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多光束干涉原理
多光束干涉是一种光学现象，它是由多束光线相互干涉而产生的。
在多光束干涉中，光线经过不同路径传播后再相遇，产生干涉现象。
多光束干涉原理是光的波动性质所决定的，它是光学中重要的现象之一。
多光束干涉的原理可以用干涉条纹来解释。
当两束光线相互干涉时，它们的光程差会导致光的相位发生变化，从而产生明暗交替的条纹。
在多光束干涉中，不同的光线经过不同的路径传播后再相遇，它们的光程差会导致不同的干涉条纹。
这些干涉条纹的分布规律可以用来研究光的波动性质和介质的光学性质。
多光束干涉的原理还可以用干涉仪来实验。
干涉仪是一种用来观察干涉现象的仪器，它可以产生多束光线并使它们相互干涉。
通过干涉仪可以观察到干涉条纹的形成和分布，从而研究光的波动性质和介质的光学性质。
多光束干涉的原理在实际应用中具有重要意义。
例如，在光学显微镜和干涉测量仪中，都会利用多光束干涉原理来实现光学成像和精密测量。
通过对多光束干涉原理的研究和应用，可以更好地理解光的波动性质和介质的光学性质，从而推动光学技术的发展和应用。
总之，多光束干涉原理是光学中重要的现象之一，它是由光的波动性质所决定的。
通过对多光束干涉原理的研究和应用，可以更好地理解光的波动性质和介质的光学性质，从而推动光学技术的发展和应用。
多光束干涉原理的研究不仅有理论意义，还具有重要的应用价值，对光学技术的发展和应用具有重要的推动作用。
多光束干涉技术与全息成像近年来，随着科技的不断发展，多光束干涉技术和全息成像成为了研究热点。
这两项技术的发展不仅在科学研究领域有着重要的应用，同时也在工业、医学等领域发挥着重要的作用。
本文将分别介绍多光束干涉技术和全息成像的原理和应用。
多光束干涉技术是一种利用多束光波相互干涉的技术。
它的原理是通过将多束光波进行叠加，形成干涉图样，从而得到目标物体的信息。
多光束干涉技术的应用十分广泛，其中最重要的应用之一是光学显微镜。
传统的显微镜只能观察到目标物体的表面形态，而多光束干涉技术可以通过干涉图样获取到目标物体的三维形态信息。
这种技术的发展使得科学家们能够更加深入地研究微观世界。
除了在科学研究领域的应用外，多光束干涉技术还在工业领域有着广泛的应用。
例如，在半导体制造过程中，多光束干涉技术可以用于检测芯片表面的缺陷。
传统的检测方法往往需要将芯片放大数百倍才能观察到缺陷，而多光束干涉技术可以通过干涉图样直接检测到缺陷的存在，大大提高了检测效率。
全息成像是一种利用光的干涉原理来记录和再现物体的全息图像的技术。
全息成像的原理是将物体的信息记录在光的干涉图样中，然后通过光的再次干涉来恢复出物体的图像。
与传统的摄影技术相比，全息成像可以记录下物体的全部信息，包括形状、大小、颜色等，而不仅仅是表面形态。
这使得全息成像在三维显示、虚拟现实等领域有着广泛的应用。
全息成像的应用不仅局限于科学研究领域，还在医学领域有着重要的应用。
例如，全息成像技术可以用于医学影像的重建。
传统的医学影像技术往往只能提供二维的图像信息，而全息成像技术可以提供三维的图像信息，这对于医生们来说是非常重要的。
通过全息成像技术，医生们可以更加准确地判断病变的位置和形态，从而为患者提供更好的治疗方案。
总之，多光束干涉技术和全息成像是两项在科学研究、工业和医学等领域有着重要应用的技术。
它们的发展不仅丰富了人们对于光学现象的认识，同时也为各个领域的发展带来了新的机遇和挑战。
多光束干涉现象的分析在物理学中，干涉现象是一种光的波动性质的表现。
而多光束干涉现象则是指多个光束相互干涉的现象。
多光束干涉现象的研究对于了解光的波动性质、光的干涉现象以及光的相互作用具有重要意义。
本文将对多光束干涉现象进行一定的分析和探讨。
首先，我们需要了解什么是干涉。
干涉是指两个或多个光波相互叠加形成新的波纹图案的现象。
在干涉过程中，光波的振幅和相位会发生变化，从而产生干涉条纹。
干涉现象是光波的一种波动性质，它可以通过干涉实验来观察和研究。
对于多光束干涉现象，我们可以通过双缝干涉实验来进行研究。
双缝干涉实验是一种经典的干涉实验，它的原理是将光通过两个相隔一定距离的狭缝，使得光波在缝口处发生干涉。
当光波通过两个缝口后，它们会形成一系列交替的明暗条纹，即干涉条纹。
这些干涉条纹的形成是由于光波的相长干涉和相消干涉所引起的。
在双缝干涉实验中，我们可以观察到干涉条纹的宽度和间距随着缝宽和缝间距的变化而改变。
这是因为干涉条纹的宽度和间距与光波的波长以及缝宽、缝间距等因素有关。
当光波的波长较小，缝宽和缝间距较大时，干涉条纹的宽度和间距也会相应增大。
相反，当光波的波长较大，缝宽和缝间距较小时，干涉条纹的宽度和间距会减小。
除了双缝干涉实验，我们还可以通过其他实验来观察多光束干涉现象。
例如，利用多个反射镜或折射镜，可以将光束引导到一个共同的点上，从而形成干涉现象。
这种实验常用于研究激光的干涉特性。
激光是一种具有高度相干性的光，它的波长和相位非常稳定，因此可以产生非常清晰的干涉条纹。
多光束干涉现象的研究不仅在理论上具有重要意义，也在实际应用中有着广泛的应用。
例如，在光学仪器中，多光束干涉现象可以用于测量物体的形状和表面特性。
通过观察干涉条纹的变化，可以推断出物体的形状和表面的高低变化。
这在光学测量和光学成像等领域具有重要的应用价值。
此外，多光束干涉现象还可以用于光学通信和光学计算等领域。
在光学通信中，多光束干涉可以用于增强光信号的传输和接收效果。
多光束干涉原理
多光束干涉是一种光学现象，它是由多束光波相互叠加而产生的干涉现象。
在
多光束干涉中，多束光波相互叠加后会形成一种特殊的干涉图样，这种图样可以用来研究光的波动性质，也可以用来测量光的波长、光的相位等。
多光束干涉的原理可以用菲涅尔-基尔霍夫原理来解释。
根据菲涅尔-基尔霍夫
原理，光波在传播过程中会受到各种障碍的影响，这些影响会导致光波的相位发生变化。
当多束光波相互叠加时，它们的相位差会导致干涉现象的产生。
具体来说，当两束光波相遇时，如果它们的相位差为整数倍的波长，那么它们就会发生相长干涉；如果相位差为半波长的奇数倍，那么它们就会发生相消干涉。
通过这种方式，多光束干涉就可以形成一系列明暗条纹，这些条纹的位置和形状可以用来研究光波的性质。
多光束干涉在实际应用中有着广泛的用途。
例如，在光学显微镜中，可以利用
多光束干涉来观察微小物体的细节结构；在光栅光谱仪中，可以利用多光束干涉来测量光的波长和频率；在激光干涉仪中，可以利用多光束干涉来测量物体的形状和表面质量。
由于多光束干涉具有高分辨率、高灵敏度和非接触性等优点，因此在科学研究和工程技术中得到了广泛的应用。
总之，多光束干涉是一种重要的光学现象，它可以用来研究光的波动性质，也
可以用来测量光的波长、光的相位等。
在实际应用中，多光束干涉具有广泛的用途，它在科学研究和工程技术中发挥着重要的作用。
希望通过对多光束干涉原理的深入理解和研究，可以进一步推动光学领域的发展，为人类社会的进步做出更大的贡献。
多光束干涉原理的应用引言多光束干涉原理是光学中重要的基础原理之一，它在科学研究和工程应用中有着广泛的应用。
本文将介绍多光束干涉原理的基本概念，以及其在实际应用中的几个典型案例。
多光束干涉原理简介多光束干涉原理是指两个或多个光波在空间中相遇时，根据波的叠加原理产生相干干涉的现象。
在干涉中，光波的波动特性会相互干涉，使得干涉图样的强弱和形状发生变化。
多光束干涉主要包括Young干涉和Michelson干涉等。
多光束干涉在光学显微镜中的应用光学显微镜是一种非常常见的光学仪器，用于放大和观察微小物体。
多光束干涉在光学显微镜中有着重要的应用。
通过在显微镜中引入多光束干涉，可以提高显微镜的分辨率和成像清晰度，使得微观物体的细节更加清晰可见。
具体应用中，可以使用多光束干涉技术构建一种称为共焦显微镜的显微镜系统。
共焦显微镜利用不同光束的干涉特性，可以产生非常高分辨率的图像，使得观察物体的分辨率可以达到纳米级别。
这种显微镜在生物医学研究和材料科学等领域有着广泛的应用。
多光束干涉在光谱分析中的应用光谱分析是一种重要的物质检测和分析手段，通过分析物质的吸收、发射或散射光谱，可以获得物质的组成和性质信息。
多光束干涉在光谱分析中也发挥着关键的作用。
多光束干涉可以通过分光仪将不同波长的光波分离出来，并进行干涉分析。
例如，Michelson干涉仪可以将入射的白光分解成不同波长的光束，并通过干涉现象来分析各波长光的强弱和相位差。
这种方法在光谱仪器中应用广泛，可以用于分析物质的组成和测量光学材料的性质。
多光束干涉在全息投影中的应用全息投影是一种基于多光束干涉原理的先进影像技术，它可以产生逼真的三维图像。
多光束干涉在全息投影中的应用使得投影出的图像具有立体感和深度，可以提供更加真实的观感体验。
在全息投影中，光波经过干涉后产生的光栅可以将物体的三维信息编码到光场中。
通过适当的光栅和成像系统，可以实现透过特定光场观察到真实的三维图像，产生出立体投影效果。
平行平板多光束干涉随着科技的进步，光学干涉技术已经得到了广泛的应用。
而其中，多光束干涉技术应用最为广泛。
平行平板多光束干涉技术是一种可靠性较高、测量精度较高的干涉技术。
下面将对该技术进行详细介绍。
核心原理平行平板多光束干涉用于测量薄物体的折射率和薄膜的厚度。
该技术核心原理是：在一束光线入射到平行平板上时，会根据介质的折射率的不同而发生不同的折射，光线在平板内部会产生多次反射和折射。
光束在平板内部反射时，沿固定的几何光程差路径产生干涉，这种干涉被称为多光束干涉。
略微改变平板之间的距离会改变光程差，再加上干涉因子引起的相位差，就可以使得测量物体的折射率和薄膜厚度。
测量过程测量过程大致可以分为以下步骤：1.平行平板的安装：将平行平板安装到光路上，要保证被测物体与光路垂直，同时两块平板之间也需要保持平行。
2.点亮光源：使得光线可以通过平行平板，一般使用激光、白光源或自然光。
3.调整干涉：使用干涉仪调整干涉以获得需要的角度和颜色条纹。
调整的过程中要保证两组相邻条纹一致，以及全色条纹数量相等。
4.改变平板间距：改变平板之间的距离以取得更丰富的干涉图。
5.计算：测量得到的干涉图可以通过计算获得物体的折射率和膜厚等信息。
应用领域平行平板多光束干涉技术主要用于以下几个领域：1.材料科学：该技术可以用于测量材料的折射率和厚度，可以进行材料结构、性质的研究。
2.制造业：可以应用于金属表面贴膜的质量检测，以及高精密零部件生产过程中的质量控制。
3.生物医学：可以应用于细胞、组织厚度以及其它生物医学材料的测量，成为细胞、组织学及病理学的重要技术手段。
优点和局限平行平板多光束干涉技术具有以下优点：1.干涉带宽、干涉顺序和干涉展宽灵活，可根据需要进行调节。
2.可以用来测量材料的折射率和膜厚度等重要信息。
3.成像精度高，分辨率高，适用于精密制造。
但同时也存在一些局限性：1.样品必须需要在平行的两个表面之间，且不能有空气或其它介质。
光的干涉与多光束实验探究光的干涉是光学中重要的现象，可以用于解释波动性质以及探究光的性质。
多光束实验是一种常用的实验方法，通过多个光源产生的光束进行干涉，进一步加深对干涉现象的理解。
本文将探究光的干涉以及多光束实验的原理和应用。
一、光的干涉原理光的干涉是指两个或多个光波在空间中相遇叠加，干涉产生新的波的现象。
根据光波的性质，干涉可以分为同源干涉和自发干涉。
1. 同源干涉同源干涉是指来自同一光源的两个或多个相干光波在空间中相遇叠加形成干涉图样的现象。
对于同一光源产生的光波，它们具有相同的频率、相位、波长和振幅，因此在相遇时会产生明暗相间的干涉条纹。
同源干涉可以通过干涉仪来观察和研究。
干涉仪根据不同的干涉原理和实验要求，可以分为杨氏双缝干涉仪、杨氏单缝干涉仪、牛顿环干涉仪等。
其中，杨氏双缝干涉仪是最基本的干涉仪型式之一，它通过将光线通过一块光栅或者双缝，使光波发生干涉，从而观察到干涉条纹。
2. 自发干涉自发干涉是指来自不同光源的两个或多个相干光波在空间中相遇叠加形成干涉图样的现象。
自发干涉可以通过人工制造或自然产生的干涉光源来实现，例如在双光束干涉仪中，将来自不同光源的光束通过反射或透射使其相遇，观察到干涉现象。
二、多光束实验原理与应用多光束实验是利用多个光源产生的光束进行干涉实验，旨在探究光的波动性质和干涉现象。
1. 多光束的产生多光束可以通过多种方式产生，其中一种常见的方式是使用半透明镜或分束镜来分离来自同一光源的光束。
分束镜是一种光学元件，可以将来自光源的光束按照不同的方向进行分离，进而形成多个光束。
另一种方式是使用多个独立的光源，通过调整光源之间的相位差或路径差，使光束相遇并产生干涉。
2. 多光束实验的应用多光束实验在科学研究和工程应用中具有重要作用。
在科学研究领域，多光束实验可以用于研究光波的干涉现象，进一步揭示光的性质和行为。
例如，利用多光束实验可以研究颜色干涉、Michelson干涉仪、薄膜干涉等现象，并推导出与干涉相关的光学公式和理论。
多光束干涉的过程和原理
多光束干涉是一种干涉现象，它涉及到两个或更多个光波的干涉。
这些光波可以来自不同的光源，也可以来自同一光源的不同部分。
以下是多光束干涉的原理和过程。
1. 原理
多光束干涉的原理基于光波的相位差。
当两个或更多个光波相遇时，它们会相互干涉。
如果它们处于同一相位，它们将会增强，而如果它们处于相反相位，它们将会抵消。
2. 过程
多光束干涉的过程可以通过杨氏双缝干涉实验来理解。
在这个实验中，一束单色光穿过两个非常细小的缝隙，这些缝隙被称为“双缝”。
光线通过双缝后形成了一系列的光波，这些光波会相互干涉。
在某些地方，这些光波会相加，形成亮条纹，而在其他地方，这些光波会相消，形成暗条纹。
这种亮暗条纹的形成是由于光波的相位差所引起的。
另一种多光束干涉的例子是薄膜干涉。
在这种情况下，光线穿过一个薄膜，因为不同的波长具有不同的相位差，所以会产生干涉条纹。
这些条纹可以用来确定薄膜的厚度。
总之，多光束干涉是一种重要的干涉现象，它可以用来测量光学元件的性质，如薄膜的厚度和折射率。
光学实验中多光束干涉的技巧与应用光学实验中多光束干涉是一种重要的实验技术，广泛应用于光学领域的研究与实践中。
本文将介绍多光束干涉的原理和技巧，并探讨它在实验研究和应用中的一些典型案例。
一、多光束干涉的原理多光束干涉是指当多束光线相互叠加或相互干涉时所产生的干涉效应。
其原理基于光波的波动性和叠加原理。
实验中常用的多光束干涉装置包括杨氏双缝干涉实验、光栅干涉实验等。
杨氏双缝干涉实验是最基础的多光束干涉实验之一。
其装置包括一块具有两个狭缝的屏幕、一束单色光和一个幕后观察屏。
单色光通过两个狭缝后，将形成一系列等间距的亮暗条纹。
这些条纹是由两束光线的干涉所产生的，亮条纹对应着相长干涉，暗条纹则对应着相消干涉。
光栅干涉实验则是一种更加复杂的多光束干涉实验。
光栅是由许多平行等间距的透明或不透明条纹组成的光学元件。
入射光通过光栅后，会发生衍射和干涉现象，形成一系列明暗相间的光斑。
这些光斑的位置和强度分布可用于研究光的波长、线宽以及对物质的相互作用等。
二、多光束干涉的技巧在进行多光束干涉实验时，我们需要注意一些实验技巧，以确保实验结果的准确性和稳定性。
首先，实验室应具备良好的光学实验条件，包括光线稳定、实验装置对齐准确以及干涉环境的控制等。
光线的稳定性对于多光束干涉实验至关重要，我们需要保证光源的稳定性，以及用于探测干涉图样的光学设备的准确性。
其次，调整实验装置时，应注重各个光学元件的对齐和调整。
例如，在杨氏双缝干涉实验中，我们需要将两个狭缝和观察屏之间的距离、狭缝的宽度以及入射光的角度等参数进行调整，以获得清晰的干涉条纹。
此外，实验中还需要注意光的偏振状况对干涉实验的影响。
偏振光干涉实验可以通过调整偏振片的方向来研究光的偏振特性，并且在一些特殊材料的研究中具有广泛的应用。
三、多光束干涉的应用多光束干涉在科学研究和实际应用中发挥着重要的作用。
下面将介绍一些典型的应用案例。
1. 光学液晶显示器光学液晶显示器是一种利用多光束干涉原理来控制光的透射和反射的装置。
研究物理光学中的多光束干涉现象物理光学是研究光的传播和相互作用的学科，其中多光束干涉现象是一个引人注目的研究领域。
多光束干涉现象是指当两个或更多个光束相互叠加时，产生的干涉效应。
这种现象不仅在实验室中可以观察到，也广泛应用于光学仪器和技术中。
多光束干涉现象的研究对于理解光的波动性质和光的相干性具有重要意义。
干涉现象的产生是由于光的波动性质，当两个或多个光束相遇时，它们会相互叠加，形成干涉图样。
这种叠加可以是构成性干涉，也可以是破坏性干涉，取决于光束的相位差。
在多光束干涉实验中，常见的装置是干涉仪。
干涉仪通常由一个光源、分束器、反射镜和检测器组成。
光源发出的光经过分束器分成两束，分别经过反射镜反射后再次相遇，形成干涉图样。
通过检测器可以观察到干涉图样的变化。
多光束干涉现象的应用非常广泛。
在光学仪器中，干涉仪被用于测量物体的形状和表面的粗糙度。
通过观察干涉图样的变化，可以得到物体的形状信息。
此外，干涉仪还可以用于测量光的波长和折射率，以及检测光学元件的质量。
除了在实验室和光学仪器中的应用，多光束干涉现象还在光学技术中发挥着重要作用。
例如，激光干涉仪是一种利用多光束干涉现象来测量物体形状和表面粗糙度的仪器。
激光干涉仪的原理是将激光束分成两束，分别照射到物体上，然后通过干涉图样来测量物体的形状和表面的粗糙度。
此外，多光束干涉现象还在光学通信中发挥着重要作用。
光纤通信是一种利用光的波动性质传输信息的技术。
在光纤通信中，光信号经过光纤传输时会受到干涉效应的影响。
通过研究多光束干涉现象，可以优化光纤通信系统的传输性能，提高数据传输速率和传输距离。
总之，多光束干涉现象是物理光学中一个重要的研究领域。
通过研究多光束干涉现象，可以深入理解光的波动性质和光的相干性。
多光束干涉现象的研究不仅在实验室中有重要意义，也广泛应用于光学仪器和技术中。
通过应用多光束干涉现象，可以实现物体形状的测量、光学元件的质量检测以及光纤通信系统的优化。
i极小转角的多光束干涉在线测量引言：文章就极小转角的测量提出利用F-P干涉仪的想法。
利用光学器件具有误差小测量精度优势，探究了利用现有的F-P干涉仪原理，并在此基础上进一步改进，进而实现其精确测量极小转角的目的。
关键字：极小转角多光束干涉在线测量。
下图为F-P干涉仪的简易图1．多光束干涉由于F-P干涉仪利用分振幅多光束干涉，所以先对多光束干涉进行理论推导。
利用透明薄透镜的第一个表面和第二个表面对光波的依次反射，将入射光的振幅分为若干部分，并由各部分光波再次相遇产生干涉。
假设入射光波的振幅为A，薄膜上下表面对光波的振幅反射比分别为r1、r'2(外表面反射)和r'1和r2（内表面反射），相应的振幅投射比分别为t1、t'2（自外向内）和t'1、t2（自内向外），则反射光波的振幅依次为r1A，r2t1t'1A，r22r'1t1t'1A ，r32r2'1t1t'1A …透射光波的振幅依次为t1t2A，r2r'1t1t2A，r22r2'1t1t2A，r32r3'1t1t2A，…若n1=n2,则r1=r'2=r, r2= r'1=r', t1= t'2=t'。
i1=i'2=i。
于是根据斯托克斯倒易关系（|r|=|r'|，r2+tt'=1）得反射光波振幅：rA，r（1-r2）A，r3(1-r2）A，r5（1-r2）A，；透射光波振幅：（1-r2）A，r2（1-r2）A，r4（1-r2）A，r6（1- r2）A，若振幅反射比r比较小，则多次反射可以忽略，这时只需要考虑前两束反射光和透射光的影响，从而可以使薄膜多光束干涉简化为双光束干涉，而且两束反射光波振幅近似相等，干涉图样的衬比度近似等于1；两束投射光光波振幅相差较大，其干涉图样衬比度小于1。
若振幅反射比r比较大,则相邻反射光合投射光光波振幅相差不大,各光束对叠加的贡献不可忽略,薄膜干涉变为不等强度的多光束干涉,这正是我们要研究的问题。
下面来讨论两相邻光束的光程差和相位差由图可知，经薄膜上下表面反射或者透射的两束光波得光程差和相位差主要是由于光波在薄膜中的传播产生，而且考虑到光波在两种分界面反射时会存在半波损失或者相位突变。
因此俩反射光和透射光之间的总相位差应包含几何相位差和附加相位差俩部分。
由于我们主要研究和利用透射光所以这里仅研究投射光。
由于玻璃薄膜两侧均为空气，所以满足n 1,n 2，<n 。
此时不存在半波损失，仅研究其几何相位差即可。
其光程差可表示为∆=nih cos 2- n 1（2htani ）*(sini 1)=2hncosi 。
其相位差δ=λπ2∆=λπ4hncosi 。
2、F-P 干涉仪 仪器简介：F-P 是一种基于薄膜分振幅干涉原理实现不等强多光束干涉的典型实验装置。
其实验装置如下所示：干涉仪的主要结构是一对结构相同且平行放置的玻璃板和。
两玻璃板相对的表面镀有一层反射率很高的薄膜。
另外一个表面和镀面相交一个很小的角度，使整个玻璃板呈楔形，目的是为了消除玻璃板俩外侧面反射光的干涉对所观察的干涉图样的影响。
当俩个相互平行的玻璃板间距很小时，就相当于一个空气薄膜。
假设玻璃板的折射率是，俩镀面得这幅反射系数为r ，透射系数是t ，面间距是h ，其间充折射率是n 的透明介质，对于俩相邻的光束，其仅仅是多经历在镀面间的两次相同的反射，所以其振幅透射比是。
而是镀面得强度反射率，故而用R 表示。
当入射光束在镀面的入射角度是i时，其相邻俩束光的相位差为，其大小可表示为δ=λπ4hncosi 。
以第一束光的振幅A （1-R ）表示，得到透射光的总叠加强度可以表示为I T =I 0δcos 21)1(22R R R -+-=I222)1()(sin 411R R -+δ式中I 0=A 2为入射光的强度。
由上式可得极大值点和极小值点强度分别为： I max =I 0，...3,2,1,2==j j πδI min =I 022)1()1(R R +-，δ=2(j+1)π，j=1,2,3 下面来讨论I I T 之间的关系图像，由前面我们已知 0I I T =222)1()(sin 411R R -+δ下面通过系列的数据我们利用origin 作图来大体研究下图像形状 分别取R=0.064,0.270,0.640,0.870三种情况时进行研究。
横轴坐标我们在取值研究。
下图为通过origin 作图0I I T 得图像在这里我们取亮条纹上强度等于极值中心强度一半两点之间的相位间距作为亮条纹的宽度度量，称做亮条纹的半值宽度，这里用表示。
由于很小，则当δ=2j 2επ±时，sin 22δ=(4ε)2，将此式代入可以解得 RR )1(2-=ε。
下面通过函数编辑器我们得到图象中X=R,由于0<R<1,所以0<R<1,并且y=R和y=R在[]1,0范围内单调性一致，所以我们这里以R来代替R研究其变化趋势即可。
由上图明显可以看出在[]1,0内透射光干涉条纹的半值宽度ε随着镀面折射率R增大而减小，而且R∞→ε,0;R→1,ε→0。
→实验中应该尽量使变小，这样条纹也就明显，但是随着R增大，折射率会降而生成的干涉条纹整体亮度会变低，故而应该根据实际试验需要选择不同的R值。
F-P干涉仪所形成的干涉图样如下图所示可以看到，干涉图像均匀锐细，相对双光束干涉多光束干涉更适合做试验研究，而本实验就是据次特点进行的研究。
3、关于cosθn和干涉级次N之间关系的探究根据光的相干条件可知，若两束光发生相互干涉增强，其光程差必为波长λ的整数倍。
如果中心是亮条纹则俩束相邻光的光程差为2dcosθ，根据其相干条件，2dcos=kλ，该式k为正整数，由于此时考虑=0，此时可简化为2d= kλ，对于第一级干涉条纹，则应满足2dcos=(k-1)λ。
依次类推下去则可以得到第N级干涉条纹应满足2dcosθn=(k-n)λ，将2d=kλ带入上式可得cosθn=1-n/k。
由此可见，cosθn和n应满足线性关系，下图为采用光源为He-Ne激光器（发光波长为为632.8nm），为了研究的方便，这里取空气折射率n=1，取两镜面的初始距离d=0.6328mm，则可根据一级亮斑求得k=2000.此时cosθn=1-n/2000。
以下为通过100组数据求得cosθn和干涉级次n之间的关系cosθ0=1θ0=0 cosθ1 =0.9995θ1 =1.8119 cosθ2=0.9990θ2=2.5626 cosθ3 =0.9985θ3 =3.1386 cosθ4=0.9980θ0=3.6243 cosθ5 =0.9975θ5 =4.0523 cosθ6=0.9970θ6=4.4392 cosθ7 =0.9965θ7 =4.7951 cosθ8=0.9960θ8=5.1264 cosθ9 =0.9995θ1 =5.4376 cosθ10=0.9950 θ10=5.7320 cosθ11 =0.9995θ1 =6.0120 cosθ12=0.9940θ12=6.2796 cosθ13 =0.9995θ1 =6.5363cosθ14=0.9930θ14=6.7833 cosθ15 =0.9925θ15 =7.0217 cosθ16=0.9920θ16=7.2522 cosθ17 =0.9915θ17 =7.4758 cosθ18=0.9910θ18=7.6928 cosθ19 =0.9905θ19 =7.9039 cosθ20=0.9900θ20=8.1096 cosθ21 =0.9895θ21 =8.3102 cosθ22=0.9890θ22=8.5061 cosθ23 =0.9885θ23 =8.6977 cosθ24=0.9880θ24=8.8851 cosθ25 =0.9995θ25 =9.6687 cosθ30=0.9940θ30=9.9364 cosθ35 =0.9995θ35 =10.7348 cosθ40=0.9940θ40=11.4783 cosθ45 =0.9995θ45=12.1772 cosθ50=0.9940θ50=12.8386 cosθ55 =0.9995θ55=13.4680 cosθ60=0.9940θ60=14.0698 cosθ65 =0.9995θ65=14.6475 cosθ70=0.9940θ70=15.2036 cosθ75 =0.9995θ75=15.7405 cosθ80=0.9940θ80=16.2602 cosθ85 =0.9995θ85=16.7642 cosθ90=0.9940θ90=17.2539 cosθ95 =0.9995θ95=17.7304 cosθ100=0.9940θ100=18.1949根据cosθn=k nk =1-kn，很显然cosθn和和干涉级次N应满足线性关系，下图为俩者之间的关系图示通过数据我们得到干涉级次n和θn图像关系为分析上图我们得到以下结论：d越大，k越大，干涉条纹越密集，而且相邻级次的θ差值越不明显，对仪器的测量精度要求增到，测量误差难以避免。
d越小，k也会随之变小，干涉条纹会变的稀疏，相邻级次的θ差值会明显，但是测量范围会变小。
综合上述，应根据实际的测量要求选择合适的d。
