第八章光电子能谱
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第⼋章有机化合物的波谱分析
第⼋章有机化合物的波谱分析
基本要求:1、掌握核磁共振氢谱1HNMR的化学位移、⾃旋偶合、⾃旋裂分与分⼦结构的⼀般规律。掌握各种质⼦的化学位移δ,并能利⽤δ值、峰裂分的数⽬和形状、峰⾯积⽐等⼀级谱图的规律推断简单有机物分⼦的结构。了解13C谱。2、了解红外光区吸收分⼦的结构特征,掌握⼀些特征官能团及苯环的特征吸收频率,并能根据谱图的吸收峰位置、强度和形状鉴别简单有机物分⼦。3、了解在4~400 nm紫外光区,价电⼦在分⼦轨道中跃迁的三种类型,掌握紫外光谱与共轭分⼦结构关系的⼀般规律。
4、了解质谱的基本原理,母离⼦峰与分⼦量的关系。
Contents
8.1红外光谱
⼀、基本原理
⼆、有机基团的特征吸收频率及其影响因素
三、各类有机物的红外吸收频率8.2 核磁共振氢谱
⼀、基本原理⼆、化学位移
三、⾃旋偶合和⾃旋裂分
四、特征质⼦的化学位移与谱图解析
五、碳谱(13C-NMR)简介8.3 紫外光谱
8.4 质谱简介
8.5 谱图综合解析
有机化学是⽤结构式来描述的⼀门学科。有机化合物、有机反应、反应机理、合成⽅法等都能⽤结构式来描述,从结构式可以推断出该化合物的性质。化合物的结构式最早是⽤化学法测定。⽤化学法测定化合物的结构往往是⼗分繁琐复杂的⼯作,⽽且在化学变化中往往会发⽣意想不到的变化,从⽽给结构的测定带来困难。如吗啡(C15H15O3N)从1803年第⼀次被提纯,⾄1952年弄清楚其结构,其间经过了150年;胆固醇(C27H47O)结构的测定经历了40年,⽽所得结果经X-射线衍射发现还有某些错误。
测定有机物结构的波谱法,是20世纪五、六⼗年代发展起来的现代物理实验⽅法。波谱法的应⽤使有机物结构测定、纯度分析等既快速准确,⼜⽤量极少,⼀般只需1~100 mg,甚⾄10-9g 也能给出化合物的结构信息。应⽤波谱法可弥补化学⽅法之不⾜。现在,化学⽅法基本上被物理实验⽅法所取代,现代的教科书、⽂献、论⽂中化合物的结构均以波谱数据为依据,正如熔点、沸点、折光率等作为每个化合物的重要物理常数⼀样的普遍,⽽且更加重要。
- 1 - 第二十三章 X射线光电子能谱
1954年以瑞典Siegbahn教授为首的研究小组观测光峰现象,不久又发现了原子内层电子能级的化学位移效应,于是提出了ESCA(化学分析电子光谱学)这一概念。由于这种方法使用了铝、镁靶材发射的软X射线,故也称为X-光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy)。X光电子能谱分析技术已成为表面分析中的常规分析技术,目前在催化化学、新材料研制、微电子、陶瓷材料等方面得到了广泛的应用。
23.1 基本原理
固体表面分析,特别是对固体材料的分析和元素化学价态分析,已发展为一种常用的仪器分析方法。目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS), 俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。AES分析主要应用于物理方面的固体材料(导电材料)的研究,而XPS的应用面则广泛得多,更适合于化学领域的研究。SIMS和ISS由于定量效果较差,在常规表面分析中的应用相对较少。但近年随着飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)的发展,使得质谱在表面分析上的应用也逐渐增加。
X射线光电子能谱最初是由瑞典科学家K.Siegbahn等经过约20年的努力而建立起来的,因在化学领域的广泛应用,被称为化学分析用电子能谱(ESCA)。由于最初的光源采用了铝、镁等的特性软X射线,该技术又称为X射线光电子能谱(XPS)。1962年,英国科学家D.W.Turner等建造出以真空紫外光作为光源的光电子能谱仪,在分析分子内价电子的状态方面获得了巨大成功,同时又用于固体价带的研究,与X射线光电子能谱相对照,该方法称为紫外光电子能谱(UPS)
XPS的原理是基于光的电离作用。当一束光子辐射到样品表面时,样品中某一元素的原子轨道上的电子吸收了光子的能量,使得该电子脱离原子的束缚,以一定的动能从原子内部发射出来,成为自由电子,而原子本身则变成处于激发态的离子,如图23-1所示。在光电离过程中,固体物质的结合能可用下面的方程式表示:
- 1 - 第二十三章 X射线光电子能谱
1954年以瑞典Siegbahn教授为首的研究小组观测光峰现象,不久又发现了原子内层电子能级的化学位移效应,于是提出了ESCA(化学分析电子光谱学)这一概念。由于这种方法使用了铝、镁靶材发射的软X射线,故也称为X-光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy)。X光电子能谱分析技术已成为表面分析中的常规分析技术,目前在催化化学、新材料研制、微电子、陶瓷材料等方面得到了广泛的应用。
23.1 基本原理
固体表面分析,特别是对固体材料的分析和元素化学价态分析,已发展为一种常用的仪器分析方法。目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS), 俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。AES分析主要应用于物理方面的固体材料(导电材料)的研究,而XPS的应用面则广泛得多,更适合于化学领域的研究。SIMS和ISS由于定量效果较差,在常规表面分析中的应用相对较少。但近年随着飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)的发展,使得质谱在表面分析上的应用也逐渐增加。
X射线光电子能谱最初是由瑞典科学家K.Siegbahn等经过约20年的努力而建立起来的,因在化学领域的广泛应用,被称为化学分析用电子能谱(ESCA)。由于最初的光源采用了铝、镁等的特性软X射线,该技术又称为X射线光电子能谱(XPS)。1962年,英国科学家D.W.Turner等建造出以真空紫外光作为光源的光电子能谱仪,在分析分子内价电子的状态方面获得了巨大成功,同时又用于固体价带的研究,与X射线光电子能谱相对照,该方法称为紫外光电子能谱(UPS)
XPS的原理是基于光的电离作用。当一束光子辐射到样品表面时,样品中某一元素的原子轨道上的电子吸收了光子的能量,使得该电子脱离原子的束缚,以一定的动能从原子内部发射出来,成为自由电子,而原子本身则变成处于激发态的离子,如图23-1所示。在光电离过程中,固体物质的结合能可用下面的方程式表示:
第二章 红外光谱
一、判断题
[1] 红外光谱不仅包括振动能级的跃迁,也包括转动能级的跃迁,故又称为振转光谱。(√)
[2] 同核双原子分子N≡N、Cl-Cl、H-H等无红外活性。(√)
[3] 由于振动能级受分子中其他振动的影响,因此红外光谱中出现振动耦合谱带。(√)
[4] 确定某一化合物骨架结构的合理方法是红外光谱分析法。(×)
[5] 对称结构分子,如H2O分子,没有红外活性,水分子的H-O-H对称伸缩振动不产生吸收峰。(×)
[6] 红外光谱图中,不同化合物中相同基因的特征频率峰总是在特定波长范围内出现,故可以根据红外光谱图中的特征频率峰来确定化合物中该基团的存在。(√)
[7] 不考虑其他因素的影响,下列羰基化合物υc=0伸缩频率的大小顺序为:酰卤>酰胺>酸>醛>酯。(×)
[8] 醛基中υC=H伸缩频率出现在2720cm-1。(√)
[9] [
[10] 红外光谱与紫外光谱仪在构造上的差别是检测器不同。(×)
[11] 当分子受到红外光激发,其振动能级发生跃迁时,化学键越强吸收的光子数目越多。(×)
[12] 游离有机酸C=O伸缩振动υc=0频率一般出现在1760cm-1,但形成多聚体时,吸收频率会向高波数移动。(×)
[13] 醛、酮、羧酸等的羰基的伸缩振动在红外光谱中的吸收峰频率相同。(×)
[14] 红外吸收峰的数目一般比理论振动数目少,原因之一是有些振动是非红外活性的。(√)
[15] 红外光谱的特点是一方面官能团的特征吸收频率的位置基本上是固定的,另一方面它们又不是绝对不变的,其频率位移可以反映分子的结构特点。(√)
[16] Fermi共振是一个基频振动与倍频(泛频)或组频之间产生耦合作用。(√)
二、选择题(单项选择)
[1] 红外光可引起物质的能级跃迁是( C)。
]
A. 分子的电子能级的跃迁,振动能级的跃迁,转动能级的跃迁;
B. 分子内层电子能级的跃迁;
C. 分子振动能级及转动能级的跃迁;