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《材料研究方法与测试技术》课程简答题标准答案三简答题（每题4分，共52分）1．X射线的本质是什么？是谁首先发现了X射线，谁揭示了X射线的本质？答：X射线的本质是一种横电磁波？伦琴首先发现了X射线，劳厄揭示了X射线的本质？2对X射线管施加不同的电压，再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度，便会得到X射线强度与波长的关系曲线，称之为X射线谱。
在管电压很低，小于20kv时的曲线是连续的，称之为连续谱。
大量能量为eV的自由电子与靶的原子整体碰撞时，由于到达靶的时间和条件不同，绝大多数电子要经过多次碰撞，于是产生一系列能量为hv的光子序列，形成连续的X射线谱，按照量子理论观点，当能量为eV的电子与靶的原子整体碰撞时，电子失去自己的能量，其中一部分以光子的形式辐射出去，在极限情况下，极少数的电子在一次碰撞中将全部的能量一次性转化为一个光量子，这个光量子具有最高的能量和最短的波长，即λ0。
3. 0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射线的振动频率和能量。
ν=c/λ=3*108/(0.071*10-9)=4.23*1018S-1E=hν=6.63*10-34*4.23*1018=2.8*10-15 Jν=c/λ=3*108/(0. 154*10-9)=1.95*1018S-1E=hν=6.63*10-34*2.8*1018=1.29*10-15 J4 试计算Cu的K系激发电压。
λ=0.154178 nmE=hv=h*c/λ=6.626*10-34*2.998*108/（0.13802*10-9）=144.87＊1017JV=144.87*10-17/1.602*10-19=8984 V2．若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？答：1.5kW/35kV=0.043A3. 实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。
材料科学：材料分析测试技术测考试题 考试时间：120分钟 考试总分：100分遵守考场纪律，维护知识尊严，杜绝违纪行为，确保考试结果公正。
1、名词解释 溅射 本题答案： 2、问答题 衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？ 本题答案： 3、单项选择题 透射电镜中电中间镜的作用是（ ）A 、电子源 B 、会聚电子束 C 、形成第一副高分辨率电子显微图像 D 、进一步放大物镜像 本题答案： 4、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析？ 本题答案： 5、单项选择题 样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（ ）A 、1﹕1 B 、2﹕1 C 、1﹕2 D 、没有确定比例姓名：________________ 班级：________________ 学号：________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------本题答案：6、名词解释质厚衬度本题答案：7、名词解释伸缩振动本题答案：8、单项选择题菊池线可以帮助（）。
A.估计样品的厚度；B.确定180不唯一性；C.鉴别有序固溶体；D.精确测定晶体取向。
本题答案：9、问答题什么是消光距离？影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么？本题答案：10、问答题制备复型的材料应具备什么条件？本题答案：11、名词解释Hanawalt索引本题答案：12、问答题简述X射线产生的基本条件。
本题答案：13、单项选择题波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（）。
A.快速高效；B.精度高；C.没有机械传动部件；D.价格便宜。
本题答案：14、问答题如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程？本题答案：15、单项选择题当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限0；B.激发限k；C.吸收限；D.特征X射线本题答案：16、单项选择题晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（）A、（364）B、（234）C、（213）D、（468）本题答案：17、单项选择题透射电镜成形貌像时是将（）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜本题答案：18、问答题试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高的原因。
材料研究方法试卷A答案The document was finally revised on 2021一、名词解释（每题5分，共20分）1、短波限各种管电压下的连续X射线谱都具有一个最短的波长值，该波长值称为短波限。
2、光电效应光电效应是入射X射线的光量子与物质原子中电子相互碰撞时产生的物理效应。
当入射光量子的能量足够大时，可以从被照射物质的原子内部（例如K壳层）击出一个电子，同时外层高能态电子要向内层的K空位跃迁，辐射出波长一定的特征X射线。
这种以光子激发原子所发生的激发和辐射过程称为光电效应。
3、相干散射当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射电磁波，这些散射波之间符合波长相等、频率相同、位相差相同的光的干涉条件，故称相干散射。
4、球差球差即球面像差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差。
二、简答题（每题10分，共40分）1、实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？答：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。
选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉Kβ线。
滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。
分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，它们的分别相应选择Fe和Mn为滤波片。
2、比较物相定量分析的外标法、内标法、K值法、直接比较法和全谱拟合法的优缺点？答：外标法就是待测物相的纯物质作为标样以不同的质量比例另外进行标定，并作曲线图。
外标法适合于特定两相混合物的定量分析，尤其是同质多相（同素异构体）混合物的定量分析。
内标法是在待测试样中掺入一定量试样中没有的纯物质作为标准进行定量分析，其目的是为了消除基体效应。
复习题一、名词解释=0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。
1、系统消光: 把由于FHKL2、X射线衍射方向: 是两种相干波的光程差是波长整数倍的方向。
3、Moseley定律：对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系。
4、相对强度：同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值。
5、积分强度：扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。
6、明场像暗场像：用物镜光栏挡去衍射束，让透射束成像，有衍射的为暗像，无衍射的为明像，这样形成的为明场像；用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束，让一束强衍射束成像，则无衍射的为暗像，有衍射的为明像，这样形成的为暗场像。
7、透射电镜点分辨率、线分辨率：点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离；线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。
8、厚度衬度:由于试样各部分的密度(或原子序数)和厚度不同形成的透射强度的差异；9、衍射衬度：由于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同形成的衍射强度的差异；10相位衬度：入射电子收到试样原子散射，得到透射波和散射波，两者振幅接近，强度差很小，两者之间引入相位差，使得透射波和合成波振幅产生较大差异，从而产生衬度。
11像差：从物面上一点散射出的电子束，不一定全部聚焦在一点，或者物面上的各点并不按比例成像于同一平面，结果图像模糊不清，或者原物的几何形状不完全相似，这种现象称为像差球差：由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的汇聚能力不同造成的像散：由于透镜磁场不是理想的旋转对称磁场而引起的像差色差：由于成像电子的波长（或能量）不同而引起的一种像差12、透镜景深：在不影响透镜成像分辨本领的前提下，物平面可沿透镜轴移动的距离13、透镜焦深：在不影响透镜成像分辨本领的前提下，像平面可沿透镜轴移动的距离14、电子衍射：电子衍射是指当一定能量的电子束落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电子波之间产生互相干涉现象。
它满足劳厄方程或布拉格方程，并满足电子衍射的基本公式Lλ=Rd L是相机长度，λ为入射电子束波长，R是透射斑点与衍射斑点间的距离。
第一章电磁辐射与材料结构一、名词、术语、概念波数，分子振动，伸缩振动，变形振动（或弯曲振动、变角振动），干涉指数，晶带，原子轨道磁矩，电子自旋磁矩，原子核磁矩。
二、填空1、电磁波谱可分为3个部分：①长波部分，包括( )与( )，有时习惯上称此部分为( )。
②中间部分，包括( )、( )和( )，统称为( )。
③短波部分，包括( )和( )（以及宇宙射线），此部分可称( )。
答案：无线电波（射频波），微波，波谱，红外线，可见光，紫外线，光学光谱，X射线，射线，射线谱。
2、原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为( )跃迁或( )跃迁。
答案：电子，能级。
3、电子由高能级向低能级的跃迁可分为两种方式：跃迁过程中多余的能量即跃迁前后能量差以电磁辐射的方式放出，称之为( )跃迁；若多余的能量转化为热能等形式，则称之为( )跃迁。
答案：辐射，无辐射。
4、分子的运动很复杂，一般可近似认为分子总能量（E）由分子中各( )，( )及( )组成。
答案：电子能量，振动能量，转动能量。
5、分子振动可分为( )振动与( )振动两类。
答案：伸缩，变形（或叫弯曲，变角）。
6、分子的伸缩振动可分为( )和( )。
答案：对称伸缩振动，不对称伸缩振动（或叫反对称伸缩振动）。
7、平面多原子（三原子及以上）分子的弯曲振动一般可分为( )和( )。
答案：面内弯曲振动，面外弯曲振动。
8、干涉指数是对晶面( )与晶面( )的标识，而晶面指数只标识晶面的（）。
答案：空间方位，间距，空间方位。
9、晶面间距分别为d110／2，d110/3的晶面，其干涉指数分别为( )和( )。
答案：220，330。
10、倒易矢量r*HKL的基本性质：r*HKL垂直于正点阵中相应的（HKL）晶面，其长度r*HKL等于(HKL)之晶面间距d HKL的( )。
答案：倒数（或1/d HKL）。
11、萤石（CaF2）的（220）面的晶面间距d220=0.193nm，其倒易矢量r*220（）于正点阵中的（220）面，长度r*220=（）。
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案第一部分：选择题1. 在材料现代测试分析方法中，下列哪种方法可以用来确定材料的成分？- A. 热分析法- B. 机械测试法- C. 磁性测试法- D. 光谱分析法- 答案：D2. 材料现代测试分析方法的主要目的是什么？- A. 确定材料的力学性能- B. 分析材料的热性能- C. 评估材料的化学稳定性- D. 确定材料的组成和结构- 答案：D3. 以下哪种测试方法可以用来评估材料的耐腐蚀性能？- A. 硬度测试- B. 疲劳测试- C. 电化学测试- D. 热膨胀测试- 答案：C4. 材料的断裂韧性可以通过下列哪种测试方法进行评估？- A. 硬度测试- B. 拉伸测试- C. 冲击测试- D. 磁性测试- 答案：C5. 下列哪种测试方法可以用来评估材料的疲劳寿命？- A. 硬度测试- B. 拉伸测试- C. 冲击测试- D. 疲劳测试- 答案：D第二部分：简答题1. 简要解释材料现代测试分析方法的定义和作用。
答案：材料现代测试分析方法是一种使用现代科学技术手段对材料进行分析和测试的方法。
它的作用是确定材料的组成、结构和性能，以便评估材料的适用性和可靠性。
2. 举例说明材料现代测试分析方法在工程领域中的应用。
答案：材料现代测试分析方法在工程领域中有广泛的应用。
例如，在航空航天工程中，可以使用材料现代测试分析方法来评估航天器的耐热性能和抗腐蚀性能，以确保航天器在极端环境下的安全运行。
在建筑工程中，可以使用材料现代测试分析方法来评估建筑材料的力学性能和耐久性，以确保建筑物的结构安全可靠。
3. 请简要描述一种材料现代测试分析方法，并说明其适用性。
答案：一种材料现代测试分析方法是扫描电子显微镜（SEM）分析。
它通过扫描材料表面并记录电子显微图像，可以对材料的形貌、结构和成分进行分析。
SEM分析适用于对材料的微观结构和成分进行研究，可以用于材料的质量控制、故障分析和新材料的研发。
填空题1.透射电镜、扫描电镜、电子探针、扫描燧道显微镜的英文字母缩写分别是、、、。
2.透射电镜主要由、、三大部分组成。
3.若一个分子是由N个原子组成，则非线性分子的振动自由度为，而线性分子的振动自由度为。
4.利用电子束与样品作用产生的特征X射线来分析样品的微区成分，有、i.二种方法。
5.透射电镜的复型技术主要有、、三类。
6.在光谱法中，测量的信号是物质内部能级跃迁所产生的发射、吸收或散射光谱的和。
7.根据光谱的波长是否连续，可将光谱分为三种类型，即光谱、光谱、光谱。
8.原子吸收分光光度计一般概括为四大基本组成部分，它们分别是：、、、。
9.根据分子轨道理论，当两个原子靠近而结合成分子时，两个原子的原子轨道就可以线性组合生成两个分子轨道。
其中一个分子轨道具有低能量，称为轨道。
另一个分子轨道具有高能量，称为轨道。
10.根据朗伯—比尔定律，一束平行电磁辐射，强度为0I，穿过厚度为b、组分浓度为c的透明介质溶液后，由于介质中粒子对辐射的吸收，结果强度衰减为e I，则溶液的吸光度A表示为。
11.透射电镜、扫描电镜、傅里叶变换红外光谱、核磁共振的英文字母缩写分别是、、、。
12.根据衍衬成像原理，透射电镜可进行二种衍衬成像操作，分别得到像和i.像。
13.电子探针分析主要有三种工作方式，分别是分析、分析和分析。
14.高能电子束照射在固体样品表面时激发的信号主要有、、、等。
（至少答四种信号）15.简正振动可分为振动和振动两种基本类型。
16.拉曼位移定义为_________________散射线与______________或________________i.散射线之间的频率差。
17.在电子能谱仪的试样系统中, 真空度往往要达到10-6~10-8Pa , 这是因为_________。
18.在电子能谱法中, 从X射线管中发出的特征X射线, 常常选择K系X射线作为激发辐射, 其原因是_______________________。
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（ B）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（ B ）A.Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ C ）A．Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（A ）A.短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）（多选题）A.光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、正误题1. 随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。
（）2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。
（）3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
（）4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（）5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。
（）三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生俄歇电子、透射X射线、散射X 射线、荧光X射线、光电子、热、、。
3. 经过厚度为H的物质后，X射线的强度为。
4. X射线的本质既是波长极短的电磁波也是光子束，具有波粒二象性性。
5. 短波长的X射线称，常用于；长波长的X射线称，常用于。
习题1. X 射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？2. 分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射；（2）用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射；（3）用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。
3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”？4. X 射线的本质是什么？它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在？用哪些物理量描述它？5. 产生X 射线需具备什么条件？6. Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？7. 计算当管电压为50 kv 时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
二、判断题请判断下列说法是否正确？（认为正确请打勾, 否则打叉）P1加大管电流和管电压，都可以使白色X射线的强度增大。
（）P2加大管电流，可以使白色X射线的强度增大；但加大管电压，不能使白色X射线的强度增大。
（）P3加大管电流和管电压，都不能使白色X射线的强度增大。
（）P4加大管电流和管电压，都可以使白色X射线的短波限增大。
（）P5加大管电流和管电压，都不能使白色X射线的短波限增大。
（）P6加大管电流和管电压，都可以使白色X射线的短波限减小。
（）P7加大管电流，可以使白色X射线的短波限增大。
（）P8加大管电压，可以使白色X射线的短波限增大。
（）P9在管电流和管电压不变的条件下，加大靶元素的原子序数，可以使白色X射线的强度增大。
（）P10在管电流和管电压不变的条件下，加大靶元素的原子序数，可以使白色X射线的短波限λ0增大。
（）P11在管电流和管电压不变的条件下，加大靶元素的原子序数，可以使白色X射线的短波限λ0减小。
（）P12衍射X射线的强度与入射X射线的强度正相关。
（）P13衍射X射线的强度与入射X射线的强度无关。
（）P14晶体结构对称程度越高，多重性因子P值就越大，某一特定面网的衍射X射线的强度也越大。
（）P15晶体结构对称程度越高，某一特定面网的衍射X射线的强度也越小。
（）P16对于某一特定晶体，其X射线的强度随Bragg角θ的加大而变大。
（）P17对于某一特定晶体，其X射线的强度随Bragg角θ的加大而变小。
（）P19对于某一特定晶体，其衍射X射线的强度随实验温度的加大而变大。
（）P20对于某一特定晶体，其衍射X射线的强度随实验温度的加大而变小。
（）P21 Debye图中的点状线是由颗粒过细造成的。
（）P22 Debye图中的点状线是由颗粒过粗造成的。
（）P23 Debye图中的点状衍射线的现象往往是由颗粒受到应力引起的。
（）P24 Debye图中的衍射线的宽化现象可以由颗粒过细造成的。
（）P25 Debye图中的衍射线的宽化现象可以由颗粒过粗造成的。
（）P26 Debye图中的衍射线的宽化现象可以由颗粒受到应力引起的。
（）P27矿物中以结构水的形式存在的水指的是参加晶格的H2O。
（）P28矿物中以结晶水的形式存在的水指的是参加晶格的羟基OH-。
（）P29矿物中以结构水的形式存在的水指的是参加晶格的羟基OH-。
（）P30矿物中以结晶水的形式存在的水指的是参加晶格的H2O。
（）P31胶体水指的是吸附在晶体表面的H2O。
（）P32层间水是存在于存在于层状结构晶体层中、以H2O形式存在的水。
（）P33对于固定的靶，晶体面网的衍射指数HKL越大，其衍射角也越大。
（）P34对于固定的靶，晶体面网的衍射指数HKL越大，其衍射角也越小。
（）P35X射线滤波片的作用是滤去Kβ射线，保留Kα射线。
（）P36 X射线滤波片的作用是滤去Kα射线，保留Kβ射线。
（）P37 X射线滤波片的作用是滤去Kα2射线，保留Kα1射线。
（）X射线滤波片的作用是滤去Kβ和Kα2射线，保留Kα1射线。
（）P38提高光学显微镜的分辨率的方法包括减小波长，提高透镜孔径角和观察介质的折射率。
（）P39提高光学显微镜的分辨率的方法包括加大波长，提高透镜孔径角和观察介质的折射率。
（）P40提高电子显微镜的分辨率的方法包括加大加速电压，减小像差。
（）P41提高电子显微镜的分辨率的方法包括减小加速电压，以减小像差。
（）P42电子显微镜在实验时抽真空的作用包括提高电子枪的使用寿命。
（）P43用Cu/Ni(λ=1.54178 Å)照射金刚石晶体(SG = O h5-Fm3m，a = 3.56 Å)，因为系统消光，观察不到111，311，331，333等衍射符号全为奇数的衍射线。
（）P44用Cu/Ni(λ=1.54178 Å)照射金刚石晶体((SG=O h7-d3m, a = 3.56 Å)，因为系统消光，观察不到200，400，600，220，440，444等衍射符号全为偶数的衍射线。
（）P45用Cu/Ni(λ=1.54178 Å)照射金刚石晶体((SG=O h7-d3m, a = 3.56 Å)，因为系统消光，观察不到100，211，301，210，321等衍射符号奇偶数混杂的衍射线。
（）00P46用Cu/Ni(λ=1.54178 Å) 照射金刚石晶体((SG=O h7-d3m, a=3.56 Å)，观察不到800衍射线。
（）P47用Cu/Ni(λ=1.54178 Å) 照射金刚石晶体((SG=O h7-d3m，a = 3.56 Å)，观察不到800衍射线原因与不满足布拉格方程。
（）P48Cu/Ni(λ=1.54178 Å) 照射金刚石晶体((SG=O h7-d3m，a = 3.56 Å)，观察不到666衍射线原因是不满足布拉格方程。
（）P49用Cu/Ni(λ=1.54178 Å) 照射NaCl晶体(SG=O h5-Fm3m，a = 5.64 Å) 观察不到800衍射线原因是不满足布拉格方程。
（）P50用Cu/Ni(λ=1.54178 Å) 照射NaCl晶体(SG=O h5-Fm3m，a = 5.64 Å) 观察不到800衍射线原因是系统消光。
（）P51 晶体红外光谱的产生与电磁波与晶体中原子的振动形成共振吸收有关。
( )P52 晶体红外光谱的产生与电磁波与晶体中原子电子能级对电磁波光子的吸收有关。
( )三、填空题T1对X射线的测量包括( 能量色散)方法和( 波长色散)方法。
T2倒易点阵中的点可代表正点阵中的（一组晶面），倒易矢量的方向代表（相应晶面法线方向），而倒易矢量的长度等于（相应晶面间距倒数）。
T3增加X射线衍射机率的方法包括（管电流）、（管电压）和（两者兼增加）。
T4决定X射线衍射强度的主要因素包括（多重性）因子、（温度）因子、（吸收）因子、（结构）因子、（洛伦兹）因子。
T5要提高白色X射线的强度，可以（提高管电压）或（提高管电流）或（增大阳极靶材料原子序数）。
T6电子显微成分分析技术中，根据分析区域的几何特点，可以包括（透射电子显微镜）（扫面电子显微镜）和（电子探针显微镜）三种方法。
T7固体物质的热效应包括（热胀冷缩）、（溶解）、（液化）、（升华）、（晶型转变）。
T8热分析中，差热分析是利用试样和参比物之间的(温差与温度)来反映试样的热性质，差示扫描量热分析则是用试样和参比物之间的( 能量随温度变化)来反映试样的热性质，而热重分析是用试样加热或冷却过程中的( 质量与温度或者时间)变化来反映试样的热性质。
T9物质中水的存在形式有：( 吸附水)、( 结晶水)、( 结构水)、( 过渡类型水)等。
T10影响差热分析曲线的主要内因有：( 试样因素)、( 实验条件)、(仪器方面因素)。
T11提高光学显微镜的分辨率的方法包括（减小波长）、（增加折射率）和（加大物镜镜口率）。
T12提高电子显微镜的分辨率的方法包括（保持良好的加速电压）、（延长抽真空时间和真空度）和（对中良好）。
T13电子显微镜在实验时抽真空的作用是（防止空气分子对电子的散射）（避免与空气分子碰撞后电子能量的损失）（真空后气体分子密度减少，可以使观测更加准确）。
T14用Cu/Ni(λ = 1.54178 Å)照射NaCl粉末晶体(SG = O h5-Fm3m，a = 5.64 Å)，观察不到800衍射线的原因是（不满足布拉格方程）。
T15用Cu/Ni(λ = 1.54178 Å)照射NaCl粉末晶体(SG = O h5-Fm3m，a = 5.64 Å)，观察不到100衍射线的原因是（系统消光）。
T16用Fe/Mn(λ = 1.93728 Å) 照射金红石TiO2粉末晶体(SG = D4h14-P42/nmm，a = 4.58 Å，c = 2.95 Å)，观察不到800衍射线的原因是（系统消光）。
T17用Fe/Mn(λ = 1.93728 Å) 照射金红石TiO2(SG = D4h14-P42/nmm，a = 4.58 Å，c = 2.95 Å)，观察不到555衍射线的原因是（不满足布拉格方程）。
T18用Fe/Mn(λ = 1.93728 Å) 照射蒙脱石粉末晶体（单斜晶系a = 5.18 Å，b = 8.94Å，c = 15.2Å，β = 90o）观察不到100衍射线的原因是（系统消光）。
T19用Fe/Mn(λ = 1.93728 Å) 照射蒙脱石粉末晶体（单斜晶系a = 5.18 Å，b = 8.94Å，c = 15.2Å，β = 90o）观察不到999衍射线的原因是（不满足布拉格方程）。
T20用Cu/Ni(λ = 1.54178Å) 照射金刚石晶体((SG = O h7-d3m，a = 3.56 Å)，观察不到100衍射线的原因是（系统消光）。
T21用Cu/Ni(λ = 1.54178Å) 照射金刚石晶体((SG = O h7-d3m，a = 3.56 Å)，观察不到800衍射线的原因是（不满足布拉格方程）。
T23红外光谱谱图中，影响谱带位置的因素主要有：(质量效应)、( 电子效应)、( 空间效应)和( 氢键振动的耦合)。
T24产生红外吸收振动的条件是：( 有瞬时偶极矩变化)、( 辐射光子具有的能量与产生振动跃迁所需的跃迁能相等)。
T25产生拉曼吸收振动的条件是：( 极化率变化)、( 辐射光子具有的能量与产生振动跃迁所需的跃迁能相等)。
T26分子或基团中，(偶极矩变化) 的振动是红外活性的。
T27分子或基团中，( 极化率变化) 的振动是拉曼活性的。
T28红外光谱谱图中，影响谱带强度的因素主要有：(电负性)、( 振动形式)、( 分子对称性)、( 费米共振—倍频和基频耦合)和( 能级跃迁几率)。
T29红外光谱分析中，将分子或基团的振动分为：( 伸缩振动)和( 弯曲振动)两个类型，它们又各自包括( 对称伸缩振动)、( 非对称伸缩振动)以及( 面内弯曲-剪式振动)、( 面内摇摆-平面摇摆振动)、( 面外弯曲-扭曲振动)、( 面外摇摆-非平面摇摆振动)等基本形式。
T30化合物基团的振动频率与键的力常数k成( 基团振动的频率正比于键力常数k^0.5 )关系。
T31主要的表面分析方法有：( X射线电子能谱XPS )、( 俄歇电子能谱AES )、( 扫描隧道显微镜STM )和( 原子力显微镜AFM )。
