X单晶衍射仪操作步骤
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X射线衍射仪使用方法及注意事项x射线衍射仪使用方法及注意事项一、开机1.接上100~240VAC的电源,按下机器背后右下角)黑色电源钮至“1”;然后按“Enter”2.直到出现windows登陆画面,输入密码“password“”输入password 直接按“OK ;3.启动桌面DIFFRAC.Measurement出现login视窗后,不用输入password 直接按“OK;电脑密码424424(可以忽略)4. 轻拉黑色把手至仪器门打开,置入样品,下推仪器门并听到上锁声音,检查所有参数正常;即可测量,测量结果保存为“.raw” V3格式,尽量使用1、2、3等命名。
二、全岩石分析1.将新鲜原样粉碎至300目,或者置于玛瑙研体中研磨至无明显颗粒感(每次研磨要清理研钵和小勺):2.把研磨后的粉末置于样品板上,用玻璃片将样品粉末在样品板凹槽中压实,至样品表面光有,并与样品板一致呈同一水平面,即制成全岩片;3.将全岩片置于 D2 Phaser行射仪中,入射狭缝采用0.6mm.探测器使用8mm狭缝,并在样品上方放置低角度附件(铁片1mm朝下):设置扫描角度2Thea=4.5~50度,步长0.02度,每步时间0.5秒,进行测量并保存实验结果,在打开机器门换样品之前请确认X-ray是关闭,即每测完一个样品,先点击X-ray的“off” 按钮,再去换样品。
三、粘土矿物XRD分析1.将新鲜原样粉碎至200目,或置于玛瑙研钵中研磨至无明显颗粒感;2.取约3g 样品粉末置于100ml烧杯中,加入适量(约100mL不要太满,影响后面加试剂)蒸馏水并搅拌溶解;3.用超声破碎仪处理岩石溶液(一定要把探头浸在溶液中再开始超声,每超声完一个样品需要用蒸馏水超声清洗探头),使粘土颗粒充分分散后将溶液静置4小时,(甲)若溶液悬浮,用注射器抽取上方粘土溶液约5cm (50ml左右)置于离心管,以3000转/min速度离心30分钟;4.(乙)若不悬浮,根据全岩分析结果,加入适量EDTA、双氧水并水浴加热去除其中的碳酸盐和少量有机质(需要水浴加热并不断搅拌,若有机质太多,建议先抽提),直至溶液不再冒气泡且不见油花,反复洗涤,直至悬浮,重复步骤3;5.用吸管将离心后所得的粘土颗粒涂抹于的玻璃片上,待其自然晾干后制成均匀、光滑的粘土自然定向片,入射狭缝采用0.2mm探测器使用3mm狭缝,并在样品上方放置低角度附件:设置扫描角度2Theta=3.5°~15°,步长0.02°,每步时间0.4或0.5秒,进行测量并保存实验结果“样品名nraw";6. 将粘土定向片置于饱和乙二醇的干燥器中,用烘箱将干燥器加热50℃,持续7-9小时【取8小时】,然后将粘土定向片置于衔射仪中进行测量(扫描角度2Theta=3.5°~ 30°)并保存实验结果“样品名e.raw";7.将步骤6所得的粘士定向片在马弗炉中450-500"C加热2.5小时后,再次置于衍射仪中进行测量(扫描角度2heta3.5°~ 15°)并保存实验结果“样品名t.raw”三次结果都放在一一个文件夹中。
X射线衍射仪操作指南说明书1.引言X射线衍射仪是一种常用的实验设备,用于研究物质的晶体结构和分析物质的组成。
本指南旨在提供详细的操作步骤和注意事项,确保用户正确、安全地操作X射线衍射仪。
2.设备介绍2.1 仪器组成X射线衍射仪主要包括X射线发生器、样品支架、X射线探测器和数据采集系统等组成部分。
在操作前,仔细检查仪器的各个部分是否完好无损。
2.2 安全注意事项- 在使用X射线衍射仪时,应戴上防护眼镜和手套,避免直接暴露于X射线辐射下。
- 在进行样品装载和校准时,务必将X射线发生器关闭,以避免意外辐射。
- 仪器应设置在通风良好的地方,避免有毒气体积聚。
3.操作步骤3.1 样品准备- 选择适当的样品,并确保其表面平整、无气泡和杂质。
- 样品可以是固体材料、粉末或薄膜等,根据实验需求选择不同的样品形式。
3.2 样品装载- 打开样品支架,并轻轻将样品放置在支架上。
- 确保样品与支架接触良好,避免产生移动或晃动。
3.3 开启仪器- 按照制造商提供的说明书,正确开启X射线发生器、探测器和数据采集系统。
- 等待仪器完成初始化,确保各个部分正常运行。
3.4 校准仪器- 使用标准样品进行校准,根据实验需求选择恰当的标准样品。
- 调整参数,使得标准样品的峰位和峰形达到最佳状态。
3.5 收集数据- 设置数据采集系统,选择合适的扫描范围和速度。
- 开始数据采集,保持实验环境稳定,避免外界因素对实验结果的影响。
3.6 数据分析- 使用适当的数据分析软件对采集到的数据进行处理和解析。
- 分析衍射峰的位置、强度和形状,推导出样品的晶体结构和组成。
4.操作注意事项- 在整个操作过程中,要保持操作台面整洁干净,避免灰尘和杂质影响实验结果。
- 禁止在没有经过校准和许可的情况下调整仪器参数。
- 遵循仪器使用说明书,避免操作失误导致仪器损坏或人员受伤。
5.故障排除在遇到以下情况时,应立即停止使用仪器,并联系维修人员进行维修:- 仪器出现异常响声或烟雾等异常情况。
单晶衍射操作步骤流程下载温馨提示:该文档是我店铺精心编制而成,希望大家下载以后,能够帮助大家解决实际的问题。
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X射线衍射仪操作流程X射线衍射仪是用于研究晶体结构的重要工具。
通过衍射现象来确定晶体的原子结构和晶胞参数,进而揭示物质的性质和行为。
本文将介绍X射线衍射仪的基本操作流程,以帮助读者理解和掌握该仪器的使用方法。
一、前期准备在进行X射线衍射测试之前,首先需要进行一些前期准备工作。
具体包括:1. 检查仪器:确保X射线衍射仪的设备状态良好,各部件无损坏。
2. 准备样品:根据实验需求,选择适当的晶体样品,并进行必要的处理,如纯化、粉碎等。
3. 选取合适的X射线源:根据待测试的样品特性和要求,选择合适的X射线源,如铜靶、锌靶等。
二、仪器调试与校准在进行实际的X射线衍射测试之前,需要对仪器进行调试和校准。
具体步骤如下:1. 调节入射光束:通过调整衍射仪的入射光束,使其与样品表面垂直,并保证光束的稳定和均匀。
2. 校准仪器:使用参考样品进行校准,以确保X射线衍射仪的准确性和精度。
三、样品安置1. 确定样品类型:根据待测样品的特性,选择合适的位置和方式来安置样品,如块状样品放置在样品台上,粉末样品填充至样品杯中等。
2. 安置样品:将样品放置在相应位置,并确保其与取向标记对齐和固定稳定。
四、测量参数设置1. 选择合适的测量模式:根据研究的目的和样品的特性,选择适当的测量模式,如连续扫描模式或步进扫描模式。
2. 设置扫描范围和步长:根据需要,设置X射线衍射仪的扫描范围和步长,以确保获取全面而准确的衍射数据。
五、数据采集与分析1. 开始测量:启动X射线衍射仪,开始数据采集。
根据实验需要,记录和保存相关的测量数据。
2. 数据分析:利用专业的数据处理软件对测得的衍射数据进行分析,包括峰位分析、X射线衍射图谱绘制等。
六、结果解读与报告1. 结果解读:根据衍射数据的分析结果,解读样品的晶体结构和晶胞参数,并推断出相关的物质性质。
2. 报告撰写:根据实验目的和结果,撰写实验报告,详细介绍X射线衍射的操作流程、实验结果和结论。
以上即为X射线衍射仪的基本操作流程。
X射线衍射仪操作手册说明书一、简介X射线衍射仪是一种常用于材料分析、结晶学研究等领域的实验设备。
本操作手册将详细介绍X射线衍射仪的操作方法,以及使用该仪器进行实验时需要注意的事项。
二、设备准备1. 确保X射线衍射仪的电源已连接并正常工作。
2. 将待测样品放置在试样台上,确保其稳定性。
三、操作步骤1. 打开仪器电源,待仪器初始化完成后,进入操作界面。
2. 在操作界面上,选择相应的实验模式。
3. 调节衍射角度,使之达到所需测量范围。
4. 调节X射线管电流和电压,根据样品特性进行调整。
5. 点击“开始测量”按钮,仪器将开始进行衍射实验。
6. 实验完成后,保存并导出实验数据,同时关闭仪器电源。
四、实验注意事项1. 在操作X射线衍射仪时,必须佩戴防护眼镜,以避免X射线辐射对眼睛造成伤害。
2. 切勿触摸X射线管和探测器等关键部件,以免损坏仪器或导致安全事故。
3. 使用合适的样品支架或样品夹固定待测样品,确保其在实验过程中的稳定性。
4. 在实验过程中,应控制X射线管的电流和电压,避免超出仪器的额定范围。
5. 遵循操作手册中的指导,按照正确的步骤进行操作,以确保实验结果的准确性和可靠性。
五、故障排除1. 若仪器不能正常启动,请检查电源连接是否松动或供电是否正常。
2. 若实验数据异常,请检查样品的摆放是否正确,以及X射线管的参数设置是否适合样品特性。
3. 若发现异常噪音或仪器运行不稳定,请立即停止使用,并联系维修人员进行检修和维护。
六、安全注意事项1. X射线衍射仪属于辐射设备,请确保在使用时遵循相关的辐射防护规定。
2. 经过长时间使用后,X射线管会产生一定的热量,请避免长时间连续使用,以免对仪器造成损坏。
3. 仪器操作过程中,注意避免与其他实验设备或物品产生干扰,以免影响测量结果。
七、维护保养1. 定期对X射线衍射仪进行清洁,特别是X射线管和探测器等关键部件,以保持仪器的正常工作。
2. 注意定期校准和调节仪器,确保其精确度和测量准确性。
使用X射线衍射仪的操作流程1. 简介X射线衍射是一种常用的材料结构分析技术,通过测量X射线与晶体或非晶体材料相互作用的方式,获取材料的结构信息。
X射线衍射仪是进行X射线衍射实验的设备,下面将介绍使用X射线衍射仪的操作流程。
2. 准备工作在进行X射线衍射实验之前,先进行准备工作: - 确保实验室环境安全,并穿戴好相应的安全防护装备,如实验室服、手套、护目镜等。
- 检查X射线衍射仪的工作状态,确保其正常运行。
- 准备样品,将样品放置在样品台上,并固定好。
3. 设置实验参数在进行实验之前,需要设置好一些实验参数,以确保获取准确的实验结果: -选择合适的衍射角度范围,一般在2θ角度范围内进行测量。
- 设置X射线的波长,根据样品的特性选择合适的波长。
- 调整X射线管电压和电流,根据需要选择合适的数值。
4. 开始实验完成准备工作和实验参数设置后,即可开始实验:- 打开X射线衍射仪的电源,确保其正常工作。
- 启动实验软件,连接X射线衍射仪。
- 在实验软件中选择相应的实验模式,如晶体衍射模式或非晶体衍射模式。
- 点击开始实验按钮,开始进行X射线衍射实验。
5. 数据处理与分析完成实验后,可以进行数据的处理与分析: - 将实验得到的衍射图谱导入数据处理软件中,如Origin、Matlab等。
- 对衍射图谱进行背景去除、峰识别、曲线拟合等处理。
- 根据实验需求,进行结构参数的计算和数据分析,如晶胞参数、晶格常数、晶体结构等。
6. 结果和讨论根据数据的处理与分析,得到实验结果,并进行结果的讨论:- 总结实验结果,给出相应的结论。
- 讨论实验结果与预期值的差异及原因。
- 分析实验结果的意义和可能的应用。
7. 实验注意事项在进行X射线衍射实验时,需要注意以下几点: - 使用X射线衍射仪时要佩戴护目镜,避免对眼睛造成伤害。
- 在操作X射线衍射仪时要注意相关安全规范,避免发生意外事故。
- 对于不了解的样品,应先进行安全评估,并在安全环境下进行实验。
x射线晶体衍射分析的基本步骤X射线晶体衍射分析(XRD)是一项闪电简便、高灵敏度、适用广泛的材料分析技术。
它可以用来测定物质的结构性质,识别物质的相组成,分析物质的三维晶体结构图谱,以及研究物质的晶体缺陷。
利用X射线晶体衍射分析,我们可以解决大量的材料科学问题,甚至一些复杂的生物学问题。
XRD的基本步骤如下:首先,选择样品。
使用X射线晶体衍射仪,实验中的样品必须是晶体结构,温度应该稳定,杂质要少,并且表面要光滑。
其次,设置X射线晶体衍射仪。
要确定有关X射线晶体衍射实验的探测器参数,包括X射线源的型号,晶体衍射仪上的探测器类型,仪器设置的操作电压,位置和时间。
第三,开始实验。
将样品放入完全清洁的晶体衍射仪,用X射线源X射照射样品的表面,并以恒定的X射线能量来激发样品中的晶体能带。
第四,获取衍射数据。
使用X射线晶体衍射仪获取样品的衍射数据,并使用特定的软件计算衍射数据,以获得样品的晶体结构图谱。
最后,分析晶体结构。
X射线晶体衍射分析技术可以识别物质的相组成和测定晶体结构,它可以用来研究物质的结构及其功能性质,例如形状、大小、晶面等,以及物质的晶体缺陷及其分布。
X射线晶体衍射分析是一项高灵敏度的实验分析技术,是现代材料科学研究的重要手段。
它可以帮助我们深入研究一系列重要问题,如晶体结构及其功能性质、高精度的结构和晶体缺陷研究等,以及非晶体材料的结构和机械行为等。
因此,利用X射线晶体衍射分析技术,我们可以解决大量的材料科学问题,甚至一些复杂的生物学问题。
X射线晶体衍射分析不仅在材料学领域中起着十分重要的作用,而且也在工业上和医药中有重要的应用。
不仅可以检测出大量的物质分子结构,而且可以帮助我们研究物质的晶体结构及其功能性质,根据其形状、大小和晶面等信息,来分析一系列物质的物理特性和化学成分。
有了X射线晶体衍射分析的帮助,我们可以获得很多物质的晶格参数,这些参数可以用于多种应用,如全息图的制作、金属晶体的研究、钙磷酸钙的组成分析等。
x衍射操作规程X射线衍射是一种常用的材料表征技术,用于研究晶体结构和晶体学参数。
X衍射操作规程描述了在实验室中进行X衍射实验的步骤和注意事项。
以下是一个大致的X衍射操作规程,包括准备工作、实验操作和数据分析。
一、准备工作1. 准备样品:选择适当的晶体样品,并准备好均匀且表面光滑的样品。
注意,样品的尺寸应足够大以覆盖整个检测器,以获得准确的衍射图样。
2. 准备X射线衍射仪:确保所有仪器和设备都正常工作,包括X射线管、钢琴线、样品台、检测器等。
检查盖板和样品台,确保其位置和旋转平稳。
3. 校准仪器:校准仪器的位置、角度和对准程度,以确保实验的准确性。
二、实验操作1. 打开X射线衍射仪的电源,并对系统进行预热,通常需要一段时间。
2. 调整X射线管电压和电流:根据样品的特性和需求,选择合适的电压和电流。
3. 设置扫描范围和步长:根据需求,设置扫描范围和步长。
通常,初次实验时可以设置较大的范围和较小的步长,以获得更详细的数据。
4. 选择适当的滤波器:根据样品和需求,选择合适的滤波器,以去除背景噪音并增强信号。
5. 放置样品:将样品固定在样品台上,并确保样品台的位置和角度正确。
6. 开始扫描:点击开始按钮,开始进行X衍射扫描。
扫描过程中,要保持样品台的稳定性,避免触摸或移动样品。
7. 记录数据:实时监控和记录衍射图样,并根据需要保存图像或数据文件。
三、数据分析1. 清洗数据:在实验结束后,检查数据是否完整和准确。
如有需要,可以剔除异常值或运动伪影。
2. 解释衍射图样:根据衍射图样的特征,对晶体结构和晶体学参数进行解释。
使用X射线衍射软件,例如FullProf Suite等进行拟合和分析。
3. 提取数据:根据需要,提取晶体学参数,如晶胞参数、晶体结构因子等。
可以使用专业软件进行自动提取,或手动从衍射图样中读取。
4. 数据分析和结果展示:根据提取的数据,进行进一步的分析和计算,展示结果并进行讨论。
在进行X射线衍射实验时,还需要注意以下事项:1. 安全操作:使用X射线时,必须遵守安全操作规程,保护自己和他人的安全。
X射线衍射仪的使用流程1. 什么是X射线衍射仪?X射线衍射仪是一种常用的分析仪器,主要用于分析物质的晶体结构和结晶性质。
它通过入射X射线束经过样品后产生衍射,利用衍射的图案来确定样品的晶体结构和晶体学参数。
X射线衍射仪在材料科学、地球科学、化学等领域有着广泛的应用。
2. X射线衍射仪的组成部分X射线衍射仪主要由以下几个部分组成:•X射线源:产生X射线的装置,通常使用X射线管作为X射线源;•样品台:用于放置待测样品的平台;•持样器:用于固定样品,保持其稳定;•衍射仪器:包括衍射器和检测器,用于测量和记录样品衍射图案;•控制系统:控制X射线衍射仪的运行和参数调节。
3. X射线衍射仪的使用流程使用X射线衍射仪进行样品分析通常需要按照以下步骤进行:步骤1:准备样品•将待测样品制备成粉末状,或者使用单晶样品;•确保样品表面清洁,没有灰尘或杂质。
步骤2:打开X射线衍射仪•按下电源按钮,启动X射线衍射仪;•检查仪器是否连接正常,无异常现象。
步骤3:导入样品•将样品放置在样品台上,固定好样品;•确保样品的位置正确,与X射线束成合适的角度。
步骤4:设置参数•使用控制系统设置X射线衍射仪的相关参数,如X射线的波长、衍射角范围等;•确保参数设置正确,以获得准确的衍射数据。
步骤5:开始测量•按下测量按钮,开始进行样品的衍射测量;•等待测量结果的出现。
步骤6:记录数据•将测量结果记录下来,包括衍射图案和相关参数;•可以使用电脑软件进行数据处理和分析。
步骤7:分析结果•根据衍射图案和相关参数,分析样品的晶体结构和晶体学参数;•可以使用相关软件进行数据处理和模拟。
步骤8:关闭X射线衍射仪•完成分析后,按下关闭按钮,关闭X射线衍射仪;•清理样品台和持样器,保持仪器的整洁。
4. 注意事项•使用X射线衍射仪时,要注意安全,避免直接接触X射线和其他危险射线;•在操作过程中,要仔细调节参数和位置,确保准确性和可靠性;•对于不同类型的样品,可能需要针对性的参数设置和处理方式。
X单晶衍射仪操作步骤
1挑晶体
●先在显微镜下看晶体,选好的晶体,然后有钥匙将其捞出放于干净的纸上,吸干溶剂,
后将其转移到干净的玻璃片上,滴上硅油。
最好将晶体放于玻璃片的右边一点,以便后面用右手粘晶体。
一般在显微镜下选好三颗好的晶体(透明,没有裂痕,表面干净,有光泽),选根稍微比晶体尺寸小点的玻璃丝(显微镜下比对),滴一点指甲油放于左边,用玻璃丝将晶体粘好。
●将粘好的晶体安放在好自己的名字的标签上,贴好玻璃丝,小心拿放。
2去一楼测晶体,一个晶体需要测的时间为1个半小时,上完后,要告诉下一个上晶体的时间和拷贝上一个人的晶体数据。
●首先点Accept----ok,然后就是点file----utilities----write CIF----关闭软件这步很重要
的,需要记住。
Today文件夹中新建文件,命名自己的晶体名字(如wht-1-57new),将其复制,再打开软件SCX mini,在用户名一栏输入administrator---点ok
然后进入界面,勾选New sample,将之前复制的名字粘贴于Sample中-----点浏览(Browse)找到F盘----today文件---打开,找到wht-1-57new,双击它,点OK, 再点OK!
出现下面的界面,点yes----点run
稍等一会,等这个小窗口变大后将其关闭
●现在要将晶体用蜡烛粘在载晶台上
按仪器上的Doo----警报响-----拿下载晶台-----用细铁器将旧晶体取下------安上新晶体(玻璃丝的长度一个大拇指长)------蜡烛固定----安放,凹槽对准,拧紧大螺纹,调好各个方向,有力关好门, 点ok.
●测晶体
点initial mages----等待扫点,直到窗口上方出现0014 img----点右上方的stop----稍等一会,在点ok。
(在扫点的过程中,看看数据是否好)
接下来,点左边的Assign Unit Cell -----Find Spots -----再双击将最后两栏的数字都变为14,连续点两个Run,出现晶胞参数,将其记下。
如果出现如下图的晶胞参数,有三个,那就要看看测定的体积是否相符,本次我选的是最后一个。
再点ok------点收集-----点run. 完成操作。
还原和拷贝数据
打开桌面的SCC软件-----点第一个Browse----点桌面-----找到文件shortcut to new-----单击右键-----arrange----modified(按时间排列),找到上一个人的文件数据-----打开-----点击crystal clear.cif,在file name中将其复制下来,点open,在点击第二个Browse------打开structure文件-----将上次复制的粘贴在fliename 中-----点open----点好几个ok。
完成数据还原。
拷贝数据
点桌面的shortcut to new文件,将其打开-----找到之前还原的文件----打开-----在图片中的所示的位置将名字复制下来————将structure重命名———粘贴之前复制的名字----打开看看文件里面是否有hkl文件。
最后将改好名字的文件发送到U盘中。
数据拷贝完成。