直拉单晶工艺常识
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直拉单晶硅工艺技术黄有志直拉单晶硅工艺技术是制备单晶硅材料的一种重要方法。
该技术的发展,对于现代半导体产业的推动和发展具有重要意义。
黄有志博士是在该领域取得突破性进展的科学家之一。
以下是对其工艺技术的一些介绍。
直拉单晶硅工艺技术是制备高纯度、高晶质结构的单晶硅材料的关键技术之一。
它是将多晶硅材料通过高温熔融状态下拉制而成的。
在这个过程中,使用的原料是通常用石英砂进行还原制备的多晶硅材料,通过特定的工艺参数控制,使其在高温下逐渐冷却凝固,形成单晶硅材料。
直拉单晶硅工艺技术具有高效、高质量的特点。
首先,该工艺技术能够有效地提高单晶硅材料的纯度。
在熔融状态下,通过控制氧气处理时间和掺杂剂的加入,可以有效地去除杂质。
其次,该工艺技术能够制备出高质量的单晶硅材料。
通过控制拉伸速度和温度梯度,可以减少晶体结构的缺陷,提高晶体的完整性和结晶度。
最后,该工艺技术还具有高效率的特点。
相比于其他制备单晶硅材料的方法,直拉工艺技术可以大规模生产,并且成本低廉,适用于工业化生产。
黄有志博士在直拉单晶硅工艺技术的研究领域做出了突出的贡献。
他主要关注在工艺参数的优化和工艺过程的监控控制方面。
通过对熔融硅的温度、拉伸速度、氧气处理时间等参数的研究,他成功地优化了工艺参数,提高了单晶硅材料的质量和产量。
同时,他还研发了一套先进的监控系统,可以实时监测熔融硅的温度和拉伸速度等参数,确保工艺过程的稳定性和可控性。
黄有志博士的工艺技术在半导体产业中得到了广泛的应用。
单晶硅材料是半导体器件制备中不可或缺的基础材料,而直拉单晶硅工艺技术能够高效、高质量地制备出该材料,为半导体器件的生产提供了重要保障。
目前,黄有志博士的工艺技术已广泛应用于半导体材料制备企业中,并且取得了良好的经济效益和应用效果。
总之,直拉单晶硅工艺技术是制备高纯度、高质量的单晶硅材料的关键技术之一。
黄有志博士在该领域的研究和创新,为该技术的发展和应用做出了重要贡献。
他的工艺技术在半导体产业中得到了广泛应用,为半导体器件的制备提供了重要支持。
《直拉单晶硅生长工艺流程和注意事项》下载温馨提示:该文档是我店铺精心编制而成,希望大家下载以后,能够帮助大家解决实际的问题。
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简述直拉单晶硅工艺流程及各步骤注意事项下载温馨提示:该文档是我店铺精心编制而成,希望大家下载以后,能够帮助大家解决实际的问题。
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直拉单晶硅工艺技术直拉单晶硅工艺技术是一种生产单晶硅材料的工艺方法,它能够高效地制备高纯度、高质量的单晶硅。
在电子、光伏等领域有着广泛的应用。
下面我将介绍一下直拉单晶硅工艺技术的基本原理和步骤。
直拉单晶硅工艺技术基本原理是利用熔融态下的硅液形成的“剪切层”和拉伸过程中形成的“湍流鞍点”来减小晶体发生成核的机会,实现快速生长大尺寸单晶硅。
直拉单晶硅工艺技术的步骤如下:1、硅原料准备:选择高纯度的硅原料,通常采用电石炉法或氯气法制备。
2、硅液制备:将硅原料放入特殊的熔化炉中,在高温下将硅原料熔化成液态硅。
3、净化处理:通过添加掺杂剂和进行化学处理等方式,对硅液进行净化,去除杂质和不纯物质。
4、晶体成核:将净化后的硅液脱氧,并添加少量的晶种,形成晶体的初步成核。
5、晶体生长:将晶种固定在拉伸机上,通过控制温度和拉拔速度,使晶体逐渐生长。
6、晶体拉伸:在晶体生长过程中,通过拉伸机的拉拔和旋转,将晶体朝着一个方向上不断拉长,直到达到目标长度。
7、光洁处理:将拉伸后的晶体进行光洁处理,使其表面变得光滑。
8、切割整理:将拉伸后的晶体切割成适当大小的小晶体,用于制造半导体晶体管等器件。
直拉单晶硅工艺技术的优点在于能够生长大尺寸的单晶硅,提高了生产效率和晶体质量。
同时,它还具有晶体控制性好、成本低等特点,为单晶硅领域的发展提供了重要的技术支持。
然而,直拉单晶硅工艺技术也存在一些问题。
首先,大尺寸单晶的生产周期较长,需要耗费大量的能源和物资。
其次,工艺要求严格,操作技术要求高,一旦出现操作失误,就会导致晶体质量下降。
总而言之,直拉单晶硅工艺技术是一种优质、高效的制备单晶硅材料的方法。
通过不断的技术创新和工艺改进,相信直拉单晶硅工艺技术能够继续优化,提高生产效率和质量,为电子、光伏等领域的应用提供更好的支持。
直拉单晶工艺常识硅的固态密度:克/cm,液态密度克/cm,呈灰色金属光泽,性质较脆,切割时易断裂,比重较小,硬度较大,属于非金属,是极为重要的半导体元素,液态时其表面张力较大,从液态到固态时体积膨胀较多。
氧在硅晶体中的分布是不均匀的,一般头部含量高,尾部含量低,晶体中心部位含量高,边缘含量低。
碳在晶体中的分布是中心部位低,边缘部位高。
电阻率:单位面积材料对于两平行平面垂直通过电流的阻力,晶向:一簇晶列的取向。
母合金:生产上常常将掺杂纯元素“稀释”成硅熔体叫做母合金。
偏度:晶体自然中轴线与晶向之间的夹角度数。
空穴:半导体价带结构中一种流动的空位,其作用就像一具具有正效质量的正电子荷一样。
迁移率:载流子在单位电场强度作用下的平均漂移速度。
载流子:固体中一种能传输电荷的载体,又称电载流。
少数载流子寿命:在光电作用下,非平衡少数载流子由产生到复合存在的平均时间。
杂质分凝:在结晶过程中,由于杂质偏析,出现杂质分配现象叫杂质分凝。
扩散:物质内部热运动导致原子或分子迁移的过程。
热对流:液体或气体流过固体表面时,由于固体对液体或气体分子有吸附与摩擦作用,于是从固态表面带发挥或给于固体以热,这种传递热的方式叫热对流。
热应力:是压缩力,也可以叫拉伸力,要看液体中心部位对边缘部分的相对收缩或膨胀而定,大小取决于晶体的温场分布。
温度梯度:只温度在某方向的变化率用DT/DR表示,指某点的温度T 在R方向的变化率,在一定距离内某方向的温度相差越大,单位距离内温度变化越大,温度梯度也越大,反之越小。
对石英坩埚的质量要求:1.外观检查:无损伤,无裂纹,无明显划痕,无气泡,无杂质点,100%透明;2.耐高温:在1600°C下经16小时后不变形,不失透,经1500C硅液作用下无白点;3.纯度:%%,其中硼含量小于 10ppm; 4.直径公差土; 5.高度公差土 1 mm。
对高纯石墨的要求:纯度高,强度大,结构致密均匀,无孔洞,无裂纹,耐磨。
直拉单晶工艺常识 Document number:NOCG-YUNOO-BUYTT-UU986-1986UT直拉单晶工艺常识硅的固态密度:克/㎝,液态密度克/㎝,呈灰色金属光泽,性质较脆,切割时易断裂,比重较小,硬度较大,属于非金属,是极为重要的半导体元素,液态时其表面张力较大,从液态到固态时体积膨胀较多。
氧在硅晶体中的分布是不均匀的,一般头部含量高,尾部含量低,晶体中心部位含量高,边缘含量低。
碳在晶体中的分布是中心部位低,边缘部位高。
电阻率:单位面积材料对于两平行平面垂直通过电流的阻力,晶向:一簇晶列的取向。
母合金:生产上常常将掺杂纯元素“稀释”成硅熔体叫做母合金。
偏度:晶体自然中轴线与晶向之间的夹角度数。
空穴:半导体价带结构中一种流动的空位,其作用就像一具具有正效质量的正电子荷一样。
迁移率:载流子在单位电场强度作用下的平均漂移速度。
载流子:固体中一种能传输电荷的载体,又称电载流。
少数载流子寿命:在光电作用下,非平衡少数载流子由产生到复合存在的平均时间。
杂质分凝:在结晶过程中,由于杂质偏析,出现杂质分配现象叫杂质分凝。
扩散:物质内部热运动导致原子或分子迁移的过程。
热对流:液体或气体流过固体表面时,由于固体对液体或气体分子有吸附与摩擦作用,于是从固态表面带发挥或给于固体以热,这种传递热的方式叫热对流。
热应力:是压缩力,也可以叫拉伸力,要看液体中心部位对边缘部分的相对收缩或膨胀而定,大小取决于晶体的温场分布。
温度梯度:只温度在某方向的变化率用DT/DR表示,指某点的温度T 在R方向的变化率,在一定距离内某方向的温度相差越大,单位距离内温度变化越大,温度梯度也越大,反之越小。
对石英坩埚的质量要求:1.外观检查:无损伤,无裂纹,无明显划痕,无气泡,无杂质点,100%透明;2.耐高温:在1600℃下经16小时后不变形,不失透,经1500℃硅液作用下无白点;3.纯度:%%,其中硼含量小于10ppm;4.直径公差±;5.高度公差±1mm。
直拉单晶硅的制备工艺内容提要:单晶硅根据硅生长方向的不同分为区熔单晶硅,外延单晶硅和直拉单晶硅。
直拉单晶硅的制备工艺一般包括多晶硅的装料和熔化,种晶,缩颈,放肩,等径和收尾。
目前,单晶硅的直拉生长法已经是单晶硅制备的主要技术,也是太阳电池用单晶硅的主要制备方法。
关键词:直拉单晶硅,制备工艺一,直拉单晶硅的相关知识硅单晶是一种半导体材料。
直拉单晶硅工艺学是研究用直拉方法获得硅单晶的一门科学,它研究的主要内容:硅单晶生长的一般原理,直拉硅单晶生长工艺过程,改善直拉硅单晶性能的工艺方法。
直拉单晶硅工艺学象其他科学一样,随着社会的需要和生产的发展逐渐发展起来。
十九世纪,人们发现某些矿物,如硫化锌、氧化铜具有单向导电性能,并用它做成整流器件,显示出独特的优点,使半导体材料得到初步应用。
后来,人们经过深入研究,制造出多种半导体材料。
1918年,切克劳斯基(J Czochralski)发表了用直拉法从熔体中生长单晶的论文,为用直拉法生长半导体材料奠定了理论基础,从此,直拉法飞速发展,成为从熔体中获得单晶一种常用的重要方法。
目前一些重要的半导体材料,如硅单晶,锗单晶,红宝石等大部分是用直拉法生长的。
直拉锗单晶首先登上大规模工业生产的舞台,它工艺简单,生产效率高,成本低,发展迅速;但是,锗单晶有不可克服的缺点:热稳定性差,电学性能较低,原料来源少,应用和生产都受到一定限制。
六十年代,人们发展了半导体材料硅单晶,它一登上半导体材料舞台,就显示了独特优点:硬度大,电学热稳定性好,能在较高和较低温度下稳定工作,原料来源丰富。
地球上25.8%是硅,是地球上锗的四万倍,真是取之不尽,用之不竭。
因此,硅单晶制备工艺发展非常迅速,产量成倍增加,1964 年所有资本主义国家生产的单为晶硅50-60 吨,70年为300-350 吨,76年就达到1200吨。
其中60%以上是用直拉法生产的。
随着单晶硅生长技术的发展,单晶硅生长设备也相应发展起来,以直拉单晶硅为例,最初的直拉炉只能装百十克多晶硅,石英坩埚直径为40毫米到60毫米,拉制单晶长度只有几厘米,十几厘米,现在直拉单晶炉装多晶硅达40 斤,石英坩埚直径达350毫米,单晶直径可达150毫米,单晶长度近2米,单晶炉籽晶轴由硬构件发展成软构件,由手工操作发展成自动操作,并进一步发展成计算机操作,单晶炉几乎每三年更新一次。
直拉单晶工艺常识
硅的固态密度:2.33克/㎝,液态密度2.54克/㎝,呈灰色金属光泽,性质较脆,切割时易断裂,比重较小,硬度较大,属于非金属,是极为重要的半导体元素,液态时其表面张力较大,从液态到固态时体积膨胀较多。
氧在硅晶体中的分布是不均匀的,一般头部含量高,尾部含量低,晶体中心部位含量高,边缘含量低。
碳在晶体中的分布是中心部位低,边缘部位高。
电阻率:单位面积材料对于两平行平面垂直通过电流的阻力,
晶向:一簇晶列的取向。
母合金:生产上常常将掺杂纯元素“稀释”成硅熔体叫做母合金。
偏度:晶体自然中轴线与晶向之间的夹角度数。
空穴:半导体价带结构中一种流动的空位,其作用就像一具具有正效质量的正电子荷一样。
迁移率:载流子在单位电场强度作用下的平均漂移速度。
载流子:固体中一种能传输电荷的载体,又称电载流。
少数载流子寿命:在光电作用下,非平衡少数载流子由产生到复合存在的平均时间。
杂质分凝:在结晶过程中,由于杂质偏析,出现杂质分配现象叫杂质分凝。
扩散:物质内部热运动导致原子或分子迁移的过程。
热对流:液体或气体流过固体表面时,由于固体对液体或气体分子有吸附与摩擦作用,于是从固态表面带发挥或给于固体以热,这种传递热的方式叫热对流。
热应力:是压缩力,也可以叫拉伸力,要看液体中心部位对边缘部分的相对收缩或膨胀而定,大小取决于晶体的温场分布。
温度梯度:只温度在某方向的变化率用DT/DR表示,指某点的温度T在R方向的变化率,在一定距离内某方向的温度相差越大,单位距离内温度变化越大,温度梯度也越大,反之越小。
对石英坩埚的质量要求:1.外观检查:无损伤,无裂纹,无明显划痕,无气泡,无杂质点,100%透明;2.耐高温:在1600℃下经16小时后不变形,不失透,经1500℃硅液作用下无白点;3.纯度:sio 299.99%-99.999%,其中硼含量小于10ppm;4.直径公差±1.5mm;5.高度公差±1mm。
对高纯石墨的要求:纯度高,强度大,结构致密均匀,无孔洞,无裂纹,耐磨。
装料结束加热前应检查的项目:水路是否畅通,电气是否正常,机械震动是否正常,取光口是否对好。
跳硅的含义及如何避免跳硅?
跳硅是指熔硅过程中熔硅在坩埚中沸腾并出现飞溅出来的现象;避免跳硅1.仔细挑选石英坩埚和多晶硅;2.熔硅时温度不能过高;3.流动气氛下熔硅;4.挂边和搭桥时要及时降温;5.增大氩气,降低温度,提高埚位。
拉晶过程中,埚转不稳什么原因?相应的解决方法?
答:1.坩埚轴卡滞现象(清除波纹管杂质);2.楔形带松动(调整楔形带张力);3.测速电机有问题(检查测速电机刷头或更换测速电机);4.坩埚轴定位轴工作不良(清洁润滑轴或更换轴承);5.
给定电位器接触不良(更换电位器)。
过流产生的原因及排除方法?
答:1.加热器打火;2.氩气不纯;3.加热电极与炉内绝缘差;4.高温挥发杂质过多;解决方法:清理所有石墨件,连接件;低温大氩气长时间煅烧;更换绝缘体,提高绝缘度,改变氩气纯度;电极对地电阻10欧。
籽晶升降不稳有抖动现象什么原因?解决方法?
答:1.卷丝轮与牵引套链接松动;2.钢丝绳有毛刺或折痕;3.减速机润滑不良;4.电刷器接触不良。
方法:加固卷丝轮与牵引套、更换钢丝绳、清洁润滑、清理调整电刷环。
硅电阻受那几个方面的影响?
答:1.熔体的杂质分凝。
2.杂质的挥发。
3.杂质的沾污
影响晶体成晶的条件?
答:1.锅位;2.料的纯度;3.水平;4.热场纵向、横向的温度的合适;5.真空泵及真空泵油;6.抽气孔及抽气管道是否堵塞;7.籽晶的位错;8.氩气的纯度;9.机械震动。
什么是位错?产生位错的原因?测量位错的方法主要有哪些?
答:位错就是晶体中由于原子错乱自己引起的具有伯斯矢量的一种线缺陷;原因:1.籽晶中原有的位错随着晶体在生长不断延伸的情况;2.热应力引起的塑性变形,杂质添加引起的晶格应变;3.空位在晶体中的扩散积聚以及液面波动、机械震动等,都会使正在生长中的晶体产生错位。
测量方法:腐蚀坑法、杂质沉淀法、X光法。
如何提高单晶硅纵向电阻率的均匀性?
答:提高头部拉速降低电阻率,降低尾部拉速提高尾部电阻率。
拉晶过程中旋转所起的作用?
答:旋转可以起到热对称作用;旋转有搅拌作用,可以控制熔体的流动,保持熔体合理的纵向和晶向温度梯度,促进杂质在熔体内的均匀扩散,调节生长界面的形状.。
什么是漏硅?前兆有那些?应如何处理?
答:漏硅是指拉晶过程中因坩埚破裂导致的硅液泄漏的现象;前兆:电流电压表不稳,炉内有黑烟,液面出现漩涡并逐渐下降;处理方法:开大氩气,降温停炉,升埚。
拉单晶过程中氩气所起的作用
(1)保护气体 (2)减压作用 (3)增强蒸发效应,降低分凝效应.
导流桶的作用
(1)保温 (2)使纵向梯度变平缓,使径向梯度变小 (3)使晶体缓
慢冷却 (4)控制气流流动方向.。