2011-12激光粒度分析仪-X

激光粒度仪体积密度对数
激光粒度仪是一种广泛应用于颗粒物料分析的仪器，它能够精确地测量颗粒的尺寸分布和体积密度。

体积密度对数是指颗粒物料的体积密度与其尺寸分布之间的关系。

通过激光粒度仪测量得到的数据可以用来分析颗粒物料的体积密度对数，进而帮助人们更好地理解和掌握颗粒物料的特性。

激光粒度仪通过激光散射原理，可以快速、准确地测量颗粒的尺寸分布。

同时，激光粒度仪还可以结合其他技术，如气体比表面积法、压汞法等，来测量颗粒的体积密度。

通过这些测量数据，可以得到颗粒物料的体积密度对数，从而为颗粒物料的生产和应用提供重要参考。

颗粒物料的体积密度对数对于工业生产和科研领域具有重要意义。

首先，体积密度对数可以反映颗粒物料的紧密程度和空隙率，这对于颗粒物料的流动性、堆积性等性能有着重要影响。

其次，体积密度对数还可以用来评估颗粒物料的质量和稳定性，为产品的设计和改进提供依据。

此外，体积密度对数还可以帮助人们更好地理解颗粒物料的物理和化学特性，为颗粒物料的应用提供科学依据。

总之，激光粒度仪和体积密度对数的研究对于颗粒物料的生产和应用具有重要意义。

通过对颗粒物料的尺寸分布和体积密度对数的研究，可以帮助人们更好地理解颗粒物料的特性，为颗粒物料的生产和应用提供科学依据。

希望未来能有更多的科研机构和企业投入到激光粒度仪和体积密度对数的研究中，推动颗粒物料分析技术的发展，为颗粒物料产业的发展做出更大的贡献。

激光粒度分析仪的工作原理
激光粒度分析仪主要由辐射源、检测系统、滤波器组件、振动控制系统和计算机软件等组成。

它倒微粒物从小到大依次穿过这个多组件系统，系统中每个组件发挥着不同的作用，最终产生微粒浓度变化的统计值，来反映空气微粒或有机悬浮物的分布情况。

辐射源部分，是发射激光粒子的光源，它可以利用全波段或是一定波段的光子发射粒子，来做相关的实验。

检测系统部分，由检测仪和光学系统组成，它们能够检测激光将实验物体所反射的信号，并且此系统可以检测不同物质的信号，精确测量出粒径大小等物理特性。

滤波器组件部分，它能够调节激光光子透过特定尺寸粒子反射出来的信号，通过振动控制系统来角度旋转细节滤波器，并且它能够响应通过微处理器控制的信号，从而使粒子能被更准确的测量出粒径大小。

最后，计算机软件部分，能够用软件的形式来记录、分析多台激光粒度分析仪的测量结果，建立实验物质的统计数据，从而实现在实验室条件下量测和微粒分析。

激光粒度分析仪1. 工作条件1.1 环境要求：10-35℃1.2 相对湿度：＜90%1.3 电源要求：90-240 Volt, 5A, 50/60 Hz2. 技术说明2.1该分析仪能用于测量粉体，悬浮液等的粒径分布。

它必须有宽广的测量范围，较高的精确度和稳定的重复性，对于所有功能提供最大限度的自动技术，包括粒径测量系统，样品递送系统和分析软件。

2.2 粒径测量系统；2.2.1* 测量范围：0.02~2,000μm2.2.2* 测量理论：全量程范围应用米氏理论，内置非球形颗粒校正选项及常用物质光学参数2.2.3 * 激光光源：三束同波长激光光源，功率3 mW，波长780nm，以便得到足够多的颗粒散射光信号。

不能使用其他波长的非激光辅助光源，避免多次米氏理论计算带来的误差。

激光光源应安装在稳定不动的光具座上，并能在轻度的受扰后进行自我校准。

2.2.4* 激光光路：在全量程检测范围内必须符合ISO13320标准，使用傅利叶变换技术和双透镜接受光路。

不允许使用不同波长的激光散射光路进行混合测量。

2.2.5* 检测器：多于150个，以对数方式排列，必须能检测到小于0.5μm和大于1,000μm的颗粒。

2.2.6 * 检测角度：0.02-163º2.2.7* 分析时间：无需扫描，实时检测散射光信号，从加入样品到打印出结果小于30秒。

2.2.8 重复性：＜±0.5%2.2.9 精确度：＜±0.6%2.2.10 所需样品量：0.05-2g2.2.11 样品递送系统由主机自动识别并调整适用。

2.3 湿法递送系统2.3.1* 内置不锈钢测量室，体积200ml，用于分析分散在液体中的颗粒，不得使用外置烧杯作为样品缓冲器2.3.2* 软件自动控制测量过程，自动涡流清洗2.3.3* 循环泵速率连续可调，保证所有样品循环通过测量区域，避免通过有限采样点取样得到非代表性样品报告2.4 干法递送系统2.4.1* 全自动干法测量，最大分散压力不低于8 atm2.4.2 * 专利涡流旋转喷射分散，可根据被测样品量调整测量时间2.4.3 * 带残余样品清扫功能2.5 软件2.5.1 能在Windows98，2000，XP和NT或更高版本下运行。

综述：激光粒度仪的光学结构张福根(珠海欧美克科技有限公司广东519085，E-mail:*****************)摘要本文收集了国内外各种商品化激光粒度分析仪的典型光学结构，分析了它们的工作原理和性能特点。

其技术特征可概括为：经典傅立叶变换结构、透镜后傅立叶变换结构、双镜头结构、多光束结构、多波长结构、PIDS技术、球面接收技术、双向偏振光补偿技术和梯形窗口技术。

现有的各种激光粒度仪或采用上述技术中的一种，或者是两种甚至三种的组合。

关键词：激光粒度分析仪，光学激光粒度仪从问世到现在已经有近40年的历史。

相对于传统的粒度测量仪器（如沉降仪、筛分、显微镜等），它具有测量速度快、重复性好、动态范围大、操作方便等优点，现在已成为世界上最流行的粒度测量仪器。

目前全世界约有15家企业生产激光粒度仪，国外有近10家，国内有一定规模的约5家。

激光粒度仪本质上是一种光学仪器，其光学结构对仪器性能具有决定性影响。

在近40年里，出现了多种光学结构。

其演变的主要方向是扩展仪器的测量下限。

本文拟对世界上出现过的各种激光粒度仪的光学结构作一梳理和分析，希望对仪器的使用者更好地识别仪器性能，对仪器的研发人员研制性能更优秀的仪器都能有所裨益。

本文所引用的光路图大多来自各仪器制造商公开散发的产品宣传资料。

由于这类资料都不是正式的出版物，不便在文章后的“参考文献”中索引，还请被引用单位（或个人）、审稿人和读者谅解。

审稿人和读者如需查阅被引用资料的详细信息，可以向相应的仪器制造商索取。

1 激光粒度仪原理简介激光粒度仪是利用颗粒对光的散射（衍射）现象测量颗粒大小的，即光在行进过程中遇到颗粒（障碍物）时，会有一部分偏离原来的传播方向；颗粒尺寸越小，偏离量越大；颗粒尺寸越大，偏离量越小（见图1）。

散射现象可用严格的电磁波理论，即Mie散射理论描述。

当颗粒尺寸较大（至少大于2倍波长），并且只考虑小角散射（散射角小于5°）时，散射光场也可用较简单的Fraunhoff衍射理论近似描述。

激光粒度分析仪原理
激光粒度分析仪是一种利用激光光源对颗粒进行粒度分析的仪器。

它通过测量
颗粒对激光的散射光强来确定颗粒的大小分布。

激光粒度分析仪原理主要包括激光散射原理、光学系统、检测系统和数据处理系统。

首先，激光粒度分析仪利用激光光源对颗粒进行照射，颗粒会对激光产生散射。

根据激光散射原理，颗粒的散射光强与颗粒的大小有关，大颗粒散射光强较小，小颗粒散射光强较大。

因此，通过测量颗粒对激光的散射光强，可以确定颗粒的大小分布。

其次，光学系统是激光粒度分析仪的核心部分，它包括激光发射系统和散射光
接收系统。

激光发射系统利用激光器产生单色激光，然后通过透镜系统使激光聚焦成一束平行光，照射到颗粒上。

散射光接收系统则用于接收颗粒散射的光信号，通过光电探测器将散射光信号转换成电信号。

检测系统是用来测量颗粒散射光强的部分，它包括光电探测器和光电倍增管。

光电探测器将颗粒散射的光信号转换成电信号，然后经过放大器放大，再经过模拟-数字转换器转换成数字信号，最终送入数据处理系统进行处理。

数据处理系统是激光粒度分析仪的智能部分，它主要包括信号处理模块、数据
处理模块和显示输出模块。

信号处理模块用于对颗粒散射光信号进行滤波、放大和模数转换；数据处理模块用于对处理后的数据进行分析和计算，得出颗粒的大小分布；显示输出模块则用于将分析结果以图表或数据形式显示出来，方便用户进行观测和分析。

总的来说，激光粒度分析仪原理是基于激光散射原理，利用光学系统、检测系
统和数据处理系统对颗粒进行粒度分析。

它具有高精度、高灵敏度、快速分析的特点，广泛应用于颗粒物料的粒度分析和质量控制领域。