G652D光纤宏弯损耗测试方法(精)

G652单模光纤衰减均匀性测试方法及精度浅析摘要：G652单模光纤光纤衰减均匀性、衰减点不连续性、双向衰减系数端差等特性是光纤光缆制造厂家非常关心的问题，也是决定了终端用户使用的关键参数。

本文试图搞清光纤衰减均匀性测试的问题，谈点粗浅看法。

关键词：光纤；衰减；测试；精度引言光纤衰减沿轴向均匀性的定义目前按照国标《GB∕T9771.3-2020通信用单模光纤第3部分：波长段扩展的非色散位移单模光纤》给出得定义为：在1310nm和1550nm波长上，光纤后向散射曲线任意2000m长度上，实测衰减系数与全段长平均衰减系数之差的最坏值应不大于0.05dB/km。

国内招标书上（中国电信、中国移动、中国联通）对光纤衰减均匀性要求：衰减谱应具有很好的线性,没有台阶：用OTDR测试任一光纤，任意500长度上的在1310nm和1550nm实测衰减值应不大于（αmean+0.10dB）,αmea n为全长光纤上平均衰减系数值。

现光纤厂使用衰减测试设备大部分OTDR，光纤衰减均匀性、衰减点不连续性、双向衰减系数端差等。

一、基本概念、术语和定义当用OTDR测试光纤衰减时,常会碰到以下几个方面的问题：用OTDR从一段光纤两端测得的衰减值并无差别,但有不连续点；用OTDR从一段光纤（一般为50km以内）两端测得的衰减值并无差别,但衰减系数在整个长度内能够局部改变,当把一长光纤分成若干短段时,短段光纤的衰减系数能够比全长光纤的平均衰减系数大或小；用OTDR从一段光纤两端测得的衰减值不一致。

不连续点、短段光纤衰减系数与长光纤衰减系数不一致、两端测得的衰减值不一致等情况,都可以认为属于光纤衰减均匀性方面的问题。

光纤衰减均匀性,仅说明了短段光纤衰减系数与长光纤衰减系数不一致的情况,为了与国际标准提法一致,本文对以上提到的三种情况给出以下术语和定义,将以上三种情况分别称为光纤衰减局部不连续性点、光纤衰减均匀性、双向光纤衰减不对称性双向衰减差。

g652d光纤标准G652D光纤标准。

G652D光纤是一种常用的单模光纤，其标准是指ITU-T制定的国际标准。

G652D光纤的特性和应用广泛，对于光通信领域具有重要意义。

本文将对G652D光纤的标准进行介绍，包括其特性、应用和标准制定的背景等方面。

G652D光纤的特性。

G652D光纤是一种低损耗、低色散的单模光纤，其典型特性包括：1. 低损耗，G652D光纤在通信波长范围内的传输损耗非常低，能够有效地传输光信号。

2. 低色散，G652D光纤的色散特性良好，能够有效地减小信号在光纤中的传输扩散，提高信号传输的准确性和稳定性。

3. 宽带宽，G652D光纤的带宽较宽，能够支持高速数据传输和多信道传输。

G652D光纤的应用。

G652D光纤广泛应用于光通信系统中，包括长途传输、城域网、数据中心互连等领域。

其主要应用包括：1. 光纤通信网络，G652D光纤作为主干网和接入网的传输介质，能够支持高速、大容量的数据传输，满足不同场景下的通信需求。

2. 光纤传感，G652D光纤还可用于光纤传感领域，如温度、压力、应变等参数的监测和测量。

3. 其他领域，G652D光纤还可应用于医疗、军事、航空航天等领域，满足不同领域对光纤传输的需求。

G652D光纤标准的制定。

G652D光纤的标准制定是为了保证光纤的质量和性能，促进光通信技术的发展。

其标准制定的背景主要包括：1. 技术需求，随着光通信技术的发展，对光纤传输性能的要求越来越高，需要制定相应的标准来保证光纤的质量和性能。

2. 行业发展，光通信行业的快速发展，需要统一的标准来规范光纤产品的生产和应用，促进产业的健康发展。

3. 国际标准，G652D光纤的标准制定是基于国际标准化组织ITU-T的相关标准，以保证光纤产品在国际间的通用性和互操作性。

总结。

G652D光纤作为一种重要的单模光纤，其标准制定对于推动光通信技术的发展具有重要意义。

通过对G652D光纤的特性、应用和标准制定的介绍，可以更好地了解和应用G652D光纤，促进光通信技术的发展和应用。

G.652G.652光纤是目前已广泛使用的单模光纤，称为1310nm性能最佳的单模光纤，又称为色散未移位的光纤。

按纤芯折射率剖面，又可分为匹配包层光纤和下陷包层光纤两类，两者的性能十分相近，前者制造简单，但在1550nm波长区的宏弯损耗和微弯损耗稍大；而后者连接损耗稍大。

主要指标:[1]1、衰减：ITU-T G.652建议规定光纤在1310nm窗口和1550nm窗口的衰减常数应分别小于0.5dB/km和0.4dB/km。

1310窗口目前一般在0.3~0.4dB/km，典型值0.35dB/km；1550窗口目前一般在0.17~0.25dB/km，典型值0.20dB/km。

2、色散：零色散波长的允许范围是1300~1324nm。

在1550nm窗口的色散系数是正的。

在波长1550nm处，色散系数D的典型值是17ps/(nm²km)，最大值一般不超过20ps/(nm²km)。

3、PMD：ITU-T 建议规定，G.652光纤的PMD系数小于0.5ps/(km)^1/2，即400km 光纤的PMD是10ps。

但是，早期铺设的光纤由于受当时的工艺条件限制，PMD 系数有可能较大。

4、模场直径：1310nm处的模场直径是8.6~9.5μm，最大偏差不能超过±10%。

在1550nm处，ITU-T 建议没有规定模场直径，但一般大于0.3μm。

主要特性：G.652单模光纤特性光学特性典型衰减，@1310nm≤0.34 dB/km典型衰减，@1550nm≤0.20 dB/km零色散波长1300-1324nm零色散斜率≤0.092ps/（nm²km）模场直径（MFD） @1310nm9.2±0.4μm偏振模色散（PMD）单根光纤最大值≤0.2ps/√km链路最大值≤0.12ps/√km截止波长λcc≤1260nm有效群折射率（Neff） @1310nm1.4675有效群折射率（Neff） @1550nm1.4680宏弯损耗（60mm直径，100圈）@1550nm≤0.1dB背向散射特性（在1310nm和1550nm处）衰减局部不连续点≤0.05dB衰减均匀性≤0.05dB背向散射衰减系数差异（双向测量）≤0.05dB/km几何特性包层直径125±1μm包层不圆度≤1%芯层/包层同心度误差≤0.5μm涂覆层直径(未着色)245±5μm包层/涂覆层同心度误差≤12.0μm光纤翘曲半径≥4m交货长度（公里/盘）24.7km；25.2km机械性能筛选应力最小值0.69Gpa(100kpsi)涂层剥离力（典型值）1.4N动态疲劳参数Nd≥20环境特性（在1310nm和1550nm）温度特性（-60°C ~+85°C）≤0.05dB/km热老化特性（85°C±2°C，30天）≤0.05dB/km浸水性能（23°C±2°C，30天）≤0.05dB/km湿热性能（85°C±2°C， RH85%，30天）≤0.05dB/kmG.653色散位移光纤针对衰减和零色散不在同一工作波长上的特点，20世纪80年代中期，人们开发成功了一种把零色散波长从 1.3μm移到 1.55μm的色散位移光纤（DSF，Dispersion－ShiftedFiber）。

宏弯测试操作简要说明如下：
1.取合适长度的待测光纤样品，制备光纤端面，分别放置于输入和输出端。

调整端面对中，检查端面质量。

2.将工装及限位开关打开，把样品纤放置于工装20mm或30mm直径圆柱组的中间（以下以30mm宏弯测试为例，
见红色线段标识所示），关闭限位开关，剩余光纤以尽可能大的弯曲弧度放置于测试台上。

限位开关打开30mm
20mm
3.按F1，程序检测无宏弯状态的功率损耗。

4.当屏幕上再次出现对中画面时，轻推工装，使光纤弯曲，检查光纤打圈质量，如有松脱或拉扯的情况，松开工装，
重新打圈：
限位开关关闭
5.按F1，程序开始测试弯曲状态下光功率损耗（注意所有圆柱都参与打圈时：30mm为10圈，20mm为5圈）。

6.测试完成后，屏幕上会给出测试结果。

光纤损耗测试方法及其注意事项1 引言由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势，光纤的使用越来越多。

无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。

2004年2月颁布的TIA/ TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。

该标准建议了两级测试，分别为：Tier 1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性；Tier 2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。

根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。

事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A 和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。

为了方便，我们分别称为：方法A、方法B和方法C。

TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。

那么这三种方法各有什么特点，怎么操作，应该在什么场合下使用呢？这正是本文要阐述的问题。

另外，光纤链路的测试，不同于双绞线链路的测试，又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢？这也是本文想与读者分享的内容。

2 如何测试光纤链路损耗光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。

下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法（以双向测试为例）。

2.1 测试方法A方法A设置参考值时，采用两条光纤跳线和一个连接器（考虑一个方向，如下图上半部分）。

设置参考值后，将被测链路接进来（如下图下半部分），进行测试。

我们不难发现，每个方向的测试结果中包括光纤和一端的连接器的损耗。

因此，方法A 是用来测试这种光缆链路：光纤链路一端有连接器，另一端没有。

天津工业大学毕业论文G.652光纤弯曲损耗的研究姓名学院专业指导教师职称2014年6 月5 日摘要伴随着互联网的进一步普及和高带宽应用，市场对网络带宽的需求持续增长。

最近几年，全球的运营商都将光纤通信网络建设的重点放在光纤接入网。

因此，光纤到户技术FTTH(Fiber To The Home )得到了迅猛的发展。

但是，目前所使用的接入网光纤有一个很大的问题，那就是弯曲损耗过大。

因此，2009年底，国际电信联盟提出了最新的具有弯曲不敏感特性的光纤，也就是G.657光纤，以此来适应市场的需求。

和市场上目前使用最广泛的G.652光纤相比，G657光纤的弯曲损耗比较低，其适用于光纤接入网，包括位于光纤接入网终端的建筑物内的各种布线，甚至是弯曲半径最小的墙角。

本文以研究G652光纤的弯曲损耗为目的，首先分析光纤产生弯曲损耗的机理，然后通过设计合理的弯曲性实验，通过弯曲实验测量出G.652光纤相关的弯曲损耗，对G.652光纤的正确使用有着重要的参考价值以及对光纤技术的发展有重要意义。

关键词：抗弯曲光纤；G.657光纤；损耗；G.652光纤；FTTHABSTRACTWith the further popularization of Internet and the high bandwidth applications, the market demand for network bandwidth growth. In recent years, the global operators will focus on the construction of optical fiber communication network in optical access network. Therefore, FTTH technology FTTH (Fiber To The Home) has been the rapid development. However, there is a big problem at present the use of fiber in the access network, the bending loss is too large. Therefore, at the end of 2009, the International Telecommunication Union presented the latest with fiber bend insensitive fiber, also known as G.657, in order to meet the needs of the market. And on the market at present the most widely used G.652 fiber bending loss compared, G657 fiber is relatively low, which is suitable for optical fiber access network, including the fiber access network terminal building wiring, and even the smallest bending radius.The purpose of this paper is to study the G652 fiber bending loss, first analyzes the mechanism of fiber bending loss, then through bending experiment design is reasonable, the bending experiments of bending loss in fiber G.652 related, is important for correct use of G.652 fiber has important reference value and the development of optical fiber technology.Key words：Bending loss；G.657 fiber；Loss；G.652 fiber；FTTH目录第一章绪论 (1)1.1 课题研究背景 (1)1.2 国内外研究现状和应用情况 (1)1.3 本文主要的结构安排 (3)第二章光纤的损耗极其测量方法 (4)2.1 光纤的损耗 (4)2.1.1 光纤的宏弯损耗 (5)2.1.2 宏弯和微弯对损耗的影响 (6)2.2 测量光纤损耗的方法 (7)2.2.1 截断法测量光纤的损耗 (7)2.2.2 插入法测量光纤的损耗 (7)2.2.3 后向散射法（OTDR）测量光纤的损耗 (8)第三章抗弯曲G.657光纤和G.652光纤的介绍 (9)3.1 G.657光纤分类 (9)3.2 G.657光纤抗弯曲特性 (9)3.2.1 G.657A光纤抗弯曲特性 (9)3.2.2 G.657B光纤抗弯曲特性 (10)3.3 G.657 低弯曲损耗光纤性能分析 (10)3.4 G.652光纤分类 (10)3.5 G.652光纤的主要参数 (11)第四章 G.652光纤的弯曲损耗测量 (12)4.1 实验装置 (12)4.3 实验步骤 (13)4.4 实验数据 (13)4.5 结论与分析 (14)第五章总结 (17)参考文献 (18)附录 (20)1.英文文献 (20)2.中文翻译 (23)致谢 (25)天津工业大学2014届本科生毕业论文第一章绪论1.1 课题研究背景光纤通信是指利用光纤为载体，通过光信号传播来传输信息通信方式，虽然它的出现和发展历史不过三四十年，但是已经给世界通信界带来了巨大的变化。

G652D光纤宏弯损耗测试方法摘要：实现了一种全集成可变带宽中频宽带低通滤波器，讨论分析了跨导放大器-电容(OTA—C)连续时间型滤波器的结构、设计和具体实现，使用外部可编程电路对所设计滤波器带宽进行控制，并利用ADS软件进行电路设计和仿真验证。

仿真结果表明，该滤波器带宽的可调范围为1～26 MHz，阻带抑制率大于35 dB，带内波纹小于0．5 dB，采用1．8 V电源，TSMC 0．18μm CMOS工艺库仿真，功耗小于21 mW，频响曲线接近理想状态。

关键词：Butte光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。

而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。

大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。

因此，掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。

Φ32mm*1宏弯测试更为简便两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。

用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。

分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下，对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计，最后将全部数据汇总，得到图2。

从整体数据汇总图可看出，Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小，且数据相对稳定，重复性好。

当然所抽样品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1 所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的;还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。

专利名称：一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法专利类型：发明专利
发明人：李琳莹,甘露,宋志佗,李秋云
申请号：CN201610725575.9
申请日：20160825
公开号：CN106338381A
公开日：
20170118
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，将待测光纤按照测试要求的弯曲数在四个矩形槽和四个弧形槽组成的密封槽内绕圈布放，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，避免了光纤在四分之一圆弯曲以外发生弯曲而引起新的宏弯损耗对测试结果的影响，减小测试误差，同时，将待测光纤置于检测液中进行测试，进一步抑制了W波对测试结果的影响，从而保证获得的光纤宏弯损耗数值的真实性，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性、稳定性和可靠性。

申请人：电信科学技术第五研究所
地址：610000 四川省成都市锦江区大慈寺路22号
国籍：CN
代理机构：成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人：赵雷
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