

从射频和微波网络观点来看，衰减器是一个二端口有耗微波网络，它属于通过型微波元件。

2、实验目的（1）学会用矢量网络分析仪测量功率衰减器的S 参数； （2）了解衰减器结构特点，设计方法。

3、实验原理功率衰减器是一种能量损耗性射频/微波元件，它是一个双端口网络结构，其技术指标包括衰减器的工作频带、衰减量、功率容量、回波损耗。

衰减量：如图1-1所示，其信号输入端（Port-1）的功率为P 1，而其输出端（Port-2）的功率为P 2。

若P 1、P 2以分贝毫瓦（dBm ）来表示，且衰减器之功率衰减量为A （dB ），则两端功率间的关系，可写成：P 2(dBm) = P 1(dBm)–A （dB ） 亦即 21P ()A(dB)10log P ()mW mW图1-1功率容量：衰减器是一种能量损耗性射频/微波元件，能量损耗后会变成热能。

可以想像，材料结构确定后，衰减器的功率容量也就确定了。

如果让衰减器的承受功率超过这个极限，衰减器就会烧毁。

回波损耗：回波损耗就是衰减器的驻波比。

集中参数衰减器是利用电阻构成T 型或π形网络来实现的，其设计方法说明如下:（1）[固定型]（Fixed Attenuator ）此型电路仅利用电阻来设计。

按结构可分成[T 形] 及[π形], 如图1-2(a)(b)Port-1P 1Port-2 P 2所示。

图1-2(a) [T 形]功率衰减器; (b) [π形]功率衰减器其中Z 1、Z 2即是电路输入/输出端的特性阻抗。

根据电路两端使用的阻抗不同，可分为[同阻抗式]、[异阻抗式]。

① [同阻抗式]（a ）[T 形同阻抗式]（Z 1=Z 2=Z 0）1121121010+-⋅==-⋅==αααααZo Rs Rs ZoRp A（b ）[π形同阻抗式]1121211010-+⋅==⋅-==αααααZo Rp Rp ZoRs A② [异阻抗式]（Z 1≠Z 2） （a ）[T 形异阻抗式]R S1ZRpZ Rs RpZ Rs Z Z Rp A --+⋅=--+⋅=-⋅⋅⋅==1122111112121010ααααααα（b ）[π形异阻抗式]4、实验设备A V 36580矢量网络分析仪，衰减器。

射频电子器件的性能测试与分析射频电子器件是当前通信领域中不可或缺的重要元件，其性能测试与分析对于保证通信设备的正常工作至关重要。

本文将针对进行深入探讨，从测试方法、测试参数、测试技术等多个方面展开研究，旨在为射频电子器件的研发和生产提供有益的指导。

首先，射频电子器件的性能测试需要遵循一定的测试方法。

常见的测试方法包括整体性能测试和局部性能测试。

整体性能测试是指对整个器件的性能进行综合测试，如增益、谐波、杂散等性能指标的测试；而局部性能测试则是对器件内部各个部分的性能进行分别测试，如功放模块、滤波器模块等性能的测试。

不同的测试方法适用于不同类型的射频电子器件，需要根据具体情况进行选择。

其次，射频电子器件的性能测试涉及到多个测试参数。

其中，频率是最为关键的一个测试参数。

不同的射频电子器件在不同的频率下表现也会有所差异，因此需要对器件在不同频率下的性能进行测试。

除此之外，功率、带宽、线性度等参数也是影响器件性能的重要指标，需要在测试过程中充分考虑。

同时，射频电子器件的性能测试还需要运用到一些先进的测试技术。

如基于矢量网络分析仪的测试技术可以有效地对器件的S参数进行测试，帮助分析器件的传输特性和匹配特性。

而基于频谱分析仪的测试技术则可以用来测试器件的频率响应和信号干扰情况。

这些先进的测试技术为射频电子器件的性能测试提供了更多的手段和便利。

除了以上几点，射频电子器件的性能测试与分析还需要注意一些其他方面的问题。

例如，在测试过程中需要注意测试环境的干扰，保证测试结果的准确性；同时，还需要结合理论分析和实验测试相结合，全面分析器件的性能特点。

此外，在测试结果的分析过程中应当尽可能地利用数据处理和分析工具，提取出关键指标，为性能优化提供依据。

梳理一下本文的重点，我们可以发现，射频电子器件的性能测试与分析是射频领域中至关重要的一环。

通过本文的研究，我们可以更加深入地了解射频电子器件的性能测试方法、测试参数、测试技术等方面的知识，为射频电子器件的研发和生产提供指导。

光无源器件参数测试实验光无源器件参数测试实验是对光通信系统中使用的无源器件进行性能测试的一种方法。

无源器件包括光纤、光分路器、光耦合器等，它们在光通信系统中起到传输和分配光信号的作用。

在光通信系统中，无源器件的性能直接影响到系统的传输效率和稳定性，因此准确测试无源器件的参数是非常重要的。

1.实验目的测试光无源器件的参数，包括插入损耗、反射损耗、带宽、槽隔离度等，以评估器件的性能，为光通信系统的设计和优化提供依据。

2.实验仪器与设备(1)光源：常用的光源有激光二极管光源、电子脉冲激光器、气体激光器等。

光源的选择应根据实际应用需求确定。

(2)光功率计：用于测量光源的输出光功率，常用的光功率计包括光纤功率计和探头功率计。

(3)光分路器：用于将光信号分成两个或多个信号，常用的光分路器有耦合式光纤分路器和干涉式光纤分路器。

(4)光耦合器：用于将光信号从一个光纤耦合到另一个光纤中，常用的光耦合器有耦合式光纤耦合器和波导式光纤耦合器。

(5)光衰减器：用于调节光信号的光功率，常用的光衰减器有可调半波电压衰减器、可调半波电压Tipo式衰减器。

(6)光检测器：用于检测光信号的强度和特性，常用的光检测器有光电二极管、光电探测器等。

(7)光谱仪：用于测量光信号的频谱，获取光信号的频率信息，常用的光谱仪有光栅光谱仪、波长计等。

3.实验步骤(1)校准仪器：调节光源的输出光功率，使用光功率计校准光源的输出功率，并记录下来。

(2)测量插入损耗：将光无源器件与光源和光功率计连接起来，记录下光源的输出功率和光经过器件后的功率，计算插入损耗。

(3)测量反射损耗：将光无源器件与光源和光功率计连接起来，记录下光源的输出功率和光反射回来的功率，计算反射损耗。

(4)测量带宽：使用光谱仪测量无源器件的光信号频谱，记录下信号的中心频率和带宽。

(5)测量槽隔离度：使用光分路器或光耦合器将光信号分成两个或多个信号，分别测量各个信号的光功率，并计算槽隔离度。