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目录目录 (1)1目的和范围 (3)2设备 (3)2.1 测试设备 (4)2.2 测试平台 (4)2.3 被测部件 (4)3测试程序 (5)3.1 黑盒测试 (5)3.1.1 接口电气特性测试 (5)3.1.2 外部电源适用性测试 (5)3.1.3 通讯协议测试 (5)3.1.4 容错与异常输入测试 (5)3.1.5 其他规格符合性测试 (5)3.2 白盒测试 (6)3.2.1 电源质量测试 (6)3.2.2 支路电流电压测试 (6)3.2.3 器件电流/电压应力测试 (6)3.2.4 信号完整性 (6)3.2.5 接口电平测试 (6)3.2.6 时序测试 (6)3.2.7 上电初始化可靠性测试 (6)3.2.8 噪声测试 (6)3.2.9 漂移测试 (7)3.2.10 精度测试 (7)3.2.11 频率特性测试 (7)3.2.12 电路稳定性测试 (7)3.2.13 其他单元电路功能/性能测试 (8)3.3 环境/可靠性测试 (8)3.3.1 温湿度环境测试 (8)3.3.2 机械环境测试 (8)3.3.3 功率循环测试 (8)3.3.4 关键器件温升测试 (8)3.3.5 HALT试验 (8)3.4 EMC测试 (9)3.4.1 CE测试 (9)3.4.2 RE测试 (9)3.4.3 ESD测试 (9)3.4.4 EFT测试 (9)3.4.5 电刀抗扰测试 (9)3.5 安全测试 (12)3.5.1 电介质强度测试 (12)3.5.2 单一故障试验 (12)4记录表格 (13)1目的和范围本测试的目的是验证IBP 模块单板的电气特性满足设计要求，以及硬件性能指标满足专标方面的要求。
本验证实用与本公司自开发IBP模块。
2设备2.1测试设备2.2测试平台2.3被测部件3测试程序3.1黑盒测试3.1.1接口电气特性测试主要是用示波器验证TTL接口电平是否符合接口电平标准。
如下：5V TTL 电平高低电平测试3.1.2外部电源适用性测试验证外部供电电压在最高和最低两种状态下，模块是否工作正常。
Make Testing More ValuableMake Testing More Valuable AccoTEST硬件单板及编程(1)---AWG函数Make Testing More ValuableSTSAWGCreateSineData(double *awgData ,UINT dataNumber , double waveCycles , double Vpp , double DCOffset , double phase );STSAWGCreateSineData()Exampledouble awg_pattern[1000]={0.0};STSAWGCreateSineData(&awg_pattern[0],100,1,5,0,180);awgDataA double pointer used to store the first address of AWG waveform data.dataNumberThe data length of AWG waveform.waveCyclesThe cycle count of a sine wave.VppThe peak-to-peak value of a sine waveform.DCOffsetThe DC bias of a sine waveform.PhaseThe phase of a sine wave.Make Testing More Valuable STSAWGCreateTriangleData()STSAWGCreateTriangleData(double *awgData, UINT dataNumber, double waveCycles, double Vpp, double DCOffset, double phase);awgDataA double pointer used to store the first address of AWG waveform data.dataNumberThe data length of AWG waveform.waveCyclesThe cycle count of a triangular wave.VppThe peak-to-peak value of a triangular waveform.DCOffsetThe DC bias of a triangular waveform.PhaseThe phase of a triangular wave.Exampledouble awg_pattern[1000]={0.0};STSAWGCreateTriangleData(&awg_pattern[0],100,4,5,0,0);Make Testing More ValuableSTSAWGCreateSquareData()awgDataA double pointer used to store the first address of AWG waveform data.dataNumberThe data length of AWG waveform.waveCyclesThe cycle count of a square wave.VppThe peak-to-peak value of a square waveform.DCOffsetThe DC bias of a square waveform.dutyCycleThe duty cycle of square waveform.Exampledouble awg_pattern[1000]={0.0};STSAWGCreateSquareData(&awg_pattern[0],100,4,5,0,50);STSAWGCreateSquareData(double *awgData , UINT dataNumber , double waveCycles , double Vpp , double DCOffset , double dutyCycle );Make Testing More ValuableSTSAWGCreateRampData()awgDataA double pointer used to store the first address of AWG waveform data.dataNumberThe data length of AWG waveform.waveCyclesThe cycle count of a ramp wave.startValueThe start value of ramp waveform.stopValueThe stop value of ramp waveform.Exampledouble awg_pattern[1000]={0.0};STSAWGCreateRampData(&awg_pattern[0],100,1,1,5);STSAWGCreateRampData(double *awgData , UINT dataNumber , double waveCycles , double startValue , double stopValue );Make Testing More ValuableSTSEnableAWG()ExampleFOVI VCC(0);STSEnableAWG(&VCC);STSEnableAWG (Floating VI1, Floating VI2, Floating VI3, ……);Floating VI1, Floating VI2, Floating VI3, ……Fill out the VI source name needed to be enabled, Only FPVI10 and FOVI100 can be available.A total of 32 sources can be added.RemarksEnable the synchronization of AWG.Make Testing More ValuableSTSEnableMeas()ExampleFOVI VCC(0);FPVI10 VIN_VOUT(0);STSEnableMeas(&VCC,&VIN_VOUT);STSEnableMeas (Floating VI1, Floating VI2, Floating VI3, ……);Floating VI1, Floating VI2, Floating VI3, ……Fill out the VI source name needed to be enabled, Only FPVI10 , FOVI100 and QVM can be available.A total of 32 sources can be added.RemarksThis function is used to enable synchronous measurement.Make Testing More ValuableSTSAWGRun()ExampleStsAWGRun();STSAWGRun (delayTime );delayTimeSet delay time. An INT variable. Ranges:0ms ~ 60000ms.After AWG outputs the specified delayTime, the system will allow the functions next to STSAWGRun() to be executed.Notes: Normally leave the “delay time”blank. It means that only after the AWG scanning and measurement are completed, the system will allow the functions next to STSAWGRun() to be executed.RemarksThis function is used to make the synchronous of AWG activate.Make Testing More ValuableSTSAWGRunTriggerStop()Examplefovi1.SetMeasVTrig(2,TRIG_FALLING);fovi0.MeasureVI(500,20,MEAS_AWG);fovi1.MeasureVI(500,20,MEAS_AWG);STSEnableAWG(&fovi0); //enable synchronous AWG for fovi0.STSEnableMeas(&fovi0, &fovi1); //Enable synchronous measurement for fovi0 and fovi1.STSAWGRunTriggerStop(&fovi1, &fovi1, &fovi0);//fovi0 and fovi1 will terminate once the trigger event came into effect.STSAWGRunTriggerStop(FloatingVI *viTrigger , FloatingVI *stopVi1, FloatingVI *stopVi2= NULL, …, FloatingVI *stopVi16= NULL);FloatingVI *viTriggerThe name of VI source that is used to set trigger event. The VI source is consistent with the source used in SetMeasVTrig() or SetMeasITrig() function.FloatingVI *stopVi1, FloatingVI *stopVi2, …, FloatingVI *stopVi16The name of VI source that will terminate once the trigger event came into effect. Up to 16 VI source’s name can be added.RemarksOnce the trigger event came into effect, the AWG waveform will immediately terminate.Make Testing More Valuable Difference between STSAWGRun() and STSAWGRunTriggerStop()STSAWGRun() STSAWGRunTriggerStop()Make Testing More ValuableMake Testing More Valuable。
硬件单板详细设计文档模板1. 引言在本文档中，将详细地描述硬件单板的设计。
该设计旨在满足特定需求，并确保硬件单板的性能、可靠性和可扩展性。
本文档将提供硬件单板设计的详细信息，包括硬件组件、接口、电源、尺寸等方面的规格。
2. 总体设计2.1 硬件单板功能描述硬件单板的功能和主要特点，包括所需的输入和输出接口。
2.2 系统框图展示硬件单板与其他系统组件之间的连接关系，包括传感器、处理器、内存等。
2.3 总体架构描述硬件单板的整体架构，包括主要模块的布局和互联方式。
3. 硬件组件设计3.1 处理器描述所选用的处理器类型、主频、存储器等硬件规格。
3.2 存储器包括闪存、RAM等存储器组件的详细设计。
3.3 电源系统描述硬件单板所需的电源系统设计，包括电源输入、功率管理等内容。
3.4 接口设计描述与其他组件之间的接口设计，包括输入输出接口、通信接口等。
4. 物理布局设计4.1 尺寸和外观描述硬件单板的尺寸、外壳材料、散热设计等方面的设计。
4.2 微控制器和传感器的连接描述微控制器和传感器之间的物理连接方式和布局。
4.3 硬件板层间堆叠描述不同硬件板层之间的堆叠方式和间隙。
5. 测试计划5.1 功能测试定义硬件单板的功能测试计划，包括各个模块的测试目标和方案。
5.2 性能测试定义硬件单板的性能测试计划，包括各个性能指标的测试方法和要求。
5.3 可靠性测试定义硬件单板的可靠性测试计划，包括温度、湿度、震动等环境条件下的测试方案。
6. 风险分析分析硬件单板设计中的潜在风险，并提供相应的风险缓解措施。
7. 设计验证描述硬件单板设计的验证方法和步骤，包括实验室测试、原型验证等。
8. 结论总结硬件单板的详细设计文档，并强调设计的主要亮点和创新之处。
通过以上的详细设计文档模板，可以清晰地呈现硬件单板的设计思路、规格和验证计划。
这样的设计文档能够为硬件开发人员提供一个明确的指导，确保设计的正确性和完整性。
同时，该文档也可作为后续项目的参考和文档基础，便于团队成员之间的沟通与合作。
单板硬件测试规范方案1. 引言本文档旨在为单板硬件测试提供一个规范方案，以确保单板硬件的质量和稳定性。
单板硬件测试是产品研发过程中的重要环节，通过对硬件功能和性能的全面测试，可以确认硬件设计是否满足需求，并发现潜在的问题和缺陷。
本文档将详细介绍单板硬件测试的步骤、测试要求和测试报告的格式。
2. 测试步骤2.1 硬件功能测试硬件功能测试用于验证单板硬件的各项功能是否正常工作。
测试步骤如下：1.搭建测试环境：准备测试所需的设备和仪器，包括电源、信号发生器、示波器等。
2.确认测试用例：根据产品需求文档或者设计文档，编写相应的测试用例，明确测试的目标和要求。
3.连接测试设备：根据测试用例，将测试设备正确连接到单板硬件。
4.进行测试：按照测试用例的要求，对单板硬件的各项功能进行测试。
记录测试过程中的数据和观察结果。
5.分析测试结果：根据测试数据和观察结果，判断单板硬件功能是否正常。
6.生成测试报告：根据测试结果，编写测试报告，包括测试目的、测试环境、测试用例、测试结果和结论等内容。
2.2 硬件性能测试硬件性能测试用于评估单板硬件在各种条件下的性能表现。
测试步骤如下：1.确定性能指标：根据产品需求和设计要求，确定硬件性能测试的指标，例如频率响应、信噪比、功率消耗等。
2.搭建测试环境：根据测试指标，准备相应的测试设备和仪器。
配置测试环境，包括信号源、功率计、示波器等。
3.进行测试：按照测试指标和测试条件，对单板硬件进行性能测试。
记录测试过程中的数据和观察结果。
4.分析测试结果：根据测试数据和观察结果，评估单板硬件的性能表现。
5.生成测试报告：根据测试结果，编写测试报告，包括测试目的、测试环境、测试指标、测试结果和结论等内容。
3. 测试要求单板硬件测试的要求如下：1.准确性：测试过程要准确无误，测试结果要可靠可重复。
2.全面性：覆盖所有硬件功能和性能指标，确保测试的全面性。
3.严谨性：测试步骤要详细清晰，测试数据要准确可信。
CC单板调试步骤：
1、单板外观测试
重点外观检查
（1）单板是否有锡渣造成短路；
（2）插件多余的插脚是否遗留在单板上；
（3）器件是否偏位；
（4）电解电容记性是否反了。
2、单板阻抗测试
关键电源是否有短路(万用表打到二极管量测位置) 量测下述位置是否短路
⏹电源入口处（入口连接器D17
⏹所有的钽电容（CP2/3/4）
3、上电
●保证电源电压为24V；
CP2/3/4 为3.3V (万用表打到20V量测)
4、烧写程序
打开 :J-Flash ARM V4.40 选择 Open data file-五轴clampio.hex 插上电源和J-LINK，选择-Program &verify烧写OK
打开 :J-Flash ARM V4.40 选择 Open data file-四轴四轴4ioBoard.hex 插上电源和J-LINK，选择-Program &verify烧写OK
5、整机测试
⏹CAN总线(更换机台五轴IO板)与 RS485(更换机台四轴IO板)总线通
信
⏹开关量输入输出。
单板硬件调试报告一、引言本报告旨在描述和总结单板硬件调试的过程和结果。
在调试过程中，我们使用了一块STM32F103ZET6单片机作为目标控制器，并添加了一些外设电路。
本报告将详细描述所添加的外设电路和单板的硬件调试过程。
二、电路设计和材料清单本次调试使用的外设电路包括：LED指示灯、蜂鸣器、按键、LCD液晶显示屏。
我们在单片机的GPIO口连接了LED灯和按键，同时通过PWM 信号控制蜂鸣器的声音大小。
此外，LCD液晶显示屏通过SPI接口与单片机相连，用于显示相关信息。
三、硬件调试步骤1.检查电路连接：首先，我们对电路连接进行了检查，确保所有连接正确无误。
检查包括检查电源连接、信号线连接以及地线连接等。
确保电路连接正确会大大减少后续调试中可能出现的问题。
2.电源测试：接下来，我们进行了电源测试。
通过连接电源，我们检查了供电电压和电流。
确认供电电压和电流正常后，我们开始进行下一步调试。
3.I/O端口测试：为了验证单片机的I/O端口是否正常工作，我们将通过连接LED灯和按键来进行测试。
我们通过编写相应的程序，实现LED 灯的闪烁和按键的检测。
通过观察LED灯的闪烁和按键的检测情况，我们确认I/O端口正常工作。
4.蜂鸣器测试：接下来，我们进行了蜂鸣器的测试。
通过PWM信号，我们能够控制蜂鸣器的声音大小。
我们通过调整PWM信号的占空比，测试蜂鸣器的不同声音。
5.LCD液晶显示屏测试：最后，我们进行了LCD液晶显示屏的测试。
我们编写了测试程序，在屏幕上显示一些测试信息。
通过观察LCD屏幕上显示的内容，我们确认LCD显示正常。
四、实验结果和讨论经过以上调试步骤，我们成功地测试了单片机的各个外设电路。
LED 灯能够正常闪烁，按键能够正常检测，蜂鸣器能够通过PWM信号产生不同声音，LCD液晶显示屏能够正常显示信息。
通过本次调试，我们对单板硬件的基本功能进行了验证，确保了各个外设的正常工作。
同时，我们也发现了一些问题和改进的空间。
